频率特性测试仪

-.z.频率特性测试仪摘要：本频率特性测量仪以MSP430单片机为控制核心，由信号源、被测双T网络、检波电路、检相电路及显示等功能模块组成。其中，检波电路、检相电路由过零比拟器、鉴相器、有效值检波器、A/D、D/A转换器等组成；被测网络采用带自举功能的有源双T网络；同时本设计还把FPGA作为MCU的一个高性能外设结合起来，充分发挥了FPGA的高速信号处理能力和MCU的复杂数据分析能力；通过DDS可手动预置扫频信号并能在全频范围和特定频率范围内为自动步进测量，在数码管上实现频率和相位差的显示，以及实现了用示波器观察幅频特性和相频特性。关键词：单片机；DDS；幅频特性；相频特性方案比拟与论证方案论证与选择(1)系统总体方案描述该系统以单片机和FPGA为控制核心，用DDS技术产生频率扫描信号，采用真有效值检测器件AD637测量信号幅度。在FPGA中，采用高频脉冲计数的方法测量相位差，经过单片机运算，可得到100Hz～100kHz中任意频率的幅频特性和相频特性数据，实现在该频段的自动扫描，并在示波器上同时显示幅频和相频特性曲线。用键盘控制系统实现各种功能，并且在LCD同步显示相应的功能和数据。系统总体设计框图如图1所示。图1系统总体框图〔2〕扫描信号源发生器方案一：采用单片函数发生器。其频率可由外围电路控制。产生的信号频率稳定度低，抗干扰能力差，灵活性差。方案二：采用数字锁相环频率合成技术。但锁相环本身是一个惰性环节，频率转换时间长，整个测试仪的反响速度就会很慢,而且带宽不高。其原理图如图2所示：图2PPl原理图方案三：采用数字直接频率合成技术(DDFS)。以单片机和FPGA为控制核心,通过相位累加器输出寻址波形存储器中的数据,以产生固定频率的正弦信号。该方案实现简单，频率稳定，抗干扰能力强。其原理图如图3所示：图3DDS原理图综上分析，方案三可以产生高精度与高纯度的频率信号，频率分辨率很高，可以实现任意小的频率步进，固采用方案三。〔2〕幅频特性的测试方案一：由电压跟随器和二极管电路组成。当输入电压正半周通过时，检波管导通，对电容C充电，使电容上的电压逐渐趋近于峰值电压。只要RC足够大，可以认为其输出的直流电压数值上十分接近于交流电压的峰值。而在其它时段电容C上的电压将对电阻R放电。利用检波二极管对输出信号检测，得到与信号峰值成比例关系的直流信号，在经过运算放大器调整比例系数以便于单片机采样。方案二：使用高速A/D采样，通过采样值获得峰值。此方案精度很高，但是由于需要较高的采样频率，高频干扰无法彻底消除，给峰值获取带来很大难度，制作调试相对复杂。方案三：使用精度和速度都比拟高的有效值检测器件〔如AD637〕，通过有效值来计算幅度响应。此方案外围电路简单易于调试，精度也较高。综上考虑，由于芯片AD637精度很高，稳定性好，快速变化能力强，固采用方案三。〔3〕相频特性的测试方案一：积分法。将异或鉴相器的异或输出脉冲送至积分器积分，当积分电压到达一定值时再通过一个回路放电，并测量充放电的时间T1，T2。根据其比值算出其相位差。方案二：计数法。将输入和输出信号分别经过过零比拟器后对其输出方波进展异或操作。所得脉冲的占空比既能反映被测信号相位大小。测量异或脉冲的周期为T，假设其高点平时间为Th，给一个基准高频脉冲，T与Th内基准脉冲的数目分别为M、N，则信号的相位差则为ψ=(N/M)*360°。方案三：低通滤波法。将输入和输出信号分别经过过零比拟器后对其输出方波进展异或操作。将此异或输出信号微分得到两个对应被测信号负向过零瞬间的尖脉冲，利用非饱和型高速双稳态电路被这两组负脉冲所触发。所以，由于方案二硬件实现电路简单，且易于用FPGA实现，应选择方案二。二、理论分析与比拟1.低通滤波器输出周期为T、宽度为T*的方波，假设方波幅度为Ug，则此方波的平均值即直流分量可得。用低通滤波器将方波中的基波和谐波分量全部滤除后，输出电压即直流电压。上式中T为被测信号的周期，T*由两信号的相位差决定。T*与的关系为：(1-1)假设A/D的量化单位取为Ug/3600,则A/D转换结果即为的度数。2.阻容双T网络参数在此网络中，中心频率为，电路Q值为,频率特性方程为〔1-2〕通过改变两个电阻的阻值可以实现对K和Q的值的改变。由于系统要求的中心频率为，带宽为。将此要求带入上面公式即可得到个参数。三、硬件电路设计1.阻容双T网络其原理图如图5所示。，仿真后的幅频特性曲线如图6所示，相频特性曲线如图7所示。图5阻容双T网络图6幅频特性曲线图7相频特性曲线2.有效值检波器该模块采用的是AD637。AD637是一块高精度单片TRMS／DC转换器，可以计算各种复杂波形的真有效值。由于采用，峰值系数补偿在测量峰值系数高达10的信号时附加误差仅为1%。频带宽度在2V输入时可达8MHz。由于AD637芯片可以对输入的正弦信号峰值直接计算并输出其有效值，因此可以采用该芯片实现信号的峰值检测。其电路实现如图8所示：图8有效值检波电路图3.过零比拟器该模块采用LM339芯片，实现了波形由正弦波到方波的转换，其原理图如图9所示。图9过零比拟器原理图4.D/A转换器采用TLC7528和两片OP07构成D/A转换器，其原理图如图10所示。整个2处用到D/A转换器，分别将单片机输出的数字量转换成模拟量，传送到示波器的*轴和Y轴。图10D/A转换器原理图四、软件电路设计1.扫频测量的主程序流程图系统程序应包括监控程序，测试功能管理模块,DDS控制模块,扫频测试模块,结果处理模块和显示控制模块等。2.FPGA设计本设计中的鉴相器采用了FPGA来处理，实现了高精度的数字化测量。总体框图如图12所示。图11主程序流程图3.用D触发器判断将整形后的被测网络输入信号Ui加到D触发器D端，将整形后的被测网络输出信号Uo’加到触发器的CP端，如下图，假设Uo’超前Ui’，则对应Uo’上升沿处，Ui’为0，则D触发器输出为0。反之，Uo’滞后Ui’，则D触发器输出为1，将其输出送往单片机，即可判断相移的超前与滞后。图12D触发器及其波形图五、数据测试与分析 1.测试仪器DT9202A数字万用表HG—1643函数发生器Tektioni*TDS1001双踪示波器一台；电脑一台；FLUKE数字万用表。2.测试条件环境温度：25℃3.测试方法及数据(1)信号源的测试。用数字频率计测试信号源的频率及步进，用示波器或毫伏表测试峰值电压或有效值。测试数据如表一所示：表一信号源测试数据频率/Hz仪器测量值/Hz误差/%峰值电压/V25000250270.0012.0425010250930.3322.0425100251000.0002.0225400255730.6812.0326000262070.7962.0127000272420.8962.0030000306732.2431.9935000357972.2771.9940000415633.9071.98由测试数据可知信号源频率输出满足题目要求。频率稳定度从频率计的显示数据看，显示的数据的误差范围在5%以内。双T网络的测试用自制信号源测试双T网络，测试结果如表二所示。表二自制信号源测设双T网络数据频率/Hz电压/V频率/Hz电压/V频率/Hz电压/V298600.79299600.12300600.23298800.68299800.01300800.35299000.54300000.00301000.41299200.37300200.02301200.55从上表可以看出，本设计中的双T网络的陷波点在30KHz处。由于此题目双T网络要求的K值很高，实际制作调试中，存在实验条件的限制，双T网络的阻带宽度与理论有偏差。〔3〕幅频特性测试数据如表3所示，相频特性测试数据如表4所示。表3幅频特性测试数据频率(KHz)480048504900495050005050510051505200测量值(U)表4相频特性测试数据相频率(Hz)480048504900495050005050510051505200测量值(度)六、结论以单片机〔MCU〕为控制核心，由信号源、被测双T网络、检波电路、