光学性能测试题集及答案解析_第1页
光学性能测试题集及答案解析_第2页
光学性能测试题集及答案解析_第3页
光学性能测试题集及答案解析_第4页
光学性能测试题集及答案解析_第5页
已阅读5页,还剩4页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

光学性能测试题集及答案解析一、单选题(每题2分,共10题)1.光学系统成像质量评价的主要指标是?A.分辨率B.色差C.光谱透过率D.相对照度2.光源色温的表示单位是?A.流明B.勒克斯C.开尔文D.瓦特3.光学系统的透过率是指?A.光源强度与探测器接收强度的比值B.透射光强与入射光强的比值C.光束直径与焦斑直径的比值D.光谱范围与系统通光范围的比值4.光学系统杂散光测试中,主要关注的杂散光类型是?A.系统固有杂散光B.环境反射杂散光C.光源自身杂散光D.以上都是5.光学系统畸变率通常用以下哪个指标表示?A.光谱分辨率B.线性度C.相对照度D.色差二、多选题(每题3分,共5题)6.光学系统成像质量评价指标包括?A.分辨率B.色差C.畸变D.相对照度E.波前像差7.光源测试中,需要测量的主要参数有?A.光强分布B.色温C.显色指数D.光谱功率分布E.相对照度8.光学系统杂散光测试方法包括?A.黑体法B.灯丝法C.漫射板法D.光束法E.相干光法9.光学系统透过率测试中,需要注意的因素有?A.光源稳定性B.测量光谱范围C.杂散光影响D.材料吸收特性E.温度影响10.光学系统畸变率测试中,需要考虑的因素有?A.物体尺寸B.物距C.像距D.光学元件曲率E.光源色温三、判断题(每题1分,共10题)11.光学系统分辨率越高,成像质量越好。(√)12.光源色温与显色指数是同一概念。(×)13.光学系统杂散光测试必须在暗室中进行。(√)14.光学系统透过率测试时,光源光谱范围应完全覆盖系统通带。(√)15.光学系统畸变率测试时,必须使用标准网格靶。(√)16.光源色温越高,显色指数越高。(×)17.光学系统杂散光测试时,探测器灵敏度越高越好。(×)18.光学系统透过率测试时,环境温度变化不影响测量结果。(×)19.光学系统畸变率测试时,靶标离系统越远,测量误差越小。(√)20.光源光谱功率分布与相对照度是同一概念。(×)四、简答题(每题5分,共5题)21.简述光学系统分辨率测试的基本原理。22.简述光学系统色差测试的主要方法。23.简述光学系统杂散光测试的步骤。24.简述光学系统透过率测试的注意事项。25.简述光学系统畸变率测试的基本原理。五、计算题(每题10分,共2题)26.某光学系统在500nm波长处分辨率测试结果为0.1角秒,计算该系统的理论分辨率极限(假设λ/D=0.1)。27.某光源在6500K色温下测量显色指数为90,计算其相对色温下的显色指数变化(假设参考光源为2856K)。答案解析一、单选题答案1.A分辨率是光学系统成像质量的主要评价指标,表示系统能分辨的最小细节尺寸。2.C光源色温用开尔文(K)表示,是光源光谱特性的重要指标。3.B透过率是透射光强与入射光强的比值,表示光学系统对光的传输效率。4.D光学系统杂散光测试需关注多种类型,包括系统固有杂散光、环境反射杂散光和光源自身杂散光。5.B畸变率表示光学系统成像的几何畸变程度,是评价成像质量的重要指标。二、多选题答案6.A、B、C、E分辨率、色差、畸变和波前像差都是评价光学系统成像质量的重要指标。7.A、B、C、D光源测试需测量光强分布、色温、显色指数和光谱功率分布等参数。8.A、B、C光学系统杂散光测试方法包括黑体法、灯丝法和漫射板法。9.A、B、C、D、E透过率测试需考虑光源稳定性、测量光谱范围、杂散光影响、材料吸收特性和温度影响等因素。10.A、B、C、E畸变率测试需考虑物体尺寸、物距、像距和光源色温等因素。三、判断题答案11.√分辨率越高,系统能分辨的细节越精细,成像质量越好。12.×色温表示光源的光谱特性,显色指数表示光源对物体真实颜色的还原程度。13.√杂散光测试需要在暗室中进行,以消除环境光干扰。14.√透过率测试时,光源光谱范围应完全覆盖系统通带,确保测量全面。15.√畸变率测试需使用标准网格靶,以定量评估系统成像的几何畸变。16.×色温越高,光源越偏蓝,显色指数可能降低。17.×杂散光测试时,探测器灵敏度需与系统杂散光水平匹配,过高会引入噪声。18.×透过率测试时,环境温度变化会影响材料光学特性,需严格控制。19.√靶标离系统越远,畸变测量误差越小,但需保证靶标在系统视场内。20.×光谱功率分布表示光源各波长光强分布,相对照度表示光源亮度。四、简答题答案21.光学系统分辨率测试基本原理:使用分辨率测试靶(如分辨率板),在特定波长下测量系统能分辨的最小细节尺寸。通过比较理论分辨率极限与实测分辨率,评估系统成像质量。常用方法包括线对法、点阵法和阶梯法。22.光学系统色差测试主要方法:使用标准光源照射物体,测量物体在待测光源和标准光源下的反射光谱,计算色差ΔE。常用仪器包括分光光度计和色差仪,测试需在标准光源箱内进行,确保光源稳定性。23.光学系统杂散光测试步骤:①搭建测试系统,包括光源、被测系统、探测器(如CCD或光电二极管)和光学附件;②在暗室环境下进行测试;③在不同角度测量探测器接收到的杂散光强度;④分析杂散光分布和强度,评估系统性能。24.光学系统透过率测试注意事项:①确保光源光谱范围覆盖系统通带;②使用高稳定性光源;③严格控制环境温度和湿度;④消除杂散光干扰;⑤多次测量取平均值,提高精度。25.光学系统畸变率测试基本原理:使用标准网格靶,测量系统成像后的网格畸变程度。通过比较靶标实际间距与成像间距,计算畸变率。常用方法包括横向剪切法、数字图像相关法等。五、计算题答案26.解:根据瑞利判据,理论分辨率极限θ₀=1.22λ/D=1.22×0.1×500nm/D≈0.61角秒。实测分辨率0.1角秒小于理论极限,表明系统性能良

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论