JIS B 9704-1-2006 机械类的安全性-电气检测保护设备-第1部分-一般要求事项及试验

B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)乙の規格仗,工業標準化法第14条亿X→て準用寸石第12条第1項の規定亿基→寺,社团法人日本機械工業連合会(JMF)扒兮,工業標準原案走具Lて日本工業規格走改正寸尺寺匕の申出炉卤n,日本工業標準調查会の審議走經て,厚生劳仙大臣及述經济産業大臣炉改正L杞日本工業規格で卤石。乙札亿X→て,JISB9704-1:2000仗改正之札,乙の規格亿置寺換之兮札杞。改正亿当杞→て仗,日本工業規格匕国際規格匕の対比,国際規格亿一致L杞日本工業規格の作成及述日本工業規格走基礎亿L杞国際規格原案の提案走容易亿寸石杞的亿,IEC61496-1:2004,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment-Part1:Generalrequirementsandtests走基礎匕Lて用,杞。乙の規格仗,光作榷法で保護対象匕女→て,石光作物で卤石。乙の規格の一部炉,技術的性質走古→特許榷,出願公開後の特許出願,害用新案榷,又仗出願公開後の害用新案登緑出願亿抵触寸石可能性炉卤石乙匕亿注意走喚起寸石。厚生劳仙大臣,經济産業大臣及述日本工業標準調查会仗,乙のX亏女技術的性質走古→特許榷,出願公開後の特許出願,灾川新案榷,又仗出願公開後の害用新案登緑出願亿扒扒打石確認亿→,て,責任走古杞女,。附属書B(規定)ESPE電気用品の单一障害一覽表附属書C(参考)適合性評俩JISB9704の規格群亿仗,次亿示寸部編成炉卤石。JISB9704-1第1部:一般要求事項及述試驗JISB9704-2第2部:能動的光電保護装置走使亏設備亿対寸石要求事項JISB9704-3第3部:掂散反射形能動的光電保護装置亿対寸石要求事項B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)序文 11.適用範囲 12.引用規格 23.定義 44.機能,設計及び環境に対する要求事項 74.1機能要求事項 74.2設計要求事項 84.3環境要求事項 5.試験方法 5.1一般事項 5.2機能試験 5.3障害状熊の性能試験 5.4環境試験 205.5プログラマブル集積回路又は複雑な集積回路の妥当性確認 236.識别と安全使用のためのマーキング 246.1一般事項 246.2電源から給電するESPE 246.3内部電源から給電するESPE 25 25 256.6制御機器 256.7端子表示 256.8マーキングの耐久性 257.附属文書 25 28 34附属書C(参考)適合性評価 38日本工業規格JIS第1部:一般要求事項及び試験Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment一序文この規格は,2004年に第2版として発行されたIEC61496-1,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveなお,この規格で側線又は点線の下線を施してある簡所は,原国際規格にはない事項であり,記述を明確にし,理解を助けるために追加した事項である。械類に用いて,人が危険状態に陥る前に機械を安全な状態に移行させる保護機能をもつ。この規格は,機械安全の分野で広く使用さる。この規格に適合するESPEは,其本的な特徴として,適正な水の安全閃过性能をもつと共に,この機械には,その和類特有の危険源がある。特定の機械に対してESPEの適川法を告することは,この1.適用範囲この規格は,機械のたぬの安全関連制御システムの一部として,特に人を検出するために用いる非接触式のESPEの設計,製造及び試験に対する一般要求事項について規定する。必要な安全関連特定の検知機能形式のESPEに対する要求事項は,JISB9704の他の部(現時点ではJISB9704-2及びJISB9704-3)に規定する。2B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)この規格は,特定の用途における検出区域の寸法,形状及び危険源のではない。また,何が機械の危険源であるかも規定しない。この規格は,ESPEの機能に川するり,のような用途では,例えば,検出対象物の特性が人の特性とは異なるので,この規格が規定しない要求事この規格は,電磁両立性(EMC)の放射に対する要求事項は扱わない。備考この規格の対応国際規格を,次に示す。なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IECGuide21に基づき,IDT(一致している),MODIEC61496-1:2004,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment-Part1:Generalrequirementsandtests(IDT)2.引用規格次に揭げる規格は,この規格に引用される。これらの引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を(追補を含む)は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む)を適用する。参考…原国際規格IEC.61496-1:2004が引用する規格の版に一致するS,又は引用する部分の規定内備考IEC61131-2:1992,Programmablecontrollers—Part2:Equipmentrequirementsandtestsからの引用可は,乙の规格の该当可と同等である。JISB9700-1:2004機械類の安全性一設計のための基本概念,一般原則一第1部:基本用語,方法論備考ISO/TR12100-1:1992,Safetyofmachinery—Basicconcepts,generalprinciplesfordesign—Part1:参考ISO12100-1:2003が,JISB9700-1:2004と一致Lいる。JISB9700-2:2004機械類の安全性一設計のための基本概念,一般原則一第2部:技術原則備考ISO/TR12100-2:1992,Safetyofmachinery—Basicconcepts,generalprinciplesfordesign—Part2:参考ISO12100-2:2003力，JISB9700-2:2004一致Lいる。..JISB9705-1:2000機械類の安全性一制御システムの安全関連部一第1部:設計のための一般原則備考ISO13849-1:1999,Safetyofmachinery—Safety-relatedpartsofcontrolsystems—Part1:GeneralJISB9960-1:1999機械類の安全性一機械の電気装置一第1部:一般要求事項備考IEC60204-1:1997,Safetyofmachinery—Electricalequipmentofmachines—Part1:Generalrequirementsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。備考IEC60447:1993,Man-machineinterface(JISC0664:2003低圧系統内機器の絶緣協調第1部:原理,要求事項及び試験3B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)備考IEC60664-1:1992,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part1:備考IEC60529:2001,Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPcode)が,この規格と一致して備考IEC60068-2-6:1995,Environmentaltesting—Part2:Tests-TestFc:Vibration(sinusoidal)が,こ備考IEC60068-2-29:1987,Basicenvironmentaltestingprocedures—Part2:Tests—TestEbandJISC61000-4-2:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第2節:静電気放電イミュニティ試験(旧番号:JISC1000-4-2:19備考IEC61000-4-2:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4:Testingandmeasurementtechniques—Section2:Electrostaticdischargeimmunitytest-BasicEMCpublicationが,この規格備考IEC61000-4-4:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4:Testingandmeasurementtechniques—Section4:Electricalfasttransient/burstimmunitytest—BasicEMCpublicationからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。JISC61000-6-2:2003化磁両立性一第6部:共通規格一第2節:工業環境におけるイミュニティ(旧備考IEC61000-6-2:1999,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6:Genericstandards—Section2:JISC8201-5-1:1999低圧開閉装置及び制御装置一第5部:制御回路機器及び開閉素子一第1節:電気機械制御回路機器備考IEC60947-5-1:1997,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part5-1:Controlcircuitdevicesandswitchingelements-Electromechanicalcontrolcircuitdevicesからの引用事項は,この規格の該備考ISO9001:2000,Qualitymanagementsystems—Requirementsが,この規格と一致している。IEC60050-191:1990,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)—Chapter191:DependabilityandqualityofserviceIEC60249-2,Basematerialsforprintedcircuits—Part2:SpecificationsIEC60439-1:1999,Low-voltageswitchgearandcontrolgearassemblies—Part1:Type-testedandpartiallytype-testedassembliesIEC60445:1999,Basicandsafetyprinciplesforman-machineinterface,markingandidentification-4B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)Identificationofequipmentterminalsandofterminationsofcertaindesignatedconductors,includinggeneralrulesforanalphanumericsystem備考JISC0445:1999文字数字の表記に関する一般則を含む機器の端子及び識別指定された電線端末の識別法は,IEC60445:1988と一致しているが,IEC60445:1999とは異なる。IEC60950(allparts),Informationtechnologyequipment—Safety備考JISC6950:2001情報技術機器の安全性は,IEC60950:1991-1996に対応(MOD)しているIEC61000-4-3:2002,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest備考JISC61000-4-3:2004電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第3節:放射無線周波電磁IEC61000-4-5:2001,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-5:Testingandmeasurementtechniques—Surgeimmunitytest備考JISC61000-4-5:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第5節:サージイミュニディ試験(旧番号:JISC1000-4-5:1999)は,IEC61000-4-5:1995に対応(MOD)しており,IEC61000-4-6:2001,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:Testingandmeasurementtechniques—Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields備考JISC61000-4-6:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第6節:無線周波電磁界にIEC61508(allparts),Functionalsafetyofelectrical/electronic/programmableelectronicsafety-relatedsystems3.1ブランキング(blanking)ESPE(3.5参照)の検出能力(検出可能な最小真径)より大きなサイズの3.2制御·監視装置(controlling/monitorin参考物体の検出可能な最小サイズは.ESPEの検出機能パラメ一タの一つで点る。…5B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)参考规定の人体部分を検出する区域と同じ意味である。検出区域において规定の人体部分苏検出さ3.5電気的検知保護設備(ESPE:electro-sensitiveprotectiveequipment)保護トリップ又は存在検知の一検知器一OSSD(3.19参照)禁考1.…この規格では、ESPEをタイプ!か点タイプ4に分類し、タイプ2からタイプ42ESPEの要3.6外部機器モ二タ(EDM:externaldevicemonitoring)ESPEが,外部の制御機器の状態を監視する手段(この規格では,略号“EDM”を用いる。)。3.7故障(failure)要求される機能を遂行する能力が,アイテムになくなること(IEC60050-191-04-014.実際には,障害と故障は,しばしば同じ意味で用いる。3.8危険側故障(failuretodanger)すべてのOSSDが,オフ状態になるべき条件下,又はオフ状態にと(4.2.2参照)。.一検出熊力の喪失一仕様值を超元る応答時間の增加3.9障害(不具合)(fault)予防保全若しくは計画的行動,又は外部資源の不足により機能を実行できない状態を除き,アイテムが,要求される機能を実行できない状態(IEC60050-191-05-01による。)。備考1.障害は,しばしばアイテム自体の故障の結果であるが,事前の故障がなくても存在すること6B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)参考元人匕は,八一K之二工Z卜之工工、又は乙れ5を粗み合物せたものの单位の乙飞がオフ状態になったとき,MPCE(3.14.参照)の回路を遮断するもの(この規格では,略号“FSD”を用b)機能が異なり,外部に接続可能な電気的端子が24以上ある。備考1.ASIC,ROM,PROM,EPROM,PAL,CPU,PLA及びPLDはこの例である。3.14機械の主制御要素(MPCE:machineprimarycontrolelement)機械の定常運転を電気的に直接制御品であって,機械の定常運転中,検知器の作動(検出)に伴いオフ状態になるもの(この規格では,略号3.21応答時間(responsetime)検知器を作動させる事象が発生してから,OSSD7B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)の迎恼モードを変更した以後,及び機械の起動制御手段を変更した以後に,機械が门動的に川起功するこ備考1.これには監視系も含む。2.制御システムの安全関連部の範囲は,安全関連信号が発生する所から,動力制御要素の出力3.25検知器(sensingdevice)検出すべき事象又は状態を,電気的センサで判別する,ESPEの部分。備考例えば,光電検知器は,検出区域に侵入する不透明物体を検出する。3.27停止性能モ二夕(SPM:stoppingperformancemonitor)総合システム停止性能が,設定值以内にあ3.28供給者(supplier)保護設備又は機械に関する役務を提供する者(例えば,製造業者,契約者,据付参考この規格の理解のために,原国際規格では定義されていない幾つかの用語の意味を次に示す。3.30正常運転(normaloperation)ESPEに要求されるすべての機能が正しく作動するESPEの運転(試4.機能,設計及び環境に対する要求事項4.1.1定常運転ESPEは,定常運転中,検出能力(JISB9704の他の部で規定する検出可能な最小サイ8B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)ESPEの応答時間は,供給者が指定する値を超えてはならない。ESPEの応答時間は,かぎ(鍵),パス4.1.2検知機能検出能力は,供給者が指定する検出区域の全域で有効でなければならない。検出区域,検出能力及びブランキング機能(モ二夕付き又はモニタなし)は,かぎ(4.1.3ESPEのタイプ別この規格では,3種のタイプのESPEに対して要求事項を規定する。タイプは,備考タイプ1のESPEに対する要求事項は,現時点では規定しない。要求されいる(4.2.2.3.参照)。4.2.1電源ESPEは,次に規定する電源条件で正しく作動しなければならない。ただし,使用者が別にa)交流電源高調波第2高調波から第5高調波までの合計が充電導体間の総実効値の10%以下第6高調波から第30高調波までの合計が充電導体間の9B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)出池駆動小両のù池詫源を川いる場合は,公称心圧の0.7～1.2倍c)コンバータ電源リップル公称電圧の5%以下(peaktopeak)感電保護に対しては,4.2.3.2を参照。備考ESPEの作動を電気的干渉から保護するため,ESPEの電源は,IEC61000-6-2の要求事項を満反応しなければならない。ESPEは,ロックアウト状態の原因となった障害がまだ存参考1.次の4.2.2.3～4.2.2.5は,ESPEに障害が発生したときESPEがどのように反応し作動しなければならないかを,ESPEのタイプ別に規定している。タイプ別の障害反応条件は,JISB9705-1 (ISO13849-1)に規定するカテゴリ別の障害反応条件に似てい障害がN個累積しても装置が安全機能を失わず,N+1個の障害が累積したとき,装置がンスの意味は,障害条件下でも安全装置が正常運転を続けるという意味ではない。障害により安全装脱が進転を停止しても,迅転停止前に機械を安るが,ESPEの安全機能は保たれているとみなす。1——102020323143以上(4以上の検証が必要で4B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.2.2.2タイプ1のESPEへの要求事項タイプ1のESPEに対する要求事項は,現時点では規定しない。4.2.2.3タイプ2のESPEへの要求事項タイプ2のESPEは,危険側故障(例えば,検出能力の喪タイプ2のESPEは,検出能力を喪失する,応答時間が仕様値を超える,又は1個若しくは2個以上の周期テストを外部(例えば,機械)の安全関連制御システムによって起動する場合は,ESPEに適切な入力部(例えば,端子)を設けなければならない。参考人の移動速度を2m/s.ESPEの元入卜時問(応答時間を含杰)左150.ms.上すれば,元ス卜中4.2.2.4タイプ3のESPEへの要求事項タイプ3のESPEは,検出能力を喪失する,応答時間が仕様値タイプ3のESPEは,それ自体は危険側故障を起こさない単一障害を検出できない場合は4.2.2.5タイプ4のESPEヘの要求事項タイプ4のESPEは,検出能力のB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)を参照)タイプ4のESPEは,それ门体は危険側故障を起こさない1一障背を検出できない場合は,続いて複数の障害が発生しても危険側故障を起こしてはな備考1.タイプ4のESPEの設計法には次のものがある。2.複雑な集積回路又はプログラマブル集積回路に対する追加要求事項は,4.2.10を参照。参考…この要求事項は.基本的には,障害が何個蓄積して点ESPE.の危険側故障にならないことを要求している。ただし..各障害が互いにほとんど独立で.特定の順序で発生する確率が低い場合4.2.3ESPEの電気用品4.2.3.1一般事項ESPEの電気用品(構成品)は,一適切な!IS.又はJEC規格があれば,それに適合し,一意図した用途に適するものを用い,一規定の定格内で作動させなければならない。4.2.3.2感電保護ESPEには,JISB9960-1の6.1に適合する感電保護を備えなければならない。備考OSSD出力に接続する回路に用いるヒューズの最大定格値,及び過電流保護機器の設定値について,供給者は使川者に情限を提供することがましい。4.2.3.4環境汚損度ESPEの電気用品は,汚損度2の環境に適応しなければならない(IEC60439-1の4.2.3.5空間距離.沿面距離及び分離距離ESPEの化気川出は,IEC60439-1の7.1.2に通合するように設計,製造しなければならない。4.2.3.6配線ESPEの電気用品は,IEC60439-1の7.8.3に適合するように配線しなければならない。4.2.4OSSD(出力信号開閉器)4.2.4.1一般事項各OSSDは,それぞれ独立に出力端子を備えなければならない。OSSDは,その負荷にアーク防止機器を必要としない定格をもつことが望まし備考信頼性を上げるために,開閉サージ抑圧機器を取り付け,これを接点にではなく負荷に並列にOSSDの出力回路は,例えば,過電流による接点溶着などの危険側故障を防ぐ適切な保護をしなければ共通原因故障を最小にする対策をとることが望ましい。ESPEは,機械の安全関連制御システム機能の一部を受持つことができる。例えば,場合によりOSSDタイプ3及びタイプ4のESPEは,少なくも2個の独立に作動するOSSDを備えなければならない。4.2.4.2リレ一式OSSDリレー式OSSDを用いるときは,接点の状態(位置)を監視しなければならなB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)機械的に連動する強制ガイド接点を用いる場合は,補助接点を監視することにより実質的に主接点を監メイク接点とブレーク接点が同時に閉路状態にならないよう,設計及び構成上の特別の注意をしなけれ備考1.主接点と監視用接点を機械的に連動させると,監視用接点がOSSD接点の状態変化に確実に2.リレーの全寿命期間を通じて,リレーの保持電圧と接点間げき(隙)が,適切に保たれることが重要である。入タイプのどちらでもよい。電流流出タイプを用いる場合は,次の要求事項を満たさなければならない。に対する要求事項は規定しない。電流流入タイプを用いる場合は特別な注意が必要である。 (電流流人タイプを用いる場合は,OSSD出力回路が基準電位に短絡すると機械のFSDに対参考…備考1.は,正極性の電源を用いる場合を想定している..2.定格電源電圧+24Vで用いる場合,オン状態,オフ状態に対する出力電圧·電流值は下表の定格電源電圧オフ状態出力範囲出力範囲オフ状態出力電流+24Vdc-3V～+2Vr.m.s(+5Vピ一夕)+11V～+30V>6mA一装置への要求事項及び試験(5.2参照)を満たしている。他の電源電圧を用いる場合は,こOSSDの出力回路は,過電圧,過電流,及び短絡から保護しなければならない。OSSDの最大リーク電流は,障害(例えば,回路オープン)の場合を含め,2mAを超えてはならない。2個以上のOSSDを川いる場合,OSSD出力Ⅲの知絡は検出しなければならない。ーオン状態における,抵抗負荷と誘導負荷に対する定格出力電流及び最大出力電流ー才フ状態の最大電圧ー才フ状態における最大出力電流(リーク電流)一许容できる最大の容量性货荷容量一OSSDと負荷を結ぶ回路の許容4.2.4.4デ一夕通信インタフェは準備中である。4.2.5表示灯及びディスプレイESPEは,次の要件を満たす表示機器を備えなければならない。a)検知器が作動中であることを表示するもの:検知器が作動してからこの表示器の輝度が50%に達するまでの時間,及び検知器の作動終了からこの表示器の輝度が50%に滅衰するまでの時間は,いずB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)b)OSSDの出力状態を表示するもの:オン状態は緑の表示器で,オフ状態は赤の表示器で示さなければならない。2個以上のOSSDを迅携して川いる場合同色の表示器が2個以上ある場合は,それらの機能が混同されないようにマーキングしなければなら表示器は,機械オペレータのために設けるものであるから,検出区域の近くに取付け可能で,取り付けた状態でオペレータからよく見えなければならない。表示器は,検知器に統合してもよいし,検出区域の4.2.6調整手段すべての調整手段は,その調整範囲のどの点に設定しても,危険側故障を発生し得ないす手段がある場合は,それを切り離したとき,少なくも1個のOSSDが4.2.2に規定するオフ状態になら4.2.8非電気的構成品非電気的構成品は,使用目的に適したものでなければならない。4.2.9共通原因故障ESPEの設計は,次のことから生じる共通原因故障により,ESPEが危険側に故障一環境の影響備考1.共通原因故障は,取扱不良,製造不良などの原因で劣化した構成品を使用した場合にも生じ2.共通原因故障は,ǐ一故障として扱う。複数チャネルシステムでは,一つの半導体基材上にある構成品を二つ以上のチャしなければならない。この要求事項は,5.5に従って検証しなければならない。4.2.11.1一般事項次のいずれかの手段によってESPEに安全関連性能を組み込むむ場合は,4.2.11.2の要求事項を追加適用しなければならない。これらの要求事項に対する適合性は,5.5に従って検証しなければならない。て証拠となる文書を用意しなければならない。B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)c)開発の各段階を明確に定め,かつ,各段階の達成基準を規定した品質計画文書を作成しなければならない。開発段階の例としては,要求仕様作成,没汁仕様作成,検証,及び妥当性確認の各段陆がある。d)開発を開始する前に,危険源と故障モードを識別し,安全要求仕様の中のESPEの安全関連機能を明は全部を4.2.11に規定する手段に割り付け,各要素に必要な安全関連性能を決定する。必要な安全関連性能を達成するため,仕様決定,設計,製造,及び保全の各段階に適した工学技術を採用しなけれとを確認するために,評価者又は検証者(すなわち,設計者以外の者)が容易に安全要求仕様までトを実施しなければならない。開発期間中に,要求事項,仕様,設計などのすべての変更が適正に文書化されたこと,及びこれらの変更による影響がすべて分析され,すべての設計段階から安全要求仕様j)設計原則として,安全機能が破壊される可能性を最小にし,安全性能の評価を容易にするために,安4.3.1周囲温度範囲及び湿度ESPEは,0～50℃の周囲温度変化に対し,この規格の要求事項を満足しなければならない。この範囲外で使用する場合は,ESPE供給者は,そのシステムが正常運転を続けることのできる周囲温度範囲を仕様として定めなければならない。湿度95%(非結露状態),温度20℃B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.3.2.1電源電圧変動ESPEは,外部化源花圧を,公称低から0まで10～20秒をかけて連続的に変化さESPEは,内部で分配された電源の電圧を,一つずつ順に公称値から0まで,次に0から公称値まで,そ4.3.2.2瞬時停電ESPEは,表1の瞬時停電試験を適用したとき,試験1)及び試験2)においては正常運5交流又は直流の50V未満の電源ポート及さ1mを超える信号称などのポートJISC61000-4-4のレベル2,1kV(ピーク値)交流50V以上の電源ポートJISC61000-4-4のレベル3,2kV(ピーク値)長さ1mを超える信号線などのポート交流50V以上の電源ポート長さ1mを超える信号線のポート交流50V以上の電源線ポートード1kV(ピーク値)長さ1mを超える信号線のポート交流50V以上の電源線ポート4.3.2.5.2追加要求事項タイプ3及びタイプ4のESPEは,IEC61000-4-3の5.2の試験レベル4の30V/mB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.3.2.6.1一般要求事項ESPEは,次の無線川波花磁界による伝導妨背を加えたとき,正常迅忪を継続し長さ1~10mの信号線などの术一卜EC61000-4-6のレベル2,3V(実効值)長さ10mを超元る信号線术一卜EC61000-4-6のレベル3,10V(実効值)長さ1~10mの信号線などの术一卜IEC61000-4-6のレベル3,10V(実効值)長さ10mを超元る信号線术一卜IEC61000-4-6のレベX,30V(実効值)4.3.2.7.1一般要求事項ESPEは,JISC61000-4-2の試験レベル3の,接触放詫6kV又は気中放ǚ8kV4.3.2.7.2追加要求事項タイプ3及びタイプ4のESPEは,JISC61000-4-2の試験レベル4の,接触放4.3.3.1振動ESPEは,5.4.4.1に規定する振動試験を失施し,試験中,正常迅忪を継続しなければなら4.3.3.2バンプESPEは,5.4.4.2に規定するバンプ試験を実施し,試験中,正常運転を継続しなければて設置したとき,少なくともIP54(JISC0920参照)の保護等級を満足しなければならない。ただし備考次の方法は,機械的損傷の防止に有効である。一適切な強度をもつ材料と構造の採用二つの面をシールするために合成接着材を用いると,接着がはがれたあするので,保全作業のために取り外す可能性がある保護カバーのシールには,合成接着材を用いてはならェンクロージャは,必要なすべての調整作業と保全作業を安全かつ効B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)5.試験方法5.1.1.1試験用ESPEESPEのすべての部分は,可能な限り一緒に試験しなければならない。これが困難な場合には,ESPEの部分を別々に試験してもよい。組込形ESPE(機械に組み込まれ,通常は機械から切り離せないESPE)の環境試験は,この例に当たる。一除外又は省略した試験を,試験成績書に破壊を招く試験については,ESPE全体を試験する場合と同じ結果が得られるならば,ESPEの一部を用複数の異なる電源電圧で使用できるように設計したESPE(例えば,異なる用途に使用するもの)の試験には,複数のESPEを必要とする場合がある。ならない。すなわち,すべての周辺装置及びカバーを取り付け,電源に接続し,必要により外部保護導体5.1.2.1試験環境ESPEは,5.4で異なる規定を適用する場合を除き,次の条件で運転して試験しなけれ一定格電圧(又は,定格電圧範囲)一定格周波数(又は,定格周波数範囲)一周囲温度：20±5℃一相対湿度:25～75%一気圧:86～106kPa備考マーキング及びESPE附属文書に記載された値は,定格値とみなす。一電気量の測定:技術的に可能及びノ又は適切である限り±1%一相対湿度(RH)の測定:±3%RH一長さの測定:±1mm又は±1%のいずれか大きい方すべての測定は,温度が定常状態に達してから行わなければならない。温度の変B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)5.1.3試験結果5.に規定された試験と分析の結果は,文非化しなければならない。試験結果は条件とその条件から受けた影響の詳細を示す形に整理しなければならない。特殊な試験手順は,試験成績5.2.1検知機能ESPEの検知機能,検出能力インテグリティ,及び検出区域(例えば,サイズ,形状,5.2.2応答時間ESPEの応答時間は,系統的な分析と試験によって検証しなければならない。ESPEの応答時間は,検知器の作動を引き起こす事象の発生からOSSDが作動するまでの最大時間間隔が5.2.3.1一般事項ESPEが,正規の環境条件下では正常運転を継続し,異常な環境条件下又はESPEの5.2.3.2限定機能試験A(A試験)検出区域に侵人物がない状態で一定時間観察し,OSSDがオン状態5.2.3.3限定機能試験B(B試験)検出区域に侵入物がない状態で一定時間観察し,OSSDがオン状態試験片を検出区域から出すか,又は別な方法で検知器を作動させない状態に置く。これに応じてOSSDがオフ状態からオン状態に移行しなければならない。一定時間観察し,試験片が検出区域内にない状態又試験の要求条件によっては,上の試験は連続的にB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.2.6の要求事項が該当する場合は,これを検査及びC試験の実施により検証しなければならない。5.2.7構成部品の作動定格ESPE運転条件の全範囲において,ESPEの各構成部品がその構成部品の定格(電压.霊流なと)…内で用いられる(作動する)ことを,分析及びノ又は検査により検証しなければな5.2.8OSSD(出力信号開閉器)5.2.8.1一般事項各OSSD用に,別々の出力接続端子が設けてあることを検査により検証しなければなOSSDに過電流保護用の電流制限器が付いていること,又は電流制限器の取付法が使用上の情報に記載まることがないことを検証しなければならない。すべての試験は,供給者が規定する最大の誘導性負荷を最長の接続ケーブルで接続して行わなければならない。予見できる障害の例には次のものがあるが,すべての予見できる障害を考慮しなければならない。一OSSD間の短絡一接地線の断線一遮へい付きケーブルの遮へいの断線一誤配線5.3障害状態の性能試験5.3.1一般事項4.2.2に規定する単一障害を検証するために,すべての関連構成部品に対して障害の影響試験を行わなければならない。最初の単一障害の結果として更に障害が発生する場合は,最初の障害と引き続いて発生するすべての障害を合わせて単一障害とみなす。に規定する障害アイテムに対する考察結果を記録しなければならない。単一障害又は障害の組合せの結果析を試験結果の記述に含めなければならない。その記述に対して,5.5.4によって妥当性確認をしなければならない。この場合,分析結果の記述を確認する試験は抜取試験でよい。備考1.障害評価の典型的な手法には,IEC60812によるFMEA,IEC61025によるFTAなどがある。2.複雑な回路構成又は構成品(マイクロプロセッサ,完全冗長系など)の場合は,通常,構成20B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)えば,検出能力の喪失,応答時間の増加など)を招く障害である場合は,周期テスト機能により,4.2.2.3他の障害を順にすべて与えて取り除くことを繰り返し,追加する障害が危険な障害である場合は,ESPE他の障害を順にすべて与えて取り除くことを繰り返し,追加する障害が危険な障害である場合は,ESPEい限り,試験する必要はない。a)定格電源電圧の下限値に対し,B試験を行う。b)10～20秒をかけて電源電圧を定格の上限値まで上げ,その間A試験を行う。c)最高試験電源電圧に達した後,B試験を行う。周波数変動と高調波ひずみの要求事項については,試験又は分析的方法によって検証する。5.4.2周囲温度変化及び湿度次の試験の最高周囲温度は,マ一キング及びノ又はESPE附属文書に規定21B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)はESPE附屈文上に規定される値とするが,0b)周囲温度を1分間に0.3℃以下の速度で最高周囲温度まで上げ,その間A試験を行う。c)最高周囲温度で少なくとも2時間A試験を行う。その間湿度を95%まで上げ,少なくも1時状態を保ちA試験を行い,最後にB試験を行う。D最低周囲温度で少なくも2時間A試験を行う。最後にB試験を行う。5.4.3.3.1一般要求事項ESPEに,JISC61000-4-4に従い(すなわち,直流電源ポート,50V未満の交5.4.3.3.2追加試験タイプ3又はタイプ4のESPEは,更に,JISC61000-4-4に従5.4.3.4.1一般要求事項ESPEに,IEC61000-4-5に従い(すなわち,信号ポートへの結合にはIEC61000-4-5の図7を用い,その他の交流電源ポートへの結合にはIEC61000-4-5の図6及び図7を用いて),5.4.3.4.2追加試験タイプ3及びタイプ4のESPEは,更に...IEC61000-45に従い(すなわち,信号端各印加中にC試験を行わなければならない。5.4.3.5.1一般試験ESPEに,IEC61000-43の5.1に従い,4.3.2.5.1に規定したレベルの電磁界を加え(レベル3の電磁界中で),B試験を行わなければならない。備考この試験の結果は周囲の構造物に影響されるので,試験結果は,ESPEを機械に実装したとき規定するレベルの電磁界を加え(レベル4の電磁界中で),C試験を行わなければならない。備考この試験の結果は周囲の構造物に影響されるので,試験結果は,ESPEを機械に実装したとき5.4.3.6.1一般試験ESPEに,IEC61000-4-6に従い,4.3.2.6.1に規定するレベルの無線周波による伝導妨害を印加して,各ポートへの印加中にB試験を行わなければならない。5.4.3.6.2追加試験タイプ3及びタイプ4のESPEは,更に,IEC61000-4-6に従い,4.3.2.6.2に規定するレベルの無線周波による伝導妨害を印加して,各ポートへの印加中にC試験を行わなければならない。5.4.3.7.1一般試験ESPEに,JISC61000-4-2に従い,4.3.2.7.1に規定する静電気放電を印加して,各放電の印加中にB試験を行わなければならない。るレベルの静電気放電を印加して,各放電の印加中にC試験を行わなければならない。5.4.4.1振動ESPEに対して,JISC60068-2-6に従い,振動試験を行わなければならない。次の条件を適用する。M波数範H10～55Hz周波数変化率1オクターブ/分スイープ数互いに直交する3軸に対し各20回(共振周波数において遅れがないように)各軸に対して,次の部分的機能試験を行わなければならない。一各軸の最初と最後のスイープ時にA試験を行う。一第2のスイープの最初に試験片を検出区域に入れ,第19スイープの最後に取り出すことにより,B試験を行う。5.4.4.2バンプESPEに対して,JISC60068-2-29に従い,バンブ試験を行わなければならない。次の条件を適用する。加速度パルス幅バンプ回数互いに直交する3軸に対し各1000±10回各軸に対し,次の試験を行わなければならない。一最初と最後の100±10回のバンプ印加時にA試験を行う。一最初の100±10回のバンプ印加後に試験片を検出区域に入れてB試験を行う。23B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)書に含めた分析報告(試験に替えた分析)に対する妥当性確認について規定する。参考適格者(competentperson)体，妥当性確認左行之条件(力量，開発当事者加5の独立性など)を満たすことを,組織.社会などで認められた者をいう。ESPEに関する品質管理体系の運用に対して,ESPE開発記録文書の監査,及びESPEがライフサイクル24B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)備考1.集積回路のプログラムが不完全であると,ESPEは,主保護機能は正しく実行するが,障害プログラムの流れ,複雑な集積回路及びプログラマブル集積回路の作動を監視する手段の妥当性確認を行わなければならない。監視手段は,供給者が規定する安全関連性能レベル及びシステム構成に対し適切備考2.IEC61508-3に,更に詳しい記述がある。5.5.4試験結果分析報告5.3で要求される試験結果の分析を行った場合は,分析に用いた技術が適切で6.1一般事項JISB9700-2の6.4に従い,ESPEのすべての部分には,次のために必要なすべてのマーa)製品の識別(供給者の名称及び住所,型式又はシリーズ,製造番号及び製造年を含む。)c)検出能力d)応答時間e)定格電源電圧,相数,及び周波数fD定格電源入力電力(25Wを超える場合),又は定格電流g)保護等級(IP一下)の指定参考…クラス具装置(機器)とは,感電に対する保護を基礎絶緣だけに頼るのではなく,二重絶縁又は強化絶緑といった付加的な安全対策を講じている機器であって..保護アース又は設置条件のi)高電圧危険の警告標識25B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)6.4調節異なる定格電源電圧又は異なる電源入力に合わせて調節できるESPEは,設定した電圧又は6.7.1ESPEの据付時,又は保全作業実施後の再据付時にケーブルを接続する端子には,マーキングを行6.7.2外部接続用端子,及び使用者が交換できる部品を接続する端子には,マーキングを行い,接続図とこのマーキングは,他線を接続するとき又は切り離すときに取り外す可能性のある,ねじ,座金などの6.7.61台のESPEに複数の電源を接続する場合は,端子盤カパーを外す前にすべての電源を切り離すよ6.8マーキングの耐久性マ一キングは,この規格が規定する温度及び湿度,並びに水,石けん水,機7.附属文書ESPEの供給者は,使用者と合意した言語で文書を作成しなければならない。この附属文書には,据付け,使用,その後の廃棄及び次の該当事項について記載しなければならない。d)タイプ2のESPEにおいて,外部e)調整,運転又は無許可アクセス防止のためのかぎ(鍵)又は特殊工具がある場合は,これを責任者又26f検出能力の確認及び視覚表示の作動確認に用いる試験片の寸法及び型,並びに試験手順の説明,又は試験片を川いずに行う他の確認方法の说明g)応答時間一温度範囲一湿度一電圧範囲一ESPEサブシステム間の間隔設定範囲,及び接続ケー才ルの最大長k)すべての入力端子及び出力端子の位置m)OSSD及びSSD(SSDはある場合)が,抵抗性,容量性及び誘導性の負荷に対して開閉できる最小,ての説明ab)ESPE本体から離して遠方に取付け,接続するスイッチ,操作器,表示器の据付けah)その設置スペース内にESPEを支持,固定する手段の位置及ai)ESPEの各部分間,及びESPEと周囲取付品との間の最小間隔27B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)aj)ESPEと電源との接続方法,及び分離した構成品がある場合は,構成品間の接続方法al)ブランキング機能(モニ夕付き,モニタなし,固定,又は浮動式)又は検出能力を調節する機能をもISO9000-3:1997,Qualitymanagementandqualityassurancestandards—Part3:GuidelinesfortheapplicationofISO9001:1994tothedevelopment,supply,installationandmaintenanceofsoftware(品質管理及び品IEC61025:1990,Faulttreeanalysis(FTA)[故障のツリ一解析(FTA)]28B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)A.1一般事項ESPEには,本来の検知·保護機能だけで備考オプション機能を,ESPEの一部としてでなく,ESPEから分離した別装置として実行する場合は,その装置は関連する規格(例えば,JISB9705-1,IEC61508,IEC62061)の要求事項を満たすことが望ましい。この場合,この附属書の要求事項は,次の機器又は機能は,ESPEに対してはオ一SSD(A.4参照)一機械の再始動装置として用いるESPE(A.8参照)次の要求事項は最小限のものであり,すべての用途に対して十分であるとは言い切れない。この附属書の要求小頭は,リスクアセスメントの結果に片づき,他の則迅規格(例えば,JISB9960-1,JISB9705-1)が規定する関連要求事項と件せて適用することを意図している。A.2EDM(外部機器モ二夕)A.2.1機能要求事項EDMには,外部接点(例えば,FSD又はMPCEの接点)を監視する手段を備えなEDMが,監視対象機器のいずれか一つの異常を検出したとき,ESPEはロックアウト状態にならなけれA.2.2EDM障害時の要求事項ESPEは,EDMの障害に対して本体の4.2.2に従って反応しなければなA.2.3検証次のことを試験及び検査によって検証しなければならない。A.2.4使用のための情報ESPEの供給者は,EDMを監視対象機器等に接続するために必要な情報を提供しなければならない。供給者は,EDMの監視対象機器の種類を指定しなければならない。監視対象機器に特別な特性(例えば,機械的連動接点,入力の2重化,NO形接点,NC形接点など)が必要な場合は,それを指定する。外部接点の応答時間モニタがない場合は,接点応答時間モニタのために外部手段を必要とする場合があ29B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)A.3SPM(停止性能モ二夕)A.3.1機能要求事項SPMは,機械の危険部位が停止するまで又は安全状態に復帰するまでに要した時間,又は移動した距離に対応する信号をESPEに出力しなければならない。ESPEは,SPMからの信号がSPMは,総合システム停止性能を監視するため,自動的な停止性能試験を行わなければならない。性能試験を開始できなければならない。SPMの設定値を調節する手段は,かぎ(鍵),パスワード,又は特別の工具を用いなければアクセスでA.3.2SPM障害時の要求事項ESPEは,次のいずれかに応じて,ロックアウト状態に移行しなければな一停止性能の自動試験を開始又は完了できないとき。一SPMへ機械の運動を伝達する手段が故障したとき(二重の伝達手段を用いる場合は,そのいずれかがA.3.3検証検查により次の各事項を検証しなければならない。ータイプ4のESPEにあっては,SPMからESPEへ少なくも二つの独立した信号源があり,そのいずれ一ESPEからの信りに応じて,SPMが门動試験を間始する。一調整简所には,かざ(鍵),パスワード,又は特別の工具を用いなければアクセスできない。ーマーキングは,A.3.4に適合し,正しい。A.3.4SPMヘのマーキングSPM供給者は,次の情報を恒久的方法でSPMにマーキングしなければな一供給者の名称及び住所一型式番号及び製造番号A.4SSD(副開閉器)B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)れの場合もSSDはオフ状態になければならない。ESPEの電源をオンしたときは,OSSDがオン状態になる前に,自動試験によりSSDの安全関連機能の一SSDがオン状態に拘束される障害状態においてESPEの電源を投入したときは,OSSDはオフ状態にA.5.2起動亻ン夕一口ッ久障害時の要求事項起動亻ン夕一口ッ久が亻ン夕一口ッ久状熊(OSSDの才>タA.5.4表示起動インターロックによってOSを31B9704-1:2006(IE