(高清版)GBT 17799.7-2022 电磁兼容 通 用标准 第7部分：工业场所中用于执行安全相关系统功能（功能安全）设备的抗扰度要求

电磁兼容通用标准第7部分：工业场所中用于执行安全相关系统功能(功能safety-relatedsystem(functionalsafety)inindustriallocations[IEC61000-6-7:2014,Electromagneticcompatibility(EMC)—safety)inindustriallocations,MOD]国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会GB/T17799.7—2022前言 Ⅲ 1 1 3 33.2缩略语 6 64.1与IECGuide107的一致性 6 7 75性能判据 7 75.2性能判据DS的应用 86试验计划 8 8 86.2.1通则 8 9 9 96.2.5辅助设备 96.2.6电缆敷设和接地 96.3试验期间EUT的运行条件 96.3.1模式 96.3.2环境条件 96.3.3试验期间EUT的应用软件 96.4功能性能的规范 9 96.6试验的进行 6.6.2应用DS时需考虑的方面 7抗扰度要求 8试验布置和试验原理 8.1试验布置 8.2试验原理 IⅡGB/T17799.7—20228.3试验配置 8.4监控 9试验结果和试验报告 附录A(资料性)预期用于安全应用的功能的策略 ⅢGB/T17799.7—2022本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是《电磁兼容通用标准》的第7部分。《电磁兼容通用标准》已经发布了以下部分：——工业环境中的发射(GB17799.4);——室内设备高空电磁脉冲(HEMP)抗扰度(GB/T17799.5);——发电厂和变电站环境中的抗扰度(GB/Z17799.6);本文件修改采用IEC61000-6-7:2014《电磁兼容(EMC)第6-7部分：通用标准工业场所中用于本文件与IEC61000-6-7:2014的技术差异及其原因如下：———删除了表2至表6中有关60Hz的参数指标，包括表2、表4至表6的试验等级中60Hz和180Hz频率点，以及表3的试验等级中持续时间12周期、30周期和300周期的要求，以适用于我国国情(见第7章);——在表7和表8中增加了我国移动通信相关频率范围及业务，便于使用(见第7章)。——为与我国标准体系一致，将标准名称改为《电磁兼容通用标准第7部分：工业场所中用于——在表8的表头中增加了“仅供参考”,以与表7一致(见第7章);——调整了参考文献。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。GB/T17799.7—2022电磁兼容性是电气和电子设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。电磁兼容问题是影响环境及产品质量的重要因素之一，其标准化工作已引起国内外的普遍关注。在这方面，国际电工委员会(IEC)制定的IEC61000系列出版物是制造业、信息同环境中的发射和抗扰度要求等内容，拟由8个部分构成。——居住、商业和轻工业环境中的抗扰度(GB/T17799.1)。目的在于为居住、商业和轻工中使用的电气和电子设备规定其对包括静电放电在内的连续和瞬态、传导和辐射骚扰的抗扰——工业环境中的抗扰度试验(GB/T17799.2)。目的在于为工业环境中使用且还没有专用的产品或产品类抗扰度标准的电气和电子设备规定其对包括静电放电在内的连续和瞬态、传导和辐射骚扰的抗扰度试验要求。 ——工业环境中的发射(GB17799.4)。目的在于规定在工业环境中使用的电气和电子设备的连续——室内设备高空电磁脉冲(HEMP)抗扰度(GB/T17799.5)。目的在于规范室内使用的电气和电子设备的HEMP抗扰度要求。所用设备以及相关通信系统的抗扰度要求。工业场所中使用的专用设备的发射测试要求。本文件重点规定了设备包括静电放电在内的连续和瞬态、传导和辐射骚扰相关的抗扰度适用于预期在安全相关系统中使用的电气和电子设备，为供应商在声明安全相关系统中所使用设备抗1GB/T17799.7—2022电磁兼容通用标准第7部分：工业场所中用于执行安全相关系统功能(功能安全)设备的抗扰度要求●符合IEC61508和/或其他特定领域功能安全标准的要求，且过程见GB/Z17624.2—2013附录D。2规范性引用文件本文件。GB/Z17624.2—2013电磁兼容综述与电磁现象相关设备的电气和电子系统实现功能安全的方法(IEC/TS61000-1-2:2008.IDT)GB/Z17624.6—2021电磁兼容综述第6部分：测量不确定度评定指南(IEC/TR61000-1-6:2012,IDT)IEC60050(所有部分)国际电工词汇(IEV)[InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)](可在网站上查询)注：GB/T2900(所有部分)电工术语[IEC60050(所有部分)]GB/T4365—2003电工术语电磁兼容(IEC60050-161:1990.IDT)IEC61000-4-2电磁兼容(EMC)第4-2部分：试验和测量技术静电放电抗扰度magneticcompatibility(EMC)—Part4-2:Testingandmeasurementtechniques—Electrostaticdis-注：GB/T17626.2—2018电磁兼容试验和测量技IEC61000-4-3电磁兼容(EMC)第4-3部分：试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—Radiated,ra-dio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest]2GB/T17799.7—2022[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—Electricalfasttransient/burstimmunitytest]注：GB/T17626.4—2018电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-4:2012,IDT)IEC61000-4-5电磁兼容(EMC)第4-5部分：试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验[Elec-tromagneticcompatibility(EMC)—Part4-5:Testingandmeasurementtechniques—Surgeimmunitytest]conducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields]注：GB/T17626.6—2017电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC61000-4-6:2013,IDT)magneticcompatibility(EMC)—Part4-8:Testingandmeasurementtechniques—Powerfrequencymagneticfieldimmunitytest]注：GB/T17626.8—2006电磁兼容试验和变化的抗扰度试验[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-11:Testingandmeasurementtech-niques—Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests]61000-4-11:2004,IDT)扰抗扰度试验[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-16:Testingandmeasurementtech-niques—Testforimmunitytoconducted,commonmodedisturbancesinthefrequencyrange0Hzto注：GB/T17626.16—2007电磁兼4-16:2002,IDT)IEC61000-4-29电磁兼容(EMC)第4-29部分：试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-29:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsond.c.inputpowerportimmunitytests]注：GB/T17626.29-2006电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验(IEC61000-4-29:2000,IDT)IEC61000-4-34电磁兼容(EMC)第4-34部分：试验和测量技术主电源每相电流大于16A34:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsim-munitytestsforequipmentwithmainscurrentmorethan16Aperphase]IEC61508(所有部分)电气/电子/可编程电子安全相关系统的功能安全(Functionalsafetyofe-lectrical/electronic/programmableelectronicsafety-relatedsystems)3GB/T17799.7—2022IEC61784-3工业通信网络行规第3部分：功能安全现场总线通用规则和行规定义(Indus-trialcommunicationnetworks—Profiles—Part3:Functionalsafetyfieldbuses—Generalrulesandpro-filedefinitions)注：GB/T34040—2017工业通信网络功能安全现场总线行规通用规则和行规定义(IEC61784-3:2016,IDT)IECGuide107电磁兼容电磁兼容标准起草导则(Electromagneticcompatibility—Guidetothedraftingofelectromagneticcompatibilitypublications)3.1.13.1.2a)在要求时阻止安全功能的执行(要求模式),或导致安全功能失效(连续模式)以致受控设备3.1.3DC配电网络DCdistributionnetwork3.1.4电气/电子/可编程电子electrical/electronic/programmableelectronic;E/E/PE基于电气(E)和/或电子(E)和/或可编程电子(PE)的技术。4GB/T17799.7—2022●预期在3.1.15中所述的工业场所运行。3.1.7用于制造业、流程工业、运输业、制药业或其他行业的设备、机器、装置或成套设备。3.1.8受试设备equipmentundertest;EUT3.1.9在特定外部影响条件下，不超过预期接触电压即允许持续接触的电压的最大值。3.1.10信号/控制或电源端口除外的，连接到大地但不是为了安全用电的电缆端口。3.1.11整体安全中与EUC和EUC控制系统相关的部分，它取决于E/E/PE安全相关系统和其他风险降3.1.123.1.133.1.143.1.155GB/T17799.7—2022工业场所的电磁环境主要由场所中的设备和装置产生。有些类型的工业装置的一些电磁现象比其他装置的3.1.16PELV系统PELVsystem3.1.17注1:相关端口的示例如图1所示。外壳端口是设备的物理边界(例如：外壳)。外壳端口提供辐射和静电放电注2:虽然图1描述的是设备的情况，但是它也适用于产品和系统。外壳端口外壳端口信号/控制端口设备功能接地端口DC电源端口3.1.183.1.193.1.203.1.21注1:在特殊要求中，特别是当允许直接接触带电零部件时，可以规定最高电压低于交流50V或无纹波直流注3:通常情况下，无纹波是指纹波电压有效值不超过直流分量的10%;对标称120V的无纹波直流系统，最大峰值6GB/T17799.7—20223.1.22一种离散的等级(四个可能等级之一),对应安全完整性量值的范围。安全完整性等级1是最低的。3.1.233.1.24设备和/或有源部件的组合，构成单一的功能单元并为执行特殊功能而安装和运行。3.1.25AE:辅助设备(AuxiliaryEquipment)E/E/PE:电气/电子/可编程电子(Electrical/Electronic/ProgrammableElectronic)ELV:特低电压(Extra-LowVoltage)ESD:静电放电(ElectrostaticDischarge)EUC:受控设备(EquipmentUnderControl)EUT:受试设备(EquipmentUnderTest)PELV:保护特低电压(ProtectiveExtraLowVoltage)SELV:安全特低电压(SafetyExtraLowVoltage)SIL:安全完整性等级(SafetyIntegrityLevel)SRS:安全要求规范(SafetyRequirementsSpecification)UPS:不间断电源(UninterruptiblePowerSupply)4概述7GB/T17799.7—2022影响的产品类/产品标准规定了严酷度更低的试验值时，或不能完全覆盖某一现象(例如，产品类/产品4.2与GB/Z17624.2—2013的一致性本文件规定抗扰度试验考虑GB/Z17624.2—2013第9章的原则。需重点注意，本文件及其程序应只能按照GB/Z17624.2—2013中规定程序使用。分采用GB/Z17624.2—2013中的要求，才能实现可承受的功能安全风险。这些要求包括：考虑安全生命周期；制定涵盖安全功能要求和安全完整性要求的安全要求规范(SRS);考虑EMC具体步骤，不只包如同抗扰度试验在验证阶段具有重要价值那样，可在加速寿命试验的基础上开展此类试验。注1:尽可能与终端用户一同讨论.并就已知应用的适用试验要求达成一致(见GB/Z17624.2—2013附录F)。注2:仅凭任何实际的试验数量，不能证实本文件范围内的设备是安全的。然而，如果本文件范围内的设备在试验4.3预期用于安全应用的功能的可用性策略本文件规定了其适用范围内设备的功能安全要求。本文件的要求不适用于安全应用以外的功能。注：已经在IEC61508中定义了为实现电气/电子/可编程电子安全相关系统功能安全的整体设计过程和必要设计特点的内容。这包括使系统抗电磁骚扰方面设计特点的要求(IEC61508-2)。GB/Z17624.2—2013附录B提供了更多关于EMC设计方面的详细指南。GB/Z17624.2—2013给出了针对电磁现象实现E/E/PE系统(包括本文件中的要求应按照GB/Z17624.2—2013的安全生命周期实施。正如GB/Z17624.2—2013所述，IEC61508中的若干(不是所有)安全生命周期阶段会受到电磁因素的影响。对于本文件范围内的安全生命周期的设计和执行阶段(见GB/Z17624.2—2013第7章)、验证和确认阶段(见GB/Z17624.2—2013第8章),均考虑了电磁因素。只有满足GB/Z17624.2—2013中的相关要求，才可表明设备在电磁现大多数EMC产品/产品类或通用标准中的规定，不包括关于电磁现象的功能安全方面，仅包括常规的EMC试验或要求。产品/产品类或通用标准中的抗扰度要求，通常是基于非安全相关系统中所用5性能判据5.1功能安全应用的性能判据性能判据用于描述和评估EUT暴露于电磁现象时的反应。关于本文件范围内设备的安全应用，8GB/T17799.7—2022特定性能判据DS规定如下：a)预期用于安全应用的EUT功能：1)在其规范外不会被影响，或2)可暂时性或永久性地受到影响(甚至造成部件损坏),只要EUT对骚扰产生的响应是EUT的这些可检测的一个或多个定义的状态：ii)在规定时间内完成。b)不预期用于安全应用的功能可暂时性或永久性地受到骚扰。注1:对于定义的状态，超出正常运行范围是可能的。注2:通用EMC标准中定义的通用性能判据A、B和C,以及更多EMC产品或产品类标准中定义的精确性能判据注3:EMC和功能安全领域的其他标准或项目使用术语性能判据FS代替性能判据DS。然而，这些定义可能不些定义的状态。仅在试验期间观察EUT的行为、失效模式，然后将其解释为EUT该功能的定义的状5.2性能判据DS的应用上述性能判据只适用于预期用于功能安全应用的EUT的功能。应覆盖所有电磁现象，包括连续本文件范围内正在执行或预期执行功能安全应用或其部分功能的设备，应按照规定的方式工作。注1:在安全相关系统的安全要求规范中，安全相关系统设计人员规定了当失效或故障发生时不受干扰的功能和所与不涵盖功能安全的EMC抗扰度标准中定义的性能判据A、B和C的常规规范不同。注2:另见4.2,参考GB/Z17624,2—2013给出的方法。当一台设备同时执行预期用于功能安全应用和非安全应用的功能时，功能安全要求只应用于预期用于功能安全应用相关的功能。6试验计划6.1通则应在试验之前制定试验计划。试验计划应至少包含6.2～6.5中所要求的内容。中记录不进行试验的决定和理由。注：另见4.2,参考GB/Z17624.2—2013给出的方法。6.2试验期间EUT的配置安全相关系统通常并无固定配置。不同子组件商规定的正常条件下进行。对诸如IEC61784-3(所有部分)中定义的安全通信，宜遵循其规定的测试台和操作条件。9GB/T17799.7—20226.2.2EUT组成6.2.3EUT装配如果EUT配备各种内部或者外部配置，应选择符合制造商预期的最敏感配置进行型式试验。所有类型的模块均应至少试验一次。应在试验计划中记录此选择的理由。应在建立预期最敏感的配置6.2.41/0端口6.3试验期间EUT的运行条件6.3.3试验期间EUT的应用软件应在一个或多个正常运行模式下使用应用软件，以充分模拟EUT在该模式下最可能同时选择的6.4功能性能的规范6.5试验描述GB/T17799.7—2022置，见表1至表6。不需要在试验计划中重复说明这些基础标准的内容；然而，本文件给出了这些试验实际执行时所需的附加信息。6.6试验的进行合并进行。进行设备或系统安全相关功能的抗扰度试验时，采用性能判据DS。在这种情况下，允许EUT对其所处的电磁骚扰暴露做出反应。只要EUT满足其性能判据DS相关的规范要求，则允许此类反应。6.6.2应用DS时需考虑的方面性能判据DS是指EUT按照预期状态工作，或者进入定义的状态(详见5.1)。如果EUT继续按照规定运行，则试验通过。如果EUT进入非定义的状态，则试验不通过。如果EUT对骚扰反应时进入判据DS时应采用表1中定义的规则。表1试验期间EUT的反应试验试验期间EUT的反应如何继续试验瞬态EUT进入定义的状态，并需要用户干预来继续运行应将EUT返回至正常运行状态，并采用该试验等级和极性重复进行3次试验，而且EUT每次应以遵循性能判据DS的方式做出反应。在这种情况下，应按照基础标准，进入下一个试验等级或极性继续试验EUT进入定义的状态，并遭到永久性损坏应替换或维修EUT,并采用该试验等级和极性重复进行3次试验，而且EUT每次应以遵循性能判据DS的方式做出反应。在这种情况下，应按照基础标准，进入下一个试验等级或极性继续试验连续EUT在特定试验频率下进入定义的状态应在此频率下对EUT重复进行3次试验，而且EUT每次应以遵循性能判据DS的方式做出反应。如果EUT每次以同样的方式做出反应，则在随后的每个频率下可只试验一次试验。按照IEC61000-4-3、IEC61000-4-6、IEC61000-4-8和IEC61000-4-16进行的试验。7抗扰度要求如第1章所述，本文件适用于本文件中定义的设备和系统，这些设备和系统缺少针对相同对象的专级低于本文件规定的原因。定了产品设计时需要考虑的最恶劣环境。GB/T17799.7—2022表2至表6给出了本文件范围内设备适合的抗扰度试验要求。相关非功能安全产品/产品类/通用EMC标准中的要求应与本文件结合使用。表2至表6中列出的一些电磁现象可能仅以统计的方式与设备运行状态相关，例如，相对于数字电路或数字信号传输瞬时状态的脉冲时序。对于预期用于针对电磁骚扰抗扰度的较高安全完整性等级(SIL)的安全相关系统和设备，为了提高其置信度，应采用比相应基础EMC标准的试验性能要求更多数量的脉冲来进行此类电磁现象的抗扰度试验(见表2至表6的内容)。表2至表6中的一些试验可能在试验设备和试验布置方面存在限制。考虑相关运行模式时，对于表2设备外壳端口抗扰度试验要求序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据静电放电(ESD)6kV接触放电一，(8kV)8kV空气放电，(15kV°)电磁场80MHz～1.0GHz80%AM(1kHz)电磁场80%AM(1kHz)电磁场2.0GHz～6.0GHz80%AM(1kHz)额定工频磁场应按照IEC61000-4-2中所述的环境条件，对未按照ESD控制程序规定进行培训的人员可接触到的部件采用这些等级，但对仅限维修人员接触的设备部位不使用这些等级。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行放电的次数应增加至基础标准中给出次数的3倍。这些增加的数值应用于表7中给出的、常用于移动发射机的频率范围。“仅适用于包含磁场敏感装置的EUT。如果对机柜外壳放电，则采用较高试验等级。如果手持无线电发射机可能在20cm以内距离使用，则应在安全手册中给出有关设备可能会受到骚扰的警示。规定的试验等级为未调制载波的均方根值。"IEC61000-4-3要求采用80%1kHzAM调制进行试验。然而，试验可以扩展到其他调制方案。表3设备输入和输出AC电源端口抗扰度试验要求序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据脉冲群4kV(5/50ns)5kHz或100kHz,见注1DS浪涌4kV,线-地，见注22kV,线-线，见注2DSDSGB/T17799.7—2022表3设备输入和输出AC电源端口抗扰度试验要求(续)序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据射频传导80%AM(1kHz)电压暂降0%Ur,持续时间1周期40%Ur.持续时间10周期70%Ur,持续时间25周期短时中断0%U₁,持续时间250周期共模传导电压1V～10V.以20dB/10倍频程增加(1.5kHz～15kHz)如果没有适用于大电流工作的相应耦合/去耦网络，则可在部分负载条件下进行试验。进行试验已足够。在未来版本中，可能需要采用100kHz进行试验。注2:通过使用外部保护装置，可达到实现功能安全目的所要求的抗扰度。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行试验的持续时间应增加至基础标准中给出持续时间的5倍。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行脉冲的次数应增加至基础标准中给出次数的3倍。这些增加的数值应用于表8中给出的、常用于移动发射机的频率范围。“规定的试验等级为未调制载波的均方根值，对于通过设计和安装说明可避免发生此现象的设备，无需进行该试验。表4设备输入和输出DC电源端口抗扰度试验要求序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据脉冲群5kHz或100kHz,见注1浪涌2kV,线-地，见注21kV,线-线，见注2射频传导80%AM(1kHz)电压暂降40%Ur,持续时间10ms70%Ur,持续时间10ms短时中断0%Ur,持续时间20msGB/T17799.7—2022表4设备输入和输出DC电源端口抗扰度试验要求(续)序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据共模传导电压1V～10V,以20dB/10倍频程增加(1.5kHz～15kHz)10V(持续：DC、162/3Hz,50Hz、150Hz)100V(短时驻留1s:DC、162/3Hz、50Hz)设备/系统中未连接至DC配电网络的部件之间的DC连接被视为1/O信号/控制端口(见表5和表6)。注1:传统上用5kHz的重复频率；然而，100kHz更接近实际情况。在目前版本中，采用两种频率中的任何一种进行试验已足够。在未来版本中，可能需要采用100kHz进行试验。注2:通过使用外部保护装置，可达到实现功能安全目的所要求的抗扰度。·对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行试验的持续时间应增加至基础标准中给出持续时间的5倍。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行脉冲的次数应增加至基础标准中给出次数的3倍。这些增加的数值应用于表8中给出的、常用于移动发射机的频率范围。规定的试验等级为未调制载波的均方根值，对于通过设计和安装说明可避免发生此现象的设备，无需进行该试验。序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据脉冲群5kHz或100kHz,见注1浪涌2kV.见注2射频传导80%AM(1kHz)共模传导电压，1V～10V.以20dB/10倍频程增加(1.5kHz～15kHz)10V(持续：DC、162/3Hz、50Hz、150Hz)100V(短时驻留1s:DC、162/3Hz、50Hz)注1:传统上用5kHz的重复频率；然而，100kHz更接近实际情况。在目前版本中，采用两种频率中的任何一种进行试验已足够。在未来版本中，可能需要采用100kHz进行试验。注2:通过使用外部保护装置，可达到实现功能安全目的所要求的抗扰度。仅在线缆超过3m的情况下适用。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行试验的持续时间应增加至基础标准中给出持续时间的5倍。线-地/屏蔽层-地仅在长距离线路(>30m)的情况下适用。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行脉冲的次数应增加至基础标准中给出次数的3倍。这些增加的数值应用于表8中给出的、常用于移动发射机的频率范围。#规定的试验等级为未调制载波的均方根值。h对于通过设计和安装说明可避免发生此现象的设备，无需进行该试验。GB/T17799.7—2022表6设备直接连接至AC供电网络的1/0信号、控制端口(包括功能接地端口)抗扰度试验要求序号现象基础标准预期用于安全应用的功能的试验试验等级性能判据脉冲群4kV(5/50ns)5kHz或100kHz,见注1DS浪涌4kV,线-地/屏蔽层-地，见注22kV,线-线，见注2DSDS射频传导80%AM(1kHz)DS共模传导电压IEC61000-4-161V～10V.以20dB/10倍频程增加(1.5kHz～15kHz)10V(15kHz～150kHz)10V(持续：DC、162/3Hz、50Hz、150Hz)100V(短时驻留1s:DC、162/3Hz、50Hz)DS注1:传统上用5kHz的重复频率：然而，100kHz更接近实际情况。在目前版本中，采用两种频率中的任何一种进行试验已足够。在未来版本中，可能需要采用100kHz进行试验。注2:通过使用外部保护装置，可达到实现功能安全目的所要求的抗扰度。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行试验的持续时间应增加至基础标准中给出持续时间的5倍。对于预期用于安全完整性等级(SIL)3或4应用的EUT(按照IEC61508),在最高规定等级进行脉冲的次数应增加至基础标准中给出次数的3倍。这些增加的数值应用于表8中给出的、常用于移动发射机的频率范围。规定的试验等级为未调制载波的均方根值。对于通过设计和安装说明可避免发生此现象的设备，无需进行该试验。表7移动发射机和ISM设备辐射试验通用频率范围试验频率/范围仅供参考频率范围业务ISM(仅英国)移动电话和短距离装置(SRD)业余无线电(AMATEUR)多用途无线电业务(MURS)ISM(仅英国)陆地集群无线电(TETRA)GB/T17799.7—2022表7移动发射机和ISM设备辐射试验通用频率范围(续)试验频率/范围MHz仅供参考频率范围MHz业务420～470420～470AMATEUR430～440无线电定位、航空无线电导航、AMATEUR(含卫星AMATEUR)433.05～434.79ISM(仅区域1)450～4704G/高级长期演进(LTE-A)3G/通用移动通信系统(UMTS)3.9G/长期演进(LTE)码分多址(CDMA)3G/自由移动多媒体接入(FOMA)射频识别(RFID)ISM(仅英国)880～915全球移动通信系统(GSM)3G/高速分组接入(HSPA)频分双工(FDD)-LTE北美数字蜂窝(NADC)ISM(仅区域2)FDD-LTEAMATEURAMATEURGB/T17799.7—2022表7移动发射机和ISM设备辐射试验通用频率范围(续)试验频率/范围MHz仅供参考频率范围MHz业务时分双工(TD)-LTETD-同步码分多址(SCDMA)频段ATD-SCDMA频段BAMATEURTD-SCDMA频段CGB/T17799.7—2022表7移动发射机和ISM设备辐射试验通用频率范围(续)试验频率/范围仅供参考频率范围业务AMATEUR高性能无线局域网(HIPERLAN)HIPERLANAMATEUR道路运输和交通远程信息处理(RTTT)对于试验频率/范围一列中指示的单一试验频率的频带，应只能以该频率进行试验。如果在试验频率/范围一列中指示了频率范围，则应以不大于实际频率1%的步长对该频率范围进行扫描。注1:对于试验，采用基础标准中给出的调制方案。其他调制参数也是可能的。注2;关于按区域划分的频率分配详细信息见IECTR61000-2-5或ITU出版物。表8移动发射机和ISM传导试验通用频率范围中心频率MHz仅供参考频率范围MHz业余无线电(AMATEUR)3.370～3.410ISM(仅荷兰)3.500～3.900AMATEUR6.765～6.7957.000～7.100AMATEURAMATEURGB/T17799.7—2022表8移动发射机和ISM传导试验通用频率范围(续)中心频率MHz仅供参考频率范围MHz21.000～21,450AMATEUR26.957～27.283ISM/民用电台频段(CB)/SRD28.00～29.70AMATEUR40.68040.66～40.7050.00～54.00AMATEUR对于指示中心频率的频带，应仅以中心频率进行试验。8试验布置和试验原理8.1试验布置第7章表格中给出的各种基础标准进行实际的抗扰度试验。因此，应优先在设备级进行相应的抗扰度试验配置应遵循第6章中规定的试验计划。如果设备组合按照IEC61508与安全逻辑处理器软件一起运行，则应至少对一种典型组合进行相8.2试验原理单独进行试验。预期用于构成安全相关系统的单个装置应加以充分规范。规范包括预期的功能和失效性能判据DS对预期在安全相关应用中使用、但不作为完整安全相关系统提供的设备提出了补充要求。针对不同类型功能而应用性能判据的通用方法如表9所示。表9预期在安全相关系统中使用的设备的适用性能判据及试验中观测到的行为适用于预期用于安全应用的功能通用抗扰度标准或相关产品/产品类标准中规定的EMC试验本文件中规定的试验相关标准的性能判据—A.或——B.但仅为定义的状态——C,但仅为定义的状态性能判据GB/T17799.7—20228.3试验配置应对EUT进行试验，以证实其功能符合本文件。EUT的接口应连接至部件(传感器/逻辑处理EUT应连接实现EUT功能以及执行预期用于安全应用的EUT规定功能所需的装置。应按照制造商的规定端接未使用的EUT线缆和1/O端口。—-—EUT与装置之间的数据通信，若其对于EU9试验结果和试验报告——每次试验和试验布置的描述(包括屏蔽电缆和任何其他减缓装置的使用);按照用户要求对测量仪器的不确定度进行评定(示例见GB/Z17624.6—2021或相关基础标准); 20GB/T17799.7—2022(资料性)电磁骚扰的极端情况可发生在任何场所，但是在产品/产品类或通用EMC标准中未考虑其发生本文件针对每个必要的现象规定了提高的抗扰度试验等级。本文件中提高的抗扰度试验等级以及GB/Z17624.2—2013的安全生命周期要求，应共同作为系统这些增加的抗扰度试验等级仅适用于具有性能判据DS且与安全功能相关的设备的相关方面。其预期执行规定的安全功能的安全相关系统需要满足IEC61508中规定的安全要求规范。安全要求规范规定了预期应用的所有相关要求，包括由应用GB/Z17624.2—2013确定的其最大电磁环境。预期在安全相关系统中使用的设备需要满足来自IEC61508安全要求规范中的相关要求，并在设备要求规范中描述(参考GB/Z17624.2—2013的附录D)。性能判据DS与安全功能的失效保护或者与安全功能遭受冗余程度降低相关。如果在实际运行中GB/T17799.7—2022[1]GB/T2900.71—2008电工术语电气装置(IEC60050-826:2004,IDT)[2]GB/T2900.83—2008电工术语电的和磁的器件(IEC60050-151:2001,IDT)[3]GB/T17045—2[4]GB/T20438.4—2017电气/电子/可编程电子安全相关系统的功能安全第4部分：定义[5]ISO13849-1:2006