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ysis1. 在對其外觀和各電源/ysis1. 在對其外觀和各電源/信號 pin(如圖)進行檢測後，無不良之現象後，Socketboard（VIA專用）板上進行驗證MSI ysis通過抽取10OK料進行 (如圖)pin點的對比檢查發現有眾多料二體有較大偏差這現象情況如通過抽取10OK料進行 (如圖)pin點的對比檢查發現有眾多料二體有較大偏差這現象情況如下Result:(check346 el VIADDR200:注：對於二極體有偏差的，我們也無法確定出是來料還是制程問題。為了防止送廠的料有存在EOS的可能，因此我們也把二極體有偏差的料歸於EOS類Corrective :注：對於二極體有偏差的，我們也無法確定出是來料還是制程問題。為了防止送廠的料有存在EOS的可能，因此我們也把二極體有偏差的料歸於EOS類Corrective UnitFail Pin(對地二極體1二 極 30(ok 234PD/D0 、 PD/D3 、 二 極 30(ok 5678二 極 80(ok 9

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