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DINGWEIWUCHA工艺基准和设计基准不重合时工艺尺寸的计算

设计基准工艺基准工艺基准和设计基准是零件图上用来确定其他点、线、面位置的基准。是在加工过程中使用的基准。测量基准和设计基准不重合的计算箱体孔心距测量尺寸链图示箱体Ⅲ、Ⅳ孔中心距尺寸要求为(127±0.07)mm，因不好直接测量，改测内侧孔边距L2，试确定测量尺寸L2。测量基准和设计基准不重合的计算箱体孔心距测量尺寸链图示箱体Ⅲ、Ⅳ孔中心距尺寸要求为(127±0.07)mm，因不好直接测量，改测内侧孔边距L2，试确定测量尺寸L2。建立尺寸链（图b），其中孔心距L0为封闭环，Ⅲ、Ⅳ孔的半径L1、L3和孔边距L2是组成环（均为增环）。

测量基准和设计基准不重合的计算箱体孔心距测量尺寸链图示箱体Ⅲ、Ⅳ孔中心距尺寸要求为(127±0.07)mm，因不好直接测量，改测内侧孔边距L2，试确定测量尺寸L2。假废品问题：若L2=54.56，判为不合格品；但此时如L1=39.991，L3=32.5，则有：L0=127.051，仍属合格，出现“假废品”。解决办法：当测量尺寸超差量≤其他组成环公差之和时，可能出现假废品，应进行复检，以确定真假废品。生产中为了避免假废品的产生，在发现实测尺寸超差时，应实测其他组成环的实际尺寸，然后在尺寸链中重新计算封闭环的实际尺寸。若重新计算结果超出了封闭环设计要求的范围，便可确认为废品，否则仍为合格品。测量基准和设计基准不重合的计算定位基准和设计基准不重合的计算生产中，按大批量生产，采用调整法加工A、B、C面。其工艺安排是前面工序已将A、B面加工好（互为基准加工），本工序以A面为定位基准加工C面。因为C面的设计基准是B面，定位基准与设计基准不重合，所以需进行尺寸换算。定位基准和设计基准不重合的计算L0是封闭环，L1为增环，L3为减环。在设计尺寸中，L1未注公差（公差等级低于IT13，允许不标注公差），L2需经计算才能得到。为了保证L0的设计要求，首先必须将L0的公差分配给L1和L2。这里按等公差法进行分配。定位基准和设计基准不重合的计算

定位基准和设计基准不重合的计算

定位基准和设计基准不重合的计算L1和L2本没有

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