SPC基础教程ppt课件

1、统计制程控制 (Statistical Process Control)文不如表 表不如图 控制图一. 控制图发源史二. 统计制程控制概述三.我们为何要推行SPC对制程的优点四.控制图之根本构成及种类五. 控制图的选定六. 常见控制图的绘制 1924年休哈特(W.A.Shewhart)提出了控制图(Control Chart)的概念与方法。控制图是一种关于质量的图解记录，操作人员利用所搜集的数据计算出两个控制界限(上限及下限)，且画出这两个控制界限，在产品制造过程中随时将样本信息点入控制图内，以提示操作人员。如发现有超出控制界限外之点或是出现特殊图样(异常景象)时，应立刻由人员、机械设备、资料

2、、方法(4M)或环境(1E)等方向进展层别以清查缘由，进而改善制程。一.控制图发源史二. 统计制程控制概述 2.1 什么是统计制程控制统计制程控制(Statistical Process Control, 简称SPC)，是利用抽样所得之样本数据(样本统计量)来监视制程之形状，在必要时采取调整制程参数之行动，以降低产质量量之变异性。统计制程控制为预防性之质量管理手段，强调:第一次就做对 (Do it right the first time.) 统计制程控制之主要目的，在于尽快侦测出可归属缘由之发生或制程之异常跳动，起到在制造出更多不合格品之前，就能发现制程之变异并进展改善任务。 1、SPC是一

3、个方法，也是一个系统，从统 计评价的数据中以控制制程并改善之；2、SPC可减少变异，控制本钱；3、在讨论制程绩效时，SPC提供一个共同的言语。2.2 统计制程控制的目的3.1在控制中的情况下 在任何的消费程序中，不论如何设计或维护，产品的一些固有的或自然之变异将永远存在。这些变异是由一些小量不可控制缘由累积而成，例如：同种原料内的变化、机器的振动所引起的变化等，当这些变异之量极小时，制程仍可被接受。这些自然变异通常称为随机缘由(random cause)或是普通缘由(common cause)，当制程中只需随机缘由存在情况的消费环境，那么称其在控制中(in control)。 三.我们为何要推

4、行SPC对制程的优点在以上控制图作用，可以证明制程在一种良性环境下消费。 制程中能够存在有其它的变异，这些变异的来源有机器的不适当调整、操作员之错误、原料之不良、机器缺点或损坏等，这些变异的幅度通常较机遇缘由之变异为大，当这些变异出现时，代表制程不可接受。这些变异称为可归属缘由(assignable causes)或非机遇缘由或特殊缘由(special causes)，制程假设在可归属变异下操作那么称其为制程失控(out of control)。 产品在制造过程中假设能及早找出可归属缘由，那么可防止在制造出更多的不合格品前，发现制程发生变异的缘由，并为制造过程提供改善的时机。因此统计制程控制对

5、改善制程而言，是一个很重要的工具。“非机遇缘由或特殊缘由就是我们进展统计制程控制所要找到的重点3.2制程失控情况下控制图为一种图形表示工具，用以显示从样本中量测或计算所得之质量特性。典型之控制图包含一中心线 (Center Line, CL)，用以代表制程处于统计控制内时质量特性之平均值。此图同时包含两条程度线，称为控制上限 (Upper Control Limit, UCL)及控制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用来表示制程或质量变异的允许范围或均匀性。控制图可用来判别质量变异之显着性，以测知制程能否在正常形状。图一为控制图之范例四.控制图之根本构成所谓计量值控

6、制图，是指控制图所根据之数据均由实践量测而得，如：产品之长度、分量、温度等。常用之计量值控制图有：控制图之种类1、平均值与全距之控制图(X-R Chart)常用2、平均值与规范偏向之控制图(X- Chart)3、中位值与全距之控制图(X-R Chart)4、单值与挪动极差控制图(X-MR Chart)常用4.1计量值控制图根据搜集数据的型态分:留意: 计数值控制图皆祇有一个图， 而计量值控制图那么有两个图。4.2计数值控制图所谓计数值控制图，系控制图所根据之数据，均属于单位个数者，如：不良率、缺陷数等经由计数方法而得之数据均属此类。常用之计数值控制图有：1、不良率控制图(p Chart)常用2

7、、不良数控制图(np Chart)3、缺陷数控制图(c Chart)常用4、单位缺陷数控制图(u Chart)五. 控制圖的選定六. 常见控制图的绘制6.1.1、平均值与全距之控制图(X-R Chart)六. 常见控制图的绘制着手制造 控制图A、决议样本大小、抽样频率、组数样本大小：代表组内变异，每组样本大小45。抽样频率：决议制程对时间之稳定性。依班别、时间、批次适中选取。组数：通常25组(100个数据)。B、设置控制图与纪录原始数据：平均值控制图、全距控制图、数据纪录区。C、计算每一组的平均值与全距假设每组有n个数据：X1、 X2、 X3 XnNeon(X1 +X2+ X3+ +Xn) /

8、 nR = XMAX-XMIND、点绘于平均值全距控制图上描点与绘线衔接各点迅速扫描计算与所绘各点能否正确6.1.2、平均值与全距之控制图(X-R Chart)六. 常见控制图的绘制6.1.3、平均值与全距之控制图(X-R Chart)六. 常见控制图的绘制样本大小 24D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11502.32660.4831.00402.5346.1.4、平均值与全距之控制图(X-R Chart)六. 常见控制图的绘制6.1.5實例說明內層製程工程師希望建構一個內層線寬量測的控制程序，以便當

9、內層線寬量測值發生異常時可以迅速的偵測出來。他從生產線上搜集到15組(每組樣本大小為3),線寬量測數據如下，請利用此筆量測數據繪製解析用之平均值與全距控制圖並判讀製程能否失控。 六. 常见控制图的绘制6.1.6 平均值与全距之控制图(X-R Chart)六. 常见控制图的绘制6.2 单值与挪动极差控制图(X-MR Chart)六. 常见控制图的绘制6.2.1 单值与挪动极差控制图(X-MR Chart)单值中心线：CL=(X1+X2+Xn)/n六. 常见控制图的绘制样本大小 24D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11502.32660.4831.00402.5346.2.2 单值与挪动极差控制图(X-MR Chart)六. 常见控制图的绘制 6.2.3 例:某工廠研讨開發新產品,在測試過程中,每個數據搜集需時1天才完成,故決定运用個別值-移動全距控制圖作線上監控之用。搜集一個月之資料,經計算後如下表,試繪製X-Rm控制圖六. 常见控制图的绘制6.2.4 单值与挪动极差控制图(X-MR Chart)個