半导体所质量体系标准目录

半导体所质量体系标准目录一序号标准名称标准编号修订状态数量出版机构1PIN、APD光电探测器总规范SJ20644-9719971版1中华人民共和国电子工业部2人员培训和资格评定指南SJ/T10466.21-199519951版1中华人民共和国电子工业部3厂际质量保证体系工作指南GJB/Z2-8819891版1国防科学技术工业委员会4大气污染物综合排放标准GB16297-1996代替GB3548-83GB4276-84GB4277-84GB4282-84GB4286-84GB4911-85GB4912-85GB4913-85GB4916-85GB4917-85GBJ4-73各标准中的废气部分1国家环境保护局5大型试验质量管理要求GJB1452-921国防科学技术工业委员会6工艺文件的成套性工业文件格式SJ/T10324-921中华人民共和国信息产业部SJ/T10320-927工艺设计评审指南SJ/T10466.17-9419941版1中华人民共和国电子工业部8工艺评审GJB1269A-200020001版1国防科学技术工业委员会9工艺管理SJ/T10532.1-9419951版1中华人民共和国电子工业部SJ/T10532.2-94SJ/T10532.3-94SJ/T10532.4-94SJ/T10532.5-94SJ/T10532.6-94SJ/T10532.7-94SJ/T10532.8-94SJ/T10532.9-94SJ/T10532.10-94SJ/T10532.11-94SJ/T10532.12-94SJ/T10532.13-94SJ/T10532.14-9410工艺管理常用图形符号SJ/T10462-9319961版1中华人民共和国电子工业部

11工业文件标准汇编SJ/T10375-199320012版1中华人民共和国信息产业部SJ/T10376-1993SJ/T10377-1993SJ/T10531-1994SJ/T10631-199512工业产品使用说明书总则GB9969.1-1998代替GB9969.1-881国家技术监督局13工业产品保证文件一总则GB/T14436-93199411版国防技术监督局14工业产品售后服务第1部分：总则GB/T16784.1-19971国家技术监督局15工业产品售后服务第2部分：维修GB/T16784.2-19971国家技术监督局16工序质量控制要求GJB467-8819881版7国防科学技术工业委员会17不合格品的控制指南SJ/T10466.15-9419951版1中华人民共和国电子工业部18不合格品管理GJB571-881990再版1国防科学技术工业委员会19中国环境保护标准汇编大气质量分析方法20001版1中国标准出版社20中国环境保护标准汇编废气、废水、废渣分析方法20011版1中国标准出版社21中国环境保护标准汇编水质分析方法20011版1中国标准出版社22太阳电池光谱响应测试方法GB/T11009-19891中华人民共和国机械电子工业部23太阳电池温度系数测试方法SJ/T10459-199319941版1中华人民共和国电子工业部24太阳能电池组件参数测量方法GB/T14009-19921国家技术监督局25太阳敏感器电池通用规范GJB2832-971国防科学技术工业委员会26无损检测质量控制规范磁粉检GJB593.3-8819891国防科学技术验1版工业委员会27气体中微量水分的测定点解法GB5832.1-861国家标准局28气体中微量水分的测定电化学法GB6285-861国家标准局29气体中微量水分的测定露点法GB5832.2-861国家标准局30水平法砷化镓单晶及切割片GB11094-891国家技术监督局31GJB179A-9619961国防科学技术计数抽样检验程序及表1版工业委员会32包装储运图示标志GB191-2000EqvISO780：199720001版1国豕质量技术监督局33半导体分立器件试验方法GJB128A-9719971版1国防科学技术工业委员会

34半导体分立器件总规范GJB33A-9719971版1国防科学技术工业委员会35半导体光电组件总规范SJ20786-200020011版1中华人民共和国信息产业部36半导体光电模块总规范SJ20642-9719981版1中华人民共和国电子工业部37半导体光电器件GR1325J型长波长发光二极管组建详细规范SJ20642/7-200020011版1中华人民共和国信息产业部38半导体材料术语GB/T14264-931国家技术监督局39半导体材料牌号表示方法GB/T14844-931国家技术监督局40半导体单晶晶向测定方法GB/T1555-1997代替GB1555-79代替GB1556-79代替GB5254-85代替GB5255-85代替GB8759-881国家技术监督局41半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-200020011版1中华人民共和国电子工业部42半导体集成电路总规范GJB597A-9619961版1国防科学技术工业委员会43半导体激光二极管空白详细规范GB/T15649-199519961版1国家技术监督局44半导体激光二极管总规范GJB3519-9919991版1中国人民解放军总装备部45半导体激光光源总规范GB/T15167-941国家技术监督局46半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法SJ20635-9719981版1中华人民共和国电子工业部47发光二极管固体显示器总规范GJB2146-9419951版1国防科学技术工业委员会48可靠性维修性术语GJB451-9019901版1国防科学技术工业委员会49可靠性增长试验GJB1407-9219921版1国防科学技术工业委员会50外购器材的质量管理GJB939-901992重印1国防科学技术工业委员会51电子工艺用气体氮GB/T16944-19971国家技术监督局52电子工业用气体GB/T14600-9319941版1国家技术监督局GB/T14601-93GB/T14602-93GB/T14603-93GB/T14604-9353电子元器件设计文件编制示例SJ/T10718-199619971版1中华人民共和国电子工业部54电子兀器件制造防静电技术要求SJ/T10630-199519951版1中华人民共和国电子工业部

55电子元器件质量保证大纲GJB546A-9619961版1国防科学技术工业委员会56电子元器件选用管理要求GJB3404-9819981版1中国人民解放军总装备部57电子及电气原件试验方法GJB360A-9619961版1国防科学技术工业委员会58电子产品防静电放电控制大纲GJB1649-9319941版1国防科学技术工业委员会59电子产品制造防静电系统测试方法SJ/T10694-199619971版1中华人民共和国电子工业部60电子产品环境应力筛选方法GJB1032-901992重印7国防科学技术工业委员会61电子级气体重颗粒和痕量杂质测定方法SJ2798-871中华人民共和国电子工业部SJ2799-87SJ2800-87SJ2801-87SJ2802-87SJ2803-87SJ2804-87SJ2805-87SJ2806-87SJ2807-8762电子级水GB/T11446.1-19971国家技术监督局63电子级水测试方法GB/T11446.3-199719981版1国家技术监督局GB/T11446.4-1997GB/T11446.5-1997GB/T11446.6-1997GB/T11446.7-1997GB/T11446.8-1997GB/T11446.9-1997GB/T11446.10-199764电子行业质量管理和质量体系要素标准SJ/T10466.1-9319931版1中华人民共和国电子工业部SJ/T10466.2-93SJ/T10466.3-93SJ/T10466.4-93SJ/T10466.5-93SJ/T10466.6-93SJ/T10466.7-93SJ/T10466.8-93SJ/T10466.9-93SJ/T10466.10-93SJ/T10466.11-93SJ/T10466.12-93SJ/T10466.13-9365电子材料晶片参考面长度测量方法GB/T13387-9219921版1国防技术监督局66纠正措施指南SJ/T10466.16-9419951版1中华人民共和国电子工业部67产品包装、装卸、运输、贮存的质量管理要求GJB1443-9219931版1国防科学技术工业委员会

68产品质量评审GJB907-9019911版4国防科学技术工业委员会69产品质量保证大纲要求GJB1406-9219921版2国防科学技术工业委员会70产品质量监督计数一次抽样检验程序及抽样方案GB/T14437-199719971版1国家技术监督局71产品质量监督计数抽样程序及抽样表GB/T14162-199319931版1国家技术监督局72产品质量监督复查程序及抽样、.1?>万案GB/T16306-199619961版1国家技术监督局73企业标准化工作指南GB/T15496-199519951版1国家技术监督局74企业标准体系管理标准工作标准体系的构成和要求GB/T15498-199519951版1国家技术监督局75企业标准体系技术标准体系的构成和要求GB/T15497-199519951版1国家技术监督局76企业标准体系表编制指南GB/T13017-199519961版1国家技术监督局77关键件和重要件的质量控制GJB909-901国防科学技术工业委员会78军工产品批次管理的质量控制要求GJB1330-9119921版7国防科学技术工业委员会79军工产品定型工作条例380军工产品定型程序和要求GJB1362-921国防科学技术工业委员会81军工产品质量标志和可追溯性要求GJB726-8919901版1国防科学技术工业委员会82军工产品质量管理要求与评定导则GJB/Z16-9119921版1国防科学技术工业委员会83车用电子兀器件破坏性物理分析方法GJB4027-200020001版1中国人民解放军总装备部84军用电子材料标准汇编第一册：微电子、光电子及真空电子材料1电子工业部军用电子材料标准化技术委员会85军用电子材料标准汇编第二册：电子原件材料1电子工业部军用电子材料标准化技术委员会86军用电子材料标准汇编第三册：镀覆层及防护材料1电子工业部军用电子材料标准化技术委员会87军用电子材料标准汇编第四册：工艺及其他材料1电子工业部军用电子材料标准化技术委员会88军用电子材料标准汇编第五册：试验与分析方法1电子工业部军用电子材料标准化技术委员会

89军用标准电子、电磁和机电兀器件破坏性物理分析MIL-STD-1580A(USAF)1989.12.22代替MIL-STD-1580A(USAF)1980.10.101中国电子技术标准化研究所90车用标准文件编制工作导则第3部分：出版印刷规定GJB0.3-2001代替GJB0.1-198420011版1中国人民解放军总装备部91车用标准文件编制工作导则第1部分：军用标准和指导性技术文件编写规定GJB0.1-200120011版2中国人民解放军总装备部92车用标准文件编制工作导则第2部分：军用规范编写规定GJB0.2-200120011版2中国人民解放军总装备部93军用标准文献分类法GJB832-901国防科学技术工业委员会94军用激光测距仪通用规范SJ20793-200020011版1中华人民共和国信息产业部95印制板总规范GB/T16261-1996IEC/PQC88：199019971版1国家技术监督局96成套技术资料质量管理要求GJB906-9019911版1国防科学技术工业委员会97红外发射二极管总规范GJB3930-200020001版1中国人民解放军总装备部98纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第2-18部分：试验干热一高温耐久性GB/T18310.18-2001idtIEC61300-2-18：199520011版1国家技术监督局99纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第2-2部分：试验配接耐久性GB/T18310.2-2001idtIEC61300-2-2：199520011版1国家技术监督局100纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分：试验光纤/光缆保持力GB/T18310.4-2001idtIEC61300-2-4：199520011版1国家技术监督局101纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分：检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性GB/T18311.2-2001idtIEC61300-3-2：199520011版1国家技术监督局102纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第3-3部分：检查和测量检测衰减核回波损耗变化（多路）GB/T18311.3-2001idtIEC61300-3-3：199720011版1国家技术监督局103纤维光学互联器件和无源器件基本试验和测量程序第3-6部分：检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性GB/T10418311.6-2001idtIEC61300-3-6：199520011版1国家技术监督局104纤维光学转接器第1部分：总规范GB/T18308.1-2001idtIEC61274-1：1994国家技术监督局105设计文件管理制度第4部分：设计文件的编号SJ/T207.4-199919991版1中华人民共和国信息产业部

106设计文件管理制度第1部分：设计文件的分类和组成SJ/T207.1-199919991版1中华人民共和国信息产业部设计文件管理制度第2部分：设计文件的格式SJ/T207.2-1999设计文件管理制度第3部分：文字内容和表格形式设计文件的编制方法SJ/T207.3-1999107设计文件管理制度第5部分：设计文件的更改SJ/T207.5-199919991版1中华人民共和国信息产业部108设计评审GJB1310-9119921版2国防科学技术工业委员会109设计质量控制指南SJ/T10466.14-9419951版1中华人民共和国电子工业部110防静电工作区技术要求GJB3007-9719981版1国防科学技术工业委员会111防静电包装手册GJB/Z86-9719971版1国防科学技术工业委员会112低碳高纯砷材料规范Q/XX20003-981河南省新乡542厂113GB/T16292-199619961版1国家技术监督局医约工业洁净室（区）悬浮粒子、浮游菌和沉降菌的测试方法GB/T16293-1996GB/T16294-1996114技术状态管理GJB3206-981国防科学技术工业委员会115技术制图图样画法视图GB/T17451-199819991版1国豕质量技术监督局116系统安全性通用大纲GJB900-9019911版1国防科学技术工业委员会117单晶硅太阳电池总规范GB12632-9019911版1国家技术监督局118固体激光器主要参数测试方法GB/T15175-9419951版1国家技术监督局119固体激光器总规范GB/T15490-199519951版1国家技术监督局120固体激光器总规范SJ20027-9219961版1中华人民共和国电子工业部121直径50mm磷化铟单晶抛光片规范Q/UK20021-981电子工业部第46研究所122直径76.2mm半绝缘砷化镓单晶抛光片规范Q/UK20020-981电子工业部第46研究所123质量计划指南SJ/T10466.20-199519961版1中华人民共和国电子工业部124GJB/Z4-881国防科学技术工业委员会质量成本管理指南125质量改进指南SJ/T10466.19-9519951版1中华人民共和国电子工业部126质量经济性管理指南GB/Z19024-2000idtISO/TR10014：199820001版1国豕质量技术监督局

127质量管理术语GJB1405-9219921版10国防科学技术工业委员会128质量管理体系标准GB/T19000-200020011版1国豕质量技术监督局GB/T19001-2000GB/T19004-2000129质量管理体系要求GJB9001A-2001代替GJB/Z9001-1996GJB/Z9002-1996GJB/Z9003-199620011版1中国人民解放军总装备部130质量管理技术状态管理指南GB/T19017-1997idtISO10007：199519971版1国家技术监督局131质量管理和质量体系要素第1部分：质量改进指南GB/T190004.4-1994idtISO9004.4：199219951版1国家技术监督局132质量管理和质量保证军用标准GJB/Z9000-9619961版1国防科学技术工业委员会GJB/Z9001-96GJB/Z9002-96GJB/Z9003-96GJB/Z9004-96133非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法GB/T17170-19971国家技术监督局134故障报告、分析和纠正措施系统GJB841-9019901版1国防科学技术工业委员会135标准化工作导则第2单元：标准内容的确定方法第22部分：引用标准的规定GB/T1.22-19931国家技术监督局136标准化工作导则第2部分：标准中规范性技术要素内容的确定方法GB/T1.2-2002代替GB/T1.3-1997GB/T1.7-198820021版1中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局137标准化工作指南第1部分：采用国际标准的规则GB/T20000.2-200120011版1国豕质量技术监督局138标准化工作指南第1部分：标准化和相关活动的通用词汇GB/T20000.1-200220021版1中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局139标准化和有关领域的通用术语第一部分：基本术语GB/T3935.1-1996代替GB3935.1-831国家技术监督局140标准体系编制原则和要求GB/T13016-9119911版1国家技术监督局141标准编写规则第4部分：化学分析方法GB/T20001.4-2001代替GB/T1.4-198820011版1国豕质量技术监督局142标准编写规则第3部分：信息分类编码GB/T20001.3-2001代替GB/T7026-198620011版1国豕质量技术监督局143氢气GB/T3634-1995GB/T7445-1995国家技术监督局144洁净厂房设计规范GB50073-200120011版1中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中华人民共和国建设部

145洁净室检测规范GB/T16292-19961146测试实验室和校准实验室通用要求GJB2725A-2001代替GJB2725-199620011版1中国人民解放军总装备部147测量设备的质量保证第2部分：测量过程控制指南GB/T19022.2-2000idtISO10012-2：199720001版1国豕质量技术监督局148测量设备的质量保证第1部分：测量设备的计量确认体系GB/T19022.1-1994idtISO10012-1：199219951版1国家技术监督局149测量控制体系ISO/DIS100121150首件鉴定GJB908-9019911版1国防科学技术工业委员会151消费品使用说明总则GB5296.1-1997代替GB5296.1-851国家技术监督局152特性分类GJB190-861990再版7国防科学技术工业委员会153砷化镓、磷化铟半导体材料参数测试方法SJ3244.1-891中华人民共和国机械电子工业部SJ3244.2-89SJ3244.3-89SJ3244.4-89SJ3244.5-89SJ3245-89SJ3246-89SJ3247-89SJ3248-89SJ3249.1-89SJ3249.2-89SJ3249.3-89SJ3249.4-89154砷化镓外延片SJ3242-891中华人民共和国机械电子工业部155砷化镓外延片规范GJB2833-971国防科学技术工业委员会156砷化镓用咼纯镓中铜、錳、鎂、钒、鈦等12种杂质的等离子体光谱分析法SJ20713-199819991版1中华人民共和国电子工业部157砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法SJ20714-199819991版1中华人民共和国电子工业部158砷化镓单晶位错密度的测量方法GB8760-881中国有色金属工业总公司159砷化镓单晶材料规范GJB1926-941国防科学技术工业委员会160砷化镓单晶材料测试方法GJB1927-941国防科学技术工业委员会161砷化镓单晶棒及片SJ3241-891中华人民共和国机械电子工业部162航天用太阳电池：光伏器件I-V特性测量方法GB/T6495.1-199619971版1国家技术监督局163航天用太阳电池：测量原理及光谱照度数据测量方法GB/T6495.3-199619971版1国家技术监督局

164航天用太阳电池：要求GB/T6495.2-199619971版1国家技术监督局165航天用太阳电池I-V温辐修正方法GB/T6495.4-199619971版1国家技术监督局166航天用太阳电池电性能测试方法GB6494-19861国家标准局167航天用太阳电池标定的一般规定GB6496-19861国家标准局168航天用标准太阳电池GB6492-19861国家标准局169航天产品设计文件管理制度QJ1714.1〜8A-991714.9QJA-99QJ1714.10〜12A-9919992中国航天工业总公司170逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）TO甘口込盂身丄㈱土rh士里工口骨T4土rh母GB2828-8719881国家标准局周期检查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查）GB2829-871版171高纯氮GB/T8980-1996代替