无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第5部分：尺寸测量 征求意见稿

1无损检测工业射线计算机层析成像检测第5部分：尺寸测量本文件规定了用于无损检测的工业射线计算机层析成像(CT)系统图像尺寸测量校准的方法和从CTGB/T41123.6无损检测工业射线计算机层析成像检测第6部分：系统4.2检测设备要求4.2.1设备性能要求要求具备相关的检测设备（包括工业CT设备及相关图像处理软件工业CT设备射线源的能量应满足被检测工件的穿透力要求，图像处理软件应具备尺寸测量功能。通常情况下，CT系统的空间分辨4.2.2设备性能校验按照GB/T41123.6规定定期对CT系统的空间分辨率和密度分辨率等主要性能指标进行测试。在设4.3避免图像伪影对尺寸测量的影响2尺寸测量方法要求：被测物体的被测区域对应的CT图像应具有比较陡峭的边缘。由于探测器响应可能会造成条状伪影。为确保该尺寸测量方法的有效性，工业CT设备制造商应对射线投影数据进行校正，以尽量减少CT图像伪影。在实际检测中，用户应该尽量避开受伪影影响的区域进行尺寸5.1.1尺寸标准试件宜选择与被测物体材料一5.1.2尺寸标准试件的偏差应小于被测物体的测量偏差要求至少一个数量级，例如被测物体的测量偏差要求小于0.1mm，则标准试件尺寸的偏差应小于0.01mm。5.2.1外观5.2.2.1尺寸标准试件的测量精度应高于尺寸标准试件的制造偏差；5.2.2.2出厂检验应在尺寸标准试件的中间部位进行不少于5次测量。5.2.2.3尺寸标准试件进行出厂检验，并出具5.3标志和标签6.1标准试件和被测物体的检测工6.1.1.1将标准试件或被测物体安置在CT系统6.1.1.2标准试件应尽量安置在转台上与被测物体的待测区域大致相同的位置，或与被测物体的待测6.1.1.3标准试件扫描切片位置应大致选择在标准试件的中间位置，被测物体扫描切片位置根据需要36.1.1.4标准试件与被测物体应采用相同的工艺参数（包括射线源参数、扫描参数、重建参数等）及6.2尺寸测量校准6.2.1.1尺寸标准试件校准时应将扫描参数、重建参数调整至系统空间分辨率最优的参数设置下。6.2.1.2测试时，宜使尺寸标准试件对射线的衰减系数与实际被测物体接近，必要时可采用射线衰减尺寸标件2尺寸标件2尺寸标件1BB4APD则直线Q与CT数曲线相交两点之间横坐标差的绝对值，即为本次测量的尺寸标准试件2的CT图像长），6.2.12为了克服本测量方法中由于人工划线带来的测量结果的不稳定性，图像处理系统可以采用软6.3被测物体的人工尺寸测量6.3.1测量被测物体时，建议将被测物体与其密度相近的尺寸标准试件一起做CT扫描或采用相同的56.4被测物体的自动尺寸测量本标准推荐使用先进的亚像素边缘定位算法（包括但不限于Facet模型、Zernike矩和三次样条插值面片面积累加法计算出目标物体的长度或面积，确保了测量结果的准确性和可靠CAD模型与CT扫描图像之间的尺寸差异来实现。此过程利用特征匹配算法（速完成CT图像与CAD模型间的配准，同时允许用户根据需要自定义配准参数（例如缩放比例、旋转角在缺乏CAD模型的情况下，针对未知结构的工件，建议采用基于其三维CT图像边缘信息的形状拟具体偏差和系统分辨率等因素有关。设系统的空间分辨率为K(单位为L偏差可小于1/(2×K)mm。系统的空间分辨率越高，CT尺寸测量偏差越小。人工划线结合CT数曲线自动定位的尺寸测量方法，可有效地消除数字图像按像素采样和CT图像边缘扩散带来的误差，使得测量6自动尺寸测量（包括壁厚自动测量、CAD图形和CT图像的尺寸比对自动测稳定。自动尺寸测量的偏差取决于边缘点的定位偏差等因素，而CT图像存在的像素采样误差和边缘扩素的边缘点定位方法可减少