GB/T 42968.8-2023集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量IC带状线法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第8部分辐射抗扰度测量IC带状线法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part8Measurementofradiatedimmunit—ICstrilinemethod

:yp

IEC62132-82012IDT

(:,)

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

试验条件

5…………………2

通则

5.1…………………2

电源电压

5.2……………3

频率范围

5.3……………3

试验设备

6…………………3

通则

6.1…………………3

电缆

6.2…………………3

屏蔽

6.3…………………3

骚扰发生器

6.4RF………………………3

带状线

6.5IC……………3

终端

6.650Ω……………3

监测器

6.7DUT…………………………3

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

试验配置

7.2……………4

试验板

7.3EMC(PCB)…………………4

试验程序

8…………………4

通则

8.1…………………4

运行检查

8.2……………4

抗扰度测量

8.3…………………………5

试验报告

9…………………6

射频抗扰度接受电平

10……………………6

附录规范性场强确定

A()………………7

附录规范性带状线的描述

B()IC………………………9

附录资料性封闭式带状线的几何尺寸限制

C()………12

参考文献

……………………16

Ⅰ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T42968《》8。GB/T42968

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射抗扰度测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁抗扰度测量第部分辐射抗扰度测量

IEC62132-8:2012《8:IC

带状线法

》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC78)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院工业和信息化部电子第五研究所深圳市北测标准

:、、

技术服务有限公司天津先进技术研究院北京智芯微电子科技有限公司浙江诺益科技有限公司扬芯

、、、、

科技深圳有限公司广州市诚臻电子科技有限公司北京无线电计量测试研究所厦门海诺达科学仪

()、、、

器有限公司河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司中国家用电器研究院中国合格评定国家认可中心

、、、、

北京芯可鉴科技有限公司东南大学中国汽车工程研究院股份有限公司广东省科学院电子电器研究

、、、

所青岛金汇源电子有限公司联想北京有限公司西安优来测科技有限公司中国电力科学研究院有

、、()、、

限公司广州致远电子有限公司

、。

本文件主要起草人付君崔强方文啸刘小军吴建飞乔彦彬郑益民叶畅杨红波李楠

:、、、、、、、、、、

刘星汛梁吉明白云张艳艳朱赛靳冬刘佳陈燕宁邵鄂周香黄雪梅郑泓李德鹏吕飞燕

、、、、、、、、、、、、、、

刘易勇贺伟陈勇志陈梅双

、、、。

Ⅲ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

引言

为规范集成电路电磁抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量

,

方法集成电路电磁抗扰度测量规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件定义和

,GB/T42968《》、

不同测量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,7。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分大电流注入法目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求

———3:(BCI)。。

第部分射频功率直接注入法目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求

———4:。。

第部分工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求

———5:。。

第部分辐射抗扰度测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第8部分辐射抗扰度测量IC带状线法

:

1范围

本文件描述了集成电路对频率范围内的射频辐射电磁骚扰的抗扰度

(IC)150kHz~3GHz(RF)

测量方法

。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

集成电路电磁抗扰度测量第部分通用条件和定义

GB/T42968.1—20231:(IEC62132-1:

2015,IDT)

注被引用的内容与被引用的内容没有技术上的差异

:GB/T42968.1—2023IEC62132-1:2006。

国际电工术语第章电路理论

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Chapter131:Circuittheory]

注电工术语电路理论

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)。

国际电工术语第章电磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Chapter161:Electromagneticcompatibility]

注电工术语电磁兼容

:GB/T4365—2003(IEC60050-161:1990+A1:1997+A