GB/T 42968.1-2023集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第1部分通用条件和定义

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part1Generalconditionsanddefinitions

:

IEC62132-12015IDT

(:,)

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

试验条件

4…………………4

通则

4.1…………………4

环境条件

4.2……………4

试验发生器

4.3…………………………4

频率范围

4.4……………5

试验设备

5…………………5

概述

5.1…………………5

屏蔽

5.2…………………5

试验发生器和功率放大器

5.3…………5

其他组件

5.4……………5

试验布置

6…………………5

通则

6.1…………………5

试验电路板

6.2…………………………5

引脚选择方案

6.3………………………6

引脚负载终端

6.4IC/…………………6

电源的要求

6.5…………………………6

的特殊要求

6.6IC………………………7

时间稳定性

6.7IC………………………7

试验程序

7…………………7

监测检查

7.1……………7

人体暴露

7.2……………7

系统验证

7.3……………7

特殊程序

7.4……………8

试验报告

8…………………9

通则

8.1…………………9

抗扰度限值或等级

8.2…………………9

性能分级

8.3IC…………………………9

试验结果的说明

8.4……………………10

Ⅰ

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

附录资料性试验方法比较

A()…………11

附录资料性通用试验板的描述

B()……………………13

参考文献

……………………16

Ⅱ

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T42968《》1。GB/T42968

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射抗扰度测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁抗扰度测量第部分通用条件和定义

IEC62132-1:2015《1:》。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动

:

将仅在资料性附录中引用的文件由

———IEC62132-2、IEC62132-5、IEC62132-8、IEC/TS62132-9

第章调至参考文献

2;

用替换了资料性引用的

———GB/T42968.8IEC62132-8。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC78)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院北京智芯微电子科技有限公司浙江诺益科技有限

:、、

公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院广州市诚臻电子科技有限公司扬芯科技

、、、、

深圳有限公司北京无线电计量测试研究所上海市计量测试技术研究院中国家用电器研究院河南

()、、、、

凯瑞车辆检测认证中心有限公司东南大学深圳市北测标准技术服务有限公司中国汽车工程研究院

、、、

股份有限公司北京芯可鉴科技有限公司南京信息工程大学中国信息通信研究院中国合格评定国家

、、、、

认可中心厦门海诺达科学仪器有限公司苏州泰思特电子科技有限公司郑州新基业汽车电子有限公

、、、

司北京邮电大学南京容向测试设备有限公司上海电器设备检测所有限公司中国电子科技集团公司

、、、、

第三十二研究所

。

本文件主要起草人崔强付君乔彦彬郑益民方文啸吴建飞叶畅李楠朱赛杨红波刘星汛

:、、、、、、、、、、、

李金龙张艳艳白云周香刘小军黄雪梅陈燕宁邵鄂万发雨臧琦刘佳梁吉明胡小军郭文明

、、、、、、、、、、、、、、

张金玲邢立文张青青张先利陈梅双

、、、、。

Ⅲ

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

引言

为规范集成电路电磁抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量

,

方法集成电路电磁抗扰度测量规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件定义和

,GB/T42968《》、

不同测量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,7。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分大电流注入法目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求

———3:(BCI)。。

第部分射频功率直接注入法目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求

———4:。。

第部分工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求

———5:。。

第部分辐射抗扰度测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验

———8:IC。IC

要求

。

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429681—2023/IEC62132-12015

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第1部分通用条件和定义

:

1范围

本文件定义了集成电路传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息描述了常规的试验条

(IC),

件试验设备和布置试验程序和试验报告内容附录中给出了试验方法的对照表帮助选择适当的

、、。A,

测量方法

。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

集成电路电磁抗扰度测量第部分大电流注入法

IEC62132-3(150kHz~1GHz)3:(BCI)

[Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity,150kHzto1GHz—Part3:Bulk

currentinjection(BCI)method]

集成