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CCSV20/2931I Ⅱ II请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。1元器件抗辐射性能评估指南本文件适用于空间飞行器用电子元器件的抗辐射性粒子在材料中通过弹性或非弹性碰撞导致材料晶格结构损伤导致的辐射损伤2选择有加固指标的元器件或在其它宇航型号上有应用经历的元器件，在无法确定元器件抗辐射指标的情况下，选择有故障分析服务的器件或者内部结构已f）元器件宜区分功能失效与参数失效。3f)元器件采用的辐照偏置条件宜与宇航型号实际应用线路相同或类似，或采用最劣偏置。综合4.3.2.1～4.3.2.3中各因素判断拟选用的元器件的抗辐射性能是否满足宇航型号选用需求，制定抗辐射性能评估试验方案。国内元器件抗辐实施过程中，按照试验方案，实时记录试验前后与实验过程中测试参数。记录试验过程中可能出现的异常、处理方a)若抗辐射性能满足当前宇航型号的抗辐射b)若抗辐射性能不满足当前宇航型号的抗辐射指标要求，则进行加固，新选择的元器件宜按4.1～4.4步骤重新评估抗6抗辐射加固设计当拟选用元器件抗电离总剂量效应性能无法满足宇航型号抗辐射指标要求时，考虑增加外壳的屏4当拟选用元器件抗位移效应性能无法满足宇航型号抗辐射指5一一一一一一一6一一一一一7钴60γ辐射源-6～-2钴60γ辐射源

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