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文档简介
射线检测通用工艺规程1.适用范围:适用于压力容器受压元件的制造、安装、在用检测中对金属熔化焊焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。承压设备其他其他金属材料、支承件和结构件的焊接接头的射线检测,也可参照使用。本部分规定的射线检测技术分为三级:A级一低灵敏度技术;AB级一中灵敏度技术;B级一高灵敏度技术。承压设备对接焊接接头的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。1.探伤人员资格:2.1无损检测人员资格分为111(高)级、11(中)级、I(初)级。取得不同无损检测方法各资格级别的人员,只能从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作,并负相应的技术责任。2.2各级人员的职责范围:III级人员:审核或签发检测报告,解释检测结果,仲裁II级人员对检测结论的技术争议。II级人员:编制探伤工艺卡,熟练地调节仪器,独立进行检测工作,正确评定检测结果,并对报告负责。I级人员:在II、III级人员指导下,按工艺要求完成检测工作。2.3从事射线检测地人员:•上岗前应进行辐射安全知识的培训,并取得放射人员工作证;•未经矫正或经矫正的近(距)视力和远(距)视力不低于5.0(小数记录值1.0),测试方法应符合GB11533的规定,从事评片的人员应每年检查一次视力。射线检测设备:3.1射线装置本规程所适用的射线装置为X射线机。3.2观片灯观片灯的主要性能应符合GB/T19802的有关规定,最大亮度应能满足评片的要求。3.3黑度计(光学密度计)3.3.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5,测量值的误差应不超过±0.05。3.3.2黑度计首次使用前应进行核查,以后至少每六个月应进行一次核查,形成核查报告。核查方法可参照NB/T47013.2附录B的规定进行。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。3.4标准密度片标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准,且能覆盖0.3〜4.5黑度范围,应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。射线检测工艺及其选择:采用AB级:该规程所规定的一些技术指标和要求均须按该级别所规定的要求执行。4.1表面准备4.1.1对接焊接接头的表面需经外观检测合格后才能进行射线探伤;表面的不规则状态应不妨碍底片上缺陷的辨认,否则应对表面作适当修整。4.2射线源及能量选择:4.2.1应根据照相质量等级、透照方法和工作厚度、材质等选择射线能量,在保证穿透力的前提下,为提高底片对比度,应尽可能选择能量较低的射线。4.2.2为保证设备的使用寿命,应考虑留有10%—20%的余量。即实际使用的穿透力是指给定设备90%满负荷时的穿透力。4.3胶片的类型及尺寸:4.3.1A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片,B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片;对标准抗拉强度下限值Rm^540MPa高强度材料射线检测时,应采用C4类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度不大于0.3。4.3.2胶片尺寸根据需要确定,以便适用于不同的场合。4.4增感屏4.4.1射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏,金属增感屏应满足GB/T23910的要求,增感屏应完全干净、抛光和无纹道。4.2.1增感屏的材料和厚度选择(见表1):4.4.3增感屏的材质必须均匀:表面光洁平整,不准有折裂,油迹污物,化学腐蚀痕迹及机械损伤。4.4.4增感屏和胶片在透照过程中应始终相互紧贴。
4.5散射线屏蔽4.5.1采用适当的屏蔽方法,限制受检部位的照射面积。4.5.2为防止背散射的影响,暗盒后面应衬托足够厚度的铅板(一般以1〜3mm厚为宜)。4.6像质计4.6.1像质计的型号与规格必须符合JB/T7902的规定,JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容,应符合HB7684的有关规定。表1增感屏的材料和厚度射线源材料前屏后屏中屏b厚度/mm厚度/mm厚度/mmX射线(W100kV)铅不用或W0.03W0.03—X射线a(>100kV〜150kV)铅0.02〜0.100.02〜0.152X0.02〜2X0.10X射线a(>150kV〜250kV)铅0.02〜0.150.02〜0.152X0.02〜2X0.10X射线a(>250kV〜500kV)铅0.02〜0.200.02〜0.202X0.02〜2X0.10a采用X射线检测时,每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。b双胶片诱照技术应增加使用中屏。4.6.2像质计的选用:像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2规定。表2不同材料的像质计适用的工件材料范围像质计材料代号AlTiFeNiCu像质计材料工业纯铝工业纯钛碳素钢镍一铬合金3#纯铜适用材料范围铝,铝合金钛,钛合金钢镍一铬合金铜,铜合金4.6.3像质计灵敏度值应符合表3、表4、表5的要求:表3像质计灵敏度值一单壁透照、像质计置于源侧应识别丝号丝径/mm公称厚度(T)范围/mmA级AB级B级19(0.050)——W1.518(0.063)—W1.2>1.5〜2.517(0.080)W1.2>1.2〜2.0>2.5〜4.016(0.100)W1.2〜2.0>2.0〜3.5>4.0〜6.015(0.125)>2.0〜3.5>3.5〜5.0>6.0〜8.0
14(0.160)>3.5〜5.0>5.0〜7.0>8.0〜1213(0.20)>5.0〜7.0>7.0〜10>12〜2012(0.25)>7.0〜10>10〜15>20〜3011(0.32)>10〜15>15〜25>30〜3510(0.40)>15〜25>25〜32>35〜459(0.50)>25〜32>32〜40>45〜658(0.63)>32〜40>40〜55>65〜1207(0.80)>40〜55>55〜85>120〜2006(1.00)>55〜85>85〜150>200〜3505(1.25)>85〜150>150〜250>3504(1.60)>150〜250>250〜350—3(2.00)>250〜350>350—2(2.50)>350——注:管或支管外径W120mm时,管座角焊缝的像质计灵敏度值可降低一个等级。表4像质计灵敏度值一双壁双影透照、像质计置于源侧应识别丝号丝径/mm透照厚度(W)范围/mmA级AB级B级19(0.050)——W1.518(0.063)—W1.2>1.5〜2.517(0.080)W1.2W1.2〜2.0>2.5〜4.016(0.100)W1.2〜2.0>2.0〜3.5>4.0〜6.015(0.125)>2.0〜3.5>3.5〜5.0>6.0〜8.014(0.160)>3.5〜5.0>5.0〜7.0>8.0〜1513(0.20)>5.0〜7.0>7.0〜12>15〜2512(0.25)>7.0〜12>12〜18>25〜3811(0.32)>12〜18>18〜30>38〜4510(0.40)>18〜30>30〜40>45〜559(0.50)>30〜40>40〜50>55〜708(0.63)>40〜50>50〜69>70〜1007(0.80)>50〜60>60〜85>100〜1706(1.00)>60〜85>85〜120>170〜2505(1.25)>85〜120>120〜220>250
4(1.60)>120〜220>220〜380—3(2.00)>220〜380>380—2(2.50)>380——表5像质计灵敏度值一双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧应识别丝号丝径/mm透照厚度(W)范围/mmA级AB级B级19(0.050)W1.518(0.063)—W1.2>1.5〜2.517(0.080)W1.2>1.2〜2.0>2.5〜4.016(0.100)>1.2〜2.0>2.0〜3.5>4.0〜6.015(0.125)>2.0〜3.5>3.5〜5.0>6.0〜1214(0.160)>3.5〜5.0>5.0〜10>12〜1813(0.20)>5.0〜10>10〜15>18〜3012(0.25)>10〜15>15〜22>30〜4511(0.32)>15〜22>22〜38>45〜5510(0.40)>22〜38>38〜48>55〜709(0.50)>38〜48>48〜60>70〜1008(0.63)>48〜60>60〜85>100〜1807(0.80)>60〜85>85〜125>180〜3006(1.00)>85〜125>125〜225>3005(1.25)>125〜225>225〜375—4(1.60)>225〜375>375—3(2.00)>375——透照布置:应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见NB/T47013.2附录E。5.1承压设备管子的透照:5.1.1外径大于100mm的钢管对接焊缝所采用双壁单投影分段透照。5.1.2外径小于等于100mm的钢管对接焊缝,采用双壁双影透照布置,当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像:a) T(壁厚)W8mmb) g(焊缝宽度)WD。/4。椭圆成像时,应控制影像的开口宽度(上下焊缝投影最大间距)在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。5.1.3小径管环向对接接头100%检测的透照次数:采用倾斜透照椭圆成像时,当T/D。<0.12时,相隔90°透照2次。当T/D°>0.12时,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时,一般应相隔120°或60°透照3次。5.2分段透照的数量一次透照长度应以透照厚度K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表6的规定。整条环向对接接头所需的透照次数可参照NB/T47013.2-2015附录F的曲线图确定。5.3安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方式。插入式管座角焊缝源在内透照方式时,应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。表6允许的透照厚度比K射线检测技术级别A级、AB级B级纵向焊接接头KW1.03KW1.01环向焊接接头KW1.1i)KW1.061)对100mmVD°W400mm的环向对接焊接接头(包括曲率相同的曲面焊接接头),A级、AB级允许采用KW1.2。透照条件的选择可根据每台设备的曝光曲线选择适宜的管电压及曝光量,但注意当焦距为700mm时,曝光量不得低于15毫安分,当焦距改变时,可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。标记的摆放与识别:7.1标记的摆放7.1.1识别标记一般包括:产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。定位标记一般包括中心标记、搭接标记和检测区标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记,可用符号“1”或其他能显示搭接情况的方法表示。检测区标记采取的方式能够清晰标识检测区范围即可。标记一般应放置在距离焊缝边缘至少5mm以外的部位,定位标记放置的部位还应符合NB/T47013.2-2015附录J的规定。所有标记的影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。7.1.2像质计放置原则a单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放在源侧,也可放在胶片侧。b单壁透照中,如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片侧。c单壁透照中像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验。对比试验方法是在源侧和胶片侧各放一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差,以此修正应识别像质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明。7.1.3返修片应在序号后放置能反映返修次数的标记。例:R1、R2……7.1.4增拍片应在序号前后加放K的标记。例:1A-3片返修。在3号片左侧为1A-2K,在3号片右侧为1A-4K。7.1.5当焊缝加强高为0时,为方便认识焊缝在底片上的位置,应在被检焊缝两侧的适当部位用铅质箭头标明焊缝边缘,注意铅箭头影像不可叠合在焊缝影像上。暗室处理8.1切片8.1.1切片前应保证工作台和切片刀清洁、平整。8.1.2切片时不可拆去胶片之间的保护纸,安全灯的亮度尽可能小,且切片处离安全灯尽可能远。8.1.3切好的胶片不可留有毛刺、擦伤及划痕,尺寸要符合规定要求,不得有歪斜现象。8.2装片、卸片8.2.1装片前首先应检查增感屏,不洁净者不用,不符合要求者应剔除,并检查增感屏编号与暗盒编号是否匹配。8.2.2装片时应尽量戴尼龙手套,否则,则应把握胶片的二个横截面,不允许手指接触胶片的平面。8.2.3卸片时,应将增感屏与胶片同时从暗盒中抽出,不可单独抽出胶片,以免擦伤和摩擦感光。8.3胶片处理胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。原则上应采用胶片厂家生产或推荐的冲洗配方或药剂,在按GB/T19384.2的规定,经比较试验证明的条件下,也可以使用其他厂家的配方或药剂。手工冲洗和自动冲洗胶片宜在曝光后8h之内完成,最长不得超过24h。.底片质量9.1底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。9.2单胶片透照技术,单底片观察评定,底片评定范围内的黑度D应符合下列规定:A级:1.5WDW4.5;AB级:2.0WDW4.5;B级:2.3WDW4.5。9.3双胶片透照技术,双底片叠加观察评定,评定范围内的黑度应符合2.7WDW4.5的规定。注1:双底片叠加评定时,黑度范围超过4.5的局部区域,如果单底片黑度范围符合9.2的规定时,可以对该区域进行单底片评定。注2:采用分类相同的胶片时,在有效评定区内每张底片上相同点测量的黑度的差应不超过0.5。注3:用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于1.3。注4:应同时观察、分析和保存每张底片。9.4用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件,单底片观察评定时,AB级最低黑度允许降至1.5;B级最低黑度可降至2.0。9.5对检测区进行评定时,对应着不同的胶片透照技
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