《集成电路测试技术》读书笔记模板

集成电路测试技术读书笔记模板01思维导图目录分析精彩摘录内容摘要读书笔记作者介绍目录0305020406思维导图测试技术技术集成电路测试相关工程测试技术集成电路设计测试方法第章系统模拟概述接口板数据器件本书关键字分析思维导图内容摘要内容摘要本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用，也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书。目录分析1.1引言1.2集成电路测试的主要环节1.3集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势1.4集成电路测试面临的挑战第1章集成电路测试概述1.1引言1.1.1集成电路测试的定义1.1.2集成电路测试的基本原理1.1.3集成电路测试的意义与作用1.2集成电路测试的主要环节1.2.1测试方案制定1.2.2测试接口板设计1.2.3开发测试程序1.2.4分析测试数据1.3集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势1.3.1集成电路测试的分类1.3.2集成电路测试行业现状及发展趋势1.4集成电路测试面临的挑战1.4.1行业发展挑战1.4.2测试技术挑战2.1数字集成电路测试技术概述2.2通用数字电路与ASIC测试技术2.3通用数字电路常见可测试性设计技术2.4存储器测试技术第2章数字集成电路测试技术2.5数字信号处理器测试技术2.7可编程器件测试技术2.6微处理器测试技术第2章数字集成电路测试技术2.3通用数字电路常见可测试性设计技术2.3.1内建自测试技术2.3.2扫描设计测试技术2.4存储器测试技术2.4.1存储器的故障模式和故障模型2.4.2存储器测试方法2.5数字信号处理器测试技术2.5.1功能模块的测试算法2.5.2指令测试方法2.5.3测试内容2.5.4测试向量生成方法2.6微处理器测试技术2.6.1微处理器测试内容2.6.2微处理器测试方法2.7可编程器件测试技术2.7.1常用可编程器件概述2.7.2可编程器件测试方法3.1模拟集成电路测试技术概述3.2通用模拟电路测试技术3.3放大器测试技术3.4转换电路测试技术第3章模拟集成电路测试技术3.6DC-DC变换器测试技术3.5模拟开关测试技术第3章模拟集成电路测试技术3.3放大器测试技术3.3.1集成运算放大器的测试方法3.3.2集成运算放大器的参数测量3.4转换电路测试技术3.4.1电平转换器（LDO）3.4.2电压-频率转换器4.1数模混合集成电路测试技术概述4.2基于DSP的测试技术4.3模数（A/D）转换器测试技术4.4数模（D/A）转换器测试技术第4章数模混合集成电路测试技术4.2基于DSP的测试技术4.2.1基于DSP的测试技术和传统模拟测试技术的比较4.2.2基于DSP的测试方法4.2.3采样原理4.2.4相干采样技术4.3模数（A/D）转换器测试技术4.3.1A/D转换器静态参数及其测试方法4.3.2A/D转换器动态参数及其测试方法4.4数模（D/A）转换器测试技术4.4.1D/A转换器静态参数及其测试方法4.4.2D/A转换器动态参数及其测试方法5.1射频电路测试技术概述5.3射频混频器测试技术5.2射频前置放大器测试技术第5章射频电路测试技术5.5射频功率放大器测试技术5.4射频滤波器测试技术第5章射频电路测试技术5.2射频前置放大器测试技术5.2.1射频前置放大器介绍5.2.2射频前置放大器参数及其测试方法5.3射频混频器测试技术5.3.1射频混频器介绍5.3.2射频混频器参数及其测试方法5.4射频滤波器测试技术5.4.1射频滤波器介绍5.4.2射频滤波器参数及其测试方法5.5射频功率放大器测试技术5.5.1射频功率放大器介绍5.5.2射频功率放大器参数及其测试方法6.2SoC测试主要难点6.1SoC测试技术概述第6章SoC及其他典型电路测试技术6.4其他典型器件测试技术概述6.3SoC测试关键技术第6章SoC及其他典型电路测试技术6.2SoC测试主要难点6.2.1SoC故障机理与故障模型6.2.2SoC测试难点分析6.3SoC测试关键技术6.3.1基本测试结构6.3.2测试环设计6.3.3IP核测试时间分析6.3.4SoC测试优化技术6.4其他典型器件测试技术概述6.4.1SiP测试技术6.4.2MEMS测试技术7.1集成电路设计与测试的链接技术概述7.2设计与测试链接面临的问题7.3可测试性设计技术7.4设计验证技术7.5常用测试向量格式及转换工具12345第7章集成电路设计与测试的链接技术7.3可测试性设计技术7.3.1可测试性设计原理7.3.2可测试性设计关键问题7.4设计验证技术7.4.1模拟验证7.4.2形式验证7.4.3断言验证7.5常用测试向量格式及转换工具7.5.1常用仿真向量格式7.5.2常用的测试向量转换工具8.1测试接口板概述8.2测试接口板的设计与制造8.3测试夹具的选择8.4信号完整性设计技术第8章测试接口板设计技术8.6测试接口板的可靠性设计8.5电源完整性设计第8章测试接口板设计技术8.1测试接口板概述8.1.1测试接口板基础8.1.2测试接口板设计的重要性8.2测试接口板的设计与制造8.2.1测试接口板的设计流程简介8.2.2通用DIB设计原则8.2.3专用DIB设计原则8.2.4DIB的材料选择8.4信号完整性设计技术8.4.1传输线简介8.4.2反射8.4.3串扰8.6测试接口板的可靠性设计8.6.1元器件选型8.6.2电磁兼容性设计8.6.3DIB的尺寸与器件的布置8.6.4热设计9.1数字集成电路测试系统9.2模拟集成电路测试系统9.3数模混合集成电路测试系统9.4存储器测试系统第9章集成电路测试设备9.6可靠性相关测试设备9.5基于标准总线的集成电路测试系统第9章集成电路测试设备9.1数字集成电路测试系统9.1.1数字集成电路测试系统概述9.1.2数字SSI/MSI测试系统9.1.3数字大规模集成电路自动测试系统架构9.3数模混合集成电路测试系统9.3.1数模混合集成电路测试系统的结构9.3.2数模混合集成电路测试系统的体系9.3.3数模混合集成电路测试系统实例9.4存储器测试系统9.4.1系统测试总体结构9.4.2存储器测试系统测试图形算法的生成9.5基于标准总线的集成电路测试系统9.5.1系统应用概述9.5.2虚拟仪器应用9.5.3基于标准总线的通用集成电路测试系统案例9.6可靠性相关测试设备9.6.1分选机9.6.2探针台10.1测试大数据10.2测试数据分析方法及工具软件10.3云测试10.4未来的测试第10章智能测试10.1测试大数据10.1.1以“数据”为核心的产业趋势10.1.2测试数据类型10.1.3测试大数据分析及挖掘10.2测试数据分析方法及工具软件10.2.1测试数据分析方法10.2.2测试数据分析工具软件10.3云测试10.3.1远程实时控制10.3.2自适应测试10.4未来的测试10.4.1汽车电子测试10.4.2系统级封装测试A.1实验目的A.3测试平台介绍A.2实验内容及步骤附录A集成电路测试实验A.5测试程序开发A.4待测芯片介绍及测试项提取附录A集成电路测试实验A.4待测芯片介绍及测试项提取A.4.1待测芯片介绍A.4.2