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DB34DB34/T2375—2015粉煤灰中二氧化硅含量测定X射线荧光法Determinationofsilicondioxidecontentintheflyash-Xfluorescencemethod安徽省质量技术监督局发布12当试样中化学元素受到电子、质子、α粒子和离子等加速粒子的激发或受到Iμ....................................3C——待测元素的质量分数；样品的质量吸收系数与试样的化学组成相关。其对待测元素荧光X射线强度的影响可采用下述三种c)综合采用标准样品和数学公式进行补偿样品的颗粒度效应和矿物效应等非均匀性影响可采用与待测样品相近的标准样品进行补偿校正，对于新购仪器，或对仪器进行维修、更换部件后，应按JC/T1085对仪器进行校验。仪器正常运分别称取试样、溶剂、防浸润剂，精确至0.0001g，所用试样可用下述两4m1——应称量的未灼烧过的试样质量m2——制备玻璃熔片所需的试样质量上或使用自动制片设备，在规定的时间内（15min)熔融该混合物，其间不时地摇动，直至试样全部熔称取适量的试样(应能够填满模具)及粘合剂，精确至0.0001g，倒入磨盘内混匀后盖上磨盘盖，厚度应大于2.5mm。取出压片，注意观察压片表面是否光洁、无杂物、不开裂。用洗耳球将分析面吹干净，用干布把压片的边缘擦干净。放入荧光分析仪进行检测。把磨盘清洗干净晾干，用毛刷以及吸灼烧基——校准样品的灼烧基中二氧化硅的浓度，%;5收到基——校准样品的收到基中二氧化硅的浓度，%;LOH——校准样品中烧失量的质量分数。回归分析，建立被测元素的校准曲线。根据最小二乘法，在测量得到的用未参与校准曲线建立的另一标准样品进行测定。对于被测元素，浓度的测定值与标准样品/标准物质的证书值之差应小于重复性限的0.71倍时收到基灼烧基..............................灼烧基——试样灼烧基中二氧化硅的浓度，%;收到基——试样收到基中二氧化硅的浓度，%;（％）6重复性限为绝对偏差，以质量分数（％)表示，在重复性条件下，采用本标准所列方法分析同一试样时，两次分析结果之差应在所列的重复性限(见表1)内。如超出重复性限，应在短时间内进行第三次/%/%再现性限为绝对偏差，以质量分

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