GB/T 43040-2023半导体集成电路AC/DC变换器测试方法

ICS31200

CCSL.55

中华人民共和国国家标准

GB/T43040—2023

半导体集成电路

AC/DC变换器测试方法

Semiconductorintegratedcircuits—TestmethodofAC/DCconverters

2023-09-07发布2024-04-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T43040—2023

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

一般测试要求

4……………3

测试环境要求

4.1………………………3

测试注意事项

4.2………………………3

测试仪器和设备

4.3……………………4

测试条件和测试程序

5……………………4

输入电压范围V

5.1(IN_R)………………4

输入频率范围f

5.2(IN_R)………………5

空负载输入电流I

5.3(IN_NULL)…………6

满负载输入电流I

5.4(IN_FULL)…………7

关断态输入电流I

5.5(IN_SD)……………7

输出电压精度α

5.6()……………………8

输出电压温度系数α

5.7(TC)……………9

输出纹波电压V

5.8(o_RIPPLE)…………11

电压调整率S

5.9(V)…………………12

电流调整率S

5.10(I)…………………13

交叉调整率S

5.11(C)…………………14

输出电压调整范围V

5.12(OR_TRIM)……………………15

效率η

5.13()……………17

漏电流I

5.14(CASE)……………………18

输入浪涌电流I

5.15(INRUSH)…………19

输出限制电流I

5.16(OPRO)……………20

启动输出过冲电压V

5.17(OT)…………21

负载变化瞬态过冲电压V

5.18(LOR)…………………22

负载变化瞬态响应时间t

5.19(ROR)…………………23

隔离阻抗R

5.20(ISO)…………………25

开关频率f

5.21(C)……………………26

启动延迟时间t

5.22(TR)………………27

输出保持时间t

5.23(H)………………28

使能开启电压V

5.24(ON)………………29

Ⅰ

GB/T43040—2023

使能关断电压V

5.25(OFF)……………30

使能输入电流I

5.26(EN)………………31

使能延迟时间t

5.27(EN)………………32

抗电强度S

5.28(D)……………………34

Ⅱ

GB/T43040—2023

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业与信息化部提出

。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC78)。

本文件起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所中国电子科技集团公司

:、

第五十八研究所

。

本文件主要起草人王福强刘玢李雷邓些鹏马宝锋陈志培刘强韩新峰胡巧玉

:、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T43040—2023

半导体集成电路

AC/DC变换器测试方法

1范围

本文件描述了半导体集成电路交流到直流变换器以下简称器件参数测试方法

(AC/DC)()。

本文件适用于半导体集成电路变换器参数的测试

AC/DC。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

输入电压范围inputvoltagerange

在正常工作时器件输入端允许施加的交流电压范围有效值

,()。

32

.

输入频率范围inputfrequencyrange

在正常工作时器件输入端施加的交流电压频率范围

,。

33

.

空负载输入电流null-loadinputcurrent

在规定的输入电压输入频率和空负载下器件输入端流过的交流电流有效值

、,()。

34

.

满负载输入电流full-loadinputcurrent

在规定的输入电压输入频率和满负载下器件输入端流过的交流电流有效值

、,()。

35

.

关断态输入电流shut-downinputcurrent

在规定的输入电压输入频率下使器件输出处于关断状态输入端流过的交流电流