射线RTⅠ级考试题库

射线检测RTⅠ级取证考试（闭卷）题库一、共580道题，其中：判断题290，选择题290。内容如下：1、金属材料、焊接、热处理知识判断题：30选择题：302、相关法规和规范判断题：30选择题：303、JB/T4730.2－2005标准判断题：30选择题：304、射线专业理论判断题：200选择题：200二、组题要求：每套题100道题，每题1分，共100分。其中：1、判断题：50金属材料焊接热处理：5题；相关法规规范：5题；JB/T4730标准：5题；专业理论知识：35题。2、选择题：50金属材料焊接热处理：5题；相关法规规范：5题；JB/T4730标准：5题；专业理论知识：35题。RTⅠ级取证考试题库一．判断题金属材料、焊接、热处理知识（1～30）1.金属材料的性能包括使用性能和工艺性能。对2.材料在外力作用下所表现出的力学性能指标有强度、硬度、塑性、韧性等。对3.评价金属材料的强度指标有抗拉强度、屈服强度、伸长率和断面收缩率。错4.一般说来，钢材的硬度超高，其强度也越高。对5.承压设备的冲击试验的试样缺口规定采用V型缺口而不采用U型缺口，是因为前者加工容易且试验值稳定。错6.材料的屈强比越高，对应力集中就越敏感。对7.材料的冲击值不仅与试样的尺寸和缺口形式有关，而且与试验温度有关。对8.应力集中的严重程度与缺口大小和根部形状有关，缺口根部曲率半径越大，应力集中系数越大。错9.氢在钢材中心部位聚焦形成的细微裂纹群称为氢白点，可以用UT检测。对10.低碳钢金属材料中，奥氏体组织仅存在于7270C以上的高温范围内。对11.淬火加高温回火的热处理称为调质处理。对12、在消除应力退火中，应力的消除主要是依靠加热或冷却过程中钢压设备无损检测》的要求。管子对接接头X射线实时成像应符合相应技术规定。对47.《锅炉安全技术监察规程》规定：蒸汽锅炉、B级及以上热水锅炉和承压有机热载体锅炉的管子或者管道与无直段弯管头的焊接接头应当进行100%射线或者超声检测。对48．《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，低压容器均为第一类压力容器。错49.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，压力容器拼接封头对接接头必须在成形后进行无损检测。错50．按照《固定式压力容器安全技术监察规程》的规定，进行局部无损检测的压力容器，制造单位也要对未检测部分的质量负责。对51.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，压力容器焊接接头当采用不可记录的脉冲反射法超声检测时，应当采用射线检测或衍射时差法超声检测做为附加局部检测。对52.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，铁磁性材料制压力容器焊接接头的表面检测应当优先采用磁粉检测。对53.《移动式压力容器安全技术监察规程》规定，罐体以及与罐体连接的接管、管路的对接接头应进行全部射线或超声检测；夹套壳体的A、B类对接接头应进行局部射线或超声检测。对54.《超高压容器安全技术监察规程》规定，超高压容器筒体及主要受压元件在制造期间（耐压试验前），至少应做两次100%的射线检测（调质热处理前后各一次）。错55.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。错56.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径DN≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。错57.GB150－2011《压力容器》规定，进行局部检测的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延长部位增加检测长度，增加的长度为该焊接接头长度的10%，且两侧均不少于250mm。对58.GB150－2011《压力容器》规定，压力容器无损检测档案应完整，保存时间不得少于容器设计使用寿命。对59.GB12337-1998《钢制球形储罐》规定,用有延迟裂纹倾向的钢材制造的球罐,应在焊接结束至少24小时后,方可进行焊缝的无损检测。错60.《压力管道安全技术监察规程－工业管道》规定,无损检测的合格要求应当不低于JB/T4730的规定。错JB/T4730.2－2005标准（61～90）61.JB/T4730.1-2005标准规定，缺陷评定区是在质量分级评定时，为评价缺陷的性质、数量和密集程度而设置的一定尺寸的区域。错62.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对外径DO≥100mm的环向对接接头进行100%检测，所需要的最少透照次数仅与透照方式和透照厚度比有关。错63.JB/T4730.2-2005标准规定，现场进行γ射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕监督区边界测定辐射水平。错64.JB/T4730.2-2005标准规定，筒体纵焊缝的一次透照长度应按透照厚度比K值进行控制，A级、AB级为K≤1.03。此规定的目的是为了增大透照厚度宽容度。错65.按JB/T4730.2-2005标准规定，由透照次数图确定透照次数时，如交点在两区域的分界线上，则所需最少透照次数应取较大数值。对66.JB/T4730.2-2005标准规定，对小径管进行双壁双影透照椭圆成像时，应控制影像的开口宽度在一倍焊缝宽度左右。其主要目的是提高横向裂纹的检出率。错67.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对规格φ76X7mm且焊缝宽度为20mm的管子环向对接焊接接头100%射线照相时，应采用双壁双影倾斜透照，相隔90°，透照2次。错68.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测条件不能满足AB级射线检测技术条件的要求时，经技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片像质计灵敏度达到了AB级射线检测技术的规定，则可认为按AB级射线技术进行了检测。对69.按JB/T4730.2-2005标准规定，用大于12MeV高能X射线照相时，可不使用后屏。其原因是在高能射线照中，后屏对增感并不重要，有时不使用后屏清晰度反而有所提高。对70.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对于外径DO＞100mm的容器根部内凹和根部咬边深度也可采用附录H规定的一般对比试块（Ⅱ）进行测定。对71.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当采用高能X射线照相时，透照厚度范围的确定与检测技术等级无关。错72.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当采用同种检测方法按不同工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应对该工艺重新进行鉴定。错73.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用高能X射线照相时，宜采用高梯度噪声比胶片。对74.对单个条形缺陷最大长度的下限值和一组缺陷累计最大长度的下限值，JB/T4730.2-2005标准均作出了明确规定。对75.JB/T4730.2-2005标准规定，对于铝和铝合金，当Ⅲ级对接接头允许的缺陷点数连续存在，并超过评定区尺寸的3倍时，对接焊接接头的质量应评定为Ⅳ级。对76.JB/T4730.2-2005标准规定，X射线实时成像检测不适用于承压设备对接接头的实时快速检测。错77.按照JB/T4730.2-2005标准规定，用γ射线对截面厚度变化大的工件照时，不允许降低底片的最低黑度。对78.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但同时采用其它无损检测方法进行补充检测。错79.JB/T4730.2-2005标准规定，底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧的热影响区。错80.按照JB/T4730.2-2005标准规定，AB级检测技术，观察黑度值在2.0≤D≤3.8的底片，此时观片灯的亮度应不低于63096cd/m2。对81.JB/T4730.2-2005标准规定，应根据被检工件的公称厚度限定X射线最高管电压。错82.JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许的γ射线透照厚度范围与检测技术级别有关。对83.根据JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不得超过规定值的50%。这一规定与检测技术级别无关。对84.按JB/T4730.2-2005标准规定，确定小径管的透照次数与焦距大小无关。对85.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。对86.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用γ射线照时，宜采用高梯度噪声比胶片；当应用X射线对Rm≥540MPa的高强钢材料对接焊接接头检测时，也应采用高梯度噪声比胶片。对87.JB/T4730.2-2005标准规定，确定圆形缺陷评定区尺寸和条形缺陷评定区尺寸均与被检工件的公称厚度有关。对88.JB/T4730.2-2005标准规定，外径DO≤100mm的管对接接头，对断续根部内凹和根部咬边评定时，以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。对89.按照JB/T4730.2-2005标准规定，在圆形缺陷评定区内，如果圆形缺陷的长径大于10mm时，该焊接接头应评为Ⅳ级。错90.JB/T4730.2-2005标准规定，像质计放于胶片一侧时，应进行对比试验。错专业理论知识（91～290）91.原子序数Z等于原子核中的质子数。对92.当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。错93.当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。错94.原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。对95.不稳定的同位素在衰变过程中始终要辐射γ射线。错96.原子是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。对97.放射性同位素的半衰期是其能量减小到一半所需的时间。错98.各种γ源产生的射线都单能辐射。错99.在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。错100.不稳定的核素会自发蜕变，变成另一种元素，同时放出各种射线，这种现象称为放射性衰变。对101.射线能量越高，其传播速度就越快，因而γ射线传播速度要比X射线快。错102.当X射线穿过2个半价层后，其能量仅剰下最初的1/4。错103.γ射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。错104.标识X射线具有高能量，那是由于高速电子与靶原子核相碰撞的结果。错105.X射线和γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。错106.连续X射线是高速电子与靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。错107.标识X射线是高速电子同靶原子核外壳层电子相碰撞的结果。对108.连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。对109.X射线的产生效率与管电压和靶材料的原子序数成正比。对110.同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。对111.X射线的强度不仅取决于管电流，而且取决于管电压。对112.光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。对113.光电效应的发生几率随光子能量的增大而减小。对114.光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。对115.光电子又称反冲电子。错116.光子能量必须大于电子的结合能是发生光电效应的前提条件。对117.连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。错118.当射线穿过三个半价层后，其强度剰下最初的1/8。对119.所有γ射线的能量都是相同的。错120.放射性同位素的衰变常数λ越大，该同位素越稳定。错121.X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。对122.X射线与可见光的区别是波长和产生方式不同。对123.高速电子与靶原子的轨道电子相撞击产生X射线的过程称为韧致辐射。错124.连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。错125.标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。对126.放射性同位素的衰变常数λ越小，该同位素的半衰期越长。对127.在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材由钼改为钨，所发生的射线强度将会增大。错128.在工业X射线探伤中，使胶片感光的主要是连续X射线，标识X射线不起什么作用。对129.连续X射线透过物质后，强度减弱，平均波长变短。对130.不包括散射线成份的射线束称为窄束射线。对131.单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为“单能辐射”。对132.原子由一个原子核和若干个核外电子组成。对133.原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。错134.原子序数=硋外电子数=质子数=核电荷数。对135.原子的质量数=质子数+中子数。对136.不稳定的同位素又称放射性同位素。对137.目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。对138.X射线谱中波长连续变化的部分，称为“连续”谱。对139.只有入射光子能量大于1.02MeV时才能发生电子对效应。对140.光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高射线照相对比度。对141.康普顿效应产生的散射线会降低射线照相对比度。对142.射线照相法适合于各种熔化焊接方法的对接接头和钢板、钢管的检测。错143.X射线管的有效焦点总是小于其实际焦点。对144.X射线机中的焦点尺寸应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过分受热。错145.X射线管中电子速度越小，则所发生的X射线能量也就越小。对146.移动式X射线机只能在窒内小范围移动，不适合到野外作业。对147.移动式X射线机有油冷和气冷两种冷却方式。错148.同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和重量小于后者。对149.变频是减小X射线机重量的有效措施之一。对150.各种放射同位素源的活度越大，其辐射强度也就越大。错151.底片黑度D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。对152.用来说明管电压、管电流和透照厚度之间关系的曲线称为胶片特性曲线。错153.胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。对154.在常用的100～400KV范围内，铅增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。对155.对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。错156.X和γ射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。对157.对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度就越大。对158.周向X射线机产生的X射线束向270°方向辐射。错159.相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。错160.所谓“管电流”是指通过X射线管灯丝的电流。错161.放射源的活度越大，其半衰期就越短。错162.胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片对比度就越小。错163.胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的梯度。对164.宽容度大的胶片，其梯度必然低。对165.胶片特性曲线在座标上的位置左移，意味着胶片感光速度减小。错166.“潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。错167.铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线测穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。错168.透照不锈钢焊缝，可使用碳素钢丝像质计。对169.透照钛焊缝，应使用钛金属丝像质计。对170.透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝像质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。错171.因为铅增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。错172.胶片中卤化银粒度与胶片的感光速度无关。错173.梯燥比高的胶片成像质量好。对174.像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低的部位。对175.X射线管的阴极是产生X射线的部分。错176.X射线管的阳极是由阳极靶、阳极体和阳极罩三个部分组成。对177.携带式X射线机的散热形式多采用辐射散热式。对178.一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。对179.X射线管的阳极特性就是X射线管的管电压和管电流的关系。对180.在换γ射线源的操作过程中，必须使用γ射线剂量仪及音响报警仪进行监测。对181.射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层和保护层组成。对182.胶片感光后产生的眼睛看不见的影像叫“潜影”。对183.射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。错184.射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。对185.未经曝光的胶片经暗窒处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。对186.胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。对187.胶片有效黑度范围相对应的曝光量变动范围称为宽容度。对188.胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。错189.黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。错190.增感系数Q是指不用增感屏的曝光量E0与使用增感屏的曝光量E之间的比值，即：Q=E0/E。对191.由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。错192.金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。对193.使用金属增感屏所得底片质量最佳，其增感系数也最大。错194.像质计是用来检查和评定射线底片影像质量的工具。对195.像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。对196.一般来说，射线照相像质计灵敏度等于自然缺陷灵敏度。错197.使用较低的能量可得到较高的主因对比度。对206.射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比度降低。错207.增大曝光量可提高主因对比度。错208.一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量的射线透照，其目的是降低对比度增大宽容度。对209.射线照相对比度∆D只与主因对比度有关，与胶片对比度无关。错210.射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。对211.用增大射源到胶片距离的方法可降低射线照相固有不清晰度。错212.减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。对213.利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧好。对214.胶片的颗粒越粗，引起的几何不清晰度越大，错215.使用γ射线源可以消除几何不清晰度。错216.增加源到胶片距离可减小几何不清晰度，但会引起固有不清晰度增大。错217.胶片成像的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。对218.对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。对219.使用较低的能量可提高的主因对比度，但同时会降低胶片对比度。错220.可以采用增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。对221.胶片对比度与胶片类型或梯度G有关。对222.底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。对223.底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。对224.散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。对235.射线的能量同时影响射线照相的对比度、清晰度和颗粒度。对236.射线照相对比度就是缺陷影像与其周围背景的黑度差。对237.固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。对238.对有余高的缝，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区有较高的对比度。错239.底片能够记录的影像细节的最小尺取决于颗粒度。对240.射线照相不清晰度就是影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。对241.射线照相颗粒度表示影像黑度的不均匀程度。对242.射线照相不清晰度包含几何不清晰度和固有不清晰度两部分。对243.射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。错244.焦点至工件的距离是影响几何不清晰度的原因之一。对245.几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比，与焦点至工件表面距离成反比。对246.焦点尺寸的大小与几何不清晰度没有关系。错247.增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。对248.选择较小的射源尺寸df，或增大焦距值F，都可使照相Ug值减小。对249.环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最隹方式。对250.欲提高球缺罐内壁表面小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。对251.无论采用何种透照方式，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。错252.不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均就放在射线源一侧。错253.源在内透照时，搭接标记必须放在射线侧。错254.由于“互易定律”失效，采用荧光增感时，根据曝光因子选择透照参数可能会产生较大误差。对255.对有余高的焊缝进行透照，热影响区的散射比要比焊缝中心部位大得多。错256.背散射的存在会影响底片的对比度，通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。错257.当被检工件厚度差较大时，就会有“边蚀散射”发生。对258.使用滤板可增大射线照相宽容度，但滤板最好放置在工件和胶片之间。错259.在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对于平板工件照相并不适用。对260.采用平靶X射线机对环焊缝作内透中心周向曝光时，有利检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。对261.用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射线侧工件表面，以免端部缺陷漏检。错262.采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。对263.采用双壁单影法透照时，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。错264.某一曝光曲线，应使用同一类型胶片，但可更换不同的X射线机。错265.用γ射线曝光曲线时，首先应知道射源在给定时间的活度。对266.常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。对267.增大透照厚度宽容度最常用的方法是适当提高射线能量。对268.环缝双壁单影照相，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。对269.纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度是两搭接标记之间的长度。错270.在小径管透照中，影像各处的几何不清晰度都是一样的。错271.小径管双壁透照的要点是选用较高的管电压、较低的曝光量，其目的是减小底片对比度，扩大检出区域。对272.小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。对273.对于散射源来说，往往最大的散射源来自于试件本身。对274.使用铅增感屏对减少散射线几乎不起作用。错275.从射线照相灵敏度的角度考虑，在保证穿透力的前提下，应仅量选择能量较低的X射线。对276.胶片在显影液中显影时，如果不进行任何搅动，则使反应产生的溴化物无法扩散。对277.对曝光不足的胶片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。错278.定影液有两个作用，即溶解未曝光的溴化银和坚膜作用。对279.减少底片上水迹的方法是使胶片快速干燥。错280.所谓“通透时间”是指从胶片放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。对281.冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。错282.如果显影时间过长，有些未曝光的溴化银也会被溶解，从而增大了底片灰雾。对283.定影液老化会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。对284.水洗是胶片手工处理过程中重要步骤，水洗不充分的底片长期保存后会发生变色现象。对285.显影液中抑制剂的主要作用是抑制灰雾。对286.显影液中保护剂的作用是阻止显影剂不被氧化，延长显影液的使用寿命。对287.暗窒内的工作人员在冲洗胶片过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。错288.当X或γ射线移去后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。错289.X射线比γ射线更容易被人体吸收，所以X射线对人体危害比γ射线大。错290.辐射源一定，当距离增加一倍时，其剂量或剂量率减少到原来的1/2。错二.选择题材料、焊接、热处理知识（1～30）1.下列各项指标中，哪一项不属于材料的力学性能？。A.强度/B.塑性/C.韧性/D.热稳定性/答案D2.衡量材料抵抗冲击载荷作用时断裂的力学性能指标是。A.强度/B.塑性/C.韧性/D.硬度/答案C3.在金属材料的拉伸试验过程中，下列哪一阶段材料所受应力不再增加而应变却在继续增加？A.弹性阶段/B.屈服阶段/C.强化阶段/D.颈缩阶段/答案B4.长期承受交变应力的构件，最可能发生的破坏形式是。A.脆性断裂破坏/B.失稳破坏/C.疲劳破坏/D.蠕变破坏/答案C5.影响试件冲击韧度值的因素是。A.试样的尺寸/B.试样的缺口形式/C.试验温度/D.以上都是/答案D6.下列哪一种组织不是铁碳合金的基本组织？A.铁素体/B.珠光体/C.渗碳体/D.奥氏体/答案B7.淬火加高温回火的热处理称为。A.退火/B.正火/C.消氢处理/D.调质/答案D8.将工件加热到Ac3或Ac3以上30～50℃，保持一定时间后在空气中冷却的热处理方法称为。A.正火/B.不完全退火/C.退火/D.调质/答案A9.含碳量小于或等于多少的碳素钢称为低碳钢？A.0.15%/B.0.20%/C.0.25%/D.0.20%/答案C10.如欲减少锻件超声探伤的声能衰减，提高信噪比，应采用的热处理方法是。A.退火/B.不完全退火/C.正火/D.调质/答案C11.下列材料中属于不锈钢的是。A.Q235A/B.20g/C.16MnR/D.1Cr17/答案D12.下列材料中属于碳素钢的是。A.16Mng/B.20g/C.16MnR/D.1Cr18Ni9Ti/答案B13.用于制造低温压力容器的15Mn26Al4属于。A.奥氏体钢/B.铁素体钢/C.马氏体钢/D.贝氏体钢/答案A14.以下哪一种方法不属于熔化焊？A.激光焊/B.电渣焊/C.等离子弧焊/D.摩擦焊/答案D15.以下哪一条不属于碱性焊条的优点？A.抗裂性好/B.接头冲击韧性高/C.脱硫、脱磷能力强/D.不易产生气孔/答案D16.下列焊接方法中，生产效率高、没有熔渣、成本低的是。A.氩弧焊/B.二氧化碳气体保护焊/C.手工电弧焊/D.埋弧焊/答案B17.下列焊接接头中，承载后应力分布比较均匀的接头是。A.对接接头/B.搭接接头/C.角接接头/D.T型接头/答案A18.焊接接头的薄弱环节是。A.焊缝/B.熔合区和过热粗晶区/C.正火区/D.部分相变区/答案B19.以下哪些材料焊接时易出现热裂纹？A.低温钢/B.低合金钢/C.铬镍奥氏体不锈钢/D.以上都是/答案C20.焊接接头的使用性能可通过哪种方法评价？A.计算碳当量/B.焊接性试验/C.焊接工艺评定试验/D.以上都是/答案C21.焊接工艺评定试验的焊接接头需进行哪些项目的检测试验？A.外观检查/B.无损检测/C.力学性能试验/D.以上都是/答案D22.坡口不清洁，有水、油、锈，最有可能导致的焊接缺陷是。A.气孔/B.夹渣/C.未熔合/D.裂纹/答案A23.低合金钢焊接时减少热影响区淬硬倾向的有效措施是。A.烘烤焊条/B.预热焊件/C.提高焊速/D.焊后热处理/答案B24.焊接接头冷却到多少温度以下所产生的裂纹称为冷裂纹？A.大约1100℃以下时/B.大约800℃以下时/C.大约300℃以下时/D.大约－20℃以下时/答案C25.下列哪一因素不是导致冷裂纹产生的原因？A.焊缝和热影响区的含氢量/B.热影响区的淬硬程度/C.焊接应力的大小/D.焊缝中低熔点共晶物的含量/答案D26.电渣焊焊缝进行超声检测应在。A.焊接36小时以后/B.焊接24小时后/C.消除应力热处理后/D.正火处理后/答案D27.以下哪一条不是产生未焊透的原因？A.接电流过大/B.坡口钝边过大/C.组对间隙过小/D.焊根清理不好/答案A28.下列焊接缺陷中属于面积型缺陷的是。A.气孔/B.夹渣/C.裂纹/D.夹钨/答案C29.下列哪一种缺陷危害性最大？A.圆形气孔/B.未焊透/C.未熔合/D.裂纹/答案D30.结晶裂纹一般发生在。A.焊缝中间/B.熔合区/C.过热粗晶区/D.部分相变区/答案A相关法规、规范知识（31～60）31.《特种设备安全监察条例》规定，以下哪些单位应当接受特种设备安全监督管理部门的安全监察？A.特种设备生产单位/B.特种设备使用单位/C.特种设备检验检测机构/D.以上都是/答案D32.以下关于《特种设备安全监察条例》对于特种设备事故分类的说法中，正确的是。A.分为特别重大事故、特大事故、重大事故、严重事故和一般事故五类/B.分为特别重大事故、重大事故、较大事故和一般事故四类/C.分为特大事故、重大事故、严重事故和一般事故四类/D.以上都不对/答案B33.以下关于《特种设备安全监察条例》对压力容器适用范围的说法中，错误的是。A.盛装气体或者液体，承载一定压力的所有密闭设备/B.盛装最高工作压力大于或者等于0.1MPa（表压），且压力与容积的乘积大于或者等于2.5MPa.L的气体、液化气体和最高工作温度高于或者等于标准沸点的液体的固定式移动式容器/C.盛装公称工作压力大于或者等于0.2MPa（表压）,且压力与容积的乘积大于或者等于1.0MPa.L的气体、液化气体和标准沸点等于或者低于60℃液体的气瓶/D.氧舱/答案A34.以下关于《特种设备安全监察条例》对锅炉适用范围的说法中，错误的是。A.容积大于或者等于30L的承压蒸汽锅炉/B.出口水压大于或者等于0.1MPa（表压），且额定功率大于或者等于0.1MW的承压热水锅炉/C.有机载体锅炉/D.利用各种能源，将所承装的液体加热到一定的参数，并承载一定压力的所有密闭设备/答案D35.以下关于《特种设备安全监察条例》对压力管道适用范围的说法中，错误的是。A.最高工作压力大于或者等于0.1MPa（表压）/B.介质为气体、液化气体、蒸汽介质或者可燃、易爆、有毒、有腐蚀性、最高工作温度高于或者等于标准沸点的液体介质/C.公称直径大于25mm/D.利用一定的压力输送气体或者液体的所有管状设备/答案D36.《特种设备无损检测人员考核规则》规定的超声检测方法项目为。A.脉冲反射法超声检测/B.衍射时差法超声检测/C.超声检测（自动）/D.以上都是/答案D37.以下哪一条不是《特种设备无损检测人员考核规则》规定的对Ⅱ级人员的能力要求？A.调试和校准检测仪器/B.编制或者审核无损检测报告/C.编制和审核无损检测工艺规程/D.编制针对具体工件的作业指导书或工艺卡/答案C38.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，可以直接报考Ⅱ级持证项目的学历条件是。A.理工类研究生和本科生/B.无损检测大专生/C.非理工本科和理工科大专生/D.无损检测中专生/答案A39.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，考试成绩未达到合格标准的允许补考，考试单科合格成绩有效期为。A.Ⅰ级一年/B.Ⅱ级二年/Ⅲ级三年/D.二年/答案D40.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，持证人员证件到期后，需要继续从事持证项目的无损检测工作，应在有效期届满，按照要求向具有相应项目考试的考试机构提出换证申请。A.当年的2月底前/B.前6个月/C.前3个月/D.当年年底/答案C41.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，用于焊接结构压力容器主要受压力元件的碳素钢和低合金钢，其含碳量应小于或等于。A.0.20%/B.0.25%/C.0.20%/D.0.40%/答案B42.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定：压力容器的对接焊接接头的无损检测比例，一般分为全部（100%）和局部（大于等于20%）两.种。对铁素体钢制低温容器，局部无损检测的比例应大于等于__。A.10%/B.20%/C.50%/D.60%/答案C43.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定：压力容器的无损检测按JB/T4730《承压设备无损检测》执行。对压力容器对接接头进行局部（20%）无损检测时，如采用射线检测，其透照质量不应低于AB级，其合格级别为级。A.Ⅰ/B.Ⅱ/C.Ⅲ/D.Ⅳ/答案C44.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，压力容器焊接接头超声检测方法包括。A.衍射时差法超声检测（TOFD）/B.可记录的脉冲反射法超声检测/C.不可记录的脉冲反射法超声检测/D.以上都是/答案D45.以下是《固定式压力容器安全技术监察规程》关于无损检测时机的叙述，错误的是。A.焊接接头应当经过形状、尺寸及外观检查，合格后再进行无损检测/B.拼接封头应当在成型前进行无损检测/C.有延迟裂纹倾向的材料应当至少在焊接完成24小时后进行无损检测/D.低合金高强钢制压力容器在耐压试验后还应当对焊接接头进行表面无损检测/答案B46.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，厚度大于或等于12mm的碳素钢和低合金钢板，用于制造压力容器壳体时，在哪些情况下需逐张进行超声检测？。A.盛装介质毒性程度为极度、高度危害介质的/B.在湿H2S腐蚀环境中使用的/C.设计压力大于或等于10MPa/D.以上都是/答案D47.《移动式压力容器安全技术监察规程》适用的移动式容器不包括。A.铁路罐车和汽车罐车/B.长管拖车/C.罐式集装箱和管束式集装箱/D.气瓶/答案D48.《移动式压力容器安全技术监察规程》规定，用于制作罐体的碳素钢和低合金钢板，在哪些情况下需逐张进行超声检测？。A.厚度大于或者等于20mm的/B.厚度大于或者等于12mm，且充装介质毒性程度为极度、高度危害的/C.引用标准中要求逐张进行超声检测的/D.以上都是/答案D49.《移动式压力容器安全技术监察规程》规定，需进行全部射线或超声检测的对接接头有。A.罐体的对接接头/B.与罐体连接的接管、管路的对接接头/C.A和B/D.夹套壳体的A、B类对接接头/答案C50.《超高压容器安全技术监察规程》对于筒体及主要受压元件的无损检测没有规定采用的无损检测方法是。A.超声检测/B.射线检测/C.磁粉检测/D.渗透检测/答案B51.《锅炉安全技术监察规程》适用于《特种设备安全监察条例》范围内的。A.固定式承压蒸汽锅炉和承压热水锅炉/B.有机热载体锅炉/C.以利用余热为主要目的的烟道式或烟道与管壳组合式余热锅炉/D.以上都是/答案D52.《锅炉安全技术监察规程》不适用于。A.设计正常水位水容积小于30L的蒸汽锅炉/B.额定出水压力小于0.1Mpa的热水锅炉/C.额定热功率小于0.1MW的热水锅炉/D.以上都是/答案D53.下面关于《锅炉安全技术监察规程》对锅炉分类的叙述哪一条是错误的？A.A级锅炉是额定工作压力大于3.8MPa的锅炉/B.B级锅炉包括蒸汽锅炉、热水锅炉和有机热载体锅炉/C.C级锅炉包括蒸汽锅炉、热水锅炉和有机热载体锅炉D/D级锅炉不包括有机热载体锅炉/答案D54．以下是《锅炉安全技术监察规程》关于无损检测时机的叙述，错误的是。A.有延迟裂纹倾向的材料应当在焊接完成24h后进行无损检测/B.有再热裂纹倾向的焊接接头，应当在最终热处理后再进行一次相同的无损检测/C.封头（管板）、波形炉胆、下脚圈的拼接接头的无损检测应当在成形后进行/D.电渣焊焊接接头应当在正火后进行超声检测/答案B55.以下是《锅炉安全技术监察规程》关于无损检测技术级别和焊接接头质量等级的叙述，错误的是。A.锅炉受压部件焊接接头射线检测技术级别不低于AB级，焊接接头质量等级全部检测不低于Ⅱ级，局部检测不低于Ⅲ级/B.锅炉受压部件焊接接头超声检测技术级别不低于B级，焊接接头质量等级不低于Ⅰ级/C.表面检测的焊接接头质量等级不低于Ⅰ级/D.以上都对/答案A56.根据《锅炉安全技术监察规程》的规定，判断下述有关无损探伤的要求哪些适用于有机热载体炉？A.锅筒的纵环焊缝和封头拼接焊缝：气相100%RT,液相50%RT/B.锅筒的纵环焊缝和封头拼接焊缝进行100%UT加至少25%RT/C.锅筒的纵环焊缝、封头拼接焊缝进行大于等于20%RT/D.受热面管的对接焊缝进行100%UT/答案A57.以下是《锅炉安全技术监察规程》关于B级锅炉无损检测方法选择和检测比例的叙述，错误的是。：A.锅筒（锅壳）、启动（汽水）分离器纵、环向对接接头、封头（管板）、下脚圈拼接接头、集箱纵向对接接头100%RT或100%UT/B.壁厚t<20mm时应采用RT/C.壁厚t≥20mm可可采用UT/D.UT宜采用数字式可记录仪器，也可采用模拟式超声仪/答案D58.以下是《压力管道安全技术监察规程－工业管道》关于管道受压元件焊接接头检测方法和检测数量要求的叙述，错误的是。A.名义厚度小于或者等于30mm的管道，对接接头采用射线检测，不能用超声检测代替/B.名义厚度大于30mm的管道，对接接头可以采用超声检测代替射线检测/C.公称直径大于或者等于500mm的管道，对每个环向对接接头进行局部检测，公称直径小于500mm的管道，可以根据环向焊接接头的数量按照规定的检测比例进行抽样检测/D.抽样检测中，固定焊焊接接头的检测数量不得小于其数量的40%/答案A59.根据GB12337-1998《钢制球形储罐》规定，下面关于局部射线或超声检测的球罐，需要全部检测的部位的叙述中，错误的是。A.焊缝交叉部位/B.嵌入式接管与球壳板连接的对接接头/C.公称直径小于250mm接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头/D.凡被补强圈、支柱、垫板、内件等所覆盖的焊接接头/答案C60.JB/T4732－1995《钢制压力容器-分析设计标准》规定,需进行百分之百射线或超声检测的受压部件焊接接头包括。A.A类或B类焊接接头/B.筒体或封头名义厚度大于65mm的C类焊接接头/C.开孔直径大于100mm，且筒体或封头名义厚度大于65mm的D类焊接接头/D.以上都是/答案DJB/T4730,3-2005标准（61～90）61.JB/T4730.2-2005标准规定，采用多胶片法时，AB级、A级检测技术不允许双片叠加观察，这一规定的主要理由是。A.双片叠加观察时，底片黑度达不到标准的有关要求/B.双片叠加观察时，底片灵敏度达不到标准的有关要求/C.双片叠加观察时，由于单片的黑度较低。底片对比度小，易造成缺陷漏检/D.双片叠加观察时，由于底片黑度较大，缺陷不容易观察/答案C62.按照JB/T4730.2-2005标准，下面哪些规定不涉及检测技术等级？A.采用源在内中心透照方式，允许γ射线最小透照厚度的规定/B.对100mm＜DO≤400mm的环向对接焊接接头允许采用K值的规定/C.采用源在内中心透照方式，允许f值可以减小的规定/D.采用X射线透照小径管或其它截面厚度变化大的工件时，允许降低底片黑度值的规定/答案C63.下面是关于射线透照时选择胶片的叙述，不符合JB/T4730.2-2005标准规定的是。A.A级、AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片/B.B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片/C.使用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行检测时，应采用T2类或更高类别的胶片/D.对于Rm≥540MPa的高强度材料对接焊接接头射线检测时，应采用T3类或更高类别的胶片/答案D64.JB/T4730.2-2005标准中规定采用γ射线透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。这一规定的主要目的是。A.尽可能提高底片的黑度/B.尽可能提高底片对比度和减小照相不清晰度/C.尽可能降低底片的颗粒度/D.以上都是/答案B65.在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是。;A.底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的/B.单壁透照时允许象质计放置在胶片侧，且无需进行对比试验/C.当象质计放于胶片侧时，应在象质计上适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照，象质计可放在源侧，也可放在胶片侧/答案B66.下面是对JB/T4730.2-2005标准选用增感屏规定的理解，错误的是。A.500KV以下X射线照相，选择增感屏的厚度仅与X射线的能量有关B.γ射线照相，选择增感屏的厚度与检测技术等级有关，与源的种类无关/C.采用高能X射线（＞12MeV）照相,选择增感屏厚度与检测技术等级无关/D.100KV以下X射线照如使用增感屏，则增感屏厚度应≤0.03mm/答案B67.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当观察底片黑度为2.2时，观片灯的亮度应不低于。A.220cd/m2/B.2200cd/m2/C.4800cd/m2/D.6600cd/m2/答案C68.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于射线能量的理解，不正确的是。A.应按公称厚度确定允许的最高管电压/B.当透照区截面厚度变化较大时，标准允许采用超出图1的规定值/C.在一般射线照相中所采用的透照电压应低于标准中图1的规定值/D.标准中图1规定的主要不足是允许的最高透照管电压未与所使用的胶片类别相关联/答案A69.下面是对JB/T4730.2-2005标准关于标记规定的叙述，错误的是。A.透照部位标记由识别标记和定位标记组成/B.标记一般放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位/C.搭接标记也是连续检测时的透照分段标记/D.所有标记的影像不应重叠，且不应干扰缺陷评定区内的影像/答案D70.下面是对JB/T4730.2-2005标准质量分级内容的理解，不正确的是。A.质量分级中给出的缺陷类型与缺陷性质不一定完全相同/B.缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位/C.在进行质量分级评定中，各类缺陷都应在缺陷评定区中评定/D.圆形缺陷按点数在缺陷评定区内评定，实际上是对缺陷允许的尺寸、数量、密集程度等进行评定/答案C71.按照JB/T4730.2-2005标准规定，在下列焊接接头的射线照相中。不能使用铁（Fe）象质计的是。A.镍、镍合金/B.铜、铜合金/C.不锈钢/D.钛、钛合金/答案D72.下列关于对无损检测人员要求的叙述中，不符JB/T4730.2-2005标准规定的是。A.从事承压设备无损检测的人员，应按《特种设备无损检测人员考核规则》的要求取得相应的无损检测资格/B.取得无损检测方法各资格级别的人员，只能从事与该方法和级别相应的无损检测工作，并承担相应的责任/C.仅从事γ射线检测的人员上岗前应进行辐射安全知识的培训并取得放射工作人员证/D.射线检测人员未经校正或经校正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0，测试方法应符合GB11533的规定，从事评片的人员应每年检查一次视力/答案C73.JB/T4730.2-2005标准规定，应根据工件特点和技术条件选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。这一规定的主要目的是。A.单壁透照最有利于缺陷的检出/B.单壁透照在实际工作中最容易实施/C.单壁透照所用的管电压低，可延长X射线机的使用寿命/D.以上都是/答案A74.JB/T4730.2-2005标准中与检测技术级别无关的规定是。A.一次透照长度的规定/B.用X射线透照小径管和其它截面厚度变化大的工件时，底片黑度值允许降低的规定/C.增感屏选用的规定/D.小径管使用对比试块的规定/答案D75.下面关于象质计使用的叙述中，不符合JB/T4730.2-2005标准规定的是。A.当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，应在透照区中间和最边缘的焊缝处各放置一个象质计/B.单壁透照中象质计放置在胶片侧时，应进行对比试验/C.当象质计放在胶片侧时，应在象质计适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照，象质计可放于源侧，也可放于胶片侧/答案A76.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于曝光量规定的解释，错误的是。A.曝光量与焦距有关，与技术级别有关/B.曝光量与焦距有关，与技术级别无关/C.采用γ射线源透照时，总曝光时间与检测技术级别无关/D.当焦距改变时，可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算/答案B77.JB/T4730.2-2005标准规定，对小径管对接接头透照时，当g（焊缝宽度）＞DO/4时，应采用垂直透照重叠成像。这一规定的目的是。当g＞DO/4时垂直透照可减少透照次数/B.当g＞DO/4时椭圆开口宽度不好控制/C.当g＞DO/4时垂直透照有利于未部未熔合的检出/D.以上都是/答案C在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是。A.对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过30KV/B.有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成36h后进行射线检测/C.制作对比试块的材料应与被检工件的材料的射线吸收系数相同或相近/D.对使用中的曝光曲线，每年只需校验一次/答案C79.JB/T4730.2-2005标准在质量分级中，对不同材质的焊接接头允许的圆形缺陷评级的主要差异是。A.对深孔缺陷的规定不同/B.对各级别圆形缺陷放宽点数的规定不同/C.对圆形缺陷的定义不同/D.对铝和铝合金、钛和钛合金焊接接头所允许的圆形缺陷点数与钢焊接接头允许的点数不同/答案D80.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于小径管环向对接接头100%透照次数规定的理解，错误的是。A.按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是控制透照厚度比/B.按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是增大透照厚度宽容度/C.理论上相隔120°比相隔60°透照3次更有利于不同部位缺陷的检出/D.在特殊条件下允许透照一次，尽管采取有效措施扩大缺陷的可检出范围，但不能保证实现焊缝全长的100%检测/答案B81.按照JB/T4730.2-2005标准规定，下列各因素中与底片像质计灵敏度无关的是。A.透照方式/B.像质计摆放位置/C.射线源种类/D.透照厚度/答案C82.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当被检工件材料为低合金钢时，不可以使用材料制做的像质计。A.铜/B.低碳钢/C.奥氏体不锈钢/D.以上都可以/答案A83.在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是。A.评片人员从阳光下进入评片窒的暗适应时间一般为5～10min/B.如底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的/C.若底片上出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够/D.对评定范围内黑度D＞4.0的底片，如有计量检定报告证明评定范围内的亮度能够满足4.10.3的规定，允许进行评定/答案C84.JB/T4730.2-2005标准规定，由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝的100%检测，此时应采取有效措施扩大可检出范围。这里的有效措施是指。A.适当提高管电压/B.双胶片技术/C.窗口加滤波板/D.以上都是/答案D85.下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是。A.底片评定范围内的黑度是指不包括灰雾并的净黑度/B.经合同各方同意，各级别圆形缺陷允许的点数可以放宽1～2点/C.采取其它透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下，A级、AB级技术的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm，Se75源的最小透照厚度可降至5mm/D.采用双胶片技术，如以单片观察，AB级的单片黑度应在2.0～4.0范围内/答案D86.JB/T4730.2-2005标准规定，由于材质或结构等原因，进行返修可能会产生不利后果的对接接头，各级别圆形缺陷点数可放宽1～2点。下列哪种材料不存在上述情况？A.奥氏体不锈钢/B.16MnR/C.钛合金及其复合材料/D.镍基合金及其复合材料/答案B87.按照JB/T4730.2-2005标准规定，下列关于评片时底片评定范围内的亮度规定的叙述，正确的是。A.当底片评定范围内的黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2/B.当底片评定范围内的黑度D＞2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2/C.对评定范围内的黑度D＞4.0的底片，如有计量检定报告证明所用观片灯能满足4.10.3的要求，允许进行评定/D.以上都对/答案D88.按照JB/T4730.2-2005标准规定，φ133管子环形对接接头射线照应采用的方法是。A.单壁单影/B.双壁单影/C.双壁双影/D.A或B/答案D89.JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的规定，f值可以减小。但减小值不得超过规定值的。A.50%/B.405/C.20%/D.10%/答案A90.JB/T4730.2-2005标准规定，小径管环向对接接头透照时，若使用专用像质计（等径金属丝），则应至少能识别根金属丝。A.1/B.2/C.3/D.4/答案B专业理论知识（91～290）91.原子的主要组成部分是。A.质子、电子、光子/B.质子、重子、电子/C.光子、电子、X射线/D.质子、中子、电子/答案D92.原子核的质子数等于。A.中子数/B.原子序数/C.光子数/D.原子量/答案B93.质子和中子的区别是中子没有。A.电荷/B.质量/C.自旋/D.半衰期/答案A94.原子核外电子能量最高的是。A.外壳层/B.中间壳层/C.内壳层/D.以上均不是/答案A95.同位素是指。A.质量数相同而中子数不同的元素/B.质量数相同而质子数不同的元素/C.中子数相同而质子数不同的元素/D.质子数相同而质量数不同的元素/答案D96.电磁波的频率（ν）、速度（c）和波长（λ）的关系是。A.ν=λ·c/B.λ=c/ν/C.λ=ν·c/D.λ=ν/c/答案B97.X射线、γ射线和α粒子有一个共同点，即它们都是。A.粒子辐射/B.电磁辐射/C.微波辐射/D.电离辐射/答案D98.射线探伤中应用最多的三种射线是。A.X射线、γ射线和中子射线/B.α射线、β射线和γ射线/B.X射线、γ射线和β射线/C.X射线、γ射线和α射线/答案A99.单色射线是指。A.标识X射线/B.γ射线源产生的射线/C.用来产生高对比度的窄束射线/D.由单一波长的电磁波组成的射线/答案D100.在一般的工业射线探伤中，射线与物质相互作用时，主要产生的二个效应是。A.光电效应和电子对效应/B.光电效应和康普顿效应/C.康顿效应和电子对效应/D.康普顿散射和电离/答案B101.当光子与物质相互作用时，光子的波长增加，方向改变，这是由于的结果。A.光电效应/B.康普顿效应/C.电子对效应/D.电离/答案B102.康普顿效应的特征是。A.产生光电子/B.产生歇电子/C.产生反冲电子/D.产生正负电子对/答案C103.光电效应的特征是。A.产生光电子/B.发射标识X射线/C.发射二次电子/D.以上都是/答案A104.已知某单能射线在钢中的半价层为3mm，则该射线在钢中的吸收系数为。A.0.231cm/B.2.31cm-1/C.2.079cm/D.0.00231mm-1/答案B105.射线通过物质时的衰减取决于。A.物质的原子序数、密度和厚度/B.物质的杨氏模量/C.物质的泊松比/D.物质的晶粒度/答案A106.窄束和宽束的区别是。Ａ.窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达检测器/B.窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是指散射的未散射的射线均到达检测器/C.窄束和宽束的区别在于源尺寸大小不同/D.窄束和宽束的区别在于照射场大小不同/答案B107.散射线的主要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的？A.光电效应/B.康普顿效应/C.电子对效应/D.电离作用/答案B108.从X射线管中发出的射线包括。A.连续X射线/B.标识X射线/C.β射线/D.A和B/答案D109.连续X射线穿透厚工件时，有何特点？A.第二个半价层小于第一个半价层/B.第二个半价层等于第一个半价层/C.第二个半价层大于第一个半价层/D.第二个半价层与第一个半价层关系不确定/答案C110.当射线波长一定时，下列哪种物质的μ最大？A.Fe/B.Al/C.Ti/D.Cu/答案D111.产生X射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设置一个障碍物，使高速电子在这个障碍物上突然减速。这个障碍物被叫做。A.阳极/B.阴极/C.靶/D.灯丝/答案C112.X射线的穿透能力取决于。A.管电流/B.管电压/C.曝光时间/D.焦点尺寸/答案B113.γ射线的穿透能力取决于。A.源的尺寸/B.源的种类/C.曝光时间/D.焦点尺寸/答案B114.当施加于X射线管两端的管电压不变，而管电流增加时，。A.产生的X射线波长不变，强度不变/B.产生的X射线波长不变，强度增加/C.产生的X射线波长不变，强度减小/D.产生的X射线波长增加，强度不变/答案B115.X射线机的管电流不变，管电压减小时，则X射线将会。A.强度不变，波长减小/B.强度不变，波长增大/C.波长减小，强度减小/D.波长增大，强度减小/答案D116.X射线管产生的连续X射线的强度与管电压的关系是。A.强度与管电压成正比/B.强度与管电压成反比/C.强度与管电压平方成正比/D.强度与管电压平方成反比/答案C117.活度为80Ci、平均能量为1.66MeV的同位素源，经过三个半衰期后，其平均能量变为。A.0.008MeV/B.0.22MeV/C.0.23MeV/D.1.66MeV/答案D118.某放射性同位素的衰变常数为0.005371天-1，则其半衰期为。A.186天/B.129天/C.53天/D.537天/答案B119.下列几种材料中，射线衰减系数最大的是。A.铜/B.铝/C.铁/D.碳/答案A120.射线照相难以检出的缺陷是。A.未焊透和裂纹/B.气孔和未熔合/C.夹渣和咬边/D.分层和折迭/答案D121.射线照相法对哪一种焊接方法不适用？A.气焊、电渣焊/B.气体保护焊、埋弧自动焊/C.手工电弧焊、等离子弧焊/D.磨擦焊、钎焊/答案D122.以下关于射线照相法特点的叙述，哪些是错误的？A.判定缺陷性质、数量、尺寸比较准确/B.检测灵敏度受到材料晶粒度的影响/C.成本较高，检测速度慢/D.射线对人体有伤害/答案B123.γ射线的光谱称为。A.线状谱/B.连续谱/C.标识谱/D.以上都是/答案A124.衰变常数λ反映了放射性物质的固有属性，。A.λ值越小，说明该物质越不稳定，衰变得越慢/B.λ值越大，说明该物质越不稳定，衰变得越快/C.λ值越大，说明该物质越稳定，衰变得越慢/D.λ值越大，说明该物质越稳定，衰变得越快/答案B125.射线与物质相互作用导致强度减弱，其原因为。A.吸收和散射/B.衰变和吸收/C.衰变和散射/D.以上都是/答案A126.各种效应对射线照相质量产生的影响是。A.光电效应和康普顿效应有利于提高照相对比度/B.电子对效应和康普顿效应有利于提高照相对比度/C.光电效应和电子对效应有利于提高照相对比度/D.光电效应和电子对效应会降低照相对比度/答案C127.管电压、管电流不变，将X射线管阳极靶由铜换成钼，产生的连续X射线线质如何变化？。A.变硬/B.变软/C.不变/D.不一定/答案C128.X射线管的阳极靶最常用的材料是。A.铜/B.钨/C.铍/D.银/答案B129.软X射线管的窗口材料一般是。A.铜/B.钨/C.铍/D.银/答案C130.在条件允许的情况下，焦点尺寸应尽可能小，其目的是。A.减小设备体积/B.提高清晰度/C.增加能量密度/D.节省合金材料/答案B131.X射线管中轰击靶产生X射线的高速电子的数量取决于。A.阳极靶材料的原子序数/B.阴极靶材料的原子序数/C.灯丝材料的原子序数/D.灯丝的加热温度/答案D132.下列哪一特征不是X射线管的靶材料所要求的？。A.高原子序数/B.高熔点/C.高热传导/D.高质量吸收系数/答案D133.高压变压器直接与X射线管直接相连接的X射线机叫做。A.全波整流X射线机/B.自整流X射线机/C.交流X射线机/D.恒电压X射线机/答案B134.当两台相同型号的X射线机的千伏值和毫安值均相时，。A.产生的X射线的强度和波长一定相同/B.产生的X射线的波长相同，强度不同/C.产生的X射线的强度相同，波长不同/D.产生的X射线的强度和波长不一定相同/答案D135.X射线管对真空度要求较高，其原因是。A.防止电极材料氧化/B.使阴极与阳极之间绝缘/C.使电子束不电离气体而容易通过/D.以上三者均是/答案D136.决定X射线机工作时间长短的主要因素是。A.工作电压KV的大小/B.工作电流mA的大小/C.工件厚度的大小/D.阳极冷却速度的大小/答案D137.X射线机中循环油的作用是。A.吸收散射线/B.滤去一次射线中波长较长的射线/C.散热/D.增强一次射线/答案C138.大焦点X射线机与小焦点X射线机相比，其缺点是。A.射线能量低，穿透力小/B.射线不集中，强度小/C.照相黑度不易控制/D.照相清晰度差/答案D139.大功率X射线管阳极冷却的常用方法是。A.辐射冷却/B.对流冷却/C.传导冷却/D.液体强制循环冷却/答案D140.γ射线探伤机与X射线探伤机相比，其优点是。A.设备简单/B.不需外部电源/C.射源体积小/D.以上三者都是/答案B141.γ射线探伤机所用的放射性同位素都是。A.天然同位素/B.人工放射性同位素/C.稳定同位素/D.以上三者都是/答案B142.放射性同位素的辐射强度与时间的关系是。A.随时间增大/B.与时间无关/C.随时间减小/D.三者都不对/答案C143.利用γ射线探伤时，若要增加射线强度可以采用。A.增加焦距/B.减小焦距/C.减少曝光时间/D.三者均可/答案B144.下列四种放射性同位素中，半价层最大的是。A.Co60/B.Cs137/C.Ir192/D.Tm170/答案A145.下列四种放射性同位素中，半衰期最长的是。A.Co60/B.Cs137/C.Ir192/D.Tm170/答案B146.厚度为180mm的钢试件射线照相可采用的γ射线源是。A.钴60/B.铥170/C.铱192/D.硒75/答案A147.铱192源可透照的厚度范围是。A.100-200mm/B.8-60mm/C.铱4-15mm/D.20-100mm/答案D可用来检测壁厚5-10mm的钢管环焊缝的放射性同位是。A.Ir192/B.Cs137/C.Co60/D.Se75/答案D149.决定X射线管靶材适用性的两个因素是。A.拉伸强度和屈服强度/B.硬度和磁导率/C.电阻和抗氧化性能/D.原子序数和熔点/答案D150.以下关于携带式X射线机操作使用的叙述，哪条是错误的？。A.X射线机停用超过3天才需要训机/B.送高压前应预热灯丝/C.机内的SF6压力过低，将影响绝缘性能/D.应保持工作和间歇时间1比1/答案A151.X射线管中，电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生。A.连续X射线/B.标识X射线/C.短波长X射线/D.热/答案D152.X射线管的管电流大小主要取决于。A.靶材料/B.灯丝电流/C.阳极到阴极的距离/D.以上都是/答案B153.X射线管中轰击靶的电子运动的速度取决于。A.靶材料的原子序数/B.管电压/C.管电流/D.灯丝电压/答案B154.在管电压和管电流相同的情况下，焦点尺寸越小，焦点温度。A.越低/B.越高/C.不变/D.不一定/答案B155.表示胶片受到一定量X射线照射，显影后的底片黑度是多少的曲线叫做。A.曝光曲线/B.灵敏度曲线/C.胶片特性曲线/D.胶片吸收曲线/答案C156.X射线胶片的片基常用的材料是。A.聚氯乙烯薄膜/B.聚氨脂薄膜/C.涤纶薄膜/D.聚乙烯薄膜/答案C157.胶片特性曲线上，过两个特定黑度点之间的直线的斜度叫做。A.胶片的宽容度/B.梯度/C.平均梯度/D.感光度/答案C158.由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是。A.胶片的反差系数/B.胶片的本底灰雾度/C.正常的曝光范围/D.三者均是/答案D159.哪一因素变化会使胶片特性曲线形状发生明显改变？A.改变管电压/B.改变管电流/C.改变焦距/D.改变显影条件/答案D160.下面有关胶片的四种叙述中，唯一正确的是。A.胶片粒度大，感光速度快，底片图像清晰/B.胶片粒度小，感光速度快，底片图像模糊/C.胶片粒度大，感光速度快，底片图像模糊/D.胶片粒度小，感光速度快，底片图像清晰/答案C161.底片黑度范围限制在胶片特性曲线的直线区域内，这是因为在此区域透照出来的底片。A.黑度大/B.感光度高/C.本底灰雾度小/D.对比度高/答案D162.已曝光过的X射线胶片，不能在高温高湿环境中保持时间过长，否则会引起。A.药膜自动脱落/B.产生白色斑点/C.产生静电感光/D.潜影衰退，黑度下降/答案D163.X射线胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成份是。A.AgBr/B.AgO2/C.AgS/D.AgBr2/答案A164.与非增感型胶片配合使用的增感屏是。A.荧光增感屏/B.铅箔增感屏/C.荧光铅箔增感屏/D.稀土荧光增感屏/答案B165.铅箔增感屏的最主要优点是。A.即可加速胶片感光又能吸收部分散射线/B.可提高照相清晰度/C.可减小照相颗粒度/D.以上都是/答案A166.使用铅增感屏可缩短曝光时间，其原因是铅箔受X射线或γ射线照射时。A.能发出荧光从而加速胶片感光/B.能发出可见光从而加速胶片感光/C.能发出红外线从而加速胶片感光/D.能发出电子从而加速胶片感光/答案D167.射线照相中，使用像质计的主要目的是。A.测量缺陷大小/B.评价底片影像质量/C.测定底片清晰度/D.以上都是/答案B168.什么是使用像质计的局限性？A.不能提供射线照相检测灵敏度的永久性证据/B.不能比较两种不同透照技术的质量高低/C.不能提供可检出实际缺陷尺寸的度量指示/D.不能验证所用透照工艺的适用性/答案C169.对母材厚度16mm的双面焊对接焊缝进行射线探伤时，在底片上能发现的最细钢丝直径为0.32mm，其像质计灵敏度为。A.1%/B.1.5%/C.2%/D.2.5%/答案C170.平板对接焊缝照相时，下面关于像质计摆放的叙述，唯一正确的摆放位置是。A.胶片一侧工件表面，并应靠近胶片端头/B.源一侧工件表面，金属丝垂直焊缝，并位于工件中部/C.胶片一侧工件表面，并应处在有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝朝外/D.射源一侧工件表面，有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝朝外/答案D171.透照钛试件时使用