《Mini-Micro LED显示屏Mura缺陷评价方法》

ICS31.120

CCSL53

SLDA

团体标准

T/SLDAXXXX—XXXX

Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷评价方法

MeasurementforMuraofMini/MicroLEDdisplays

（征求意见稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

深圳市照明与显示工程行业协会发布

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Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷评价方法

1范围

本文件规定了Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷测试的一般要求、亮度Mura缺陷评价和色度评价Mura

缺陷评价。

本文件适用于像素和子像素均呈矩形排列的室内外Mini/MicroLED显示屏。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T3977—2008颜色的表示方法

SJ/T11141—2017发光二极管(LED)显示屏通用规范

SJ/T11281—2017发光二极管（LED）显示屏测试方法

3术语和定义

SJ/T11141-2017、GB/T3977-2008界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

子像素sub-pixel

物理构成像素的，受控的基色单元。

3.2

像素pixel

LED显示屏的基本成像单元，无复用子像素。像素之间呈矩形排列，包含一个或若干个子像素及子

像素间不直接发光的区域。

LED显示屏的最小成像单元。

[来源：SJ/T11141—2017,3.6]

3.3

显示模块displaymodule

由像素或像素阵列、驱动电路组成的单元。

3.4

显示模组displayassembly

由若干个显示模块、控制电路、电源转换器以及相应的结构件构成的一个独立单元。

3.5

LED屏体LEDpanel

由一个或若干个显示模组拼接而成，不含控制系统，但可由显示控制系统进行控制，完成画面显示。

[来源：SJ/T11141—2017,3.2]

3.6

LED显示屏LEDdisplays

也称“LED直显屏”，以LED像素显示文字、图像及视频等信息的装置。通常包括LED屏体及显示控

制系统等，也可包括辅助系统等。

[来源：SJ/T11141—2017,3.1]

3.7

子像素中心间距[翻译？centertocenterofsub-pixel]

水平和竖直方向上相邻子像素（不论是否相同基色）中心点之间的距离。

1

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3.8

像素中心间距dotpitch

水平和竖直方向上相邻像素中心点之间的距离。

LED显示屏两个相邻像素中心点之间的距离。

[来源：SJ/T11141—2017,3.7]

3.9

Mini/MicroLED显示屏Mini/MicroLEDdisplays

子像素由长宽任意一边均小于200μm的LED芯片构成的LED显示屏。

3.10

Mura缺陷Muradefect

LED显示屏显示白色或单色画面时人眼感受到的画面的亮度或色度不均匀，通常呈点状、线状或块

状，对比度低。Mura缺陷不是硬件故障，一般可以通过软件调整得到改善，不包含由于显示模块、显示

模组等拼接的错位或失控像素导致的亮度或色度不均匀。

3.11

成像亮色度计Imagingluminanceandchromaticitymeter

一种基于成像原理来进行测光和测色的计量仪器，由视觉匹配的光探测器、光学系统以及信号输出

处理系统等基本结构所组成，可以测量亮度/三刺激值。采用阵列式光探测器作为光接收部件，能够同

时将测量区域成像在阵列式光探测器上。拥有X×Y个像元的阵列式光探测器可以看作是X×Y个传统点式

亮色度计的组合，对应的成像亮色度计的测量分辨率为X×Y。

3.12

像元Minimumphotosensitiveunit

即成像亮色度计CMOS（CCD）感光芯片像元，指成像亮色度计CMOS（CCD）的最小感光单元（光探测

器）。

3.13

最小可觉察差异justnoticeabledifference，JND

心理物理学领域用于表示某差异可觉察和不可觉察的概率各为50%的一个统计值。

4测试的一般要求

4.1环境条件

符合以下要求：

环境温度：15℃～35℃；

相对湿度：25%～75%；

大气压：86kPa～106kPa；

待测样品反射的环境光亮度应小于0.01cd/m2，如果环境光条件不满足，应在测试报告中注明；

无风。

4.2测试设备

在一定的测量距离下成像亮色度计的测量区域（单张成像画面）应不小于待测样品的一个显示模组，

且待测样品的每个子像素在成像亮色度计成像画面中应至少对应3×3个像元。

亮度测量最大允许误差：±5%；色坐标（x,y）测量最大允许误差：±0.005。

4.3电源

测试时电源电压与额定电压的偏差应在±0.5%范围内，电源频率与额定频率的偏差应在±0.2%范围

内。

4.4稳定条件

待测样品测试前应充分预热，样品点亮后，显示规定的画面，重复测试中心点的亮度，当亮度值变

化每分钟不超过±2%时，认为待测样品已处于稳定状态。

2

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4.5被测区域

被测区域一般为整个待测样品。当成像亮色度计的测量区域不能覆盖整个待测样品并满足4.2的要

求时，可将待测样品分为几个相等的区域分别进行测量，每个区域包含数量相等的显示模组，并在报告

中说明。

4.6测量角度

成像亮色度计沿被测区域法线方向进行测量。

4.7测量距离

成像亮色度计到被测区域中心点的距离应满足：

条件1：（1700～3400）×像素中心间距；

条件2：（3～10）×待测样品高度；

当条件1和条件2无法兼顾时，条件1优先于条件2。

5亮度Mura缺陷评价

5.1使待测样品显示50%最大灰度等级、白色画面并达到稳定。

5.2用成像亮色度计测量得到被测区域内每个像素的亮度。单个像素的亮度为该像素对应所有像元测

得亮度的算术平均值。

5.3按照公式（1）计算每个像素的亮度对比度Cpi：

=×100(%)…………(1)

𝐿𝐿𝑝𝑝𝑖𝑖−𝐿𝐿𝑏𝑏

式中：𝐶𝐶𝑝𝑝𝑖𝑖𝐿𝐿𝑏𝑏

Lpi——为该像素的亮度；

Lb——为被测区域的背景亮度，即被测区域所有像素亮度的算术平均值。

5.4找出所有Cpi＞1的像素，将位置相邻的像素划分在一起组成一个Mura缺陷，对宽度不大于0.30mm

的，不认为是Mura缺陷。

5.5对于每个Mura缺陷，按照公式（2）计算其最小可觉察差异对比度Cjndx:

1.97

=0.33+0.72（%）…………(2)

式中：𝐶𝐶𝑗𝑗𝑗𝑗𝑗𝑗𝑖𝑖𝑆𝑆𝑖𝑖

2

Si——为该Mura缺陷的面积，单位mm。

5.6按照公式（3）计算每个Mura缺陷的Mura指数MUi：

||

=…………(3)

𝐶𝐶𝑖𝑖

式中：𝑀𝑀𝑀𝑀𝑖𝑖𝐶𝐶𝑗𝑗𝑗𝑗𝑗𝑗𝑖𝑖

Ci——为该Mura缺陷的平均亮度对比度，即该Mura缺陷所包含像素的Cpi之算术平均值。

5.7按照公式（4）计算待测区域亮度Mura缺陷指数LMU：

=…………(4)

∑𝑀𝑀𝑀𝑀𝑖𝑖

式中：𝐿𝐿𝐿𝐿𝐿𝐿𝑆𝑆

S——为待测区域的面积，单位m2。

5.8需要时可在其它颜色和灰度等级下进行亮度Mura缺陷评价。

6色度Mura缺陷评价

6.1在待测样品显示50%最大灰度等级、各单色画面并达到稳定后按下列步骤对该单色画面进行色度

Mura缺陷评价。

6.2用成像亮色度计测量得到被测区域内每个像素的主波长。单个像素的主波长为该像素对应所有像

元测得主波长的算术平均值。

3

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6.3对每个像素，按照公式（5）计算主波长差异：

=…………(5)

∆𝜆𝜆𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷

式中：∆𝜆𝜆𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷�𝜆𝜆𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷−𝜆𝜆𝐷𝐷𝐷𝐷�

——为该像素的亮度；

——为被测区域所有像素主波长的算术平均值。

𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷

6.4𝜆𝜆取所有中的最大值作为该被测区域的主波长差异。

𝐷𝐷𝐷𝐷

6.5𝜆𝜆需要时可在其它灰度等级下进行色度Mura缺陷评价。