人工干扰部位对下颌侧方运动中切点运动轨迹的影响

人工干扰部位对下颌侧方运动中切点运动轨迹的影响

作为一个完整的功能整体，口腔系统的每个组成部分都将相互影响，干扰不仅协调，而且配套反应。因此，对其宏观功能的评估非常重要，具有临床指导意义。关于口颌系统病理生理方面的研究,最早始于对咬合关系的研究,然后是对颞下颌关节的研究,再是对颌面部肌系统的研究。咬合关系是下颌运动的前部控制因素,异常咬合关系可通过引发干扰和早接触而导致下颌功能运动受损。而矫正或改善上述咬合关系不良的治疗手段均能不同程度地减轻早接触和干扰,使颞下颌关节得到保护[1~7]。本实验通过人工预置方法,在受试者一侧下颌牙咬合面上形成咬合高点,通过ArcusDigMa三维下颌运动轨迹描记仪,检查受试者下颌侧方运动中切点的运动轨迹随!干扰部位变化而发生的改变。分析侧方!干扰发生部位对下颌切点在X轴(矢状轴)、Y轴(垂直轴)、Z轴(水平轴)上的运动轨迹的具体影响,并根据得到的结果,分析下颌侧方运动中!干扰部位与下颌切点在X轴、Y轴和Z轴运动轨迹的相关性,建立直线回归方程。1材料和方法1.1入选和排除标准选择志愿者50例,男22例,女28例,年龄22~34岁。入选标准:有完整的自然牙列,中性关系,无错,无明显磨耗,前牙正常覆、覆盖或者I度深覆、I度深覆盖,无颞下颌关节区疼痛,各咀嚼肌区无压痛,无单侧咀嚼习惯,无下颌运动障碍。1.2轨迹描记仪记录下颌运动轨迹:采用ArcusDigMa三维下颌运动轨迹描记仪(KaVo公司)和电子计算机。下颌运动轨迹分析:采用ArcusDigMa下颌运动分析软件(KaVoElektrotechnischesWerkGmbH)。1.3实验方法1.3.1实验模型的制备对每一位实验对象取上、下颌全牙列印模,然后以超硬石膏灌注,作为实验模型。1.3.2近中无砂混凝土的调整在下颌模型一侧的中切牙和侧切牙的切嵴上,尖牙和第一、第二前磨牙的颊尖上,第一、第二磨牙的近中颊尖上,分别用光固化树脂制作独立的、高度为1mm的咬合高点。为了确保咬合高点的高度为1mm,每个咬合高点均反复用卡尺测量和金刚砂低速调磨。在模型上用咬合纸检查上、下颌牙的咬合关系,并在架上进一步调整,使加高的点与上前牙舌窝或后牙中央窝原来的咬合印记接触。1.3.3维下颌运动轨迹(1)为了保证实验条件的统一,要求受试者采取端坐位,双目平视,眶耳平面与水平面平行。(2)采用ArcusDigMa三维下颌运动轨迹描记仪,采集受试者自然状态下下颌切点在下颌前伸运动中的运动轨迹。(3)采用ArcusDigMa三维下颌运动轨迹描记仪,采集人工前伸干扰粘固在受试者口内时(人工!干扰点分别置于一侧下颌的中切牙、侧切牙的切嵴,尖牙、第一前磨牙、第二前磨牙的颊尖,第一磨牙、第二磨牙的近中颊尖)下颌切点在下颌前伸运动中的运动轨迹,每次记录仅在受试者口内放置一个干扰点。1.3.4模型的标志以下颌模型两侧第二磨牙远中面的连线为α轴,以通过2个中切牙近中接触点并与α轴垂直的线为β轴(图1)。1.3.5模型的测量用直尺测量每一个干扰形成部位到β轴的垂直距离,记录为A值;干扰形成部位到α轴的垂直距离,记录为B值(图1)。1.4建立直线回归方程使用SAS9.0软件包分析下颌切点的运动轨迹和干扰部位的相关性。以A值和B值为自变量x1和x2,下颌切点在X轴(矢状轴)、Y轴(垂直轴)和Z轴(水平轴)的运动距离为应变量ŷ,建立直线回归方程。以A值(x1)和B值(x2)作为固定项,病例作为随机项,拟合直线回归的混合效应模型:ŷi=α+β1x1i+β2x2i+δi+εi,δi为代表随机效应的随机项,εi为个体(即每个病例)的残差项。2结果2.1干扰部位与侧方运动的关系(1)干扰放入受试者口内后,下颌向干扰侧和非干扰侧的侧方运动中下颌切点在X轴的运动轨迹均无显著规律,干扰部位无明显相关性(图2)。(2)干扰放入受试者口内后,下颌向干扰侧和非干扰侧的侧方运动中下颌切点在Y轴的运动轨迹均无显著规律,与干扰部位无明显相关性(图3)。(3)干扰放入受试者口内后,随干扰部位后移,下颌向干扰侧和非干扰侧的侧方运动中下颌切点在Z轴的运动距离均有逐渐增大的趋势(图4)。2.2直线回归混合效应模型(1)用DUNNETT法检验各人工干扰组与无人工干扰组侧方运动中下颌切点在X轴的运动距离,结果无显著性差异,P>0.05。随干扰部位后移,向干扰侧运动时,切点在X轴的运动距离(即前伸距离)与A值和B值线性相关的P值分别为0.7205和0.2732;向非干扰侧运动时的P值分别为0.3039和0.1362。因此,侧方运动时,下颌切点在X轴的运动距离不论向干扰侧或非干扰侧移动,均与A值或B值无显著线性相关关系,无法得出直线回归混合效应模型。(2)用DUNNETT法检验各人工干扰组与无人工干扰组侧方运动中下颌切点在Y轴的运动距离,结果无显著性差异,P>0.05。随干扰部位后移,向干扰侧运动时,切点在Y轴的运动距离(即垂直距离)与A值和B值线性相关的P值分别为0.2217和0.3934;向非干扰侧运动时的P值分别为0.4066和0.1405。因此,侧方运动时下颌切点在Y轴的运动距离不论向干扰侧或非干扰侧移动,均与A值或B值无显著线性相关关系,无法得出直线回归混合效应模型。(3)用DUNNETT法检验各人工干扰组与无人工干扰组侧方运动中向干扰侧运动时颌切点在Z轴的运动距离,结果有显著性差异,P<0.05。随干扰部位后移,向干扰侧运动时,切点在Z轴的运动距离(即侧移距离)与A值和B值线性相关的P值分别为0.0037和0.4532;向非干扰侧运动时的P值分别为<0.0001和0.0086。因此,向干扰侧运动时,下颌切点在Z轴的运动距离与A值有显著线性相关关系,而与B值无显著线性相关关系。得出的直线回归混合效应模型:向非干扰侧运动时,下颌切点在Z轴的运动距离与A值和B值均有显著线性相关关系。得出的直线回归混合效应模型:应用配对t检验分析下颌切点向非干扰侧和干扰侧运动时在Z轴的运动距离,结果显示,向干扰侧运动时,下颌切点在Z轴的运动距离大于向非干扰侧运动时,差异有显著意义(P<0.01)。3下颌运动的血常规划:向干扰侧运动时的直线回归混合效应模型下颌运动是在、咀嚼肌及颞下颌关节共同参与下进行的一种复杂的三维运动。在口腔修复治疗中,通常采用下颌运动轨迹描记仪确定颌位关系、描记咀嚼运动和下颌边缘运动以及研究下颌切点运动轨迹与髁突运动轨迹的关系等,因其能提供准确的下颌运动轨迹资料,并为临床口腔修复技术的进一步发展奠立重要的理论和实践基础。干扰是引发咬合紊乱的重要致病因素之一,干扰存在时,通过神经肌系统的调节反馈作用,使下颌在运动过程中发生微小的偏斜,本实验旨在讨论下颌侧方运动时对!干扰的反应情况。本实验采用的ArcusDigMa三维下颌运动轨迹描记仪是近年推出的记录下颌运动轨迹的仪器,精确度高,适用于修复体咬合质量的分析。实验结果提示,干扰对侧方运动中下颌切点的运动轨迹有显著影响,随干扰部位后移,不论向干扰侧或向非干扰侧运动,下颌切点在水平轴的运动距离均有逐渐增大的趋势,并呈现一定的线性规律,进一步将干扰部位分解为到牙弓中线的距离A值和到牙弓末端的距离B值后,得到向干扰侧运动时的直线回归混合效应模型:y^=8.2262+0.1082x1,δ=0.1786(P<0.001);向非干扰侧运动的直线回归混合效应模型:y^=9.1098+0.07099x1-0.02650x2,δ=0.05989(P<0.001)。在得到的混合效应模型中,均与A值(自变量x1)有明显的相关性。这与在分析人工咬合高点对下颌开闭口与前伸运动的影响时的结果类似,得到的混合效应模型中均只与A值有明显的相关性,且干扰对上述3种下颌运动的显著影响均发生在该运动中移动幅度最大的轴上,即开闭口运动的垂直轴、前伸运动的矢状轴和侧方运动的水平轴。推测干扰到牙弓中线的距离对下颌运动的影响更为显著,因此,干扰在牙列中的颊舌向关系在导致咬合病中的作用更应引起重视。这也印证了Enosawa发现的研磨型后牙咀嚼习惯者的下颌息止颌位置比铰链型者更容易受到咬合高点影响的结论。与现代学咬合治疗的三分法则中将咬合高点在牙列中的颊舌向关系作为选择采用调、固定修复或正畸治疗中哪一种方案的依据相类似。本实验应用配对t检验比较下颌切点向非干扰侧和干扰侧运动时在水平轴的运动距离,发现向干扰侧运动时大于向非干扰侧运动时,差异在统计学上具有显著意义(P<0.01)。下颌作侧方运动时,工作侧下颌后牙颊尖的颊斜面沿着上颌后牙颊尖的舌斜面滑行,非工作侧下颌后牙颊尖的舌斜面沿着上颌后牙舌尖的颊斜面滑行,这些斜面都是下颌侧方运动的引导斜面和制约因素。本实验结果可能是由于当干扰侧作为工作侧时,人工干扰点的存在使得下颌后牙颊尖颊斜