无损检测习题集(含答案)-射线检测

PAGE207PAGE144射线检测习题集共：803题其中：是非题301题选择题284题问答题118题计算题100题

一、是非题1.1原子序数Z等于原子核中的质子数量。 （）1.2为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。 （）1.3当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。 （）1.4当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。 （）1.5原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。 （）1.6不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。 （）1.7原于是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。 （）1.8放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。 （）1.9各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。 （）1.10在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。 （）1.11以中子作为炮弹轰击原子核，可以使稳定的同位素变为不稳定的同位素。 （）1.12不稳定的核素会白发蜕变，这种现象称为放射性衰变。 （）1.13与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。 （）1.14射线能量越高，传播速度越快，例如了射线比X射线传播快。 （）1.15X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。 （）1.16X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。 （）1.17当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。 （）1.187射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。 （）1.19标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。 （）1.20连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。 （）1.21连续X射线的波长与管电压有关。 （）1.22X射线的产生效率与管电压利靶材料原子序数成正比。 （）1.23一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。 （）1.24同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。 （）1.25X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。 （）1.26与C○60相比，CS137发出的γ射线能量较低，半衰期较短。 （）1.28光电效应的发生儿率随光子能量增大而减小。 （）1.29光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。 （）1.30光电子又称为反冲电子。 （）1.31光子能量必须大于电子的结合能是发生光电效应的前提条件。 （）1.32当射线能量在1.02MeV至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。 （）1.33连续X射线穿透物质斤，强度减弱，线质不变。 （）1.34射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。 （）1.35当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。 （）1.36所有γ射线的能量都是相同的。 （）1.37放射性同位素的衰变常数λ值越大，说明该物质越稳定。 （）1.38X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。 （）1.39放射性同位素的当量能总是高于其平均能。 （）1.40X射线与可见光的区别是波长和产生方法不同。 （）1.41高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。 （）1.42连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。 （）1.43连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。 （）1.44标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。 （）1.45X射线与了射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。 （）1.46采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。 （）1.47对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。 （）1.48原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。 （）1.49经过一次β衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次α衰变，元素的原子序数Z将减少2。 （）1.50放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。 （）1.51在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。 （）1.52在X射线工业探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱X射线不起什么作用。 （）1.53Ir192γ射线与物质相互作用时，肯定不会发生电子对效应。 （）1.54高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。 （）1.55连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。 （）1.56不包括散射成分的射线束称为窄束射线。 （）1.57单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为“单能辐射”。 （）1.58α射线和β射线一般不用于工业无损检测，是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。 （）1.59原子由一个原子核和若干个核外电子组成。 （）1.60原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。 （）1.61原子序数=核外电子数=质子数=核电荷数。 （）1.62原子量=质子数+中子数。 （）1.63中子数=原子量－质子数=原子量+原子序数。 （）1.64不稳定的同位素又称放射性同位素。 （）1.65目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。 （）1.66X射线谱中波长连续变化的部分，称为‘连续’谱。 （）1.67康普顿效应的发生儿率人致与光子能量成正比，与物质原子序数成反比。 （）1.68瑞利散射是相干散射的一种。 （）1.69只有入射光子能量>1.02MeV时，才能发生电子对效应。 （）1.70光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。 （）1.71康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。 （）1.72射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头利钢板、钢管的检测。 （）2.1X光管的有效焦点总是小于实际焦点。 （）2.2X射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过份受热。 （）2.3X射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。 （）2.4由于X射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。 （）2.5全波整流X射线机所产生射线的平均能比半波整流X射线机所产生射线的平均能高。 （）2.6移动式X射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。 （）2.7移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。 （）2.8相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积利尺寸小于后者。 （）2.9“变频”是减小X射线机重量的有效措施之一。 （）2.10放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。 （）2.11适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是CO60，透宜探测厚度20～100mm钢试件的γ源是Ir192。 （）2.12黑度定义为阻光率的常用对数值。 （）2.13底片黑度D＝1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。 （）2.14ISO感光度100的胶片，达到净黑度2.0所需的曝光量为100戈瑞。 （）2.15低能量射线更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。 （）2.16用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。 （）2.17胶片达到一定黑度所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。 （）2.18同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。 （）2.19比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。 （）2.20胶片灰雾度包括片基固有密度利化学灰雾密度两部分。 （）2.21在胶片特性曲线上的曝光止常区，非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增加的增大而减小。 （）2.22在常用的100KV～400KVX射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。 （）2.23对X射线，增感系数随射线能量的增高而增大。但对γ射线来说则不是这样，例如，Co60的增感系数比Ir192低。 （）2.24对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。 （）2.25X和了射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。 （）2.26在任何情况下，同位素放射源装置都优于X射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。 （）2.27对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发山的射线强度也越大。 （）2.28周向X射线机产生的X射线束向270°方向辐射。 （）2.29相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。 （）2.30所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。 （）2.31放射源的比活度越大，其半衰期就越短。 （）2.32胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片梯度越小。 （）2.33胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的梯度。 （）2.34从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。 （）2.35宽容度大的胶片其梯度必然低。 （）2.38与一般胶片不同，X射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。 （）2.39“潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。 （）2.40铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。 （）2.41透照不锈钢焊缝，可以使用碳素钢丝像质计。 （）2.42透照钛焊缝，必须使用钛金属丝像质计。 （）2.43透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝像质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。 （）2.45胶片中卤化银粒度与胶片的感光速度无关。 （）2.46梯噪比高的胶片成像质量好。 （）2.47胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。 （）2.48直通道型γ射线机比“s”通道型γ射线机的机体轻，体积也小。 （）2.49铺设γ射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小，否则会导致其变形或折断。 （）2.50像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。 （）2.51管道爬行器是一种装在爬行装置上的X射线机。 （）2.52X射线机在同样电流、电压条件下，恒频机的穿透能力最弱。 （）2.53X射线管的阴极是产生X射线的部分。 （）2.54X射线管的阳极是由阳极靶、阳极体、阳极罩三部分构成。 （）2.55一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。 （）2.56携带式X射线机的散热形式多采用辐射散热式。 （）2.57X射线管的阳极特性就是X射线管的管电压与管电流的关系。 （）2.58X射线机采用阳极接地方式的自整流电路，对高压变压器的绝缘性能要求较低。 （）2.59X射线机的灯丝变压器是一个升压变压器。 （）2.60γ射线机的屏蔽容器一般用贫化铀材料制成，其体积、重量比铅屏蔽体要大许多。 （）2.61在换了射线源的操作过程中，必须使用γ射线剂量仪表及音响报警仪进行监测。 （）2.62射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层和保护层组成。 （）2.63胶片感光后，产生眼睛看不见的影像叫‘潜影’。 （）2.64射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。 （）2.65射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。 （）2.68胶片有效黑度范围相对应的曝光范围称为宽容度。 （）2.69胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。 （）2.70黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。 （）2.71使用金属增感屏所得底片像质最佳，其增感系数也最大。 （）2.72增感系数Q是指不用增感屏的曝光量EO与使用增感屏时的曝光量E之间的比值，即：Q=EO/E （）2.73金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。 （）2.74由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。 （）2.75像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。 （）2.76像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。 （）3.1影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。 （）3.2一般来说，射线照相像质计灵敏度等于自然缺陷灵敏度。 （）3.3使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。 （）3.4射线照相时，若干伏值提高，将会使胶片对比度降低。 （）3.5一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。 （）3.6增大曝光量可提高主因对比度。 （）3.7当射线的有效能量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。 （）3.8射线照相对比度AD只与主因对比度有关，与胶片对比度无关。 （）3.9射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。 （）3.10用增入射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。 （）3.11减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。 （）3.12利用刚极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。 （）3.13胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。 （）3.14使用γ射线源可以消除几何不清晰度。 （）3.15增加源到胶片的距离可以减小儿何清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。 （）3.16胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。 （）3.18胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。 （）3.19使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 （）3.20胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。 （）3.21显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。 （）3.22实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。 （）3.23当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时，影像对比度会受照相几何条件的影响。 （）3.24可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。 （）3.25胶片对比度与胶片类型或梯度G有关。 （）3.26散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。 （）3.27底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。 （）3.28射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。 （）3.29透照有余高的焊缝时，应保证焊缝部位和母材部位得到相同像质计灵敏度显示的黑度值范围。 （）3.30射线照相对比度就是缺陷影像与其周围背景的黑度差。 （）3.31底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。 （）3.32底片的最佳黑度值与观片灯亮度有关，观片灯亮度改变，最佳黑度值也将改变。 （）3.33固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。 （）3.34底片能够记录的影像细节的最小尺寸取决于颗粒度。 （）3.35对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。 （）3.36射线照相不清晰度就是影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。 （）3.37射线照相颗粒度表示影像黑度的不均匀程度。 （）3.38射线照相不清晰度包含几何不清晰度和固有不清晰度两部分。 （）3.39射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。 （）3.40焦点至工作距离是影响几何不清晰度的原因之一。 （）3.41胶片对比度与显影条件有关。 （）3.42一般情况是，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。 （）3.43焦点尺寸的大小与儿何不清晰度没有关系。 （）3.44增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。 （）3.45衰减系数μ只与射线能量有关，与试件材质无关。 （）3.46几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比，与焦点至工件表面距离成反比。 （）3.47射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质计测定。 （）3.48颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。 （）4.1按照“高灵敏度法”的要求，300KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。 （）4.2γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。 （）4.3选择较小的射源尺寸df，或者增大焦距值F，都可以使照相Ug值减小。 （）4.4欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。 （）4.5环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。 （）4.6无论采用哪一种透照方式，一次透照K度都随着焦距的增大而增大。 （）4.7所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。 （）4.8就小缺陷检山灵敏度来比较γ射线与X射线，两者差距不大。 （）4.9对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。 （）4.10源在内透照时，搭接标记必须放在射源侧。 （）4.11背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B米验证背散射线是否存在。 （）4.12不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均应放在射源侧。 （）4.13由于“互易定律失效”，采用荧光增感时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。 （）4.14当被透工件厚度差较人时，就会有“边蚀散射”发生。 （）4.15在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对γ射线并不适用。 （）4.16使用“滤板”可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。 （）4.17在源和工件之间放置滤板减小散射线的措施对于平板工件照相并不适用。 （）4.18在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。 （）4.19采用平靶周向X射线机对环缝作内透中心法周向曝光时，有利于检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。 （）4.20采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。 （）4.21采用双壁单影法透照时，如保持K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越小。 （）4.22用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检。 （）4.23对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。 （）4.24使用γ射线曝光曲线时，首先应知道射线源在给定时间的活度。 （）4.25随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，线质变软。 （）4.26小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。 （）4.27增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。 （）4.28对尺寸很小的缺陷，其影像的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。 （）4.29材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。 （）4.30在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。 （）4.31环缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。 （）4.32纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记之间的长。 （）4.33小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量，其目的是减小底片对比度，扩人检出区域。 （）4.34射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。 （）4.35双片叠加观察是双胶片技术中的同速双片法经常采用的一种底片观察方法。 （）4.36选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。 （）4.37球罐γ射线全景曝光时，其曝光时间通过生产厂家提供的“专用计算尺”可以精确计算出来。 （）4.38在满足几何不清晰度的前提下，为提高工效和影像质量，环形焊缝应尽量选用圆锥靶周向X射线机作内透中心法周向曝光。 （）4.39从射线照像灵敏度角度考虑：在保证穿透力的前提下，应尽量选择能量较低的X射线。 （）4.40选择能量较低的X射线可以获得较高的对比度和宽容度。 （）4.41提高管电压是提高工效和灵敏度的有效方法之一。 （）4.42底片黑度可以通过改变曝光量来控制。 （）4.43平方反比定律表示辐射强度与距离平方成反比。 （）4.44对于散射源来说，往往最大的散射源来自于试件本身。 （）4.45对厚度差较大的工件，散射比随射线能量的增大而增大。 （）4.46使用铅箔增感屏对减少散射线几乎不起作用。 （）4.47钳箔增感屏的铅箔厚度越人，其增感效率越大。 （）4.48在小径管透照中，影像各处的几何不清晰度都是一致的。 （）5.1显影时胶片上的AgBr被还原成金属银，从而使胶片变黑。 （）5.2对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。 （）5.3胶片在显影液中显影时，如果不进行任何搅动，则使反应产生的溴化物无法扩散。 （）5.4定影液有两个作用，溶解米曝光的AgBr和坚膜作用。 （）5.5所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。 （）5.6减少底片上水迹的方法是使胶片快速干燥。 （）5.7胶片表面药膜脱落可能是胶片处理温度过高而引起的。 （）5.8冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。 （）5.9显影液中如果过量增加碳酸钠，在底片上会产生灰雾增大的不良后果。 （）5.10使用被划伤的铅箔增感屏照相，底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。 （）5.11胶片上静电花纹的产生是由于射线管两端的电压过高的原因。 （）5.14如果显影时间过长，有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大了底片灰雾。 （）5.15显影液中氢离子浓度增人，则显影速度减慢，故借助于碱使显影液保持一定pH值。 （）5.16定影液中的氢离子浓度越高，定影能力就越强。 （）5.17胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完成。 （）5.18因为铁不耐腐蚀且容易生锈，所以不能用铁制容器盛放显影液。 （）5.19溴化钾除了抑制灰雾的作用外，还有调节和控制反差的作用。 （）5.20显影时搅动不仅能够使显影速度加快，还有提高反差的作用。 （）5.21所谓“超加利性”是指米吐尔利非尼酮配合使用，显影速度大大提高的现象。 （）5.22普通手工冲洗显影液不能用于自动洗片机。 （）5.23定影液老化会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。 （）5.24铜、铁等金属离子对显影剂的氧化有催化作用。 （）5.25水洗是胶片手工处理过程中重要步骤，水洗不充分的底片长期保存后会发生变色现象。 （）5.26黑度、对比度、颗粒度是底片的主要质量指标。 （）5.27米吐尔是显影液中的重要成分，它不但易溶于水，也易溶于亚硫酸钠溶液。 （）5.28米吐尔利对苯二酚都是显影剂，但米吐尔的显影能力大大低于对苯二酚。 （）5.29显影液中的溴化钾过量会大大抑制对苯二酚的显影作用。 （）5.30显影液中保护剂的作用是阻止显影剂不被氧化，延长显影液的使用寿命。 （）5.31显影液中促进剂的作用是增强显影剂的显影能力和速度。 （）5.32氢氧化钠是显影液中促进剂，但它是强碱，在使用中要注意安全。 （）5.33显影液中抑制剂的主要作用是抑制灰雾。 （）5.34在定影过程中，定影剂与卤化银和金属银都发生化学反应。 （）6.1由于射线照相存在影像放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。 （）6.2各种热裂纹只发生在焊缝上，不会发生在热影响区。 （）6.3形状缺陷不属于无损检测检出范畴，但对于目视检查无法进行的场合和部位进行射线照相，则应对内凹、烧穿、咬边等形状缺陷评级。 （）6.4射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。 （）6.5熔化焊焊接过程中的二次结晶仅仅发生在焊缝，与热影响区无关。 （）7.1暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。 （）7.2一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域，验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否也增加。 （）7.3热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。 （）7.4照射量单位“伦琴”只适用X射线或γ射线，不能用于中子射线。 （）7.5当X或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。 （）7.6小剂量或低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。 （）7.7即使剂量相同，不同种类辐射对人体伤害是不同的。 （）7.8只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。 （）7.10焦耳/千克是剂量当量单位，库伦/千克是照射量单位。 （）7.11剂量当量的国际单位是希沃特，专用单位是雷姆，两者的换算关系是1希沃特=100雷姆。 （）7.12X射线比γ射线更容易被人体吸收，所以X射线对人体的伤害比了射线大。 （）7.13当照射量相同时，高能X射线比低能X射线对人体伤害力更大一些。 （）7.14辐射损伤的确定性效应不存在剂量阈值，它的发生儿率随着剂量的增加而增加。 （）7.15照射量适用于描述不带电粒子与物质的相互作用，比释动能适用于描述带电粒子与物质的相互作用。 （）7.16在辐射防护中，人体任一器官或组织被X和γ射线照射后的吸收剂量和当量剂量在数值上是相等的。 （）7.17吸收剂量的大小取决于电离辐射的能量，与被照射物质本身的性质无关。 （）7.18辐射源一定，当距离增加一倍是时，其剂量或剂量率减少到原来的1/2。 （）

是非题答案1.1 ○ 1.2 ○ 1.3 × 1.4 × 1.5 ○1.6 × 1.7 ○ 1.8 × 1.9 × 1.10 ×1.11 ○ 1.12 ○ 1.13 × 1.14 × 1.15 ×1.16 × 1.17 × 1.18 × 1.19 × 1.20 ×1.21 ○ 1.22 ○ 1.23 ○ 1.24 ○ 1.25 ○1.26 × 1.27 ○ 1.28 ○ 1.29 ○ 1.30 ×1.31 ○ 1.32 × 1.33 × 1.34 ○ 1.35 ○1.36 × 1.37 × 1.38 ○ 1.39 ○ 1.40 ○1.41 × 1.42 ○ 1.43 × 1.44 ○ 1.45 ×1.46 × 1.47 ○ 1.48 × 1.49 ○ 1.50 ○1.51 × 1.52 ○ 1.53 ○ 1.54 × 1.55 ○1.56 ○ 1.57 ○ 1.58 × 1.59 ○ 1.60 ×1.61 ○ 1.62 ○ 1.63 × 1.64 ○ 1.65 ○1.66 ○ 1.67 × 1.68 ○ 1.69 ○ 1.70 ○1.71 ○ 1.72 ×2.1 ○ 2.2 × 2.3 ○ 2.4 × 2.5 ○2.6 ○ 2.7 × 2.8 ○ 2.9 ○ 2.10 ×2.11 × 2.12 ○ 2.13 ○ 2.14 × 2.15 ○2.16 × 2.17 × 2.18 ○ 2.19 × 2.20 ○2.21 × 2.22 ○ 2.23 ○ 2.24 × 2.25 ○2.26 × 2.27 ○ 2.28 × 2.29 × 2.30 ×2.31 × 2.32 × 2.33 ○ 2.34 ○ 2.35 ○2.36 ○ 2.37 × 2.38 ○ 2.39 × 2.40 ×2.41 ○ 2.42 ○ 2.43 × 2.44 × 2.45 ×2.46 ○ 2.47 × 2.48 ○ 2.49 × 2.50 ○2.51 ○ 2.52 × 2.53 × 2.54 ○ 2.55 ○2.56 ○ 2.57 ○ 2.58 × 2.59 × 2.60 ×2.61 ○ 2.62 ○ 2.63 ○ 2.64 × 2.65 ○2.66 ○ 2.67 ○ 2.68 ○ 2.69 × 2.70 ×2.71 × 2.72 ○ 2.73 ○ 2.74 × 2.75 ○2.76 ○3.1 × 3.2 × 3.3 ○ 3.4 × 3.5 ○3.6 × 3.7 ○ 3.8 × 3.9 ○ 3.10 ×3.11 ○ 3.12 ○ 3.13 × 3.14 × 3.15 ×3.16 ○ 3.17 ○ 3.18 × 3.19 × 3.20 ×3.21 × 3.22 × 3.23 ○ 3.24 ○ 3.25 ○3.26 ○ 3.27 ○ 3.28 ○ 3.29 ○ 3.30 ○3.31 ○ 3.32 ○ 3.33 ○ 3.34 ○ 3.35 ×3.36 ○ 3.37 ○ 3.38 ○ 3.39 × 3.40 ○3.41 ○ 3.42 × 3.43 × 3.44 ○ 3.45 ×3.46 ○ 3.47 ○ 3.48 ○4.1 ○ 4.2 × 4.3 ○ 4.4 ○ 4.5 ○4.6 × 4.7 ○ 4.8 × 4.9 × 4.10 ×4.11 × 4.12 × 4.13 ○ 4.14 ○ 4.15 ○4.16 × 4.17 ○ 4.18 ○ 4.19 ○ 4.20 ○4.21 ○ 4.22 × 4.23 × 4.24 ○ 4.25 ×4.26 ○ 4.27 ○ 4.28 ○ 4.29 × 4.30 ○4.31 ○ 4.32 × 4.33 ○ 4.34 ○ 4.35 ×4.36 ○ 4.37 × 4.38 ○ 4.39 ○ 4.40 ×4.41 × 4.42 ○ 4.43 ○ 4.44 ○ 4.45 ×4.46 × 4.47 × 4.48 ×5.1 ○ 5.2 × 5.3 ○ 5.4 ○ 5.5 ○5.6 × 5.7 ○ 5.8 × 5.9 ○ 5.10 ○5.11 × 5.12 ○ 5.13 ○ 5.14 ○ 5.15 ○5.16 × 5.17 × 5.18 × 5.19 × 5.20 ○5.21 × 5.22 ○ 5.23 ○ 5.24 ○ 5.25 ○5.26 ○ 5.27 × 5.28 × 5.29 ○ 5.30 ○5.31 ○ 5.32 ○ 5.33 ○ 5.34 ×6.1 × 6.2 × 6.3 ○ 6.4 ○ 6.5 ×7.1 × 7.2 × 7.3 × 7.4 ○ 7.5 ×7.6 ○ 7.7 × 7.8 × 7.9 ○ 7.10 ○7.11 ○ 7.12 × 7.13 ○ 7.14 × 7.15 ×7.16 ○ 7.17 × 7.18 ×

二、选择题1.1原子的主要组成部分是（）。A.质子、电子、光子 B.质子、重子、电子C.光子、电子、×射线 D.质子、中子、电子1.2电磁波的频率（f），速度（c）和波长（λ）之间的关系可用（）表示。A.f=λ•c B.c=f•λC.λ=f•c D.λ=f/c1.3原子核的质子数等于（）。A.中子数 B.原子序数C.光子数 D.原子量1.4质子和中子的区别是中子没有（）。A.电荷 B.质量C.自旋 D.半衰期1.5当几种粒子和射线通过空气时，其电离效应最高的是（）。A.α粒子 B.β粒子C.中子 D.×和λ射线1.6在射线探伤中应用最多的三种射线是（）。A.×射线，γ射线和中子射线 B.α射线、β射线和γ射线C.×射线，γ射线和β射线 D.×射线，γ射线和α射线1.7原子核外电子能级量高的是（）。A.外壳层 B.中间壳层C.内壳层 D.以上均不是1.8同位素是指（）。A.质量数相同而中子数不同的元素；B.质量数相同而质子数不同的元素；C.中子数相同而质子数不同的元素：D.质子数相同而质量数不同的元素。1.9×射线、γ射线和α粒子有一个共同点，即它们都是（）。A.均质粒子辐射 B.电磁辐射C.微波辐射 D.电离辐射1.10在射线检验中采用的能量范围（约100KeVc•10MeV）射线穿过钢铁强度衰减的最主要原因是（）。A.光电效应 B.汤姆逊效应C.康普顿效应 D.电子对效应1.11光子能量的数学表达式是（）。A.E=h/v B.E=λ/hcC.E=hv D.E=hv21.12强度为I的单色射线通过厚度为A×的材料后，强度减弱△I，其关系式为△I=μI△×，此式表示下列哪种现象?（）A.光电效应 B.康普顿散射C.吸收 D.半价层厚度1.13通常所说的200KV×射线指（）。A.最大能量为0.2MeV的“白色”×射线B.平均能量为0.2MeV的连续射线C.能量为0.2MeV的连续射线D.有效能量为0.2MeV的连续射线1.14单色射线是指（）。A.标识×射线 B.工业探伤γ源产生的射线C.用米产生高对比度的窄束射线 D.由单一波长的电磁波组成的射线1.15在一般的工业探伤中，射线与物质相互作用时，主要产生的二个效应是（）。A.光电效应和电子对效应 B.光电效应和康普顿散射C.康普顿散射和电子对效应 D.康普顿散射和电离1.16当光子与物质相互作用时，光子将部分能量用于逐出轨道电子，且剩余的能量变为电子的动能，这就是（）。A.康普顿散射 B.光电效应C.电子对效应 D.电离1.17当光子与物质相互作用时，光子的波长增加，方向改变，这是由于（）的结果。A.光电效应 B.康普顿散射C.汤姆逊散射 D.电子对产生1.18康普顿散射的特征是（）。A.产生光电子 B.产生俄歇电子C.产生反冲电子 D.产生正负电子对1.19光电效应的特征是（）。A.产生光电子 B.发射标识×射线C.发射二次电子 D.以上都是1.20知某单能射线在钢中的半价层为3mm，则该射线在钢中的吸收系数为（）。A.0.231cm B.2.31cm—1C.2.079cm D.0.00231mm—11.21射线通过物质时的衰减取决于（）。A.物质的原子序数、密度利厚度 B.物质的杨氏模量C.物质的泊松比 D.物质的品粒度1.22窄火和宽束的区别是（）。A.窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达检测器。B.窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是指散射和未散射的射线均到达检测器。C.窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。D.窄束和宽束区别在于照射场大小不同。1.23散射线的主要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的（）。A.光电过程 B.康普顿过程C.电子对过程 D.电离过程1.24从×射线管中发射出的射线包括（）。A.连续×射线 B.标识×射线C.β射线 D.A和B1.25连续×射线穿透厚工件时，有何特点?（）A.第二半价层小于第一半价层； B.第二半价层等于第一半价层；C.第二半价层大于第一半价层； D.第二半价层与第一半价层关系不确定1.26当射线波长一定时，下列哪种物质的μ最大?（）A.Fe B.AI C.Ti D.Cu1.27产生×射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设置一个障碍物，使高速电子在这个障碍物上突然减速，这个障碍物被叫（）。A.阳极 B.阴极 C.靶 D.灯丝1.28×射线的穿透能力取决于（）。A.毫安 B.千伏值 C.曝光时间 D.焦点尺寸1.29γ射线的穿透能力取决于（）。A.源的尺寸 B.源的种类 C.曝光时间 D.焦点尺寸1.30当施加于×射线管两端的管电压不变，管电流增加时，则（）。A.产生的×射线波长不变，强度不变；B.产生的×射线波长不变，强度增加：C.产生的×射线波长不变，强度减小；D.产生的×射线波长增加，强度不变。1.31×射线机的管电流不变，管电压减小时，则×射线将会发生（）。A.强度不变，波长减小 B.强度不变，波长增大C.波长减小，强度减小 D.波长增大，强度减小1.32×射线管所产生的连续×射线的强度与管电压的关系是（）。A.强度与管电压成正比； B.强度与管电压成反比；C.强度与管电压平方与正比； D.强度与管电压平方成反比。1.33活度为80Ci、平均能量为1.66MeV的同位素源，经过3个半衰期后，其平均能量为（）。A.0.008MeV B.0.22MeVC.0.33MeV D.1.66MeV1.34放射性同位素衰变时，原子核衰变方式通常是（）。A.粒子发射 B.K俘获C.裂变 D.A和B1.35韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时，与靶的什么相互作用而释放出电子的能量，产生连续×射线的?（）A.自由电子 B.原子核的质子或中子C.壳层电子 D.原子核外库仑场1.36放射性元素Co60转变为Ni60的过程是一次（）A.α衰变 B.β衰变 C.γ衰变 D.K俘获1.37以下关于光电效应的叙述，哪一条是错误的（）A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小；B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大；C.在光电效应过程中除产生光电子外，有时还会产生反冲电子；D.光电效应发射出的电子能量肯定小于入射光子的能量。1.38以下关于康普顿效应的叙述，哪一条是错误的（）A.散射光子的波长肯定小于入射光子：B.入射光子与散射光子能量之差为反冲屯子的动能；C.散射角α越大，散射光子能量越小；D.康普顿效应发生几率随入射光子能量增大而减小。1.39某放射性同位素的衰变常数为0.005371天—1，则其半衰期为（）A.186天 129天 53天 537天1.40下列几种材料中，射线衰减系数较大的是（）A.铜 铝 铁 碳1.41以下关于瑞利散射的叙述，哪一条是错误的（）A.瑞利散射是相干散射的一种；B.瑞利散射不改变光子能量，只改变光子的运动方向：C.瑞利散射的发生几率随原子序数的增大而减小：D，瑞利散射的发生几率随光子能量的增人而急剧减小。1.42射线照相难以检出的缺陷是（）A.未焊透和裂纹 B.气孔和未熔合C.夹渣和咬边 D.分层和折迭1.43射线照相法对哪一种焊接方法不适用。（）A.气焊、电渣焊 B.气体保护焊、埋弧自动焊C.手工电弧焊、系离子弧焊 D.摩擦焊、钎焊1.44以下哪些材料的熔化焊对接焊缝适宜使用射线照相法检测（）A.钢和不锈钢 B.钛和钛合金C.铝及铝合金 D.以上都适宜1.45以下关于射线照相特点的叙述，哪些是错误的（）A.判定缺陷性质、数量、尺寸比较准确B.检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大C.成本较高，检测速度不快D.射线对人体有伤害1.46康普顿效应的发生几率大致： （）A.与物质原子序数和光子能量成正比B.与物质原子序数和光子能量成反比C.与物质原子序数成正比，与光子能量成反比D.与物质原子序数成反比，与光子能量成正比1.47λ射线的光谱称为： （）A.线状谱 B.连续谱C.标识谱 D.以上都是1.48衰变常数入反映了放射性物质的固有属性： （）A.λ值越小，说明该物质越不稳定，衰变得越慢B.λ值越大，说明该物质越不稳定，衰变得越快C.λ值越小，说明该物质越稳定，衰变得越慢D.λ值越大，说明该物质越稳定，衰变得越快1.49射线与物质相互作用导致强度减弱，其原因为： （）A.吸收和散射B.衰变和吸收C.衰变和散射D.以上都是1.50对于不同物质和不同能量区域，光电效应、康普顿效应、电子对效应各自占优势的区域是： （）A.对于低能量射线和原子序数高的物质，光电效应占优势B.对于中等能量射线和原子序数低的物质，康普顿效应占优势C.对于高能量射线和原子序数高的物质，电子对效应：与优势D.以上都是1.51各种效应对射线照相质量产生的影响是： （）A.光电效应和康普顿效应有利丁提高照相对比度B.电子对效应和康普顿效应有利于提高照相对比度C.光电效应利电子对效应有利于提高照相对比度D.光电效应和电子对效应会降低照相对比度2.1管电压、管电流不变，将×射线管阳极由铜换成钨，产生连续×射线线质如何变化? （）A.变硬 B.变软 C.不变 D.不一定2.2×射线管的阳极靶最常用的材料是（）A.铜 B.钨 C.铍 D.银2.3软射线×射线管的窗口材料一般是（）。A.铜 B.钨 C.铍 D.银2.4×射线机技术性能指标中，焦点尺寸是一项重要指标，焦点尺寸是指（）。A.靶的几何尺寸 B.电子束的直径C.实际焦点尺寸 D.有效焦点尺寸2.5在条件允许的情况下，焦点尺寸应尽可能的小，其目的是（）。A.减小设备体积 B.提高清晰度C.增加能量密度 D.节省合金材料2.6×射线管中轰击靶产生×射线的高速电子的数量取决于（）。A.阳极靶材料的原子序数； B.阴极靶材料的原子序数：C.灯丝材料的原子序数； D.灯丝的加热温度2.7下列哪一特征，不是×射线管的靶材料所要求的（）。A.高原子序数 B.高熔点C.高热传导率 D.高质量吸收系数2.8当两台相同型号的×射线机的千伏值利毫安值均相同时，则（）。A.产生的×射线的强度和波长一定相同；B.产生的×射线的波长相同，强度不同；C.产生的×射线的强度相同，波长不同；D.产生的×射线的强度和波长不一定相同。2.9高压变压器直接与×射线管相连接的×射线机叫做（）A.全波整流×射线机 B.自整流×射线机C.交流×射线机 D.恒电压×射线机2.10×射线管对真空度要求较高，其原因是（）A.防止电极材料氧化：B.使阴极与阳极之间绝缘：C.使电子火不电离气体而容易通过：D.以上三者均是。2.11决定×射线机工作时间长短的主要因素是（）A.工作电压KV的大小； B.工作电流mA的大小；C.工件厚度的大小： D.阳极冷却速度的大小。2.12×射线机中循环油的作用是（）A.吸收散射线 B.滤去一次射线中波长较长的射线；C.散热； D.增强一次射线2.13大焦点×射线机与小焦点×射线机相比，其缺点是（）A.射线的能量低穿透力小； B.射线不集中，强度小；C.照相黑度不易控制； D.照相清晰度差。2.14一般×射线机调节管电压的方法通常是（）A.调节灯丝的加热电压； B.调节阴极和阳极之间的电压；C.调节阴极和阳极之间的距离； D.调节灯丝与阴极之间的距离○2.15×射线管中的阴极最常见的是（）A.冷阴极 B.热阴极C.旋转阴极 D.固定阴极2.16提高灯丝温度的目的是使（）A.发射电子的能量增大： B.发射电子的数量增多；C.发出×射线的波长变短； D.发出×射线的波长变长。2.17大功率×射线管阳极冷却的常用方法是（）A.辐射冷却 B.对流冷却C.传导冷却 D.液体强迫循环冷却2.18y射线探伤机与×射线探伤机相比，其优点是（）A.设备简单 B.不需外部电源C.射源体积小 D.以上三者都是2.19探伤所用的放射性同位素，都是（）A.天然同位素 B.人造同位素C.稳定同位素 D.以上三者都是2.20放射性同位索的辐射强度与时间的关系是（）A.随时间增大 B.与时间无关C.随时间减小 D.三者都不对2.21利用了射线探伤时，若要增加射线强度可以采用（）A.增加焦距 B.减小焦距C.减小曝光时间 D.三者均可2.22下列四种放射性元素中，半价层最厚的是（）A.C○60 B.Cs137 C.Ir192 D.Tm1702.23下列四种放射性元素中，中衰期最长的为（）A.C060 B.Cs137 C.Ir192 D.Tm1702.24Se75γ源发出的主要射线的能量为：（）A.0.265MeV和0.136MeV B.0.11MeV和0.15MeVC.1.33MeV和1.17MeV D.0.31MeV和0.47MeV2.25180mm厚的钢试倒：射线照相，可能使用的γ射线源是（）A.钴60 B.铥170 C.铱192 D.铯1372.26可使用铱192照相的钢试件厚度范围是（）A.100～200mm B.8～60mmC.4～15mm D.20～100mm2.27决定材料对×射线吸收量最重要的因素是（）A.材料厚度 B.材料密度C.材料原子序数 D.材料晶粒度2.28下面有关×射线管焦点的叙述，哪一条是错误的?（）A.有效焦点总是小于实际焦点；B.焦点越小，照相几何不清晰度越小；C.管电压、管电流增加，实际焦点会有一定程度的增大；D.焦点越大，散热越困难。2.29放射性同位素源的比活度取决于（）A.核反应堆中照射的中子流；B.材料正反应堆中的停留时间：C.照射材料的特性（原子量、活化截面）；D.以上全是。2.30下列四种放射性同位素中，可用米透照厚度为5~10mm的薄壁管，辐射特性类似200～250KV×射线的是（）A.Ir192 B.Cs137 C.C○60 D.Se752.31一般放射性比活度高的源其白吸收（）A.较高 B.较低C.两者无关 D.无自吸收2.32决定×射线管靶材适用性的两个因素是（）A.拉伸强度和屈服强度 B.硬度和磁导率C.电阻和抗氧化性能 D.原子序数和熔点2.33以下关于便携式×射线机操作使用的叙述，哪条是错误的（）A.×射线机停用超过3天，才需要训机；B.送高压前应预热灯丝；C.机内SF6气机过低，将影响绝缘性能：D.应保持工作和间歇时间1：1。2.34以下哪一条不是了射线探伤设备优点（）A.不需用电和水 B.可连续操作C.可进行周向曝光和全景曝光 D.曝光时间短、防护要求高2.35×射线管中，电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生（）A.连续×射线 B.标识×射线C.短波长×射线 D.热2.36×射线管管电流大小主要取决于（）A.靶材料 B.灯丝电流C.阳极到阴极的距离 D.以上都是2.37×射线管中轰击靶的电子运动的速度取决于（）A.靶材的原子序数 B.管电压C.管电流 D.灯丝电压2.38在管电压、管电流相同的情况下，下列哪种线路产生的射线质较硬、照射剂量率较大?（）A.半波整流 B.全波整流C.稳恒直流 D.线路种类与射线的质和剂量率无关2.39在管电压、管电流相同的情况下，焦点尺寸越小，其焦点的温度（）A.越低 B.越高 C.不变 D.不一定2.40各种胶片成像的粒度（）A.随千伏值提高而增大 B.随千伏值捉高而减小C.与千伏值无关 D.变化服从朗伯定律2.41表示胶片受到一定量×射线照射，显影后的底片黑度是多少的曲线叫做（）A.曝光曲线 B.灵敏度曲线C.特性曲线 D.吸收曲线2.42×胶片的片基常用的材料是（）A.聚氯乙烯薄膜 B.聚氨脂薄膜C.涤纶薄膜 D.聚乙烯薄膜2.43保存射线胶片的环境相对湿度应为（）A.10～25％ B.50～5％C.70～85％ D.越干燥越好2.44胶片特性曲线上，过两个特定黑度点的直线的斜率叫做（）A.胶片宽容度 B.梯度C.平均梯度 D.感光度2.45由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是（）A.胶片的反差系数 B.胶片的本底灰雾度C.正常的曝光范围 D.三者均是2.46哪一因素变化，会使胶片特性曲线形状明显改变?（）A.改变管电压 B.改变管电流C.改变焦距 D.改变显影条件2.47实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是（）A.×或γ光量子 B.a粒子C.电子 D.中子2.48下面有关胶片的四种叙述中，唯一正确的是（）A.胶片颗粒度大，感光速度就快，底片图象清晰；B.胶片颗粒度小，感光速度就快，底片图象模糊；C.胶片颗粒度大，感光速度快，底片图象模糊；D.胶片颗粒度小，感光速度快，底片图象清晰。2.49底片的黑度范围限制在胶片特性曲线的直线区域内，这是因为在此区域透照出的底片（）A.黑度火 B.感光度高C.本底灰雾度小 D.对比度高2.50曝过光的×胶片，不能在高温高湿的环境内保持时间过长，否则会引起（）A.药膜自动脱落 B.产生白色斑点C.产生静电感光 D.潜象衰退、黑度下降2.51胶片分类的依据主要是（）A.成像特性 B.感光特性C.感光度和梯度 D.灰雾度和宽容度2.52×胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成份是（）A.AgBr B.AgO2 C.AgS D.AgBr22.53用含锑5％的铅合金代替铅作增感屏其原因是这种增感屏（）A.清晰度好 B.斑点效应好C.比较耐用 D.增感系数高2.54与非增感型胶片配合使用的增感屏是（）A.荧光增感屏 B.铅箔增感屏C.荧光铅箔增感屏 D.稀土荧光增感屏2.55荧光增感屏与铅箔增感屏相比，荧光增感屏的主要优点（）A.图象的清晰度高 B.可提高灵敏度C.可缩短曝光时间 D.能屏蔽散射线2.56铅箔增感屏的最主要优点是（）A.可加速胶片感光同时吸收部分散射线；B.可提高照相清晰度；C.可减小照相颗粒度；D.以上都是。2.57使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间，提高底片的黑度，其原因是铅箔受×射线或了射线照射时（）A.能发出荧光从而加速胶片感光；B.能发出可见光从而使胶片感光；C.能发出红外线从而使胶片感光：D.能发出电子从而使胶片感光。2.58射线照相中，使用像质计的主要目的是（）A.测量缺陷大小 B.评价底片灵敏度C.测定底片清晰度 D.以上都是2.59什么是使用像质计的局限性?（）A.不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据；B.不能比较两种不同透照技术的质量高低；C.不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示；D.不能验证所用透照工艺的适当性。2.60金属丝型像质计应具有的标志有：（）A.像质计标准编号 B.线材代号C.最粗线与最细线的编号 D.以上都是2.61对母材厚度为16毫米的双面焊接的焊缝进行射线探伤时，在底片上能发现直径为0.32毫米的钢丝质像质计，其像质计相对灵敏度为（）A.1％ B.1.5％ C.2％ D.2.5％2.62平板焊缝照相时，—F面四种关于像质计摆放的叙述，唯一正确的摆放位置是（）：A.近胶片一侧的工件表面，并应靠近胶片端头；B.近射源一侧工件表面，金属丝垂直焊缝，并位于：工件中部；C.近胶片一侧的工件表面，并应处在有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外；D.近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外。2.63钛对射线的吸收系数小于钢，在透照钛试件时采用了钢丝像质计，如果底片上显示的像质指数刚好达到标准要求，则该底片的灵敏度（）A.刚好符合标准要求 B.达不到标准要求C.远远超过标准要求 D.无法判断2.64知入射光强3200cd/m2，则底片黑度为2.5的区域透过的光强为：（）A.5cd/m2 B.8cd/m2C.10cd/m2 D.30cd/m22.65一个电压调节器由铁芯变压器组成，变压器只有一个绕组，绕组上有许多抽头。这种变压器叫做：（）A.高压变压器； B.灯丝变压器；C.自耦变压器； D.脉冲变压器。2.66以下关于周向辐射×射线管阳极靶的叙述，哪一条是错误的：（）A.周向辐射×射线管的阳极靶有平面靶和锥形靶两种；B.平面靶多用于300KV×射线管；C.平面靶散热效果比锥形靶好；D.使用平面靶×射线管的探伤机照相要注意横向裂纹漏检问题。2.67在其他参数不变的情况下，若显影时间延长，胶片特性曲线会出现（）A.梯度增大，感光速度提高； B.梯度减小，感光速度提高C.梯度减小，感光速度降低； D.梯度增大，感光速度降低2.68Ir192所发出的主要了射线能量为（）A.0.66MeV、0.84MeV、0.91MeV B.0.31MeV、0.47MeV、0.60MeVC.0.08MeV、0.05MeV、0.66MeV D.0.15MeV、1.12MeV、0.18MeV2.69以下哪一条，不是金属陶瓷管×射线机的优点（）A.体积小 B.重量轻C.故障小 D.不需要训机2.70以下哪一因素，对胶片梯度不产生影响（）A.射线能量 B.底片黑度C.胶片类型 D.显影条件2.71使用“真空暗盒”的主要优点是（）A.提高主因对比度 B.减小固有不清晰度C.减小底片颗粒度 D.以上都是2.72胶片系统分类中所指的胶片系统包括（）A.胶片、增感屏、暗盒 B.胶片、增感屏、暗盒、背防护铅板C.胶片、增感屏、冲洗条件 D.源、胶片、增感屏、冲洗条件2.73适宜检测厚度5～30mm的钢试件的放射性同位素是（）A.Irl92 B.Tm170 C.Yb169 D.Se752.74黑度计的光传感器要求线性好，主要是为了（）A.减少背景光的影响 B.抑制零点漂移C.扩大量程范围 D.提高测量精度2.75“S”通道型γ射线机与直通道型γ射线机相比，其优点是（）A.重量轻 B.体积小 C.输源管弯曲半径可以更小 D.以上都是2.76金属陶瓷×射线管的特点是：（）A.抗震性强，一般不易破碎B.管内真空度高，各项电性能好，管子寿命长C.容易焊装铍窗口D.以上都是2.77在增感型胶片的特性曲线中，黑度值随曝光量对数的增加而呈线性增大的区段叫做：（）A.曝光过度区 B.曝光迟钝区C.曝光正常区 D.反转区2.78铅箔增感屏铅箔表面沾了油污后，会造成：（）A.底片上出现类似裂纹的黑线 B.底片上产生黑影C.底片上产生白影 D.以上都是3.1从可检山最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A.底片成像颗粒度；B.底片上缺陷图象不清晰度；C.底片上缺陷图象对比度；D.以上都是。3.2射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（）A.主因反差； B.底片反差：C.清晰度； D.胶片反差。3.3影响主因对比度的是（）A.射线的波长 B.散射线C.工件的厚度差 D.以上都是3.4胶片对比度取决于：（）A.胶片类型（或梯度G） B.显影条件C.底片黑度D D.以上都是3.5射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做（）A.主因对比度 B.颗粒度C.清晰度 D.胶片对比度3.6几何不清晰度也可称为（）A.固有不清晰度 B.几何放大C.照相失真 D.半影3.7射线透照的几何不清晰度（）A.与工件厚度成正比，与焦点尺寸成反比；B.与工件厚度成反比，与焦点尺寸成反比；C.与焦点尺寸成正比，与焦距成反比；D.与焦点尺寸成反比，与焦距成正比。3.8决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是（）A.对比度 B.不清晰度C.颗粒度 D.以上都是3.9射线照相底片的颗粒性是由什么因素造成的?（）A.影像颗粒或颗粒团块的不均匀分布；B.底片单位面积上颗粒数的统计变化；C.颗粒团块的重重叠叠；D.以上都是。3.10下列四种因素中，不能减小几何不清晰度的因素是（）A.射源到胶片的距离； B.胶片到工件的距离；C.射源的强度； D.射源的尺寸。3.11减小几何不清晰度的方法是（）A.选用焦点较大射源； B.使用感光速度较快的胶片；C.增大射源到胶片的距离； D.增大工件到胶片的距离。3.12固有不清晰度与下列哪一因素有关（）A.源尺寸； B.胶片感光度；C.胶片粒度； D.射线能量3.13为了提高透照底片的清晰度，选择焦距时，应该考虑的因素是（）A.射源的尺寸，射源的强度，胶片类型；B.工件厚度，胶片类型，射源类型；C.射源强度，胶片类型，增感屏类型；D.射源尺寸，几何不消晰度，工件厚度。3.14下列四种因素中对底片的清晰度无任何影响的是（）A.射源的焦点尺寸 B.增感屏的类型；C.射线的能量 D.底片的黑度3.15下列哪一种情况对胶片梯度和底片颗粒度同时产生影响?（）A.改变KV值 B.改变焦距C.改变mA值 D.改变底片的黑度3.16在射线照相中，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A.射源尺寸 B.射源到缺陷的距离C.缺陷到胶片的距离 D.缺陷相对于射源和胶片的位置和方向3.17下列影响几何不清晰的是：（）A.透照厚度差 B.焦距C.射线能量 D.底片黑度3.18使用铜增感屏比铅箔增感屏能：（）A.得到更小的固有不清晰度B.增大固有不清晰度C.提高照相对比度D.降低照相对比度3.19透照有余高的焊缝时，为使像质计金属丝在焊缝和母材部位得到相同显示，应（）A.根据焊缝的余高选择合适的射线能量； B.尽量选择较高能量射线；C.尽量选择较低能量射线； D.以上都不对。3.20以下哪一个参数不被认为是影响裂纹检出的关键参数（）A.长度L B.开口宽度WC.自身高度d D.裂纹与射线角度θ3.21透照板厚一定且有余高的焊缝，散射比随有效能量的提高而（）A.增大 B.减小 C.不变 D.不一定3.22用单壁外透法透照同一筒体时，如不考虑焦点投影尺寸的变化，纵缝Ug与环缝Ug的区别是：在一张底片的不同部位（）A.纵缝Ug值各处都一样，而环缝Ug随部位而变化；B.环缝Ug值各处都一样，而纵缝Ug值随部位而变化；C.无论纵缝、环缝，Ug值在任何部位都相同，不发生变化；D.以上都不是。3.23用置于透照区中心附近的铂一钨双丝透度计可以从射线底片上测出一定管电压下的（）A.吸收系数； B.散射因子；C.固有不清晰度； D.形状修止系数。3.24下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主冈对比度（）A.试件的材质； B.射线的能谱；C.散射线的分布； D.毫安分或居里分。3.25下列哪一因素对照相底片颗粒性无明显影响?（）A.显影程度； B.使用铅增感屏；C.射线穿透力； D.使用荧光增感屏。3.26工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差?（）A.焦距增大； B.焦点尺寸减小；C.工件厚度增大； D.胶片与工件距离减小。3.27如何提高射线底片的信噪比?（）A.增加曝光量； B.提高管电压；C.增大焦距； D.胶片与工件距离减小。3.28下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素?（）A.焦点或射源尺寸； B.黑度；C.焦距； D.射线线质。3.29在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?（）A.增大源到胶片距离； B.采用较厚的铅增感屏；C.使用速度快的胶片； D.缩短曝光时间。3.30决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是（）A.对比度 B.不清晰度B.颗粒度 D.以上都是3.31胶片与增感屏贴合不紧，会明显影响射线照相的（）A.对比度 B.不清晰