材料分析与测试技术知到智慧树章节测试课后答案2024年秋湖南科技大学

材料分析与测试技术知到智慧树章节测试课后答案2024年秋湖南科技大学第一章单元测试

材料被激发而产生的信号有（）。

A:磁

B:电子

C:热

D:光子

答案:磁

；电子

；热

；光子

第二章单元测试

特征X射线的波长仅与靶材(Z)有关，而与X射线光管的加速电压(超过激发电压)无关（）

A:对B:错

答案:对由布拉格方程变形而引入的干涉指数描述正确的是（）。

A:干涉指数表示的晶面不存在原子

B:干涉指数表示的晶面不一定存在原子

C:干涉指数和晶面指数含义相同D:干涉指数表示的晶面存在原子

答案:干涉指数表示的晶面不一定存在原子

只要结构因子不为零，那么衍射一定能够发生（）

A:错B:对

答案:错X射线多晶衍射仪主要组成部分包括（）。

A:阴极射线管

B:X射线发生器

C:X射线强度测量处理系统

D:测角仪

答案:X射线发生器

；X射线强度测量处理系统

；测角仪

无需加入内标物的X射线定量分析方法包括（）。

A:K值法

B:直接法

C:任意内标法

D:内标法

答案:直接法

；任意内标法

入射X射线的波长选择应该（）。

A:接近吸收限

B:与吸收限无关C:等于吸收限

D:远离吸收限

答案:远离吸收限

反射球半径等于（）。

A:2B:波长倒数

C:波长

D:1

答案:波长倒数

第三章单元测试

透射电镜分辨只受像差的影响.（）。

A:对B:错

答案:错选区光阑在透射电镜中的位置是（）。

A:物镜的像平面

B:物镜的后焦面

C:物镜的物平面

D:物镜的前焦面

答案:物镜的像平面

电磁透镜的像差包括（）。

A:色差

B:几何像差

C:球差

D:象散

答案:色差

；几何像差

；球差

；象散

明场像是质厚衬度，暗场像是衍射衬度。（）

A:对B:错

答案:错透射电子显微镜的成像系统包括（）

A:投影镜

B:中间镜

C:观察屏

D:物镜

答案:投影镜

；中间镜

；物镜

第四章单元测试

电子束与固体样品相互作用产生的信号中，能产生表面形貌衬度的有（）。

A:二次电子

B:吸收电子

C:俄歇电子

D:背散射电子

答案:二次电子

；背散射电子

扫描电子显微镜的分辨率的主要影响因素有（）。

A:样品的厚度

B:检测信号的种类

C:样品的表面形貌

D:样品的组成

答案:检测信号的种类

扫描电镜二次电子像提供的表面形貌衬度应用极其广泛，主要包括（）。

A:磨损及腐蚀分析

B:粉末形貌分析

C:金相分析

D:断口分析

答案:磨损及腐蚀分析

；粉末形貌分析

；金相分析

；断口分析

能谱仪的元素分析范围比波谱仪更大。（）

A:错B:对

答案:错能谱仪可作为附件安装在扫描电子显微镜和透射电子显微镜上,进行微观组织、晶体结构和化学成分三位一体的原位分析。（）

A:错B:对

答案:对

第五章单元测试

与光谱分析方法紧密相关的电磁辐射与物质的相互作用有（）

A:吸收

B:散射

C:反射

D:发射

答案:吸收

；散射

；发射

光谱的定量分析方法主要有（）

A:标准谱图对比法

B:标准曲线法

C:内标法

D:标准加入法

答案:标准曲线法

；内标法

；标准加入法

光谱分析仪器的信号发生器主要有下列哪些部件构成（）

A:光源

B:样品引入系统

C:波长选择系统

D:光电检测器

答案:光源

；样品引入系统

；波长选择系统

原子光谱包括（）

A:原子的X射线分析

B:原子荧光光谱

C:原子吸收光谱

D:原子发射光谱

答案:原子的X射线分析

；原子荧光光谱

；原子吸收光谱

；原子发射光谱

分子光谱包括（）

A:拉曼光谱

B:红外吸收光谱

C:紫外可见吸收光谱

D:分子荧光磷光光谱

答案:拉曼光谱

；红外吸收光谱

；紫外可见吸收光谱

；分子荧光磷光光谱

第六章单元测试

差热分析是指在程序控温下，测量试样物质与参比物的（）随温度或时间变化的一种技术。

A:质量差B:热焓差C:比热差D:温差

答案:温差参比物在测定的温度范围内（）

A:不可以发生任何热效应B:可以发生热效应C:可以发生质量变化D:可以氧化分解

答案:不可以发生任何热效应（）是指在程序控温下，测量单位时间内输入到样品和参比物之间的功率差随温度变化的一种技术。

A:热机械分析B:差示扫描量热法C:热重分析D:差热分析

答案:差示扫描量热法热机械分析包括（）

A:静态热机械分析B:热膨胀法C:热重分析D:动态热