GBT 8750-2014 半导体封装用键合金丝

代替GB/T8750—2007中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局IGB/T8750—2014 Ⅲ 1 1 1 5 5 6 8附录A(资料性附录)金丝弧高测试方法 9附录B(资料性附录)金丝表面质量检验方法和典型缺陷 附录C(规范性附录)金丝线轴规定 附录D(规范性附录)金丝长度测量方法 附录E(规范性附录)金丝卷曲及轴向扭曲检验方法 附录F(规范性附录)金丝放丝性能检测方法 20Ⅲ 1型号直径/mm高弧键合。0.013,0.014,0.015.0.016,0.00.019.0.020,0.021,0.022.0.00.025,0.026,0.027,0.028,0.00.032,0.033,0.035,0.038,0.00.044,0.045,0.050,0.060,0.070围的低弧键合。注1:参见附录A.3.2产品标记示例2m示例：-2代表金含量不小于99%,3代表金含量不小于99.9%金丝化学成分应符合表2的规定。掺杂金丝的金含量可由差减法得到，金含量为100%减去表中型号3.4直径及允许偏差金丝的直径及其允许偏差、重量允许范围应符合表3的规定。金丝重量的计算按式(1)进行。3表3允许偏差重量允许范围士0.001士0.001士0,001土0.001士0.001士0.001土0.001士0.001土0.001士0.001士0.001土0.001土0.001士0.001士0.001士0.001士0.001士0.001士0.001土0.001士0.001士0.00143.5力学性能金丝最小拉断力和伸长率应符合表4的规定。3.6.2金丝表面应无超过金丝直径允许偏差的典型缺陷图示参见附录B。3.8.3绕丝的始端和末端应明显标出，丝的两端用彩色胶粘贴紧，需方无特殊要求时，绿色为使用最小拉断力%伸长率波动范围%最小2233333333333335表4(续)最小拉断力%伸长率波动范围%最小333333444444446表5检验项目章节号的章节号每批按轴数的百分之一，至少取一轴，每轴取5个试样，每个试样或1000mm长每批按轴数的百分之一，至少取一轴，取5段200mm或1段每批按轴数的百分之一，至少取一轴，每轴取5个试样，相邻试样以上卷曲扭曲7d)直径；f)数量；6.3运输1)其他需方要求的项目。89(资料性附录)A.2检验方法A.2.1金丝封装后弧高示意图如图A.1所示。将Z轴坐标归零。B.1.1检验设备b)聚光灯图B.113×Loading..表C.1单位为毫米ABCDE内径2”单缘低轴2”双缘低轴50.3士0.12”双缘高轴注1:2”表示2in.,0.5”表示0.5in.;注2:可依据需方要求将金丝绕在特殊要求的线轴上；D.2.1从取样的金丝线轴上用切断装置截取5段200mm长的金丝或1段1000mm金丝。取样200mm时按式(D.1)计算：E.2卷曲检验方法11000mm土51000mm土5mmE.3金丝卷曲检验方法2E.3.1检验设备放丝架。放丝室。E.3.2检验步骤E.3.2.1使线轴轴线平行于地面置于放丝架上，放丝架须位于无风无静电的放丝室内。E.3.2.2线轴轴线至放丝室底部的距离为600mm。E.3.2.3用镊子揭掉始端胶粘，用镊子拉出50mm～100mm的金丝，松开镊子使金丝自由落下直至接触到放丝室底部。E.3.2.4剪掉距放丝室底部50mm～150mm的金丝(图E.2所示),观察金丝若无卷曲(图E.3所示),则判断产品合格，如有卷曲(图E.4所示)则需要进一步判定，再次截取200mm～300mm的金丝，观察其落在放丝室底部的形状。E.3.2.5如果为不规则卷曲(图E.5所示),则该判断为卷曲不合格，若为规则卷曲，则通过卷曲直径来判断，卷曲直径超过45mm(图E.6所示)则为合格产品，卷曲直径小于等于45mm(图E.7所示)则判断该产品不合格。断力的30%,将丝拉下1000mm±5E.4.3检验结果判定结果判断如下：丝的U型自动悬挂，表明丝无轴向扭曲[图E.8b]];丝