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文档简介

EMC电子学系统BESIIIEMC电子学系统由前放、主放、Q插件、测试控制器、扇出插件等部分构成。前放的设计采用了假设干低噪声技术和抗干扰措施，对探测器输出的微弱信号进展放大，保证了后端电荷丈量精度;电荷丈量采用分三个量程数字化的方法实现15bit动态范围；采用FPGA来完成数据的缓存、预处置，提高的系统的集成度、添加了数据处置的并行度灵敏性 经过了三次束流测试和384通道小系统的长时间测试证明， EMC电子学系统曾经到达或超越预定的设计目的.BES EMC电子学系统的主要功能是丈量电荷量，从而确定粒子在CsI晶体中的能量损失，同时给出粗略的粒子击中晶体的时间信息。另外一个重要义务是向触发判选系统提供晶体的能量信息作为事例挑选的根据之一。EMC电子学系统设计框图.安装EMC电子学系统前放.EMC电子学系统主放和电荷丈量插件.EMC电子学384通道测试系统.EMC与在线系统结合测试.安装在晶体上的前放和电缆.

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