剂量面积乘积仪校准规范

剂量面积乘积仪校准规范23.2计量单位3.2.1剂量面积乘积的单位：戈(瑞)平方米，常用单位为微戈(瑞)平方米，符号3.2.2剂量面积乘积率的常用单位；微戈(瑞)平方米每秒，符号为μGym²/s。剂量面积乘积仪，主要由电离室和电流(电荷)测量单元(或静电计)两大部分组成。电离室为平行板电离室，中间介质为空气。X射线照射到电离室，引起空腔内的气体电离，在测量单元提供的极化电压作用下，形成电离电流，测量单元测量电离室输出的电离电流，并将测量值以适当方式输出或显示。电离室临床上的透光性要求限制了室壁材料的使用，通常用高原子序数的导电材料做导电涂层，导致能量依赖性强，穿过电离室的X射线衰减较大，且衰减程度与X射线的能量相关。在电离室测量面积所覆盖的射束范围内，KAP(剂量面积乘积)仪测量的量与距离近似无关。因而，KAP仅被广泛用于临床诊断放射剂量学，特别是X射线透视检查、介入放射学、普通放射影像、牙科放射影像。通常将它的电离室固定在X射线机球管遮线器的射线出口处，用来测量X射线机的输出剂量。5计量特性5.1漏电流(标准)KAP仅或(标准)KAP电离室的漏电流不超过最小额定剂量面积乘积率所产生电流的±10%。5.2重复性标准KAP仪的重复性小于1%。标准KAP仪或标准KAP电离室年稳定性不超过±2%。5.4相对固有误差KAP仪的相对固有误差不超过土35%。6校准条件6.1环境条件6.1.1温度：标准实验室校准(18～24)℃,现场校准(15～35)℃。6.1.2相对湿度：30%～75%。6.1.3气压：(80~106》kPa。6.1.4校准时不应有影响使用的振动和电磁场干扰。36.2实验室校准用测量标准及其他测量设备6.2.1测量标准：空气比释动能的测量应使用标准诊断水平剂量计或基准测量系统，其电离室应为标准诊断水平电离室或自由空气电离室。标准诊断水平剂量计的量值应潮源到(10～60)kVX射线空气比释动能基准和(60～250)kVX射线空气比释动能基准。其不确定度应满足检定系统表JJG2095—2012和JJG2043—2010的要求。年稳定性不超过±1%。标准电离室在辐射质RQR2～RQR10范围的能量响应不超过±2.6%。单独校准电离室的实验室。应有测量电离室电离电荷的电荷测量系统。6.2.2温度计：测量范围(0~50)℃,最小分度值不大于0.2℃。6.2.3气压计：测量范围(80～106)kPa,最小分度值不大于0.1kPa。6.2.4面积准直器：面积准直器应足够大于面积乘积仪电离室的外边缘。中间开孔为方空或圆孔，孔尺寸(40～60)mm,最大允许误差±10pm。6.2.5定位系统：电离室的定位夹具应使用低原子序数材料做成，定位装置应便于电离室和面积准直器的调节，可采用光学、激光等方法定位电离室和面积准直器，定位偏差应不超过±1mm。6.2.6计时器：测量范围不小于1000s,最小分度值不大于10ms。6.3现场校准用测量标准及其他测量设备6.3,1标准KAP仪或标准诊断水平剂量计：标准KAP仪的校准因子的扩展不确定度<3%,年稳定性不超过士2%,标准诊断水平剂量计符合本规范6.2.1的要求。6.3.2半值层测量仪：可使用能直接测量半值层的测量仪器，允许误差优于±10%,也可使用传统的半值层测量仪，其Al片纯度优于99.5%,厚度允许误差优于±50μm。6.3.3管电压测量仪：测量范围应覆盖(40～150)kV。分辨力不大于0.1kV,最大允许误差±2%。6.3,4温度计和气压计符合本规范6.2.2和6.2.3的要求。6.4实验室校准参考辐射场6.4.1校准在X射线辐射场中进行，X射线辐射源的峰值电压应覆盖(40～150)kV,管电压纹波应小于10%,最好小于1%,其中用于标准KAP仅校准的辐射源纹波应小6.4.2校准用参考辐射场应建立RQR系列辐射质，并应分别在3mmAl,4mmAl,5mmAl,4mmAl+0.1mmCu,4mmAl+0.2mmCu附加过滤条件下，建立相对应的幅射质，建立的RQR系列辐射质应与附录A一致。6.4.3参考辐射场为准直束辐射场，辐射源输出的空气比释动能量的变化应小于0.3%,在校准位置，射野应不小于10cm×10cm,而积准直器面积内，剂量而积乘积率的变化不超过±1%。7校准项目和校准方法7.1校准项目校准项目见表1。 KAP仪的漏电流分为辐照漏电流和非辐照漏电流，用两者中绝对值最大者的值非辐照漏电流通常在零点附近测量。仅器处于测量状态，记录仪器读数M₂,并开始计时，至少5min后，同时记录仪器读数M₁和测量时间间隔t,其读数的变化与额定最小有效剂量面积乘积率的百分比即为非辐照漏电流I₁,由式(1)计算。测试辐照漏电流时，仪器处于测量状态，照射仪器，待读数达到一定值后停止照间间隔x,其读数的变化与额定最小有效剂量面积乘积率的百分比即为辐照漏电流1,由式(1)计算。以相对实验标准偏差表示，测试可在X射线辐射场中进行。在不变的条件下，用被校KAP仪重复测量10次，每次测量读数的0.25%应大于分辨力，由式(2)计算相57.4.1.1校准时，仪器安排如图1所示，在校准测试平面正前方50mm处故置面积准准直器距焦点950mm,测试平面距焦点1000mm。至少应包括RQR3、RQR5和R包括50kV、70kV和120kV,分别按7.4.1.3～7.4.1.6完成相对应辐射质的Npa.a。7.4.1.4将被校KAP电离室置于位7.4.1.5被校KAP仪至少测量3次，其测量读数的0.1%应大于分辨力。7.4.1,6由式(3),计算被校KAP仪的校准因子；单独校准电离室时，由式(4)计7.4.2.1按7.4.1.1放置面积准直器。7.4.2.2根据KAP仪实际使用的附加过滤和管电压，选择对应附加过滤辐射质或滤辐射质对应管电压至少应包括50kV、70kV和120kV,分别按7.4.2.3～7.4.2.5完成相对应辐射质的Npe.a.7.4.2.3将被校KAP电离室置于位置1.电离室中心位于射线束轴上，其入射平面7.4.2.5按7.4.1.5和7.4.1.6完成校准。7.5.1校准在安装有KAP仅的诊断辐射源中进行，仪器安排如图2所示。根据KAP仪的实际使用管电压，至少选取3个不同常规管电压(包含最高管电压、最低管电压和7.5.2将半值层测量仪和管电压测试仪分别放在测试平面，电离室后方的测试平面上，两者间距约30cm。电离室中心位于射线束轴上，其面与射线束轴中心垂直，经准直的射线束应完全照射到标准电离室的灵敏半影区),一般地在标准电离室表而，射野约8cm×8cm。选择不同的管电压，对每一管电压，用被校KAP仪和标准KAP仪，至少同时测量3次，其测量读数的0.1%应大于分解力，并由式(5)计算被校KAP仅各点的相对留射质剂量面积乘积仪校准记录推荐格式校准证书号：电离室型号：委托单位地址：生产厂家：样品编号：电离室编号：校准地点：12345678U剂量面积乘积仪校准证书内页格式证书编号：××××××××%%(以下空白)附录Dy-fCrì?xy,