《集成电路测试技术项目教程（活页式）》课件汇 杨莉 3-3.反馈的基本概念-7-5.DAC0832芯片输入低电平电流测试

反馈的基本概念反馈的概念将放大电路输出回路中的输出信号(电压或电流)通过某一电路或元件,部分或全部地送回到输人回路中去的措施称为反馈(feedback)，示意图如图所示。反馈示意图反馈的概念开环电压放大倍数:无反馈时，放大电路的电压放大倍数称为开环电压放大倍数，即AO=XO/XD,闭环电压放大倍数:有反馈时，放大电路的电压放大倍数称为闭环电压放大倍数,即AF=XO/XI反馈系数:反馈信号与输出信号之比称为反馈系数(fedbackcoefficient)，即F=XF/XO反馈的分类1.正反馈和负反馈如果反馈信号与输人信号作用相同，使净输人信号(有效输人信号)增加，这种反馈称为正反馈(positivefeedback)。如果反馈信号与输人信号作用相反，使净输人信号(有效输人信号)减少，这种反馈称为负反馈(negativefeedback)。2.串联反馈和并联反馈如果反馈信号与输人信号以串联的形式作用于净输入端，这种反馈称为串联反馈(seresfeedback)。如果反馈信号与输人信号以并联的形式作用于净输人端，这种反馈称为并联反馈(parallelfeedback)。3.电流反馈和电压反馈如果反馈信号取自输出电压，与输出电压成比例，这种反馈称为电压反馈(voltagefeedback)。如果反馈信号取自输出电流，与输出电流成比例，这种反馈称为电流反馈(currentfeedback)。负反馈放大电路的四种基本组态一、电压串联负反馈电路

电压串联负反馈电路负反馈放大电路的四种基本组态二、电流串联负反馈电路

（a）电流串联负反馈电路基本画法

（b）电流串联负反馈电路习惯画法负反馈放大电路的四种基本组态三、电压并联负反馈电路iF=-UO/R电压并联负反馈电路负反馈放大电路的四种基本组态四、电流并联负反馈电路电流并联负反馈电路

负反馈放大电路的四种基本组态电路比较电压串联负反馈电路电流串联负反馈电路电压并联负反馈电路电流并联负反馈电路放大电路中应引人电压负反馈还是电流负反馈,取决于负载欲得到稳定的电压还是稳定的电流;放大电路中应引入串联负反馈还是并联负反馈,取决于输人信号源是恒压源(或近似恒压源)还是恒流源。总结一、反馈的基本概念反馈：将放大电路输出回路中的输出信号(电压或电流)通过某一电路或元件,部分或全部地送回到输人回路中去的措施称为反馈。开环电压放大倍数:无反馈时，放大电路的电压放大倍数称为开环电压放大倍数。闭环电压放大倍数:有反馈时，放大电路的电压放大倍数称为闭环电压放大倍数。反馈系数:反馈信号与输出信号之比称为反馈系数。二、反馈的分类1.正反馈和负反馈2.串联反馈和并联反馈3.电流反馈和电压反馈三、负反馈放大电路的四种基本组态电压串联负反馈电路电流串联负反馈电路电压并联负反馈电路电流并联负反馈电路Thankyouforwatching.比例运算电路基本运算电路一、比例运算电路二、加减法运算电路三、微积分运算电路1.反相比例运算电路反相比例运算电路由于R2中电流iD=0,故u-=u+,=“-”端虽然未直接接地但其电位却为零，这种情况称为“虚地”。由于因此1.反相比例运算电路反相比例运算电路也就是反相放大电路,该电路的闭环电压放大倍数为2.同相比例运算电路同相比例运算电路因此同相比例运算电路也就是同相放大电路,该电路的闭环电压放大倍数为3.加法运算电路加法运算电路取R11=R12=R14.减法运算电路减法运算电路UI11单独作用时UI2单独作用时UI1和UI2同时作用时只要取R3/R2=RF/R1当R1=RF时平衡电阻R2取4.微分运算电路微分运算电路波形可见uo正比于u1的微分。当u1为阶跃电压时，如图所示,uo为尖脉冲电压。平衡电阻R2取R2=RF5.积分运算电路积分运算电路波形用C作反馈元件。由于电路的“-”端为虚地端，因此所以可见,uO正比于uI的积分。当uI为阶跃电压时，如图所示,uO随时间线性增加到负饱和值UOM为止平衡电阻R2取R2=R1总结Thankyouforwatching.集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标集成运放的主要性能指标小结集成运放的主要性能指标一、、开环差模增益AOD在集成运放无外加反馈时的差模放大倍数称为开环差模增益。二、共模抑制比KCMR三、差模输入电阻rid四、输入失调电压UIO五、输入失调电流六、输入偏置电流IIB七、最大共模输入电压UImax八、最大差模输入电压UIdmaxThankyouforwatching.LM358芯片简介LM358简介LM358是一个双运算放大器组成的运算放大器，内部包含有两个独立的、高增益、内部频率补偿的运算放大器。应用范围包括传感放大器、直流增益模组，音频放大器、工业控制、DC增益部件和其他所有可用单电源供电的使用运算放大器的场合。LM358芯片引脚图及功能平台构成1、2和3引脚是一个运放通道，5、6和7引脚是另外一个运放通道。（1）LM358的封装形式有塑封8引脚双列直插式和贴片式。LM358引脚图LM358内部结构图LM358引脚功能表LM358工作原理LM358内部结构图LM358的2路输入IN1+和IN1-(IN2+和IN2-)为模拟信号时，其输出OUT1(OUT2)则为低电平“0”或高电平“1”。当输入电压的差值增大或减小且正负符号不变时，其输出保持恒定。(1)当IN1+(IN2+)输入的电压大于IN1-(IN2-)输入的电压时，OUT1(OUT2)输出高电平;(2)当IN1+(IN2+)输入的电压小于IN1-(IN2-)输入的电压时，OUT1(OUT2)输出低电平。说明:LM358输出端不需要上拉电阻。LM358特点LM358常用来做电压信号采集的前端电压跟随器，同时起到增加输入阻抗的作用，避免影响被测量的电压值。LM358具有如下特点：（1）内部频率补偿；（3）低输入失调电压和失调电流；（2）低输入偏流；（4）共模输入电压范围宽，包括接地；（5）差模输入电压范围宽，等于电源电压范围；（6）直流电压增益高（约100dB）；（7）单位增益频带宽（约1MHz）；（8）电源电压范围宽：单电源（3~30V）；（9）双电源（±1.5~±15V）；（10）低功耗电流，适合于电池供电；（11）输出电压摆幅大（0至Vcc-1.5V）。LM358电参数LM358电参数典型应用电路电路LM358里面包括有两个高增益、独立的、内部频率补偿的双运放，适用于电压范围很宽的单电源，而且也适用于双电源工作方式，它的应用范围包括传感放大器、直流增益模块和其他所有可用单电源供电的使用运放的地方使用。设计要求和详细设计过程选择的电源电压必须大于输入电压范围和输出范围。例如，此应用将±0.5V的信号扩展到了±1.8V。将电源设置在±12V就足以满足此应用的要求其他可以搭建电路噪声测试电路THD+N和小信号阶跃响应的测试电路Thankyouforwatching.LM358参数及功能输入失调电压测试输入失调电压（vos），指在差分放大器或差分输入的运算放大器中，为了在输出端获得恒定的零电压输出，而需在两个输入端所加的直流电压之差，在差分放大器的两个输入端加有相等的输入电压时，差分输出电压称为输入失调电压,其值越小越好。输入失调电流输入失调电流（IOS），使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端的电流之差。输出电压摆幅测试当输出信号为电压的时候，外部量的变化引起的输出电压变化，这个变化是相对于某个参数线性变化，做一定幅度的上下变化。摆幅一般是指输出电压在满足线性度要求范围内所能达到的最大幅度即最大值和最小值的差。摆幅越大，意味着信号的波动越明显，也就越容易获得有效的输出。输出电压（也称为最大输出电压、输出电压摆幅、输出电压动态范围）。输出电流测试在运放电路中，供一定的电源电压和输入电压测试运放在该情况下能输出的电流即负载能力。静态工作电流静态工作电流是指运放芯片在无输入和负载输出的情况下，其维持自身处于静态工作状态所需的电流。共模抑制比测试为了说明差分放大电路抑制共模信号及放大差模信号的能力，常用共模抑制比作为一项技术指标来衡量，其定义为在差分放大器中，差模电压的放大倍数与对共模电压的放大倍数之比，越大越好，单位是分贝（dB）。输入偏置电流使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端电流的平均值。IB=(IB_+IB+)/2。最大输出电流测试是指当运放的输出与地、电源的两个端电压之一短接时，运放可以给出的最大输出电流。短路电流确定了运放输出的驱动能力，在很多运放中短路输出电流包括源（sourcing）电流和阱（sinking）电流。分别表示输出端和正电源与负电源短接时的最大输出电流。电源抑制比是输入电源变化量（以伏为单位）与转换器输出变化量（以伏为单位）的比值，常用dB表示。对于高质量的D/A转换器，要求开关电路及运算放大器所用的电源电压发生变化时，对输出的电压影响极小。通常把满量程电压变化的百分数与电源电压变化的百分数之比称为电源抑制比。功能测试如同相比例放大电路，反相比例放大电路测试，加法电路测试等等。Thankyouforwatching.LM358测试

输入失调电压输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压简易测试输入失调电压辅助运放测试输入失调电压辅助运放测试Thankyouforwatching.LM358功能测试

同比例放大测试Lm358测试Lm358测试LM358测试电路设计与搭建LM358引脚与LK8820的芯片测试接口，是LM358测试电路设计的基本依据。LM358引脚与LK8820测试接口的配接表，如表所示。LM358芯片测试接口配接表测试接口LM358测试电路设计与搭建1、测试电路设计根据上表所示，LM358测试电路（只用了运放1），如下图所示LM358测试电路LM358测试电路搭建（1）根据图1-2、表1-1、表1-2所示，LM358测试板的正面，如图1-4所示。LM358测试板正面LM358测试电路搭建（2）LM358测试板的背面，如图所示。LM358测试板背面LM358测试电路搭建（3）将LM358测试板插接到LK8820外挂盒的芯片测试接口上，完成LM358测试电路搭建，如图1-6所示。LM358测试电路搭建Lm358测试Thankyouforwatching.LM358测试

输出电压摆幅测试运算放大器输出电压摆幅测试输出电压摆幅测试程序实现分析输出电压摆幅测试程序实现分析输出电压摆幅测试程序实现分析输出电压摆幅测试关键函数输出电压摆幅测试关键函数输出电压摆幅测试关键函数输出电压摆幅测试关键函数输出电压摆幅测试程序设计输出电压摆幅测试程序设计输出电压摆幅测试程序设计输出电压摆幅测试程序设计输出电压摆幅测试程序设计Thankyouforwatching.认识TL072芯片TL072TL072是一个低噪声场效应管输入运算放大器TL072引脚功能：1、2和3引脚是一个运放通道，5、6和7引脚是另外一个运放通道。TL072工作原理TL072内部结构图TL072的2路输入IN1+和IN1-(IN2+和IN2-)为模拟信号时，其输出OUT1(OUT2)则为低电平“0”或高电平“1”。当输入电压的差值增大或减小且正负符号不变时，其输出保持恒定。(1)当IN1+(IN2+)输入的电压大于IN1-(IN2-)输入的电压时，OUT1(OUT2)输出高电平;(2)当IN1+(IN2+)输入的电压小于IN1-(IN2-)输入的电压时，OUT1(OUT2)输出低电平。TL072芯片电气特性TL072芯片电气特性TL072芯片特点TL072芯片典型应用运算放大器的典型应用是反相放大器。该放大器在输入端接受正电压，然后使电压变为负电压。该放大器以相同的方式使负输入电压变为正电压。应用要求：所选用的电源电压必须大于输入电压范围和输出范围。例如，此应用将±0.5V的信号扩展到了±1.8V。将电源设置在±12V就足以满足此应用的要求。反相放大器原理图反相放大器的输入和输出电压Thankyouforwatching.TL072测试输入失调电压测试输入失调电压（Vos），指在差分放大器或差分输入的运算放大器中，为了在输出端获得恒定的零电压输出，而需在两个输入端所加的直流电压之差。此参数表征差分放大器的本级匹配程度，越小越好。TL072测试TL072测试TL072测试TL072测试TL072测试TL072测试TL072测试结果展示共模抑制比共模抑制比共模抑制比测试程序编写共模抑制比测试Thankyouforwatching.TL072测试输入偏置电流测试输入偏置电流测试程序实现分析输入偏置电流测试输入偏置电流测试关键函数输入偏置电流测试程序编写输入偏置电流测试输入失调电流测试输入失调电流测试输入失调电流测试关键函数输入失调电流测试程序编写输入失调电流测试Thankyouforwatching.TL072测试最大输出电流测试最大输出电流测试最大输出电流测试电源抑制比测试电源抑制比测试电源抑制比测试电源抑制比测试Thankyouforwatching.TL072功能测试同相比例放大电路同相比例放大电路同相比例放大电路同相比例放大电路同相比例放大电路同相比例放大电路同相比例放大电路Thankyouforwatching.认识HT7550芯片LDO稳压芯片工作原理LDO稳压芯片LDO内部基本都是由四大部件构成，分别是分压取样电路、基准电压、误差放大电路和晶体管调整电路。分压取样电路：通过电阻R1和R2对输出电压进行采集；基准电压：通过bandgap（带隙电压基准）产生的，目的是为了温度变化对基准的影响小；误差放大电路：将采集的电压输入到比较器反向输入端，与正向输入端的基准电压（也就是期望输出的电压）进行比较，再将比较结果进行放大；晶体管调整电路：把这个放大后的信号输出到晶体管的控制极（也就是PMOS管的栅极或者PNP型三极管的基极），从而这个放大后的信号（电流）就可以控制晶体管的导通电压了，这就是一个负反馈调节回路。LDO稳压芯片主要参数输入输出压差：对于LDO来说，输入电压是高于输出电压的，但是两者压差一般都是很小，LDO的输入电流几乎等于输出电流，因此压差越大，效率越低，压差越小，LDO电压转换效率越高以及能量损耗越小。压差：​是指输入电压进一步下降而造成LDO不再能进行调节时的输入至输出电压差。在压差区域内，调整元件作用类似于电阻，阻值等于漏极至源极导通电阻。电源抑制比（PSRR）：LDO的PSRR数据是用来量化LDO对不同频率的输入电源纹波的抑制能力的，它反映了LDO不受噪声和电压波动、保持输出电压稳定的能力。在特定频段内，PSRR越大越好。LDO稳压芯片LDO特点：1.外围电路简单，价格便宜LDO在使用的时候，非常方便，除了输入、输出端加上滤波电容，不需要其他外围器件。LDO芯片一般都比较便宜，且不需要很多外围器件，非常适合低成本方案。2.效率较低使用LDO时，需注意输入电压与输出电压差不能太大，否则效率会非常低。LDO效率η=（Vin-Vout）/Vin，比如输入电压Vin为24V，输出电压Vout3.3V，计算得出效率η=13.75%，效率很低。所以使用LDO时，尽量控制输入输出电压差。3.噪声低、纹波小因为其原理为线性调节方式，所以不会产生开关噪声，同时电路纹波也很小。LDO稳压芯片HT7550初识HT7550芯片主要特点HT7550芯片主要特点：1.低功耗2.输入输出电压差低3.温度漂移系数小HT7550芯片典型应用HT7550芯片典型应用：•使用电池供电设备的稳压电源•通信设备的稳压电源•家电玩具的稳压电源•移动电话用的稳压电源•音频、视频设备的稳压电源Thankyouforwatching.HT7550测试HT7550现性调整度测试HT7550现性调整度测试HT7550现性调整度测试程序HT7550现性调整度测试HT7550现性调整度测试Thankyouforwatching.HT7550测试HT7550负载调整度测试HT7550负载调整度测试HT7550负载调整度测试HT7550负载调整度测试HT7550负载调整度测试Thankyouforwatching.HT7550测试HT7550输入输出压差测试HT7550输入输出压差测试HT7550输入输出压差测试HT7550输入输出压差测试HT7550输入输出压差测试Thankyouforwatching.HT7550功能测试HT7550输出电压测试HT7550输出电压测试HT7550输出电压测试HT7550输出电压测试HT7550输出电压测试HT7550输出电压测试Thankyouforwatching.认识DAC0832DAC引脚功能DAC0832是一个20引脚的集成电路，多采用DIP或者PLCC封装。DAC引脚功能在DIP封装正方向上的有一个缺口，靠近缺口左边有一个小圆点，其对应引脚的引脚号为1，然后以逆时针方向。DAC0832引脚功能，如表所示。DAC0832芯片特性⑴分辨率：是反映输出模拟电压的最小变化值。定义为输出满刻度电压与2n的比值，其中n为DAC的位数。分辨率与输入数字量的位数有确定的关系。对于5V的满量程，采用8位的DAC时，分辨率为5V/256=19.5mV；当采用10位的DAC时，分辨率则为5V/1024=4.88mV。显然，位数越多分辨率就越高。（2）建立时间：是描述DAC转换速度快慢的参数。定义为从输入数字量变化到输出达到终值误差±1/2LSB（最低有效位）所需的时间。（3）接口形式：是DAC输入/输出特性之一。DAC0832是使用非常普遍的8位D/A转换器，由于其片内有输入数据寄存器，故可以直接与单片机接口。DAC0832以电流形式输出，当需要转换为电压输出时，可外接运算放大器。属于该系列的芯片还有DAC0830、DAC0831，他们可以相互代换。DAC0832芯片特性（4）转换精度。如果不考虑D/A转换的误差，DAC转换精度就是分辨率的大小，因此，要获得高精度的D/A转换结果，首先要选择有足够高分辨率的DAC。D/A转换精度分为绝对和相对转换精度，一般是用误差大小表示。DAC的转换误差包括零点误差、漂移误差、增益误差、噪声和线性误差、微分线性误差等综合误差。绝对转换精度是指满刻度数字量输入时，模拟量输出接近理论值的程度。它和标准电源的精度、权电阻的精度有关。相对转换精度指在满刻度已经校准的前提下，整个刻度范围内，对应任一模拟量的输出与它的理论值之差。它反映了DAC的线性度。通常，相对转换精度比绝对转换精度更有实用性。相对转换精度一般用绝对转换精度相对于满量程输出的百分数来表示，有时也用最低位（LSB）的几分之几表示。DAC0832芯片特性（5）非线性误差。D/A转换器的非线性误差定义为实际转换特性曲线与理想特性曲线之间的最大偏差，并以该偏差相对于满量程的百分数度量。转换器电路设计一般要求非线性误差不大于±1/2LSB。（6）转换速率/建立时间。转换速率实际是由建立时间来反映的。建立时间是指数字量为满刻度值（各位全为1）时，DAC的模拟输出电压达到某个规定值（比如，90%满量程或±1/2LSB满量程）时所需要的时间。DAC0832芯片工作时序DAC0832芯片工作时序DAC0832进行D/A转换，可以采用2种方法对数据进行锁存。第一种方法：是使输入寄存器工作在锁存状态，而DAC寄存器工作在直通状态。具体地说，就是使和都为低电平，DAC寄存器的锁存选通端得不到有效电平而直通；此外，使输入寄存器的控制信号ILE处于高电平、处于低电平，这样，当端来一个负脉冲时，就可以完成1次转换。第二种方法：是使输入寄存器工作在直通状态，而DAC寄存器工作在锁存状态。就是使和为低电平，ILE为高电平，这样，输入寄存器的锁存选通信号处于无效状态而直通；当和端输入1个负脉冲时，使得DAC寄存器工作在锁存状态，提供锁存数据进行转换。DAC0832芯片工作时序根据上述对DAC0832的输入寄存器和DAC寄存器不同的控制方法，DAC0832有如下3种工作方式：（1）单缓冲方式单缓冲方式：是控制输入寄存器和DAC寄存器同时接收数据，或者只用输入寄存器而把DAC寄存器接成直通方式。此方式，适用只有一路模拟量输出或几路模拟量异步输出的情形。（2）双缓冲方式双缓冲方式：是先使输入寄存器接收数据，再控制输入寄存器的输出数据到DAC寄存器，即分两次锁存输入数据。此方式，适用于多个D/A转换同步输出的情节。（3）直通方式直通方式：就是不经过两级锁存器锁存，即，，均接地，ILE接高电平。此方式，适用于连续反馈控制线路，不过在使用时，必须通过另加I/0接口与CPU连接，以匹配CPU与D/A转换。DAC0832芯片典型应用电路由于DAC832是将转换结果以电流形式输出，所以需要外接运算放大器,使输出电流转换为输出电压。Thankyouforwatching.DAC0832的工作电流测试DAC0832测试电路设计与搭建根据任务描述，DAC0832测试电路能满足静态工作电流、直流参数以及功能等测试。1.测试接口DAC0832引脚与LK8810S的芯片测试接口，是DAC0832测试电路设计的基本依据。DAC0832引脚与LK8810S测试接口的配接表，如表所示。DAC0832测试电路设计与搭建2.测试电路设计根据表所示，基于LK8810S测试系统的DAC0832芯片测试接口电路，如图所示。在测试DAC0832芯片时，还需外接辅助电路，所需元件包括电容、接插口、运放等。DACO832测试板卡根据图8-4所示的DACO832测试电路，DAC0832测试板卡的正面如左图所示，DAC0832测试板卡的背面如右图所示。DAC0832测试电路搭建按照任务要求，采用基于测试区的测试方式，把LK8810S与LK220T的测试区结合起来，完成DAC0832测试电路搭建。（1）将DAC0832测试板卡插接到LK220T的测试区接口；（2）将100Pin的SCSI转换接口线一端插接到靠近LK220T测试区一侧的SCST接口上，另一端插接到LK8810S外挂盒上的芯片测试转接板的SCSI接口上。到此，基于测试区的DAC0832测试电路就搭建好了。DAC0832的工作电流测试1.任务描述根据LK8820集成电路测试机和DAC0832测试电路，向DAC0832的Vcc引脚加17V直流工作电压，完成DAC0832工作电流测试。（1）测得的工作电流在1.2~3.5mA之间，则为良品；（2）否则为非良品。2.工作电流测试程序实现分析（1）工作电流测试方法DAC0832工作电流的测试方法，主要是给芯片电源引脚提供电源电压，然后测量该芯片电源引脚的电流，并进行判断工作电流是否正常。（2）工作电流测试实现分析根据TI公司的DAC0832数据手册，DAC0832的工作电压Vcc为17V，工作电流的最小值为1.2mA、最大值为3.5mA。这样，我们就可以通过测试机给DAC0832的Vcc引脚提供17V直流工作电压，然后把DAC0832的片选引脚设置为低电平，最后测量DAC0832的Vcc引脚电流，以及判断其工作电流是否在1.2~3.5mA之间。DAC0832的工作电流测试3.工作电流测试过程DAC0832芯片工作电流测试过程有以下4个步骤：（1）DAC0832的Vcc引脚（20引脚）接继电器K3_2，通过控制K3继电器来控制芯片Vcc和Force2的连接；（2）Force2引脚输出+17V；（3）使能DAC0832的片选引脚；（4）测量Forse2引脚电流，若测得的电流在1.2~3.5mA之间为良品，否则为非良品。测试程序测试结果Thankyouforwatching.DAC0832输入阻抗测试DAC0832测试电路设计与搭建根据任务描述，DAC0832测试电路能满足静态工作电流、直流参数以及功能等测试。1.测试接口DAC0832引脚与LK8810S的芯片测试接口，是DAC0832测试电路设计的基本依据。DAC0832引脚与LK8810S测试接口的配接表，如表所示。DAC0832测试电路设计与搭建2.测试电路设计根据表所示，基于LK8810S测试系统的DAC0832芯片测试接口电路，如图所示。在测试DAC0832芯片时，还需外接辅助电路，所需元件包括电容、接插口、运放等。DAC0832测试电路设计与搭建3.DACO832测试板卡根据图8-4所示的DACO832测试电路，DAC0832测试板卡的正面如左图所示，DAC0832测试板卡的背面如右图所示。DAC0832测试电路设计与搭建4.DAC0832测试电路搭建按照任务要求，采用基于测试区的测试方式，把LK8810S与LK220T的测试区结合起来，完成DAC0832测试电路搭建。（1）将DAC0832测试板卡插接到LK220T的测试区接口；（2）将100Pin的SCSI转换接口线一端插接到靠近LK220T测试区一侧的SCST接口上，另一端插接到LK8810S外挂盒上的芯片测试转接板的SCSI接口上。到此，基于测试区的DAC0832测试电路就搭建好了。DAC0832测试电