SJ∕T 2215-2015 标准名称半导体光电耦合器测试方法

半导体光电耦合器测试方法Measuringmethodsforsemiconductorpho中华人民共和国工业和信息化部发布I 1 1 24 255.21零位电压 26 285.25输入触发电流 29——增加了术语和定义(见第3章); 法(分别见5.14,5.15,5.16,5.17,5.18,5.19,5.20,5.21,5.22,5.23,5.24和5.25);——补充了测试方法的规定条件(见第5章),细化了测量步骤(见第5章)。GB/T2421.1—2008电工电子产品环境试验概述和指南正向电压输二极管)forwardvomgeY正向电流(二极管ardctrent反向击穿电压(二极管)reversevoltage2CCTRt3光电耦合器在规定工作条件下，输入二极管输入规定电流[p的脉冲波，输出端则输出相应的脉冲光电耦合器在规定工作条件下，输入二极管输入规定电流[p的脉冲波，输出端管则输出相应的脉参考电平参考电平参考电平图2反相输出时，脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间图4带宽bandwithBW5KδV6a)温度：15℃~35℃;c)气压：86kPa～106kPa。b)相对湿度：48%～52%;75.1正向电压(输入二极管)开路图3正向电压(输入二极管)测量电路图5.2正向电流(二极管)8A——电流表：V——电压表。图3正向电流(二极管)测量电路图5.3反向电流(二极管)GA图5反向电流(二极管)测量电路图95.3.3测量步骤5.3.4规定条件5.4反向击穿电压(二极管)V——电压表。图6反向击穿电压(二极管)测量电路图5.4.3测量步骤5.4.4规定条件5.5结电容5.5.2测量原理5.5.3测量步骤5.5.4规定条件5.6集电极-发射极击穿电压5.6.2测量原理A——电流表：V——电压表。a)环境温度b)输入电流G₁——恒流源；A——电流表；在规定的环境条件下，接上被测管后，调节输入二极管部分恒流源，使工达到规定值，然后调节集电极恒流源使k为规定值，这时电压表上的读数即为集电极—发射极饱和电压(Ve(at)。a)环境温度：G稳压源：A——电流表；5.8.4规定务件A——电流表：IIRL光接收处理端稳压源：图12三端达林顿型光电耦合器电流传输比测量电路图CTR=(Ic/I)×100%…………在规定条件下，测量器件中的脉冲上升时间(t)、脉冲下降时间(tr)、下降传输延迟时间(tpm)、普通型光电耦合器测量原理见图13,三端达林顿型、数字输出型光电耦合器测量原理见图14。RG光接收处理端光接收处理端G接示波器接示波器RR—取样电图14三端达林顿型、教字输出型光电耦合器脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传验建迟时间、5.10.3测量步骤c)输出端的波形如图1和图2所示，如图读出两路信号的上升、下降延迟时间t、、IpHL、IPLH。c)输入信号(规定占空比和频率);在规定条件下，测量器件中的隔离电容(C₁o)。C输出端图15隔离电容测量电路图a)在规定的环境温度下，将光电耦合器输入端和输出端分别连接在一起：b)在测试的频率下，用适当的电容表测量光电耦合器输入端和输出端之间的隔离电容值。a)环境温度；在规定的条件下，当给器件施加直流电压时，测量输入端和输出端之间的隔离电阻(R₁o)。AGVRio 注：应考虑到试验夹具和引线的漏电流 测量原理见图17。RG测量原理见图18。v—电压表5.14.3测量步骤a)在规定的环境条下，按图18将被测器件接入测试系统中；b)调节恒流源GA使输入端IF达到规定的条件；c)调节恒压源G2选到规定的电压值，同时调节恒压源G3达到规定的作d)被测输出端施加规定的安戴食e)在被测输出端测得电压表读数即为4o在规定条件下，测量器件输出为低电平时的电压值(Vot)。G₂——恒压源a)在规定的环境条件下，按图19将被测器件接入测试系统中：b)电源端施加规定的电用c)输入端施加规定的条件5.16.4规定条件a)环境温度：在规定条件下，测量器件输出为低电平时的电源电流(IccL)。GYSa)在规定的环境条件下，按图20连接电路，给VCC,VEE和VDD施加规定的电压，RL为规b)在VIN端输入规定幅值、频率的正弦信号，用示波器测输出信号VOUT的电压峰峰值，记为c)增大输入信号的频率，使输出信号的幅度变为0.7VOUT1PP,此时的信号频率记为f,即为器件的带宽。c)负载电阻：5.19传递系数5.19.3测量步骤a)在规定的环境条件下，按图21连接电路，给VCC、VEE1、VDD和VEE2施加规定的电压，b)给输入VIN施加j个不同的规定电压，测输出电压VOUT,并将输入计为VINi,对应输出计为VOUTi(i=1,2……j):c)按公式(3)计算传递系数K:5.19.4规定条件5.20非线性度在规定条件下，测量器件的非线性度(δ)。5.20.2测量原理5.20.3测量步骤a)在规定的环境条件下，按图21连接电路，给VCC、VEE1、VDD和VEE2施加规定的电压，b)给输入VIN施加j个不同的规定电压，测输出电压VOUT,并将输入计为VINi,对应输出计为VOUTi(i=1,2……j):c)按公式(4)、(5)计算非线性度δ:d)输入电压。测量原理见图22VV图22零位电压测量电路图a)在规定的环境条件下，按图22连接电路，给VCC、VEE1、VDD和VEE2施加规定的电压，b)测试输出电压VouT,即为零位电a)环境温度；在规定的条件下，测量器件输出端之间的通态直流电压(V)。图23通态直流电压测量电路图a)在规定的环境条件下，按图23连接电路。给输入端施加规定的正向输入电流IF,使得输出端b)测试输出端(T1,T2)之间的电压，即为通态直流电压V。尾开路Rs———图24断态置流电