JJF 2017-2022 (20～150)kV X射线束半值层仪校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范2VX射线束半值层仪校准规范nrfVm7发布 7实施国家市场监督管理总局 发布2VX射线束半值层仪校准规范rfVm

2归 口 单 位:全国电离辐射计量技术委员主要起草单位:中国测试技术研究院广东省计量科学研究院参加起草单位:山东第一医科大学第一附属医院西藏自治区计量测试所海南省计量测试所本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规范主要起草人:许诗朦中国测试技术研究院)何 韵广东省计量科学研究院杨 乾中国测试技术研究院)参加起草人:范 杰中国测试技术研究院)范医鲁山东第一医科大学第一附属医院)谢浩东西藏自治区计量测试所)王鼎凤海南省计量测试所)目 录引言………………………

Ⅱ)1范围……………………2引用文件………………3术语和计量单位………………………1术语…………………2计量单位……………4概述……………………5计量特性………………6校准条件………………1环境条件……………2标准装置……………3参考辐射场…………7校准项目和校准方法…………………1校准项目……………2一般性检查…………3重复性………………4示值误差……………8校准结果表达…………9复校时间间隔…………附录AM和M系列辐射质……

1)1)1)1)1)1)2)2)2)2)2)2)2)2)3)3)4)4)5)附录B 参考辐射场半值层的测量方法………………

7)附录C 半值层仪校准记录推荐格式附录D 半值层仪校准证书内页格

……………………

8)9)附录E 半值层仪示值误差的不确定度评定示

……

)Ⅰ引 言《 本规范的编写以0国家计量校准规范编写规则1通用计量术语及定义6电离辐射计量术语及定义—2测量不确定度评定与表示》为基础和依据。校准方法及计量特性主要参考了5医用诊断X射线设备测量特性使用的辐射条件》-c-2医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和或半导体探测器剂量计》ssn)和A7放射诊断剂量学:国际规定nc:nl。本规范为首次发布。ⅡVX射线束半值层仪校准规范范围本规范适用于放射诊断VX射线的直读式半值层仪校准,其测量范围不得小于4。引用文件本规范引用了下列文件:5医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和或)导体探测器剂量计A7放射诊断剂量学:国际规定n:)5医用诊断X射线设备 测量特性使用的辐射条件--4242

医用电器设备 X射线诊断影像中使用的电离室或半导体探测器剂量计rn)凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡是不注日期的引用文件,其最新版本包括所有的修改单适用于本规范。术语和计量单位术语 ;半值层 rL置于X射线辐射束通过的路径上能使空气比释动能率的值减小一半所需的给定材料的厚度。通常用铝片的厚度表示。计量单位空气比释动能率的单位:

瑞

每秒,

符号为。半值层单位:毫米铝,符号为。概述直读式半值层仪以下简称半值层仪是用于测量X射线辐射质的仪器通常由若干探测器、覆盖在探测器上不同厚度的过滤和测量单元或静电计三部分组成,通过测量穿过不同厚度附加过滤片的空气比释动能率,计算初始空气比释动能率减弱一半时的滤片厚度,得到半值层的值。1计量特性半值层仪各项目的计量特性和要求见表。表1计量特性和要求项目常规诊断乳腺诊断分辨力不小于1l不小于1l示值误差小于5或2l小于0或l重复性小于1小于1注:以上指标不用于合格性判别,仅供参考。校准条件环境条件1温度℃。2相对湿度)。3气压。标准装置 :

( ) , : 。数显千分尺

测量范围

5m E m标准诊断水平剂量计:测量范围5,年稳定性不超过1其电离室在辐射质R~RA~AT系列M系列及M系列的能量响应不超过6。2衰减过滤片:由纯度优于9 的不同厚度铝片组成,其组合厚度应满足。温度计:测量范围℃,最小分度值不大于1℃。)。温度计:测量范围℃,最小分度值不大于1℃。34

气压计:测量范围,最小分度值不大于。参考辐射场

( ) ,( )X射线辐射源的管电压范围

0V

0

的管电压误差不超过0V的管电压误差不超过。建立一个或多个与附录A一致的辐射质,或其他靶材和附加过滤乳腺辐射质。辐射场为准直束辐射场,在测试平面,推荐射野m或。校准项目和校准方法校准项目半值层仪的校准项目包括重复性和示值误差。一般性检查检查并记录半值层仪的分辨力。2重复性以相对实验标准偏差表示重复性。()

在参考辐射质条件下,

重复测量0次

按公式n Mn Mi=1-M2n-1·V=1·M

0

)式中:i被校半值层仪的读数,;M被校半值层仪读数的平均值,;n 测量次数。示值误差示值误差由相对示值误差或示值误差表示。

测试平面与焦点间距离d推荐为0测试平面上射野推荐为m或。将被校仪器探测器置于测试平面,探测器中心位于射线束轴上探测器测量面与射线束轴垂直其空间分布如图所示。被校仪器至少测量三次,

图1半值层仪校准示意图由公式)计算被校仪器半值层)的示值误差,由公式)计算被校仪器的相对示值误差。δ=H-H0

)式中

δ=H-H00 )H 被校仪器半值层读数的平均值,;H0—测试点的半值层标准值,;δ —被校仪器的示值误差,。δ—被校仪器的相对示值误差。3校准结果表达校准结果出具校准证书。校准证书除应包括F0中所要求的内容外,还应包含计量特性校准需注明的原则与环境条件。复校时间间隔用户可根据仪器的使用情况和仪器本身质量自行确定复校时间的长短,建议复校时间间隔为2个月。4附录AM和M系列辐射质系列辐射质见表。表1R系列辐射质辐射质VlRQR202RQR308RQR409*08RQR601RQR708RQR807RQR900007系列辐射质见表。表2A系列辐射质辐射质V辅助过滤llRQA2042RQA3008RQA4064A*018RQA6062RQA7002RQA8041RQA9006A0053系列辐射质见表。5表3T系列辐射质辐射质V辅助过滤/mmCulRQT8009*0540001M系列辐射质见表。表4M系列辐射质辐射质Vl158*81303456M系列辐射质见表。表5M系列辐射质辐射质V辅助过滤ll1526*82030224528注:标注*的辐射质为该系列辐射质的参考辐射质。6附录B参考辐射场半值层的测量方法半值层标准值测试示意图见图,测试平面与焦点间距离1推荐为0,测试平面与系列过滤片距离2推荐为0,测试平面上射野推荐为m或。按照附录A中7推荐的系列辐射质建立辐射场或其他不同靶材和附加过滤的乳腺辐射质建立辐射场。在每个辐射质,用标准诊断水平剂量计测量射线穿过不同厚度铝片的射线强度,通过作图法或最小二乘法拟合,确定射线强度减弱到初始值一半时的铝片厚度,该厚度即为该辐射质的半值层。图1半值层标准值测试示意图7附录C半值层仪校准记录推荐格式校准证书号: 校准日期: 年 月 日证书单位: 地址:样品名称: 生产厂家: 样品型号:样品编号: 探测器型号: 探测器编号校准依据: 校准地点:1校准用主要计量标准器具器具名称型号规格编号测量范围准确度或不确定度证书号有效期至环境条件: 温度: ℃,相对湿度: 2校准结果分辨力:重复性辐射质:

示值单位

:l1234567890V/示值误差射野: ×, 距离: ,被校仪器设置: 量程:辐射质管电压kV标准值l样品读数l示值误差□ □l)校准员: 核验员: 备注:8附录D半值层仪校准证书内页格式证书编号:××××××校准环境条件及其地点温度: ℃, 相对湿度: 。校准地点:测量标准及其他设备名称测量范围不确定度/准确度等级/最大允许误差证书编号有效期至校准结果分辨力:重复性:示值误差及不确定度 以下空白)辐射质管电压kV附加过滤辐射质管电压kV附加过滤ll/)9附录E半值层仪示值误差的不确定度评定示例测量条件与测量方法环境条件实验室温度℃,气压,相对湿度)。测量标准数显千分尺,测量范围),:。测量参数:半值层厚度。测量方法:使用有较好能量响应的剂量计和电离室,测量不同衰减厚度的空气比释动能,通过用最小二乘法拟合,确定空气比释动能率减弱一半的厚度得到半值层标准值。将被校仪器探测器置于测试平面,不放置衰减过滤器,探测器中心位于射线束轴上,其中轴线或入射平面与射线束轴中心垂直。被校半值层仪至少测量三次,由公式)计算被校仪器的相对误差。测量模型其中:

δ=H-H00 )H=Mf )式中:

H=MpNK0μ0

)H 被校仪器读数的平均值,;H0 测试点的半值层标准值,;M

被校仪器示值的平均值,;δ —被校仪器的相对误差M —标准剂量计的读数;μ —衰减曲线的影响修正;p —温度气压的影响修正e 标准电离室能量响应影响修正;d—分别为滤片纯度和滤片厚度的影响修正;f —辐射场非均匀性影响修正;s 辐射源变化影响修正;NK 空气比释动能的校准因子。公式)中被测量δ的估计值为,输入量估计值为i,则有:y12,…N) )由于各输入量之间不相关,合成方差为01 2·MN)H0HH2M+H当为5时,H0HH2M+H输入量的标准不确定度评定标准值测量引入的相对标准不确定度 ( )标准剂量计溯源引入的相对标准不确定度NK标准剂量计溯源的不确定度估计为0B类。 ()标准剂量计测量读数引入的相对标准不确定度M标准剂量计测量读数的不确定度估计为0A类。能量响应引入的相对标准不确定度)5电离室5的校准因子变化5

,其不确定度估计为9,B类。 ()衰减曲线μ引入的相对标准不确定度μ电离室衰减曲线带来的不确定度估计为0B类。滤片厚度测量引入的相对标准不确定度d)滤片厚度测量带来的不确定度,最多进行三次滤片叠加引入E为2。5叠加厚度为8,滤片厚度测量引入的标准不确定度估计为7B类。滤片纯度引入的相对标准不确定度)滤片纯度在9以上,滤片纯度引入的标准不确定度估计为3B类。温度气压引入的相对标准不确定度)温度气压引入的标准不确定度,估计为0B类。被校仪器测量引入的相对标准不确定度 ( )被校半值层仪测量读数引入的相对标准不确定度rM被校半值层仪测量读数的不确定度估计为0A类。辐射场非均匀性引入的相对标准不确定度)距焦点0m平面,中心0m区域内,非均匀性5,估计为9,B类。 ()辐射源变化引入的相对标准不确定度辐射源的变化引入的标准不确定度考虑为0B类。合成标