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文档简介

探伤试块（二）1.标准试块2.对比试块3.专用试块探伤试块导入：探伤试块问题：这些探伤试块有什么区别呢？1.标准试块探伤试块(1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围；

(2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；

(3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；

(4)利用高度85mm、91mm、100mm测定直探头的分辨力；

(5)利用直径40mm、直径44mm、直径50mm曲面测定斜探头的分辨力；

1.标准试块探伤试块（6）利用直径50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；

（7）利用直径50曲面和直径1.5横孔测定斜探头的K值；

（8）利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度，配合R100作零位校正；

（9）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。2.对比试块探伤试块WGT-3试块阶梯试块3.专用试块探伤试块专用试块主要有GTS-60试块、GTS-60加长测试轨、焊缝探伤试块三种。1.标准试块2.对比试块3.专用试块探伤试块探伤试块（一）1.试块作用2.常见探头探伤试块导入：探伤试块问题：探伤试块的作用是什么呢？1.试块作用探伤试块（1）确定探伤灵敏度（2）测试仪器和探头的性能（3）调整扫描速度（4）评价缺陷大小2.常见探头探伤试块直探头用于发射和接收纵波故又称纵波探头。探测晶片正下方与声束方向垂直的缺陷。探测深度较大，主要用于探测焊缝缺陷。2.常见探头探伤试块斜探头可分为纵波斜探头、横波斜探头和表面波探头。主要用于探测探头斜下方不同角度的缺陷，探测深度小，适用于直探头难以探测的部位。2.常见探头探伤试块可变角探头，入射角是可变的，转动压电晶片可使入射角连续变化，一般变化范围为0-70度，可实现纵波、横波、表面波和兰姆波检测。2.常见探头探伤试块双晶探头有两块压电晶片，一块用于发射声波，一块用于接收

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