标准解读

《GB/T 15167-1994 半导体激光光源总规范》是中国关于半导体激光光源制定的一项国家标准，旨在为半导体激光器（也称为激光二极管）的生产、测试、使用和验收提供统一的技术要求和方法。此标准详细规定了半导体激光光源的基本性能指标、测试条件、测试方法以及安全要求，确保产品的一致性和可靠性。以下是该标准主要内容的概述：

  1. 范围：明确了标准适用的半导体激光光源类型，通常包括各种波长、结构和应用领域的半导体激光二极管。

  2. 引用标准：列出了实施本标准时需要参考的其他相关国家标准或国际标准，这些标准涉及基础术语、测量方法、安全规范等方面。

  3. 术语和定义：对半导体激光光源相关的专业术语进行了界定，帮助读者准确理解标准内容。

  4. 分类与命名：根据半导体激光器的工作波长、输出功率、结构特点等进行分类，并规定了命名规则，便于产品的标识和区分。

  5. 技术要求：

    • 性能指标：规定了半导体激光光源的关键性能参数，如输出功率、光束质量、工作寿命、稳定性、调制特性等。
    • 环境适应性：包括温度、湿度、振动、冲击等环境因素对激光器性能的影响要求。
    • 安全性：确保激光产品的辐射安全，符合国家对于激光产品的安全等级划分和控制要求。

  6. 测试方法：详细描述了如何测试上述各项技术要求所涉及的性能指标，包括测试环境、测试设备、测试步骤及数据处理方法。

  7. 检验规则：规定了产品出厂前应进行的检验项目、抽样方案、合格判定准则等，以保证出厂产品质量。

  8. 标志、包装、运输和储存：要求产品需有清晰的标识信息，同时对包装材料、方式、运输条件及储存环境提出具体要求，以防止损坏并保持产品性能稳定。

  9. 质量保证期限：规定了制造商应对产品提供质保的时间范围，以及在质保期内应承担的责任。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新
  • 1994-08-15 颁布
  • 1995-03-01 实施
©正版授权
GB/T 15167-1994半导体激光光源总规范_第1页
GB/T 15167-1994半导体激光光源总规范_第2页
GB/T 15167-1994半导体激光光源总规范_第3页
免费预览已结束，剩余13页可下载查看

下载本文档

GB/T 15167-1994半导体激光光源总规范-免费下载试读页

文档简介

UDC621.375.826L47中华人民共和国国家标准GB/T15167-94半导体激光光源总规范Generalspecificationforlightsourceofsemiconductorlasers1994-08-15发布1995-03-01实施国家技术监督局发布

月次主题内容与适用范围2引用标准·……·3术语、符号、代号4产品分类5技术要求6试验方法7检验规则8标志、包装、运输、财存其他

中华人民共和国国家标准半导体激光光源总规范GB/T15167-94GeneralspecificationforIightsourceofsemiconductorasers1主题内容与适用范围本规范规定了各类半导体激光光源(以下简称产品)的通用要求。产品的特性和有关详细要求在具体型号产品的详细规范中规定。本规范适用于由激光二极管管芯、监视光敏二极管管芯、热传感器(需要时)、致冷器(需要时)封装于同一外壳内并与尾纤(需要时)帮合成一体的半导体激光光源(简称模块）也适用于由激光二极管(带或不带尾纤)构成的激光光源(简称二极管光源)。D引用标准GB191包装储运图示标志GB2423.2电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB2423.4电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB2423.6电工电子产品基本环境试验规程试验Eb:碰撞试验方法GB2423.10电工电子产品基本环境试验规程试验Fe:振动(正弦）试验方法GB2423.15电工电子产品基本环境试验规程试验Ga:恒加速度试验方法GB2423.22电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB2423.23电工电子产品基本环境试验规程试验Q：密封GB2423.28电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB2423.29电工电子产品基本环境试验规程试验U；引出端及整体安装件强度GB2424.16电工电子产品基本环境试验规程密封试验导则GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB2829周期检查计数抽样程序及抽样表(适用于生产过程稳定性的检查）GB6388运输包装收发货标志GB6663直热式负温度系数热敏电阻器总规范GB7247激光产品的辐射安全、设备分类、要求和用户指南GB7408星期编号SJ2214.3半导体光敏二极管暗电流的测试方法SJ2214.5半导体光敏二极管结电容的测试方法SJ2214.9半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法SJ2214.10半导体光敏二、三极管光电流的测试方法SJ2749半导体激

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。

最新文档

评论

0/150

提交评论