FAE试题附有答案_第1页
FAE试题附有答案_第2页
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文档简介

1、FAE试题复制基本信息:矩阵文本题 *姓名:_部门:_员工编号:_1、万用表的直流电压规格要求( ) 单选题 *A、0-20Mv/2V/20V(小于0.3%+3)(正确答案)B、0-25V/20V(小于0.8%+4)C、0-22Mv/2V/20V(小于0.3%+4)D、0-28Mv/2V/20V(小于0.5%+4)2、对于申请人描述的现象,优先选择使用哪种工具复现故障() 单选题A、LCRB、示波器C、万用表(正确答案)D、频谱仪3、快速判定失效位置的试验方法() 单选题A、切片分析B、染色起拔(正确答案)C、重现试验D、高倍数显微分析4、金相观察是()进行观察 单选题A、利用金相显微镜对失效

2、物体表面(正确答案)B、利用立体显微镜对失效样品进行外观C、显微结构观察D、显微观察,元素分析5、下列哪项设备属于有损分析() 单选题A、切片分析设备(正确答案)B、FTIRC、荧光测厚仪D、Decap6、常见的外观分析方法包括()A、X-ray(正确答案)B、立体观察(正确答案)C、金相观察(正确答案)D、显微观察(正确答案)7、三坐标测量仪可以对手机壳体()进行测量A、平面度(正确答案)B、直线度(正确答案)C、圆度(正确答案)D、平整度8、有损分析中“Decap”属于分析项中的可选项 判断题对(正确答案)错9、成本分析中“FIIP”“荧光测后仪”属于分析项中的必选项 单选题A、正确B、错

3、误(正确答案)10、热灵敏度(NETD)0.05 单选题A、正确(正确答案)B、错误11、故障定位分析过程中,可以不用保持故障原始状态,可以对故障部分重新焊接 单选题A、正确B、错误(正确答案)12、失效样品背景调查属于失效分析的重点部分,必要时刻向生产人员进行适当的求证 单选题A、正确(正确答案)B、错误13、失效率包括历史失效率,近期失效率(或批次失效率) 单选题A、正确(正确答案)B、错误14、故障位置定位应优先采用外观检查的办法,然后在电测 单选题A、正确(正确答案)B、错误15、X-RAY对于常见原因导致的BGA开焊检出能力有限,可以放弃不做 单选题A、正确B、错误(正确答案)16、

4、示波器可以用于测量时钟信号 单选题A、正确(正确答案)B、错误17、明场可用于对裂纹走向进行观察 单选题A、正确B、错误(正确答案)18、电器分析使用到的设备名称: 填空题 *_(答案:万用表、LCR、示波器、 频谱仪、IV 曲线测试仪)19、LCR分析项: 填空题 *_(答案:阻值、容值、感值)20、外观检查主要用到的设备名称: 填空题 *_(答案:金相显微镜、立体显微镜、SEM/EDS)21、失效样品失效发生阶段: 填空题 *_(答案:SMT阶段、测试阶段、组装阶段)22、故障复测和定位过程中可能会破坏外观形貌,应先: 填空题 *_(答案:进行外观观察和拍照)23、万用表主要用于测量: 填空题 *_(答案:单板电路的电压、电阻值)24、示波器主要测量: 填空题 *_(答案:电路的电压、电流值)25、频谱分析仪主要用于: 填空题 *_(答案:测量射频电路)26、IV 曲线测试仪主要测试项是什么? 填空题 *_(答案:对具有晶体管特性的组件器件进行分析,判断是否阻抗异常,漏电流偏大等)27、单板失效的批次信息包含哪些? 填空题 *_(答案:条码信息、生产批次、发货合同号)28、失效前的经历有哪些? 填空题 *_(答案:1.失效单板的加工工艺路线,受热过程,返修与维修次数2.单

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