半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 编制说明_第1页
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《半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法》编制说明电阻存储单元性能测试方法》标准制定是2024年第三批推荐性国家标准计划项目，计划项目代号：20241488-T-339。由中华人民共和国全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口，主编单位为上海复旦微起草阶段：2024.2～2024.5初步确立主要参编单位，成立编制组，组内成位进行了国际标准原文IEC62951-9Ed.1:2022进行翻译，形成翻译稿。结合标稿进行研究、对比、分析，并编写《半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部术领域。为了与国际技术发展前沿保持同步，本标准等同采用IEC62951-9本标准采用翻译法，等同采用国际标准，标准的结构和内容与IEC60151-9Ed.1:2022保持一致。本标准主要规三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社会亿美元，年复合增长率为9%。其中包括柔性电阻存储器的新型存储器市场增速IEC62951-9Ed.1:2022于2022年12月发布，该项标准的技术水平为国际先进水五、以国际标准为基础的起草情况，以及是否合规引用或者采用国际国外《第6部分：柔性导电薄膜的薄膜电阻测试方法》九、实施

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