标准解读

《GB/T 16599-1996 钼的发射光谱分析方法》是中国一项关于钼元素分析的技术标准，该标准详细规定了使用发射光谱法测定钼合金及其他材料中钼含量的具体操作步骤、仪器要求、样品制备、分析条件以及结果计算方法。以下是标准内容的具体阐述：

标准适用范围

本标准适用于钼含量在0.01%至100%之间的各种合金及材料中钼的定量分析。它提供了一种通过发射光谱技术来准确测定样品中钼元素浓度的方法。

仪器与设备

  • 发射光谱仪：需要配备合适的分光系统和检测器，以确保能够准确捕捉并分析钼元素的特征发射光谱线。
  • 样品处理设备：包括用于样品粉碎、熔融、制备成合适形态（如电极或溶液）的工具和设备。
  • 辅助设备：如电子天平、高温炉、研磨器具等，用于样品的精确称量和预处理。

样品制备

  1. 固体样品：需经过粉碎、混合均匀后，可通过电弧放电或火花放电的方式转化为激发态样本，以便进行光谱分析。
  2. 溶液样品：若样品可溶，可通过化学溶解制备成溶液状态，再利用喷雾燃烧技术引入光谱仪进行分析。

分析条件

  • 激发条件：详细规定了电弧或火花放电的电流、电压等参数，以保证最佳的激发效果，使钼元素发出特征光谱。
  • 观测条件：指定了应观测的钼元素特征发射光谱线及其波长，以及光谱仪的分辨率、灵敏度设置等，确保分析的准确性和精密度。

结果计算与校正

  • 校准曲线：通过分析一系列已知浓度的标准样品，建立钼元素浓度与光强度之间的关系，即校准曲线。
  • 结果计算：根据测试样品的光谱强度，在校准曲线上读取对应的钼含量，进行必要的背景扣除和校正后，计算出最终结果。

精密度与准确度

标准中还提供了重复性和再现性试验的要求，以评估分析方法的精密度，并通过与国家标准物质或其它认可方法的比对，验证其准确度。

质量控制

强调在整个分析过程中实施严格的质量控制措施，包括空白试验、仪器校准、环境条件控制等，以确保分析结果的可靠性和一致性。


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  • 废止转行标
  • 本标准已被废除、停止使用，转为行业标准
  • 1996-11-04 颁布
  • 1997-04-01 实施
©正版授权
GB/T 16599-1996钼的发射光谱分析方法_第1页
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文档简介

TCS77.120.99H14中华人民共和国国家标准GB/T16599-1996钼的发射光谱分析方法Methodsforemissionspectrumanalysisofmolybdenum1996-11-04发布1997-04-01实施国家技术监督局发布

CB/T16599-1996我国目前钼的发射光谱分析尚无统一的方法标准，也无国际标准，所收领集到的前苏联国家标准《钼光谱分析方法「OCT14316-82》和美国ASTM标准推荐方法《钢光谱分析方法E-2SM8-21》与我国锯产品实际分析不尽适合。本标准无论从元素数量、分析含量下限和方法精度均优于以上两个国外标准。本标准方法一次摄谱同时测定17种杂质元素，方法测定下限低，分析结果准确可靠,操作简便可行，完全能够满足铝产品中杂质元素分析要求。本标准由中国有色金属工业总公司提出。本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所负责归口，本标准由自贡硬质合金厂负责起草。本标准主要起草人：谭泰章。

中华人民共和国国家标准GB/T16599-1996组的发射光谱分析方法Methodsforemissiomspectrumanalysisofmolybdenum1范围本标准规定了锯及锯化合物中铁、钴、铬、锅、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、梯、铅、、钒含量的测定方法。本标准适用于锯及钼化合物中铁、钴、铬、镐、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、梯、铅、钝、钒含量的测定。测定范围见表1。表1元测定范围，%测定范围，%0.0003~0.0120.0004~0.0120.00025~0.0120.00005～0.00240.00015~0.0120.0001~0.0080.00005~0.00400.0002~0.0100.0001~0.00800.0002~0.0100.0002~0.0100.00005～0.00240.0004~0.0120.00005~0.00240:0003~0.0120.0003~0.0120.00005～0.0070引用标准下列标准包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB1.4—88标准化工作导则化学分析方法标准编写规定GB1467—78泊金产品化学分析方法标准的总则及一般规定方方法原理采用直流电弧粉末法，以P-Ige绘制标准曲线，进行光谱定量分析。试剂和材料4.1三氧

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