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文档简介

ICS

CCS

团体标准

T/CSAExx-20xx

汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗

扰度试验方法

Testmethodforradiationimmunityofautomotiveintegratedcircuitmatching

electricalandelectroniccomponents

(征求意见稿)

在提交反馈意见时,请将您知道的该标准所涉必要专利信息连同支持性文件一并附上。

DraftingguidelinesforcommercialgradesstandardofChinesemedicinalmaterials

2024-xx-xx发布2024-xx-xx实施

中国汽车工程学会发布

T/CSAExx—20xx

目次

前言................................................................................II

1范围..............................................................................1

2规范性引用文件....................................................................1

3术语和定义........................................................................1

4试验条件..........................................................................1

4.1环境条件......................................................................1

4.2被测汽车集成电路..............................................................1

4.3试验零部件....................................................................3

5试验方法..........................................................................3

5.1试验参数......................................................................3

5.2电波暗室法匹配试验............................................................4

5.3便捷式发射机模拟法匹配试验....................................................5

5.4试验结果判定..................................................................6

6数据采集与分析....................................................................7

6.1数据采集......................................................................7

6.2数据分析......................................................................7

7试验报告..........................................................................7

附录A(资料性)数据采集.............................................................9

I

T/CSAExx—20xx

汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度试验方法

1范围

本文件规定了汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度的试验条件、试验方法、数据采集与分

析和试验报告。

本文件适用于汽车用集成电路。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

GB/T29259道路车辆电磁兼容术语

GB/T33014.1—2016道路车辆电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法第1部分:一

般规定

GB/T33014.2—2016道路车辆电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法第2部分:电

波暗室法

GB/T33014.9—2020道路车辆电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法第9部分:便

携式发射机模拟法

GB/T36950—2018信息安全技术智能卡安全技术要求

3术语和定义

GB/T29259、GB/T33014.1—2016和GB/T36950—2018界定的及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

集成电路integratedcircuit

采用一定工艺,将电阻、电容、晶体管互连,用于执行运算处理或存储功能的电子元器件。

[来源:GB/T36950—2018,3.1]

4试验条件

4.1环境条件

除非另有规定,试验环境条件应满足下列要求:

——温度:+23℃±5℃;

——相对湿度:25%~75%。

4.2被测汽车集成电路

1

T/CSAEXXX—202X

4.2.1一般规定

被测汽车集成电路或所在的测试板应具有完整的典型通讯功能或传送数据的接口,集成电路应具有

相应的协议及功能规范,具有可操作性和可读取性。

被测汽车集成电路的参数数据应能通过通讯接口实时采集,并能传送至分析或管理工具。

4.2.2可测性

被测汽车集成电路可测性应满足下列要求:

a)被测汽车集成电路应提供所声明模式及功能的说明文档,并能执行所声明的工作模式,具备所

声明的典型功能;

b)被测汽车集成电路应配有软件及硬件应用或测试设计说明;

c)被测汽车集成电路接口及电平如有标准协议接口,应符合相应的协议标准。如自定义接口应符

合自定义文档说明;

d)被测汽车集成电路应具备出错可识别性;

e)被测汽车集成电路测试出错时,应有寄存器或其他方式判断出被测集成电路的工作状态。

4.2.3测试硬件

被测集成电路的电源、时钟、通信等核心模块外围电路,应按照供应方所提供的硬件设计说明推荐

的系统方案进行设计,以避免不合理设计对测试结果造成干扰。

主动类集成电路测试硬件设计参考图1a),被动类集成电路测试硬件设计参考图1b)。

注:主动类集成电路是可以独立运行或具备内部寄存器的集成电路,被动类集成电路是需要其他的控制类器件配合

运行或不具备内部寄存器的集成电路。

a)主动类集成电路测试硬件设计示意图

b)被动类集成电路测试硬件设计示意图

2

T/CSAExx—20xx

图1集成电路测试硬件设计示意图

4.3试验用电气及电子部件

4.3.1一般规定

试验用电气及电子部件的应用和功能,应具备同类型汽车电子零部件的典型应用和典型功能,且附

带可测性设计,保证功能参数能被外部监测。

试验用电气及电子部件设计宜将共性测试的典型功能设计模块化和系列化,典型功能设计包括但不

限于保护电路和功能配置。

电气及电子部件不宜有壳体,如因散热、安装等原因必须有壳体时,应在试验报告中注明壳体的材

质、结构,以及可能对试验结果产生的影响;

试验用电气及电子部件宜由集成电路供应方提供。

4.3.2通讯条件

电气及电子部件应具备与被测汽车集成电路、数据采集系统匹配的通讯功能。

4.3.3状态条件

电气及电子部件的电路设计应能使被测汽车集成电路处于不同的工作模式,如不同功耗模式、不同

速率模式、不同频率模式、不同接口规格模式或其他自定义工作模式,且该工作模式应被明确说明。

4.3.4负载条件

电气及电子部件的负载应满足GB/T33014.1—2016中5.1的要求。

5试验方法

5.1试验参数

5.1.1试验信号

试验用射频骚扰信号应满足下列要求:

a)未调制正弦波(CW):适用频率范围为0.01MHz~6GHz;

b)调幅正弦波(AM):适用频率范围为0.01MHz~800MHz,调制频率为1kHz,调制深度为80%;

c)脉冲调制正弦波(PM):适用频率范围为800MHz~6GHz,脉宽为577us,周期为4600us。

其他试验信号应满足GB/T33014.1—2016、GB/T33014.2—2016、GB/T33014.9—2020的要求。

5.1.2抗扰度等级

5.1.2.1电波暗室法

电波暗室法试验电场等级应满足表1的要求,频段分段应满足表2的要求。

表1辐射抗扰度限值等级

抗扰度限值等级电场(V/m)

I50

II75

3

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表1辐射抗扰度限值等级(续)

抗扰度限值等级电场(V/m)

III100

IV150

V200

C用户规定

表2频段分段

频段频率(MHz)

F180~200

F2200~1000

F31000~2000

F42000~3000

F53000~6000

5.1.2.2便携式发射机模拟法

便携式发射机模拟法匹配试验抗扰度等级应满足GB/T33014.9—2020附录A表A.1的要求。

5.2电波暗室法匹配试验

5.2.1概述

如无其他规定,汽车集成电路电波暗室法匹配试验应在80MHz~6GHz全频段范围内,按GB/T

33014.2—2016规定的方法执行。

5.2.2试验工况

汽车集成电路应工作在全功能或满负载模式,所有模块均在典型工作模式下工作。如典型工作模式

不只一种,应对每种典型工作模式进行测试。

示例:某集成电路信号电压有1.8V,3.3V两种模式,信号频率支持500KHz,2MHz两种,中央处理单元(CPU)

频率支持低、中、高三种。则集成电路可定义三种工作模式,并自由组合覆盖所有工况。

5.2.3试验布置

试验布置应满足下列要求:

a)试验地点应在电波暗室(模拟开阔场)中进行;

b)试验布置应按照GB/T33014.2—2016中第7章的规定执行。电气及电子部件的位置应满足GB/T

33014.2—2016中7.3的要求;

c)数据采集系统应放置在电波暗室外,例如控制室内,通过通光纤或高阻抗线缆与暗室内试验控

制器通讯;

d)电气及电子部件周围不应有金属制品,避免引起局部电磁场的改变。

5.2.4试验设备

数据采集系统应满足下列要求:

a)应具备通讯功能、数据传输功能、采集协议功能、数据筛选功能和记录时间戳功能,可设置触

4

T/CSAExx—20xx

发和结束条件;

b)采集后的寄存器数据应能被正确解析,并能还原寄存器所记录的集成电路某时刻的状态、物理

量值;

c)数据传输带宽应大于等于被采信号的带宽;

d)应通过光纤或双绞线等抗干扰等级高的接口实现连接,且应做好电磁屏蔽和信号隔离。

数据采集系统的架构参考图2。

其他试验设备应满足GB/T33014.2—2016中6.2的要求。

图2数据采集系统架构

5.2.5试验程序

试验程序按下列步骤执行:

a)不施加辐射干扰,运行被测汽车集成电路,进行寄存器数据采集和监测通讯报文;

b)按照GB/T33014.2—2016中8.3的要求施加辐射干扰,运行被测汽车集成电路,进行寄存器

数据采集和监测通讯报文。在400MHz~6GHz频率范围的测试,天线应处于水平极化;在80

MHz~6GHz频率范围的测试,天线应处于垂直极化。

5.3便携式发射机模拟法匹配试验

5.3.1概述

应用于乘客舱或行李舱内,或安装位置与手持发射机间距小于200mm的汽车集成电路应进行本试

验。

5.3.2试验工况

试验工况同5.2.2的要求。

5.3.3试验布置

5.3.3.1测试位置

天线中心和天线叶片与被测汽车集成电路测试位置,应按图3a)、3b)和图4a)、4b)布置。

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a)天线中心正对b)天线中心旋转90度

图3天线中心正对集成电路示意图

a)天线叶片正对b)天线叶片旋转90度

图4天线叶片正对集成电路示意图

数据采集系统布置、电气及电子部件周围布置同5.2.3c)、5.2.3d)的要求,其他试验布置应满

足GB/T33014.9-2020中第7章的要求。

5.3.4试验设备

数据采集系统要求同5.2.4的要求,其他试验设备应满足GB/T33014.9—2020中第6章的要求。

5.3.5试验程序

试验程序应按下列步骤执行:

a)不施加辐射干扰,运行被测汽车集成电路,进行寄存器数据采集和监测通讯报文;

b)按照GB/T33014.9—2020中第8章的要求施加辐射干扰,运行被测汽车集成电路,进行寄存

器数据采集和监测通讯报文。

5.4试验结果判定

5.4.1寄存器数据

比对不施加辐射干扰和施加辐射干扰时采集的寄存器数据,判断被测汽车集成电路工作是否正常。

判定基准如下:

a)被测汽车集成电路声明保持不变的寄存器数据应无变化,如数字输入信号、数字输出信号、安

全状态、错误信息、校验信息的寄存器数据;

b)被测汽车集成电路发生变化的寄存器数据都应在所声明的范围内,如模拟信号。

5.4.2通讯报文

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在施加辐射干扰过程中和过程后,被测汽车集成电路的通讯报文应无停发、无丢包、无延迟、无数

据错误。

在施加主频频段辐射干扰时,汽车集成电路出现停发、丢包、延迟,但在非主频频段过程中通讯正

常,则判定汽车集成电路通讯报文正常。在施加高次谐波频段辐射干扰时,汽车集成电路出现停发、丢

包、延迟,但在非其主频频段及其高次谐波频段过程中通讯正常,则判定汽车集成电路通讯报文正常。

5.4.3外部输出功能监测

应至少在一个完整的功能周期内,对所监测的外部输出信号状态进行比对。

5.4.4功能状态分级

被测汽车集成电路(IC)的功能状态分级如下:

a)等级AIC:在试验期间和试验之后,IC所有监测功能在规定的允差范围内。

b)等级BIC:在试验期间一个或多个监测信号的短时性能降低并不能对IC进行评价。因此,这种

分类可能不适用于IC。

注:试验期间,通过其错误处理,集成电路的一个或多个监测信号的短时性能降低是可接受的。对于集成电路

试验,这种错误处理在大多数情况下是未知的。

c)等级CIC:试验期间IC至少一个功能超过规定允差,但试验结束后能自动恢复正常;

d)等级DIC:试验期间IC至少一个功能超过规定允差,试验结束后不能自动恢复正常。需要人工

干预才能恢复正常;

e)等级D1IC:IC通过人工干预恢复正常(例如,复位);

f)等级D2IC:IC通过电源的通断恢复正常;

g)等级EIC:试验之后IC至少一个功能超过规定允差,且不能恢复正常操作。

6数据采集与分析

6.1数据采集

应按下列要求进行数据采集:

a)应对被测汽车集成电路功能状态实时监测和采集。

b)在汽车集成电路机制允许访问且不影响正常运行功能和性能的前提下,采集数据周期应小于等

于一个逻辑运行的最小时长。

注:在一个逻辑运行的最小时长下,所有数据采集1次,并进行存储、上传,或直接上传。

宜采集全部寄存器数据,或按附录A所列数据进行采集。

6.2数据分析

寄存器数据采集后,应按下列要求进行分析:

a)将采集的数据按通道、字段进行分类和筛选,设置每个字段的正常值范围;

b)超出正常值范围的数据,对照被测汽车集成电路的产品手册进行真实物理含义解析。

7试验报告

试验报告应包含下列信息:

——试验零部件功能说明;

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——外部组件描述;

——被测汽车集成电路的试验状态;

——被测汽车集成电路执行软件的描述;

——试验零部件的壳体信息(是否具有壳体、壳体材质、壳体结构等);

——试验设备描述,例如名称、制造商,型号,序列号、校准状态等;

——寄存器数据和通讯功能的描述;

——偏离先前定义的试验参数的描述;

——任何其他需要在试验报告中说明的问题;

——试验布置及试验过程的照片。

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附录A

(资料性)

数据采集

A.1主动类集成电路

A.1.1电源管理模块

电源模块宜采集电源管理单元、系统低功耗模式控制、欠压门户、事件设置中的数据。

A.1.2复位控制和启动模块

复位控制和启动模块数据宜每次系统启动后采集。

A.1.3安全模块

安全模块宜采集安全管理单元、硬件安全模块、功能安全模块、随机数发生器、硬件加密算法模块、

硬件加速器、硬件冗余校验和纠错功能模块的数据。

与安全机制及安全报警相关的全部寄存器数据宜全部采集。

A.1.4内部存储模块

存储模块宜采集本地存储单元、默认应用程序内存、直接存储器访问单元、存储缓冲区、易失存储

器、存储测试单元的数据。

A.1.5外部存储单元总线控制模块

外部存储单元总线控制模块宜采集同步动态随机存储器(DRAM,包括DDRx、LPDDRx)、静态随机

存储器(SRAM)、伪静态随机存储器(pSRAM)、铁电随机存储器(FRAM)、非易失性存储器(NANDFlash

或NORFlash)类型的存储器读写控制数据。

A.1.6通讯外设及接口模块

通讯及接口模块宜采集CAN接口模块、LIN接口模块、灵活型实时通信网络(FlexRay)、集成电路

总线(I2C)、串行外设接口(SPI)、通用异步收发器(UART)、通用同步/异步收发器(USART)、安

全数字输入输出(SDIO)、以太网、I/O模拟总线、蓝牙、无线通讯(WIFI)、超宽带(UWB)、星闪无

线接口、外围传感器接口、高速串行计算机扩展总线(PCIe)模块等数据。

A.1.7核及控制模块

控制模块宜采集CPU模块(单核或多核CPU)以及用于特定功能的处理器的全部寄存器、系统控制单

元的数据。

A.1.8模拟外设功能模块

模拟外设功能模块宜采集模数转换(ADC)、数模转换(DAC)、运算放大器(OPA)、电压参考源、

电流参考源、温度传感器的数据。

A.1.9定时功能模块

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定时功能模块宜采集通用计时器(Timer)、实时时钟(RTC)、内/外开门狗(WDG)、脉冲宽度调

制(PWM)输出、输入捕获、正交编码输入功能的数据。

A.1.10时钟管理模块

时钟模块宜采集内部振荡器、外部晶振、锁相环/锁频环功能配置的数据。

A.1.11通用输入输出端口模块

通用输入输出(GPIO)端口宜采集用于配置外设功能的多路复用器、通用输入输出单元、外部中断/

唤醒触发功能单元的数据。

A.1.12图形处理模块

图形处理模块宜采集2D或3D图形处理器、视觉处理器的数据。

A.1.13视频处理模块

视频处理模块宜采集对应视频格式解压缩、编码、格式转换功能的数据。

A.1.14音频和视频接口模块

音频和视频接口模块宜采集移动行业处理器接口—显示串行接口(MIPI-DSI)、移动行业处理器接

口—摄像头串行接口(MIPI-CSI)、高清多媒体接口(HDMI)、低电压差分信号(LVDS)、带有时分复

用(TDM)功能的集成电路内置音频总线(I2S)/串行音频接口(SAI)、数字音频接口(SPDIF)、有

机发光二极管(OLED)、数码显示屏控制的数据。

A.2被动类集成电路

对于被动类集成电路(例如模拟电源),宜采集反应其功能的数据,如可采集被测集成电路的某个

输出引脚的电平或功耗。

10

《汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度

试验方法》编制说明

一、工作简况

1.1任务来源

《汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度试验方法》团体标准由中国汽

车工程学会批准立项,文件号中汽学标【2023】210号,任务号为2023-096。本标

准由中国汽车芯片产业创新战略联盟提出,由北京国家新能源汽车技术创新中心有

限公司(简称“国创中心”)牵头,联合北京车和家信息技术有限公司、北京智芯

微电子科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、合肥艾创微电子科技有限

公司、杭州士兰微电子股份有限公司、小华半导体有限公司、思瑞浦微电子科技

(苏州)股份有限公司、中国科学院微电子研究所、上海复旦微电子集团股份有限

公司、上海蔚兰动力科技有限公司、芯洲科技(北京)股份有限公司、中国重型汽

车集团、西安紫光国芯半导体有限公司、深圳曦华科技有限公司、华大半导体有限

公司和北京新能源汽车股份有限公司共同研究制定。

1.2编制背景与目标

随着电动化、网联V2X、智能驾驶等技术的快速发展,汽车电子电气系统架构

越发复杂,汽车集成电路的使用数量大幅增长的同时,在应用过程中也面临着越来

越复杂和严苛的电磁环境。汽车集成电路在实际应用过程中,由任何因素激发的电

路振荡,都会通过导线等以电磁波的形式发射出去,不仅干扰车内通信设备、娱乐

系统,而且对车上具有高频响应特点的电子系统也会产生电磁干扰。同时车外的无

线电设备、雷达、广播电台等发射无线电波,会干扰汽车集成电路,导致其误动作

或失效的情况,严重时会影响行车驾驶安全。

目前,国外关于汽车集成电路的电磁兼容性标准虽然有AEC-Q100进行规定,

但其测量频率范围有限,且只涉及辐射发射测量,尚无车载应用电磁环境下集成电

路电磁抗扰类的相关规定。现有IEC62132、IEC62215系列标准规定了集成电路的

电磁兼容测试,但其只监测集成电路的几个对外功能,对集成电路的功能状态检测

不全面。国内在研GB/T《车辆集成电路电磁兼容试验通用规范》国家标准,虽给

出了推荐的发射和抗扰度限值,但仍使用通用集成电路的干扰信号,且未对集成电

路的工作状态和监测方法提出明确严格的规定。因此,有必要针对汽车集成电路辐

1

射抗扰度零部件匹配试验制定标准规范,模拟集成电路车载应用环境,对汽车集成

电路的功能状态进行实时完整的全面评估,使实际测试更客观、也更具有操作性。

1.3主要工作过程

本标准按照下列时间节点开展预研、立项、起草等相关工作。

序号阶段事项时间节点

1预研研讨标准的必要性、先进性、可行性以及标准范围2023.07.31

2立项完成标准立项2023.09.30

3起草初稿编制完成2023.03.31

试验验

4依据标准完成试验验证2023.03.31

(1)预研

深入研究、全面分析国内外汽车用集成电路电磁兼容相关标准规范,确定制定

本标准的先进性和必要性。同时,邀请汽车集成电路电磁兼容相关单位和专家,召

开标准预研会,讨论标准制定的可行性,初步拟定标准研究范围,研讨标准技术框

架和内容,并编制标准立项申请表、标准初稿等材料。

(2)立项

根据标准预研成果,确定标准的研究范围、技术框架和技术内容,邀请汽车用

集成电路电磁兼容相关单位和专家,组织召开标准讨论会议,根据整车企业、芯片

企业与零部件企业意见,修改标准立项申请表、标准初稿等材料,并于2023年7

月提交中国汽车工程学会进行标准立项申报,2023年9月标准通过立项。

(3)起草

标准立项后,国创中心作为该标准牵头单位,联合整车企业、零部件企业、芯

片企业和科研院校等近10家单位,在预研工作的基础上共同研制和完善标准草

案。本阶段共组织了起草组标准研讨会议三次,会议研讨过程中,起草组成员单位

对标准文本内容积极讨论,同时结合本单位的技术和经验,提出标准修改意见,并

参与标准编制等。

起草组第一次会议:

会议时间:2023年11月3日;

会议地点:国创中心会议室;

参会单位:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、北京车和家信息技术

有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、合肥

2

艾创微电子科技有限公司、杭州士兰微电子股份有限公司、小华半导体有限公司、

思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司、中国科学院微电子研究所、上海复旦微

电子集团股份有限公司、上海蔚兰动力科技有限公司、芯洲科技(北京)股份有限

公司、中国重型汽车集团、西安紫光国芯半导体有限公司、深圳曦华科技有限公

司、华大半导体有限公司;

会议内容:国创中心作为主笔单位,对标准起草方案、标准框架和文本进行了

介绍;起草组成员就标准框架进行了重点讨论,并对标准范围、试验条件、试验方

法和寄存器数据采集与分析等重点章节进行了详细研讨,形成改进意见20余项;

此外,起草组成员讨论了标准编制的初步分工以及下一步工作安排。

起草组第二次会议:

会议时间:2023年12月12日;

会议地点:国创中心会议室;

参会单位:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、北京车和家信息技术

有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、合肥

艾创微电子科技有限公司、杭州士兰微电子股份有限公司、小华半导体有限公司、

思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司、中国科学院微电子研究所、上海复旦微

电子集团股份有限公司、上海蔚兰动力科技有限公司、芯洲科技(北京)股份有限

公司、中国重型汽车集团、西安紫光国芯半导体有限公司、深圳曦华科技有限公

司、华大半导体有限公司和北京新能源汽车股份有限公司;

会议内容:国创中心标准主笔人对标准整体进展和标准草案进行了介绍;起草

组成员就4试验条件、5试验方法、附录A等重点章节,以及标准意见处理结果进

行了充分讨论,形成改进意见5项,同时对标准试验验证计划进行了讨论和安排。

起草组第三次会议:

会议时间:2024年1月5日;

会议地点:国创中心会议室;

参会单位:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、北京车和家信息技术

有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、合肥

艾创微电子科技有限公司、杭州士兰微电子股份有限公司、小华半导体有限公司、

思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司、中国科学院微电子研究所、上海复旦微

电子集团股份有限公司、上海蔚兰动力科技有限公司、芯洲科技(北京)股份有限

3

公司、中国重型汽车集团、西安紫光国芯半导体有限公司、深圳曦华科技有限公

司、华大半导体有限公司和北京新能源汽车股份有限公司;

会议内容:国创中心标准主笔人对整体进展进行了介绍,并对起草组分工编制

的标准内容进行了介绍。起草组成员4试验条件、5试验方法、6数据采集与分

析、附录A等重点章节进行了详细的讨论,提出约8条标准改进意见。

(4)试验验证

2024年1月-2024年2月,依据本标准对一款汽车用集成电路进行了电磁兼容

匹配试验,通过试验验证了本标准的合理性和可行性。

根据试验结果和起草组讨论,国创中心对标准文本进行了修改和完善,并完成

标准征求意见稿和编制说明。

二、标准编制原则和主要内容

2.1标准制定原则

本标准在充分调研国内外整车及零部件电磁兼容测试标准,分析国内外集成电

路电磁兼容试验方法的基础上,按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部

分:标准化文件的结构和起草规则》给出的规则起草,参考了GB/T33014.1-2016

《道路车辆电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法第1部分:一般

规定》、GB/T33014.2-2016《道路车辆电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰

性试验方法第2部分:电波暗室法》和GB/T33014.9-2020《道路车辆电气/电

子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法第9部分:便携式发射机法》。本标

准规定了一套汽车集成电路搭载在试验零部件上进行辐射抗扰度匹配试验的方法,

通过该试验方法实现集成电路真实车载电磁环境的应用,可全面监测汽车集成电路

的功能状态。

2.1.1通用性原则

本标准为行业提供了一种集成电路实车电磁环境测试的新思路,标准提出的集

成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度试验方法,可模拟实车电磁环境进行测试,

并检测集成电路的功能状态,既适用于汽车集成电路,也适用于其他集成电路,具

有较高的通用性。

2.1.2指导性原则

目前,国内外虽有整车、零部件或集成电路的电磁兼容标准规范,但无集成电

路匹配零部件级相关标准。本标准提出的方法可对汽车集成电路在车载应用场景下

4

进行辐射抗扰度试验,对集成电路的功能状态进行全面监测,对行业具有指导作

用。

2.1.3协调性原则

本标准提出的方法与目前ISO、IEC以及国内相关电磁兼容标准规定的方法协

调统一、互不交叉。该标准规定的试验方法对目前国内外相关电磁兼容试验进行了

有效补充,是一种更客观全面、更具可操作性的方法。

2.1.4兼容性原则

本标准提出的汽车集成电路匹配电气及电子部件辐射抗扰度的试验方法,充分

考虑了汽车集成电路在车载应用场景,以及需要监测的各种内部外部参数状态,具

有普遍适用性。

2.2标准主要技术内容

本标准规范对象是汽车集成电路,汽车电气及电子部件为集成电路提供了运行

功能及连接负载的载体。标准共分为7章,规定了汽车集成电路匹配电气及电子部

件辐射抗扰度的试验方法。标准内容包括范围、规范性引用文件、术语和定义、试

验条件、试验方法、数据采集与分析、试验报告。此外附录A给出了监测数据选择

的建议。通过电波暗室法匹配试验和便携式发射机模拟法匹配试验,对汽车集成电

路进行辐射抗扰度匹配试验,并全面检测集成电路功能状态。

2.3关键技术问题说明

本标准提出的方法首先是将被测汽车集成电路搭载在电气/电子部件上,模拟

真实的车载应用环境。其次在不施加辐射干扰和施加两种辐射抗扰的情况下,分别

对被测集成电路的内部、外部参数进行全面监测。然后分析采集到的全部参数数

据,判断被测集成电路的功能状态。

常规集成电路的电磁兼容抗扰试验中,往往没有车载环境的模拟,缺乏真实的

应用环境。本标准提出将被测集成电路运行在试验零部件中,使试验更加贴近实车

应用。此外,常规的试验对于功能状态的监测,往往只有指导性的意见,可操作性

不强,监测的手段也各种各样,不够全面和客观。因此本标准提出了全面监测集成

电路内部、外部参数的功能状态的方法,使得试验更具备可操作性,对汽车集成电

路的辐射抗扰度评测也更加全面客观。

2.4标准主要内容的论据

汽车集成电路在车载应用下的辐射抗扰度测试是非常重要的,但行业内现有标

5

准并没有给出具体实施方法,因此本标准提出了一套汽车集成电路匹配零部件辐射

抗扰度试验方法,对现有相关标准进行有效补充。该标准对汽车集成电路匹配电气

/电子零部件进行辐射抗扰度试验,更加接近实车应用电磁兼容环境。此外,标准

提出了全面检测汽车集成电路内外部参数的方法,使得汽车集成电路评价更为客

观、全面,且更具有操作性。

2.5标准工作基础

国创中心作为该标准起草组主笔单位,具备完整的集成电路和汽车电气/电子

部件的EMC检测能力,包括GB/T33014.2-2016、GB/T33014.9-2020等标准的检

测能力,以及IEC61967系列、IEC62132系列、IEC62215系列集成电路EMC检测

等项目的试验能力。在以往测试过程中,国创中心积累了大量的EMC试验数据,检

测能力和水平得到行业认可。此外,国创中心具有领先的测试技术能力和检测设

备,相关检测项目经过试验室间比对试验。本标准在此工作基础上提出,并结合起

草组成员单位的在该领域的技术积累和经验,对标准进行充分讨论和试验验证,具

有一定的先进性、通用性、科学性和可操作性。

三、主要试验(或验证)情况分析

为了验证标准合理性和可行性,选取汽车集成电路进行了试验验证,被测集成

电路属于控制类。试验时,将集成电路搭载在具有汽车电气/电子部件的典型外围

电路的试验零部件上,运行车身控制器的典型功能。被测集成电路和试验零部件均

具备以太网的通讯条件。被测汽车集成电路和试验零部件见图1。

图1被测汽车集成电路和试验零部件

在试验过程中,对被测样品施加的辐射干扰为:(1)电波暗室法匹配试验:

水平极化和垂直极化,电场等级为50V/m和75V/m,试验布置见图2。(2)便携

式发射机模拟法匹配试验:天线中心正对集成电路(正对、旋转90度),天线叶

6

片正对集成电路(正对、旋转90度),干扰等级为2W和9W,试验布置见图3。

辐射干扰的施加控制界面见图4。

图2电波暗室法匹配试验布置

图3便携式发射机模拟法匹配试验布置

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图4辐射干扰施加控制界面

试验过程中,对该被测汽车集成电路的参数进行了全面监测,在不施加辐射干

扰、施加辐射干扰时,分别采集了被测集成电路的全部内部参数,即寄存器数据进

行分析。数据采集的过程见图5。

图5数据采集过程

此外,在试验过程中对被测汽车集成电路的全部寄存器数据进行了监测。其

中,电波暗室法匹配试验声明应保持不变的寄存器数据均无变化,包括

CAN11_CTRL1、GPIO_AINT_MASK_SET0、PVT_HYST_L等数据。被测汽车集成电路在

一定范围内变化的寄存器数据,

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