GB/T 15174-2017可靠性增长大纲

ICS03120100312030

;

L05....

中华人民共和国国家标准

GB/T15174—2017/IEC610142003

代替:

GB/T15174—1994

可靠性增长大纲

Programmesforreliabilitygrowth

(IEC61014:2003,IDT)

2017-11-01发布2018-05-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

基本概念

4…………………7

概述

4.1…………………7

薄弱环节和失效的根源

4.2……………7

产品研制过程的可靠性增长基本概念综合可靠性工程概念

4.3;……8

试验阶段产品可靠性增长基本概念

4.4………………8

设计阶段可靠性增长计划和达到的可靠性的估计

4.5………………9

管理

5………………………12

概述

5.1…………………12

设计阶段的程序和过程

5.2……………13

沟通协调机制

5.3………………………13

设计阶段的人力及费用

5.4……………14

费用效益

5.5……………15

可靠性增长大纲的计划和执行

6…………15

综合可靠性增长概念和综述

6.1………………………15

设计阶段的可靠性增长活动

6.2………………………16

确认试验阶段的可靠性增长活动

6.3…………………18

可靠性增长试验的考虑

6.4……………18

现场可靠性增长

7…………………………28

参考文献

……………………29

Ⅰ

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替可靠性增长大纲与相比主要技术变化如下

GB/T15174—1994《》。GB/T15174—1994,:

增加了部分术语和定义见第章

———(3);

增加了产品研制阶段试验阶段设计阶段可靠性增长基本概念部分的内容见第章

———、、(4);

增加了设计阶段的程序和过程人力及费用部分的内容见第章

———、(5);

增加了综合可靠性增长概念和综述设计阶段的可靠性增长活动确认试验阶段的可靠性增长

———、、

活动章的内容并将年版的第章的内容放到第章作了更加详细的说明见

,19947、8、9、106,(

第章

6);

将年版第章部分内容放到第章增加了现场可靠性增长部分的内容见第章

———199476,(6);

删除了附录见年版的附录

———A(1994A)。

本标准使用翻译法等同采用可靠性增长大纲

IEC61014:2003《》。

与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下

:

可靠性试验第部分试验周期设计

———GB/T5080.2—20122:(IEC60605-2:1994,IDT);

可信性管理第部分可信性大纲管理

———GB/T6992.1—19951:(IEC60300-1:1993,IDT);

所有部分设备可靠性试验推荐的试验条件所有部分

———GB/T7288()[IEC60605-3()];

系统可靠性分析技术失效模式和效应分析程序

———GB/T7826—2012(FMEA)(IEC60812:

2006,IDT);

设计评审

———GB/T7828—1987(IEC61160:2005,NEQ);

故障树分析程序

———GB/T7829—1987(IEC61025:2006,NEQ)。

本标准与相比做了下列编辑性修改

IEC61014:2003,:

最后一段引用的威布尔分析标准存在引用错误在本标准中修改为威布尔

———6.4.3IEC60605-4,,

分析标准同时在本标准规范性引用文件中增加威布尔分析标准

IEC61649,,IEC61649;

在图中在所有条件判断框后面增加了是与否的判断回答

———8,“”“”;

在图中参照在图标题前增加了图注

———10,GB/T15174—1994,。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本标准由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会归口

(SAC/TC24)。

本标准起草单位工业和信息化部电子第五研究所北京航空工程技术研究中心芜湖赛宝信息产

:、、

业技术研究院有限公司北京大学

、。

本标准主要起草人高军梅文华侯卫国黄永华李东风程德斌时钟

:、、、、、、。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T15174—1994。

Ⅲ

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

可靠性增长大纲

1范围

本标准规定了暴露和排除硬件和软件产品中的薄弱环节的要求和导则以达到可靠性增长的目的

,。

本标准适用于当产品规范要求设备电子机电机械硬件及软件有可靠性增长大纲或已知设计若

(、、)

不改进则不可能满足要求时

。

本标准主要内容包括基本概念管理计划试验实验室和现场试验失效分析和改进技术为了

,、、()、。

估计增长后达到的可靠性水平还简略概述了数学模型

,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

可靠性试验第部分试验条件和统计检验原理

GB/T5080.1—20121:(IEC60300-3-5:2001,

IDT)

可信性管理第部分可信性大纲管理

IEC60300-11:(Dependabilitymanagement—Part1:

Dependabilitymanagementsystems)

可信性管理第部分可信性大纲管理导则

IEC60300-22:(Dependabilitymanagement—Part2:

Guidancefordependabilityprogrammemanagement)

可信性管理第部分应用指南可信性分析技术方法学指导

IEC60300-3-13-1:(Dependability

management—Part3-1:Applicationguide—Analysistechniquesfordependability—Guideonmethodology)

设备可靠性试验试验周期设计

IEC60605-2(Equipmentreliabilitytesting—Part2:Designof

testcycles)

所有部分设备可靠性试验推荐的试验条件

IEC60605-3()(Equipmentreliabilitytesting—Part

3:Preferredtestconditions)

系统可靠性分析技术失效模式和效应分析程序

IEC60812(FMEA)(Analysistechniquesfor

systemreliab