2024增材制造标准测试件增材制造系统几何成形能力评估

增材制造标准测试件增材制造系统几何成形能力评估II目 次前言 II引言 I1范围 12规范性引用文件 13术语和定义 14制备测试件的一般要求 14.1材料 1工艺规范 1文件格式 2测试规范和测试过程 2测试件的数量和位置 2成形位置和方向 34.7标记 3测试件阵列与合并 3支撑和后处理 35测量测试件的一般要求 35.1通则 3沉积态测试件的测量 4测量方案 4测量不确定度 46测试件几何形状 46.1概述 46.2精度 4成形分辨率 11表面粗糙度 196.5标记 22附录A(资料性)测试件摆放示例 26附录B(资料性)测试方法 28附录C(资料性)测试过程 31附录D(资料性)本文件与ISO/ASTM52902:2023相比的结构变化情况 38附录E(资料性)本文件与ISO/ASTM52902:2023的技术性差异及其原因 39参考文献 40PAGEPAGE10增材制造标准测试件增材制造系统几何成形能力评估范围本文件规定了增材制造标准测试件制备、测量和几何形状的一般要求。本文件适用于利用标准测试件进行增材制造系统校准和成形能力评估。规范性引用文件（包括所有的修改单适用于本文件。GB/T35022增材制造主要特性和测试方法零件和粉末原材料GB/T35351增材制造术语GB/T39329—2020增材制造测试方法标准测试件精度检验GB/T41507—2022增材制造术语坐标系和测试方法（GB/T41507—2022，ISO52921:2013，MOD）HB8747-2023航空增材制造测试报告格式与数据要求术语和定义GB/T35351界定的术语和定义适用于本文件。制备测试件的一般要求总则本章节规定了适用于制备本文件中所有标准测试件（以下简称“测试件”）几何形状的总体原则，仅包括与测试件制备过程相关的通用要求，针对具体几何形状的特定要求见第6章。材料规范（如流动性（如化学成分和污染程度）等要求，并明确原始粉末再利用的要求，包括原始粉末/使用过粉末的混合百分A)。工艺规范测试件加工前，供需双方应确定满足ASTMF2971要求的工艺规范（附件A1中的元素“C”）（供需双方宜就工艺规范中的参数达成一致。准备用文件的格式、切片参数及数据文件的准备步骤。文件下载标准测试件几何形状的3D数字模型可在\h文件转换要求为确保测试件能够准确反映增材制造系统的成形能力，CAD模型转换为AMF、STL或其他任何中间文CAD模型的最大偏差小于增材制造系统预期精度的想情况下小于所评估增材制造系统预期精度的1/10。目前，大多数增材制造设备无法成形精度优于10μm的特征结构，因此CAD模型保存为STL/AMF格式时，应确保至少2.5μm或更高精度。这只是一般性指大偏差，如弦高和角度偏差。型，并将其记录为工艺规范的一部分。测试规范和测试过程ASTMF2971-13：2021A/6ASTMF2971-13：2021A测试件的数量对于设备性能的完整测试，测试件的数量需至少考虑以下两个方面：——测试规范/5量结果。——测试件覆盖的成形区域对成形平台要有足够的区域覆盖率（见4.7）以检测不同成形位置之间的性能差异。重复成形能用来测试工艺的可重复性。对增材制造系统性能进行抽查或演示时可以减少测试件数量，降低区域覆盖率，如附录A。测试件的数量应由供需双方协商确定，并不少于5次测量。测试件的分布建议测试件的摆放区域至少占设备成形平台的80%。如果成形位置影响已知或与用户要求的特定试验无关，则可根据供需双方之间的协议选择单个成形位置。要检测非线性或周期性的校正，就必须要有横跨构建体积范围的长的测试件。测试件的位置和方向按照附录A的规定，测试报告宜包含测试件的成形位置和方向（见GB/T41507）。标记标记符号宜添加到测试件上以识别测试件的成形方向和零件位置。具体见6.5。测试件阵列与合并（因为这将影响到测试结果测试件的几何图形以获得更大的覆盖区域，见图2进行的缩放，例如在使用粘结剂喷射增材制造的应用中。AMF或STL单个文件中准确定位零件阵列的相对位置。增材制造是沿ZX-Y中数据的四舍五入会影响特定图层或像素的成形。因此测试报告宜包含测试件的成形方向（见GB/T41507）。度，建议用户制作测试件时确保足够的间距。支撑和后处理限于材料、几何尺寸、去除方法。形能力情况下，可进行适当的表面处理或后处理，否则不宜进行任何的表面处理或后处理。（或未进行）缩放”。测试件测量的一般要求总则6（千分表GB/T35022推荐了一些测量方法，测试报告宜包含本节规定的测量方法，详细信息见附录A和附录B。沉积态测试件的测量记录。测量方案附录B和C根据实际情况选择最小测量不确定度的测量方案。测量不确定度每项测量的标准不确定度应与测量结果一起报告。用户宜记录测量过程和使用设备的任何校准和质量保证体系，应在测试报告中明确测量设备的精度。测量系统分析(MSA)和量具重复性和再现性(R&R)也是进行测量不确定度评估的可接受方法。参见ASTME2782。测试件的几何属性概述下文描述了七种类型的测试件，每种测试件旨在测试增材制造系统不同的性能或能力。精度线性精度测试件目的性误差可作为诊断系统运动误差或定位补偿的依据。几何形状图1为X,Y征的包围盒为5mm×5mm×5mm图1X,Y方向线性精度测试件度测试件时，端部凸起的2.5mm叠加形成了中心凸起全部为5mm立方块，如图2所示。图2两个线性精度测试件合并1测试件模型整体按1:2要较长的线性精度测试件，将图1测试件模型整体按2:1放大制作。测量线性精度测试件主要测量立方体表面相对于测试件末端主基准面的位置（见图1）或者测量每个凸起的长度和每个凸起之间的间距.可选测量项目是基座沿测试件长度的直线度、基座每一侧沿测试件长度的平行度和每个凸起的高度。线性精度测试件测量项目见表1。表1线性精度测试件测量项目表测量项目可选择的测量项目X,Y方向：立方体表面相对于测试件末端基准面的位置或者测量每个凸起的长度和每个凸起之间的间距Z沿测试件长度的基座的直线度、基座每一侧沿着测试件长度的平行度和每个凸起的高度注意事项X,Y,Z41507(例如沿龙门系统的X轴滑动)，可以更好地将测试件的误差与定位系统中的误差运动联系起来。成形方向宜避免造成刮刀运动碰撞或损坏测试件。间以及行程末端附近。（例如在凸起部分的下面（宜慎重选择支撑策略以尽量减小对测量过程/精度的影响。（Z（6.2.3）圆形测试件目的建表面上的方法(例如粘接剂喷射)。通过这些测试件可以区分材料的影响与增材制造系统中可能存在的外部误差源。几何形状基座圆环内径的尺寸:粗圆形的内径为20.0mm，中圆形的内径为10.0mm，细圆形的内径为5.0mm;粗100.050.025.0mm12.0mm、6.0mm、3.0mm。并在圆柱体外相交。图3圆形测试件外环所述圆环的外径为粗圆形为94.0mm，中圆形为47.0mm，细圆形为23.5mm，粗圆形为60.0mm，中圆形为30.0mm，细圆形为15.0mm。圆环的高度分别为距底座顶面40.0mm、20.0mm和10.0mm。内圈32.015.08.028.014.0mm，7.0mm40.0mm、20.0mm、10.0mm。测量主要测量方法是测量圆环表面的圆度(圆度)。另外，每个内环和外环的直径大小可以在多个(至少五个)位置测量，报告最大内切圆和最小外切圆直径。第二种选择是在多个(至少五个)位置测量每个环的壁厚。该工件的可选测量包括每个圆环的每个面的同心度以及每个环的每个面的圆柱度。注意事项构建位置和方向:需要考虑构建空间中的多个圆环结构。确定工件摆放方向，使机器的两个运动轴独立运动，减少因轴间运动干扰导致的误差。(即参考面D的方向应与XY、YZ或ZX平面正交)。如果零件与平行于XY平面的参考面D建造，则不需要使用支撑。基板应该是一个坚实的结构，能够牢牢固定圆环的底面为防止成型失败，用户应该考虑他们系统的壁厚的成型能力。报告除测量值外，圆形测试件的报告应至少包括下列资料:--同心圆数量;--为便于识别，圆环的命名方法;--摆放在基板上的位置;--圆环标识(由内到外)。Z目的这些工件用于测试沿机器z轴方向的线性定位精度。这就像线性精度工件，不需要任何支撑结构来表示机器的z轴定位性能。根据工件的方向和机床配置，工件的误差可以为定位补偿或诊断z轴定位系统中的特定误差运动提供依据。几何形状图4描述了中等z中、小3类测试件：具有9(33)级阶梯的小型测试件，具有16(44)级阶梯的中型测试件，以及具有36(66)级阶梯的大型测试件。图3Z轴测试件表1-z轴测试工件的台阶高度列表步小测试件中测试件大测试件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm1273125mm66500mm1383250mm70000mm1490000mm75250mm1594500mm83125mm1697500mm91000mm1796250mm1899750mm19103250mm20.108500mm21116375mm22124250mm23129500mm24133000mm25136500mm26141750mm27149625mm28157500mm29162750mm30.166250mm31169750mm32175000mm33182875mm34190750mm35196000mm36199500mm步小测试件中测试件大测试件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm测量z轴测量件主要测量台阶面相对于矩形基座上部的位置(图4中的基准面C)。允许确定单个台阶之间的距离，并且可以允许与主要测量相结合的额外分析。可选的测量包括工件垂直表面的形状(例如平面度)。注意事项冲突。用户应该考虑将z轴工件放置在构建区域的中间或附近构建平台的外缘。建部分)鼓形测试件后进行测试。测试方法按GB/T39329-2020中第7章的要求进行。成形分辨率圆柱销测试件目的映了系统精度的有关信息。几何形状354细三类。粗圆柱销的直径从4mm~0.5mm(4.0mm、3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中圆柱销的直径从0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4mm、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，细圆柱销的直径从0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm0.1mm0.05mm和0.025mm)和10:13为长径比为6:1的圆柱销测试件。图5圆柱销测试件圆柱测试件基本尺寸按照下表尺寸：表1圆柱销测试件基本尺寸单位：毫米基座圆柱尺寸（直径×高度）圆柱中心距长宽高细2533φ0.2×0.8φ0.15×0.6φ0.1×0.4φ0.05×0.2φ0.025×0.15φ0.2×1.2φ0.15×0.9φ0.1×0.6φ0.05×0.3φ0.025×0.15φ0.2×1.6φ0.15×1.2φ0.1×0.8φ0.05×0.4φ0.025×0.2φ0.2×2、φ0.15×1.5、φ0.1×1、φ0.05×0.5、φ0.025×0.25中2533φ0.5×2、φ0.4×1.6、φ0.3×1.2、φ0.2×0.8、φ0.1×0.45φ0.5×3、φ0.4×2.4、φ0.3×1.8、φ0.2×1.2、φ0.1×0.6φ0.5×4、φ0.4×3.2、φ0.3×2.4、φ0.2×1.6、φ0.1×0.8φ0.5×5、φ0.4×4、φ0.3×3、φ0.2×2、φ0.1×1粗3563φ4.0×16、φ3.0×12、φ2.0×8、φ1.0×4、φ0.5×27φ4.0×24、φ3.0×18、φ2.0×12、φ1.0×6、φ0.5×3φ4.0×32、φ3.0×24、φ2.0×16、φ1.0×8、φ0.5×4φ4.0×40、φ3.0×30、φ2.0×20、φ1.0×10、φ0.5×5特征尺寸的确定（如金属粉末床熔融系统可以成形最小直径的圆柱销在不同长径比下的规格不同。征（例如线性精度测试件上2.5mm和5.0mm的凸起）。可以成形的直径最小的圆柱销取决于成形方向，特别是对于具有各向异性的工艺(例如某些增材制造工艺可能在XY方向比Z例如平行于设备Z轴方向和X（例如选择一个方向作为对系统的特定挑战或作为最佳情况的场景）。件在成形空间体积内成形时可能失效的风险，以避免对其余特征成形产生不利影响。测量圆柱销主要测量直径，中细圆柱销间距5.0mm，以便使用光学显微镜或或手持测量设备（如千分尺或卡尺）进行测量。可选测量项目包括圆柱销的高度、圆柱度和圆跳动，测量方法参见附录B。注意事项录直径相同的圆柱销与设计尺寸是否一致。作ZZX方向(ZX)对齐;平行于设备ZY方向(ZY)对齐。圆孔测试件目的力。圆孔的直径测量值反映了系统成形微小圆孔特征的有关信息。圆孔测试件除了评估圆孔的成形能力之外，还提供了评估从小孔中去除未固化材料的能力。几何形状组54mm~0.5mm(4.0mm3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中孔的直径从0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4m、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，小孔的直径从0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm、0.1mm、0.05mm和0.025mm)。零件高度为2.5mm，孔为通孔。例如图2为中孔测试件。图6圆孔测试件圆孔测试件基本尺寸请按照下表尺寸：表2圆孔测试件基本尺寸表

单位：毫米零件圆孔直径孔中心距长宽高大2532.5φ0.2φ0.15φ0.1φ0.05φ0.0255中2532.5φ0.5、φ0.4、φ0.3、φ0.2、φ0.15小28102.5φ4.0、φ3.0、φ2.0、φ1.0、φ0.56特征尺寸的确定含预估分辨率的特征集。融工艺，并考虑从盲孔中去除残余粉末。可以成形的直径最小的圆孔取决于成形方向，特别是对于具有各向异性的工艺。因此，测试件宜在ZX应和层厚对圆孔成形的影响。成形良好，但在表面下方成形失败（盲孔），可通过针规或无损检测技术检查表面下方的成形质量。测量的深度、圆度和圆柱度，测量方法见附录B。注意事项（盲孔直径相同的圆孔与设计尺寸是否一致。录C符合常见的公制量规尺寸。增材制造系统可成形的最小孔可能小于常用的最小规格)。筋板测试件目的分辨率的有关信息。几何形状366.0mm~1.0mm(6.0mm5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中测试件的筋板从1.0mm~0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小筋板从0.1mm~0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm，0.02mm和0.01mm)。测试件的高度可为10.0mm或20.0mm。每个测试件由较大的支柱沿垂直表面的一侧支撑(见图3或图4)（厚度大于1.0具有不同的几何形状(见图5)，户可以使用此特征测量测试件与模型的偏差，评估增材制造系统满足轮廓公差的能力。图7中等尺寸筋板测试件图8大尺寸筋板测试件特征尺寸的确定况下，可将测试件修改成在一个基座上成形更少的特征。特别是对于具有各向异性的工艺X方向或Y对成形无支撑薄壁结构的限制，不推荐测试件的长度方向平行于设备的Z的运动方向，因为垂直于刮刀运动方向的测试件更易弯曲或变形。在成形空间体积内成形时可能失效的风险。测量尺、千分尺、光学显微镜和三坐标测量仪。面度，以及大筋板基座的轮廓度，测量方法参见附录B。注意事项宜记录（失败或损坏的测试件的长度和高度反映系统筋板成形良好，但有几个测试件厚度相同，宜注意并记录厚度相同的测试件与设计尺寸是否一致。每个测试件上的6个基座可用于测试数据文件与测试件的一致性。槽测试件目的本文件提供了一套槽测试件用以评估增材制造系统可成形的最小尺寸的槽或槽之间的最小间距的能力。可成形的最小的槽反映设备可成形的最小槽宽。槽的宽度测量值反映了系统成形精度的有关信息。几何形状366.0mm~1.0mm(6.0mm、5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中槽的宽度从1.0mm`0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小槽宽度从0.1mm`0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm、0.02mm和0.01mm)。大槽的高度为5.0mm，10.0mm或20.0mm，中槽和小槽的高度为5.0mm和10.0mm。槽间距是恒定的，大槽为5.0mm，中槽为2.0mm，小槽为1.0mm。图9中等尺寸槽测试件（槽宽（见图可选角度为510°、15°、20°、25°、30°，用户可测量角度，评估增材制造系统满足角度公差的能力。图10大尺寸角度槽测试件若某些工艺需要较小或特征较粗大的测试件，可由供需双方协商测试件的几何形状，并遵循图6，图7或图8测试件的设计原则。特征尺寸的确定含预估成形分辨率的特征集。特征(例如线性测试件上的凸起间距为2.5mm和5mm)。特别是对于具有各向异性的工艺增材制造过程中以不同的方向成形，例如槽位于xz平面、槽的长度平行于x方向或槽位于yz度平行于y方向。能失效的风险。测量槽测试件主要测量槽的宽度。槽的间距为2mm，在一个或多个槽成形失败的情况下，便于用户找到每个槽的位置。测量槽宽宜沿槽长度方向测量多个位置，测量方法包括但不限于光学显微镜和塞尺。测试件的可选测量项目是每个槽的长度、沿着每个槽长度方向槽的直线度以及槽两个面的平行度，测量方法参见附录B。注意事项（注意测量部分成形的槽的长度和宽度相同的几个槽尺寸与设计尺寸是否一致。成形Z方向槽：平行于设备Z方向、基座与设备X方向(ZX)对齐、和平行于设备Z方向、基座与设备Y(ZY)对齐。表面粗糙度目的（轮廓（面积（对于材料挤出成形几何形状图14mm×15.0mm×0.4mm，中等粗糙度测试件的扁平片尺寸为12.0mm×30.0mm3.0mm24.0mm60.0mm×6.0m，这对于5.0mm×8.0mm的面积测量或12.5mm的轮廓测量已经足够。标引序号说明：1——每个平片为3.0mm×12.0mm×30.0mm；2——连接梁；a——扁平片。图9表面粗糙度测试件特征尺寸的确定建议成形所有角度的测试件，根据用户与供应商之间的协议，可以选择成形更少规格的测试件。测量主要测量项目为表面粗糙度，可选的测量项目为角度。个样品的长度方向。测量方向无需记录。轮廓测量应在每个表面不同的位置重复多次测量(至少3见图10标引序号说明：1——建议轮廓测量位置；2——待测扁平片表面；3——建议面积测量位置。图10轮廓测量和区域测量的建议位置可能的情况下，每个测试件的两个表面(上表面和下表面)应分别测量和报告，测量方法参见附录B。报告表3为粗糙度测量应测量和记录的参数。轮廓测量的记录轮廓长度，区域测量的记录测量面积。建议值参见GB/T3505、GB/T10610、GB/T33523。表3建议的测量参数名称符号(轮廓测量)符号(区域测量)表面平均粗糙度(算术平均差)RaSa表面平均峰谷高度RzSz表面高度分布的偏斜度(不对称度)RskSsk表面高度分布的陡度RkuSku按照国标中的粗糙度测量方法改写。（粗糙度测量按照国标GB/T的标准进行）注意事项成形方向0°（见图重复性果需要与其他结果进行比较，还宜记录测试件在成形室中的位置和方向。支撑坏被测表面的风险，用户可查阅设备说明书获取更多的信息。刮刀测试件成形失败。标记目的在基板或测试件上都可以。几何形状X和Y所示。注意事项制作标记时，建议使用非对称结构特征/形状，用以描述测试件位置，以防误解，图12为带有标记的测试件。标引序号说明：1——连接梁。图13XY标记图14不同成形角度的XY标记a）0°，90°；b）45°附录A格式和要求报告标题要求数据元素格式支持信息原材料材料规范由字母/数字组成的唯一性代码符合本文件要求的原材料规范。工艺标准工艺规范由字母/数字组成的唯一性代码至少包含进料方式、工艺以及后处理的信息。测试大纲或规范文件或文件名由字母/数字组成的唯一性代码至少包含与现有标准测试方法或非标测试方法之间的具体偏离。测量数据要求测试方案测试计划/标准或工艺文件由字母/数字组成的唯一性代码至少包含单位、具体测试配置、报告选项、样品准备和状态。样品取向坐标X/Y/Z和角度按GB/T51407执行。附录B测试件摆放示例足需求的情况下可简化配置。本附录提供了测试件的摆放示例以供参考。A.1能力评估。该配置能快速检查X/Y平面特性，旨在评估X/Y平面（特别是成形平台的中心）的增材制造系统的几何成形能力。此外，该配置旨在快速成形并需要少量的原材料。注意这个配置测试件少，成形高度低，并不是系统性能的全面表征。（心上方）引起的系统偏差。图A.1在X/Y平面测试件摆放附录C(资料性)测量方法概述方法及其相关设备在测量难度、不确定度和成本上有所不同，因此，将这些测量方法分为三类:——A级：常见的简单、经济的测量；——AA级：稍高精度的测量；——AAA级：测量昂贵且具有最低的测量不确定度，用于实验室级测量。对于每种测试件的集中测量方法总结在下表中，其中许多是可选测量。4倍(10倍)0.5mm0.125mm(0.05mm)GB/T27025-2019。表B.1建议测量方法和测试件的主要特征被测量对象输出测量设备测量等级线性精度测试件位置各面坐标三坐标测量仪AAA各面坐标三维扫描仪A~AA突出厚度手持式千分尺或卡尺A突出间距手持式卡尺A平直度测试件长度方向三坐标测量仪AAA测试件长度方向三维扫描仪A~AA测试件长度方向带校准定位台的千分表AA测试件长度方向带直尺的千分表A圆柱销测试件圆柱直径最小外接圆三坐标测量仪AAA最小外接圆校准的显微测量装置AA~AAA最大内接圆三维扫描仪A~AA两点直径手持式千分尺或卡尺A圆柱高度N/A三坐标测量仪AAA深度尺或手持式卡尺AA~AAA圆度校准的显微测量装置AA~AAA三坐标测量仪AAA圆柱度三坐标测量仪AAA三维扫描仪A~AA圆孔测试件直径最大内接圆已校准的显微镜AA~AAA最佳拟合圆已校准的显微镜AA~AAA最大内接圆针规A孔深带有深度尺的针规A圆度已校准的显微镜AA~AAA筋板测试件厚度三坐标测量仪AAA手持式卡尺或千分尺A直线度测试件的形式三坐标测量仪AAA测试件的形式三维扫描仪A~AA测试件的形式带校准定位台的千分表AA测试件的形式带直尺的千分表A槽测试件槽宽面间距塞规A面间距三坐标测量仪（仅限槽宽≥1mm）AAA面间距手持式卡尺或千分尺（仅限槽宽≥1mm）A平面度与最佳拟合圆的偏离三坐标测量仪（仅限槽宽≥1mm）AAA平行度三坐标测量仪（仅限槽宽≥1mm）AAA表面粗糙度平均表面粗糙度Ra接触式（触针）轮廓仪AA~AAASa光学轮廓仪AA~AAA偏斜度Rsk接触式（触针）轮廓仪AA~AAASsk光学轮廓仪AA~AAA峰值Rku接触式（触针）轮廓仪AA~AAASku光学轮廓仪AA~AAA角度相对角度三坐标测量仪AAA尺寸测量的建议一般建议：3次；——测量时对测量的零件施加最小的力，特别是对于小的易碎的零件；——鼓励用户在可能影响结果的标称平面上寻找非平坦或翻边的位置进行测量；于实际尺寸。对于坐标测量：——选取多点测量；——建议坐标测量范围至少覆盖80%的表面；——随机取点测量比均匀取点测量具有更低的测量不确定度，因为它避免了系统误差的混叠。对于光学显微镜测量：确定度的影响；——照明影响图像质量从而影响边界识别。使用现有设备实现均匀照明(同时避免饱和)的可重复过程有助于降低测量不确定度。附录C(资料性)测量过程概述高端测量技术（BAAAAA，如三坐标测量仪等）有大量良好做法的文件；鼓励用户寻线性精度测试件测量设备0.02mm准确。测量过程在每个距离的立方体的不同高度上测量3次：——第1次在底部测量；2次在立方体的中部测量；3次在立方体的顶部测量。测量注意事项C.1在整个测量过程中，测量位置保持一致，并在测量过程中尽可能避免这种局部特征。图C.1几何特征顶面上形成的棱边（并可能确定大小不同误差源对测量结果的影响，并采取相应的措施进行修正和补偿。圆形工件测量设备——光学测量、三坐标或同等设备。基准测量说明圆环的圆度(C.2E、DF尺寸取决于所选择的测量圆形工件）。——扫描应从Pt1开始。——Pt1距平面-B-0.5Dmm，距平面-A-0.5（D-E）mm。Pt1结束。——扫描应在平行于表面-C-的平面上进行，高度为表面-C-的0.5Fmm。——圆环的同心度/圆柱度：——应在以下两个平行于表面-C-的高度处测量/构建圆圈/圆柱体距离表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm的高度。D-G-尺寸——内外直径应在与表面-C-和-C-平行的两个高度处测量平均值。测量应在距表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm处进行。环的壁厚：——应在五个或更多位置测量墙壁厚度。——Pt1应与圆度测量中使用的Pt1一致。Pt2-72Pt3-160Pt4-216Pt5-285。-C--C0.5Fmm。单位（毫米）关键G轴线Pt1point1Pt2point2

图C.2-圆形工件测量尺寸提供机构:国家标准化管理委员会网址提供机构:国家标准化管理委员会网址:\h订单号:01010320230904hxkn-测量设备三坐标测量机、3D扫描仪或同等设备。基准测量说明步高:中描述的优先顺序建立高度测量的参考位置(4C)。测量台阶相对于参考位置的位置。测量基准的注意事项Z放高度测量。如图C.1所示如果从边缘开始测量，测量结果会有变化。在整个测量过程中，位置应保持一致，在测量过程中应尽可能避免局部特征，如边缘。圆柱销测试件测量设备最大允许误差为≤0.02mm的游标卡尺。小，因此是首选方法。测量过程从圆柱销底部到顶部逐个测量如图C.2所示的圆柱销直径。图C.2圆柱销的测量尽可能在多点上进行测量。如果可能的话，进行三点测量。测量注意事项表面结构会影响测量结果，因此建议使用测量平均值进行补偿。圆孔的测量设备包括：——经校准合格的针规，间隔0.1mm，量程0.4mm~3.0mm；——推荐使用具有测量能力的显微镜。测量过程圆孔测量过程如下：——使用孔直径为3.0mm、2.0mm、1.0mm的针规；0.5mm的针规开始(0.5mm开始)；0.1mm的增量逐渐增加；——找到最大针规直径使得针规在不需要外力的情况下一直能穿过孔的末端并记录结果；——如果没有可以顺利插入的圆孔，说明成形失败；——使用分辨率小于1.0mm的显微镜测量；——通过零件底部的光线；——使用图像在孔的轮廓内拟合最大尺寸的内切圆；——记录圆孔的直径。测量注意事项圆孔测量时，注意事项如下：x和y特征内。0.1mm的增量逐渐增加。筋板测试件测量设备最大允许误差≤0.02mm的游标卡尺。测量过程1/3的位置。图C.3筋板测试件在不同点的测量测量注意事项表面结构会影响测量结果，因此建议使用测量平均值进行补偿。槽测试件测量设备槽的测量设备包括：——槽宽：校准的塞尺，最小增量为0.05mm，量程0.05mm~1.0mm；——角度：三坐标测量仪、三维扫描仪，或同等设备。测量过程槽宽的测量过程如下：——从比标称宽度小于0.5mm的塞尺开始测量(若不适用，则从0.05mm开始)；——如果塞尺通过不需要借助外力，则以0.05mm的增量逐渐增加；——找到最大厚度的塞尺使得塞尺在不需要外力的情况下一直能到槽的末端，记录结果；——如果没有不使用外力可以顺利插入的槽，说明成形失败。槽角度的测量过程：确定臂表面相对于基准面A的角度。测量注意事项测量槽宽时，注意事项如下：——槽的末端逐渐变窄，塞尺从头至尾插入且不需要外力；——槽口尺寸小于标称值，因此首先用比标称尺寸小得多的塞尺尺寸，随后以0.05mm的增量逐渐增加。C.1量位置保持一致，并在测量过程中尽可能避免这种局部特征。表面结构测量设备表面结构的测量设备包括：——用于表面结构测量使用的接触法和光学方法应符合GB/T3505-2009；——为了方便、快速、准确地测量，用户可以制作标准夹具来夹持测试件(典型的是具有孔的扁平框架，以使多个样品稳固在正确的方向上)。测量注意事项表面结构的测量注意事项如下：——使用接触式/光学轮廓仪器测量Ra,Rz,Rku,Rsk,Rv,和Rp；——沿平行于纵轴、横跨各层的轮廓线测量；——评估长度12.5mm；——取样长度(λc):2.5mm；——光学扫描设置：扫描面积：13.0mm×1.5mm，z1.0mm；放大倍数：10倍；1μm3μm。附录D