• 现行
  • 正在执行有效
  • 2025-12-09 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 60749-23:2025 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-23:2025 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第23部分：高温工作寿命
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2025-12-09

文档简介

IEC60749-23:2025ENSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife是一个关于半导体设备的机械和气候测试方法的国际标准。它涵盖了高温运行寿命测试的详细要求和方法。

以下是对IEC60749-23:2025ENSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife的详细解释：

高温运行寿命测试是一种用于评估半导体设备在高温环境下持续运行的能力的测试方法。它模拟了设备在实际使用中可能遇到的高温环境，通过长时间的连续工作来评估设备的性能和稳定性。

在测试过程中，设备被置于一个高温环境中，通常在高温环境下运行一定的时间周期，如1,000小时或更长时间。这个时间周期可以根据设备的类型和制造商的要求进行调整。在测试期间，设备的状态和性能将被监测和记录，以评估其在高温环境下的稳定性和可靠性。

测试环境的温度和湿度条件需要符合标准规定的要求，以确保测试结果的准确性和可重复性。此外，测试还包括对设备的外观、结构和功能进行详细的检查，以确保测试结果符合预期。

通过高温运行寿命测试，制造商可以评估半导体设备的耐高温性能和稳定性，以及其在高温环境下的可靠性和使用寿命。这对于确保产品的质量和可靠性非常重要，因为高温环境是半导体设备在实际使用中可能会遇到的一种常见环境条件。

IEC60749-23:2025ENSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife是一个重要的标准，它为半导体设

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