集成电路制造工艺 课件 4.2 湿法刻蚀_第1页
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集成电路制造工艺

--湿法刻蚀单位:江苏信息职业技术学院微电子教研室湿法刻蚀第四章刻蚀干法刻蚀去胶刻蚀的基本概念本章要点湿法刻蚀第四章刻蚀干法刻蚀去胶本章要点刻蚀的基本概念湿法刻蚀:目前主要用在漂去氧化硅、表层剥离及大尺寸图形(3

m以上)腐蚀应用方面;

干法刻蚀:是亚微米和深亚微米尺寸下刻蚀器件的主要方法。刻蚀湿法刻蚀干法刻蚀§4.2湿法刻蚀湿法刻蚀是利用一定的化学试剂与需刻蚀的薄膜反应从而在薄膜上显示一定的图形。一、湿法刻蚀的基本概念湿法刻蚀的优点:高刻蚀的选择比;不产生衬底损伤。湿法刻蚀的缺点:各向同性刻蚀,刻蚀后的线条宽度难以控制。通常伴有放热并产生气体。反应放热会造成局部区域的温度升高;反应生成的气泡会造成局部反应停止,形成缺陷。1.二氧化硅的湿法刻蚀腐蚀液:缓冲氢氟酸腐蚀液BHF或缓冲氧化硅腐蚀液BOE(BufferofEtchant)NH4F作为缓冲剂减慢并稳定腐蚀过程,从而很好地控制腐蚀速率。腐蚀的化学原理:§4.2湿法刻蚀二、几种薄膜的湿法刻蚀腐蚀液磷酸H3PO4——起主要的腐蚀作用硝酸HNO3——改善台阶性能醋酸——降低腐蚀液表面张力水——调节腐蚀液浓度腐蚀原理:2.铝的湿法刻蚀对下层材料有较高的选择比、对器件不会造成等离子体损伤、设备简单,各向同性刻蚀造成分辨率低,化学刻蚀槽的安全性。△x三、湿法刻蚀的特点湿法各向同性化学腐蚀腐蚀因子:1.全自动湿法腐蚀操作设

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