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文档简介

GB/T33523.3—2022/ISO25178-3:2012Geometricalproductspecifications(GPS)—Surfacetexture国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会I Ⅲ 1 1 2 2 7附录A(资料性)完整规范操作集的决策树 8 9 附录D(资料性)表面结构轮廓参数间的关系 参考文献 Ⅲ 第71部分:软件测量标准; 本文件等同采用ISO25178-3:2012《产品几何技术规范(GPS)表面结构区域法第3部分:规GB/T33523.3—2022/ISOGB/T33523拟由14个部分构成。 格式x3p。 VGB/T33523.3—2022/ISO1下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不GB/T33523.2—2017产品几何技术规范(GPS)表面结构区域法第2部分:术语、定义及表面结构参数(ISO25178-2:2012,ISO14406产品几何技术规范(GPS)提取[GeometricalProductSpecifications(GPS)—Ex-ISO16610-1产品几何技术规范(GPS)滤波第1部分:概述和基本概念[GeometricalProductSpecifications(GPS)—Filtration—Part1:OverviewISO16610-21产品几何技术规范(GPS)滤波第21部分:线性轮廓滤波器高斯滤波器[Ge-ometricalproductspecifications(GPS)—Filtration—Part2ISO17450-1产品几何技术规范(GPS)通用概念第1部分:几何规范和检验的模型[Geomet-ISO17450-2产品几何技术规范(GPS)通用概念第2部分:基本原则、规范、操作集和不确定度[GeometricalProductSpecifications(GISO25178-2产品几何技术规范(GPS)表面结构区域法第2部分:术语、定义及表面结构参数[GeometricalProductSpecifications(GPS)—2GB/T33523.3—2022/ISO25178-3:2012《光学法>光学系统响应衰减到50%的正弦轮廓空间周期值。完整规范操作集(见ISO17450-2)包括一个明确的规范所需要的全部操作。它由按给定顺序排列4.2提取方法S-F表面S-L表面3…,0.1mm,0.2mm,0.25mm,0.5mm,0.8mm,1.0mm,2.0mm,2.5mm,5.0mF-操作或L-滤波器嵌套指数值与S-滤波14GB/T33523.3—2022/ISOF-操作或L-滤波器嵌套指数值与S-滤波2585GB/T33523.3—2022/对于光学表面(电磁表面),采样间距最大值和横向周期限的最大值是由S-滤波器嵌套指数值计算…6GB/T33523.3—2022/·表面结构的测量还可以采用光学方法,光学方法存在一个类似高斯滤波器的固有滤波器,此滤波器会增大横向周期限的数值;此时,横向周期限可代替数字S滤波器来定义短波长嵌套指数。注1:以S-滤波器嵌套指数为基准,其与最大采样间距的比例为3:1;其与最大横向周期限的比例约为1:1.滤波取决于指定表面(S-L表面或S-F表面)的类型。缺省的L-滤波器是区域高斯滤波器(见ISO16610-21)。在x方向/y方向的嵌套指数是S-L表面7GB/T33523.3—2022/4.5.1S-L表面附录A中给出了完整规范操作集的决策树。除非另有说明,ISO25178-2所定义参数应采用附录B中给出的缺省特征值。除非另有说明,ISO25178-2所附录D中给出了与轮廓法表面结构参数的兼容性。附录E中给出了本文件与GPS矩阵模型的关系。8Y被测量中包含的N注:GPS操作的属性值定义的顺序不受GPS操作实施的顺序影响。9GB/T33523.3—2022/(规范性)(缩略语)最快衰减到规定值s(0≤s<1)S最快与最慢衰减到规定值s(0≤s<1)(缩略语)(缩略语)SOGB/T33523.3—2022/ISO(缩略语)S11(缩略语)1S(缩略语)S%(缩略语)%GB/T33523.3—2022/表(续)(缩略语)%(缩略语)(缩略语)11(缩略语)S表(续)(缩略语)(资料性)由于轮廓参数的长时间应用,基于轮廓法的知识体系已经建立完善并被人们熟悉。在引轮廓法和区域法的最大差异在于所使用的滤波方法。从S-L表面或S-F表面提取的轮廓与按表面结构轮廓法链环的标准测量得到的轮廓在数学上是不同的。后者使用轮廓滤波器(只在与纹理垂直的驱动方向上滤波);而前者使用区域滤波器(在X和Y两个方b)高斯滤波器的截止波长值在表面结构轮廓法链环的标准给出的缺省值中选择,即从以下数系d)表面测量的矩形区域中,驱动方向的长度是取样长度的5倍。只有那些直接与轮廓法参数等效的区域法参数能被比较。例如:均方根高度S。能够与轮廓均方根偏差R₄比较。但是结构方位比S.没有等效的轮廓法参数,因此不能描述表面极值的表面结构参数,如最大峰高S不推荐将采用区域法测量得到的参数值与轮廓法参数的公差限值进行比较。因为上文所述原因,GB/T33523.3—2022/ISOABCDEFG方向跳动区域表面结构表面缺陷[2]ISO8015Geometricalproductspecifications(GPS)—Fundamentals—14253-1Geometricalproductspecifications(GPS)—Inspectionbymeasuref

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