光伏（PV）组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层 编制说明_第1页
光伏（PV）组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层 编制说明_第2页
光伏（PV）组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层 编制说明_第3页
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1《光伏（PV）组件电势诱导衰减测试方法第1-1部分：晶体硅组件分层》编制说明准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关标准外文版头编写，由全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC/TC90）秘书处组织标委会委员技术委员会（SAC/TC90）秘书处组织标委会委员及行业专家进行第二次标准草22024年4月-6月，进一步完善实验方书处组织召开了标准起草会，标准编制组成员对2项国家标准展开了充分讨论，本标准是等同转化IECTS62804-1-1:2020Photovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradsilicon-Delaminat1.范围，2.规范性引用文件，3.术语和定义，4.抽样，日本产业技术综合研究所Matsuda等人发现晶体下，使用低体电阻率封装材料的组件具有更大的PID敏感层的电化学反应机制，在Ag离子的作用下，对水进行还原和氧化反应，产生了负偏压时：2H2O+2e->H2(g)+20H-3图1电化学反应示意图andJ.A.Kratochvi光伏组件电势诱导衰减针对组件分层测试方法是对IEC62804-1的补充，针实验验证发现目前市场上产品均未出现分层失效现象（实验过程图片如图发生分层的条件二Na+迁移导致的较大电流，从而一般情况下不会出现分层失4模式，包括漏电导致衰减PID-s、极化导致衰减PID-p、腐蚀导致的衰减PID-c等试方法，IEC62804-1-1针对分层2、推动国际接轨：IECTS62804-1-1:2020Photovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetec

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