(高清版)GBT 12085.23-2022 光学和光子学　环境试验方法　第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验

代替GB/T12085.5—2010,GB/T12085.18—2011,GB/T12085.21—2011光学和光子学环境试验方法(ISO9022-23:2016,MOD)国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会IGB/T12085.23—2022 引言 V 1 13术语和定义 1 1 2 5 8 8附录A(资料性)说明 9 ⅢGB/T12085.23—2022本文件是GB/T12085《光学和光子学环境试验方法》的第23部分。GB/T1 ——第4部分：盐雾； 本文件代替GB/T12085.5—2010《光学和光学仪器环境试验方法第5部分：低温、低气压综验》及GB/T12085.21—2011《光学和光学仪器环境试验方法第21部分：低压与大气温度、高温综———更改了“范围”一章的内容(见第1章，GB/T12085.5—2010、GB/T12085.18—2011、GB/T12085.21—2011的第1章);——更改了试验条件对试验箱(室)、试样和温度控制的要求(见第4章，GB/T12085.5—2010、GB/T12085.18—2011、GB/T12085.21—2011的第3章);—更改了条件试验方法45～51的名称(见第5章，GB/T12085.5—2010、GB/T12085.18—2011、GB/T12085.21—2011的第4章);——更改了条件试验方法50的试验步骤(见6.7,GB/T12085.5—2010的第5章); 增加了条件试验方法51的试验步骤(见6.8):的第7章、GB/T12085.21—2011的第6章)。本文件修改采用ISO9022-23:2016《光学和光子学环境试验方法第23部分：低压与低温、大气GB/T12085.23—2022本文件与ISO9022-23:2016相比做了下述结构调整：本文件与ISO9022-23:2016的技术差异及其原因如下：符合光学行业应用领域的要求；——增加了规范性引用的GB/T12085.2(见第4章)以适应我国的技术条件，提高可操作性；—用规范性引用的GB/T12085.8代替了ISO9022-8——更改了大气温度的相关要求(见第4章),以符合我国国情；——更改了温度和气候值的相关要求(见表1～表6),以符合我国国情；——更改了气压值的单位，并将对应参数作了相应换算(见第5章),以符合我国国情。——第7章用资料性引用的GB/T12085(所有部分)代替了ISO9022(所有部分);—更改了A.5第1段内容，符合我国在用的试验箱(室)设备性能情况(见A.5)。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国机械工业联合会提出。本文件由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：——GB12085.5,1989年首次发布，2010年第一次修订；——GB/T12085.18,2011年首次发布；—GB/T12085.21.2011年首次发布；———本次为第二次修订，将GB/T2011整合为GB/T12085.23—2022。光学和光子学仪器广泛应用于国民经济及国际科技各个领域，由于其使用及运输环境条件非常复杂，有来自物理的、化学的、生物的、气候的以及电气的等各种环境条件的影响.都会使光学和光子学仪器的性能发生变化而不能正常发挥功能。鉴于上述原因，为了保证光学和光子学仪器产品的质量，需要模拟各种复杂的环境条件变化，对光学和光子学仪器产品进行试验，考核其经受严酷环境条件的能力，因而GB/T12085包含了试验条件、条件试验、试验程序、环境试验标记等内容。同时由于环境条件内容较多且分属不同的类型，为了便于标准的贯彻实施，GB/T12085根据环境条件的类型分列为15个部分。第1部分：术语、试验范围。目的在于统一环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验 第2部分：低温、高温、湿热。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电等特性受到温度和湿度影响的变化程度 第3部分：机械作用力。日的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性在受到机械作用力影响的变化程度第4部分：盐雾。目的在于对仪器表面和保护涂(镀)层抵抗盐雾的能力进行评估。 第6部分：砂尘。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受到砂尘影响的变化程度。 第7部分：滴水、淋雨。日的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受到滴水、淋雨影响的变化程度 电)等特性受到环境气体高压、低压或浸没影响的变化程度。 第9部分：太阳辐射与风化。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受到太阳辐射或风能(太阳照射、湿热)影响的变化程度。第11部分：长霉。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受到长霉的影响程度，以及评估霉菌代谢产物(比如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。 第12部分：污染。目的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材料短时间内暴露在试剂中的抵抗能力。 第17部分：污染、太阳辐射综合试验。日的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材料短时间内受试剂腐蚀及太阳辐射的抵御能力第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受二氧化硫或硫化氢的影响第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气(包括静电)等特性受到综合低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动的影响的变化程度 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。目的在于研究试样的光学、气候机械、化学和电气(包括静电)等性能特性受到综合低压和低温、常温或高温的影响程度1GB/T12085.23—2022光学和光子学环境试验方法高温或湿热综合试验2规范性引用文件GB/T12085.1光学和光子学环境试验方法第1部分：术语、试验范围(GB/T12085.1—GB/T12085.2光学和光子学环境试验方法第2部分：低温、高温与湿热(GB/T12085.2—2022,ISO9022-2:2015,MOD)GB/T12085.8光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没(GB/T12085.8—2022,ISO9022-8:2015,MOD)3术语和定义表1～表6规定的温度和气候条件，按GB/T12085.2中规定的条件试验方法10、11和12。对于条件试验方法47至49,需要一个气候试验箱(室)。采用三2GB/T12085.23—20225.1条件试验方法45:低气压与大气温度相结合条件试验方法45:低气压与大气温度相结合的严酷等级按表1进行。单位严酷等级试验箱(室)温度℃试验箱(室)气压升、降压时间试验条件周期h工作状态2222散热试样达到稳定的温度状态后。5.2条件试验方法46:低气压与高温相结合条件试验方法46:低气压与高温相结合的严酷等级按表2进行。单位严酷等级试验箱(室)温度℃40±340±363±363±340±363±3试验箱(室)气压kPa升、降压时间min平均升降温速率K/min0.2～2暴露时间h工作状态工作状态仅1。5.3条件试验方法47:低内压结合湿热、压差小条件试验方法47:低内压结合湿热、压差小的严酷等级按表3进行。条件试验方法47,严酷等级01循环曲线示例如图1所示。条件试验方法47应适用于密封性(低压抗压性)制造要求低的光学和光子学仪器，例如符合GB/T12085.8条件试验方法81中的严酷等级要求01、02、07和08的仪器。3GB/T12085.23—2022单位严酷等级试验条件1步骤1试验箱(室)温度C相对湿度暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内步骤2气候条件40℃±2℃,相对湿度90%～95%暴露时间h周期数666试验条件2试验箱(室)温度℃暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内试验条件3试验箱(室)温度℃相对湿度暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内工作状态11——试验条件1;4-——按表1的持续时间；5——相对湿度，<40%;6——相对湿度，90%～95%;7——相对湿度，<40%;图1条件试验方法47,严酷等级01循环曲线示例5.4条件试验方法48:低内压结合湿热、压差中等条件试验方法48应适用于密封性(低压抗压性)制造要求中等的光学和光子学仪器，如符合GB/T12085.8条件试验方法81中严酷等级要求03、04、09和10的仪器。4GB/T12085.23—2022表4单位严酷等级试验条件1步骤1试验箱(室)温度℃40±2试验箱(室)气压暴露时间h步骤2气候条件40℃±2℃,相对湿度90%～95%暴露时间h周期数363636试验条件2试验箱(室)温度℃暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内试验条件3试验箱(室)温度℃40±2相对湿度暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内工作状态1条件试验方法49应适用于密封性(低压抗压性)制造要求高的光学和光子学仪器，如符合单位严酷等级试验条件1气候条件40℃±2℃,相对湿度90%～95%与环境压力相对应的试样内部持续减压持续减压期间的暴露时间h试验条件2气候条件40℃±2℃,相对湿度90%～95%终止持续减压后的暴露时间(真空泵断开)h试验条件3试验箱(室)温度℃-10±3暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内试验条件4试验箱(室)温度℃40±2相对湿度暴露时间h持续到试样内部空气与试验箱(室)温差3K以内工作状态15GB/T12085.23—2022条件试验方法50:低气压结合寒冷，包括白霜和露水的严酷等级01～08应按表6进行。单位严酷等级试验箱(室)温度℃—25±3—40±3—25士3—40±3—65±3—25±3—40±3—65±3试验箱(室)气压气压kPa60±38.5±1等效高度m升、降压时间min平均升降温速率K/min在0.2-2以内暴露时间h4工作状态这些数据根据恶劣的气候情况得出。6试验程序6.1通则试验应按照相关规范和GB/T12085.1的要求进行。关于条件试验方法47～51的说明和条件试验方法50的示例见附录A。6.2条件试验方法45的试验步骤对于条件试验方法45,在试验气压达到规定值后，热活性试样(除非相关规范另有规定)开始试验。升压时，试样上不应有凝露。防止的方法是使用再净化氮气或干燥空气为试验箱(室)通风或加热试样。6.3条件试验方法46的试验步骤为了达到试验温度，应在压力降低之前开始加热。在调整气应测量温度。温度传感器在试样上的位置应在相关规范中规定。测试报告中应注明用于测量箱内空气温度的温度传感器的位置。升压时，试样上不应有凝露。防止的方法是使用再净化氮气或干燥空气为试验箱(室)通风或加热6GB/T12085.23—2022试样。6.4条件试验方法47的试验步骤目视检查应在暗色背景下用4×~10×放大率进行观察。应通过一个准直光源或具有同等日光色温的鹅颈光纤光源提供50001x的照明装置，作为检查期间的照明。随后，使用放大率4×~10×暗场学组件的光学表面可能发生的性能变化和变化程度。6.4.2初始试验1在试验开始前，应检查所有试样因湿度过大导致的内部湿度。试样应在温度为-10℃的试验箱(室)内充分冷却，使试样的各部分均应达到试验箱(室)温差至少3K以内。然后，试样应立即在预热过的温度约为40℃的试验箱(室)内加热。在加热期间应密切观察试样，即使其短暂的出现任何水雾湿6.4.3初始试验2为了建立内部空气循环期间的温升时间，需要在试样内部空间间隔一定距离安装若干传感器。加热试验箱(室)内部空气，从步骤2到步骤1,按步骤1规定的温度达到试验箱(室)温差3K以内来衡量时间周期。这个周期时间应视为步骤1的暴露时间。如果使用多个传感器，则各测量的均值应为暴露时间。6.4.4试验条件1为了避免暴露时间过度使仪器干燥，按初始试验2步骤1,仪器规定的暴露时间应保持在±10%。暴露时间<20min,允差为±2min。从步骤1至步骤2或反之从步骤2至步骤1应进行得足够迅速，以确保试样受到的温度变化≤3K。在试验开始时，应增加从室温到40℃所需的预热时间。6.4.5试验条件2和3在试验条件1结束后，应立即将试样置于试验条件2中。并切换到试验条件3。在试验条件3(中间试验)的预热期间，应不断观察试样。这就确定了仪器内部光学表面的湿气程度及出现湿气所需的时间。6.5条件试验方法48的试验步骤6.5.1初检和终检初检和终检应按6.4.1进行。6.5.2初始试验初始试验应按6.4.2进行。6.5.3试验条件1装有试样的低压容器应直接安装在湿度箱(室)中。应将湿度箱(室)设置为步骤2的气候条件。然后在低压容器内设置与要求的严酷程度相适应的压力，并保持在步骤1所需的持续暴露时间。应在切换到步骤2时，用湿度箱(室)的循环空气进行低压容器的通风。当低压容器打开后，试样应维持在步骤7GB/T12085.23—20222气候条件下规定的暴露时间。该过程重复2次或5次(3或6个循环)。试验条件2和试验条件3应按6.4.5进行。初检和终检应按6.4.1进行。6.6.2初始试验初始试验应按6.4.2进行。在达到试验条件1的试验温度后，应对试样进行排气。在规定的暴露时间后，应将试样密封并保存在与试验条件2规定的暴露时间相同的气候条件下6.6.3试验条件3和试验条件4试验条件3和试验条件4应按6.4.5试验条件2和试验条件3要求进行。6.7条件试验方法50的试验步骤为了达到试验温度，应在压力降低之前开始制冷。在调整气压之前.试样应达到规定的测试温度。在恒定的试验箱(室)温度下，热有效试样应受试验温度的影响，直至试样的温度变化不超过1K/h,然后开始降压。在此过程中，允许试样内部发热当试样各部分达到试验箱(室)温差3K以内，且达到规定压力时，即开始条件试验周期。条件试验完成后，按相关规范规定，在压力上升期间，试样上应形成凝露或结霜。有两种方法可以在试样上形成凝露或结霜。以下两种方法中的一种应在相关规范中规定。a)低压条件下产生结霜在温度为-20℃--10℃范围内和低压为40kPa的范围内加热过程中，水蒸气充满了试验箱(室)。b)标准条件下产生结霜在加热期间，试验箱(室)内的压力调整到标准压力，同时温度保持在—20℃~-10℃。由于止试样干燥。在试验箱(室)内和试样上都应测量温度。温度传感器在试样上的位置应在相关规范中规定。测试报告中应注明用于测量箱(室)内空气温度的温度传感器的位置。为了达到试验温度，应在压力降低之前开始制冷。在调整气压之前，试样应达到规定的测试温度。在恒定的试验箱(室)温度下.热有效试样应受试验温度的影响，直至试样的温度变化不超过IK/h。然后开始降压。在此过程中，允许试样内部发热当试样各部分达到试验箱(室)温差3K以内，且达到规定压力时，即开始条件试验周期。条件试验完成后，同时启动升压，以加热试验箱(室)温度到大气温度。当压力升高时，试样上不应出现冷凝现象。可用再净化氮气或干燥空气使试验箱(室)通风或加热试样，以避免产生凝露和结霜。在试验箱(室)内和试样上都应测量温度。温度传感器在试样上的位置应在相关规范中规定。测试报告中应注明用于测量箱(室)内空气温度的温度传感器的位置。8环境试验标记应符合GB/T12085.1的规定，条件试验方法、严酷等级和工作状态的代码见GB/T12085(所有部分)。f)工作状态2的工作周期；h)恢复；1)试验报告的类型和范围。9(资料性)A.1条件试验方法47A.2条件试验方法48条件试验方法48旨在模拟试样所经历的环境条件，如空运环境条件。在飞行过程中，飞机货舱里的气压可能低达50kPa。在高湿度地区着陆时，不完全密封的仪器内部气压平衡，会导致湿气渗透。A.3条件试验方法49条件试验方法49不是用来模拟自然环境的。其主要用于密封性要求很高的仪器中建立防潮密封。A.4条件试验方法50和51当下降的飞机或导弹穿过温度和压力上升的区域，遇到潮湿空气或雨，其温度超过了仪器表面的温度时，仪器表面或不密封的仪器内部水分就会形成霜和露。融化的霜或露可能会渗透到安