JIS C 5932-2-2019 光アイソレーター第2 部試験方法

部:試験方法(OITDA/JSA)(日本規格協会発行)C5932-2:2019日本工業標準調査会標準第二部会構成表大大青青智智藤伊一般社団法人情報処理学会情報規格調査会(国立研究開発法人测岩测岩一般社团法人電子情報技術産業協会田内富雄田内一般財団法人日本規格協会正正崎江IEC/SMB日本代表委員(ソ二ー株式会社)井酒一般社団法人電気学会谷住谷住一般財団法人電気安全環境研究所村高村高全国地域婦人団体連絡協議会中田中田一般社団法人日本電機工業会田平田平IEC/CAB日本代表委員(富士ゼロックス株式会社)本水本水東京工業大学根山根山主婦連合会主務大臣:経济座業大臣制定:平成31.3.20官報公示:平成31.3.20原案作成者:一般財団法人光産業技術振興協会(于112-0014東京都文京区関口1-20-10住友江戸川橋职前ビルTEL03-5225-6431)審議部会:日本工業標準調査会標準第二部会(部会長大崎博之)この規格についての意見又は質問は,上記原案作成者又は経済産業省産業技術環境局国際電気標準課(F100-8901会の審議に付され,速やかに,確認,改正又は廃止されます。C5932-2:2019●序文 1 12引用規格 13用語及び定義 24試験の状態 2 24.2基準状態 24.3判定状態 24.4試験場所の状態 25外観及び構造 26共通装置 2 2 26.3光パワーメー夕(D) 36.4偏光回転器 36.5光プランチングテパイス 37光学特性試験 3 3 67.3反射減衰量 g7.4偏光依存性損失 g g7.6最大入力光パワー 98耐環境性及び耐久性試験 9試験報告書 著作権法により無断での被裂,転截等は禁止されております。JISC5932-2第2部:試験方法●●JISC5877-1偏光子一第1部:通則2C5932-2:20193用語及び定義3.1果又は測定値の換算方法を個別に規定した場合の基準状態は,4.2による。さらに,標準状態で測定するのうち,温度20℃±2℃,相対湿度60%～70%,及び気圧86kPa～106kPaとする。4.4試験場所の状態5外観及び構造外観及び構造の試験方法は,JISC61300-3-1による。3C5932-2:2019dB以内のものを用い,それ以外の場合は,精度を試験報告書に記載する。光パワーメータは,測定に必要空間ビーム光を光パワーメータに入射する場合で,受光素子の受光面全体にわたる感度分布の一様性に偏光消光比は,別途規定がない場合,20dB以上とする。偏光消光比が不十分である場合は,偏光子を用a)光源b)光パワーメータの揮入損失を測定する方法である。方法2及び方法3は,空間ビーム光で入出射する光アイソレータの揮注記揮入損失の測定系の機構的な構成において,方法1及び方法2では光アイソレータに入射する4C5932-2:2019きる限り端面に垂直に近い角度で入射するように調整する。て測定する。を順方向に配置する。率の最大値Tmxから,式(1)で揮入損失arを求める。Tmax:偏光状態を変化させて得た透過率の最大値透過率Tから,式(2)で揮入損失arを求める。T:指定の偏光状態で入力させて得た透過率一偏光無依存形光アイソレータの場合,偏光状態を変化させて得た透過率の最小値Tminから,式(3)Tmin:偏光状態を変化させて得た透過率の最小値5C5932-2:2019● 供試品 供試品供試品供試品● 供試品3)各角度での揮入損失arを,式(4)で求める。6C5932-2:2019偏光回転器偏光回転器●3)揮入損失arを,式(5)で求める。この試験の方法4に用いる装置は,JISC61300-3-2による。また,方法5及び方法6に用いる装置は,c)偏光回転器●著作権法により無断での複製,転截等は禁止されております。7,個別規格に規定する使用波長範囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波長において測定する。角度での出射する光パワーP₄を測定する。8C5932-2:2019………………(7)偏光回転器図4ー出射する光パワーの測定測定系を構成し,入射する光パワーP3’を測定する。2)図2の構成に供試品として光アイソレータを逆方向に揮入して図4の構成とし,光軸を中心に光アイソレータを回転させ,出射する最大の光パ…………………(8)P3':入射する光パワー(W)7.3反射減衰量ソレータに関する反射減衰量の測定に用いる装置及び測定方法は,JISC61300-3-6による。反射減衰量は,個別規格に規定する使用波長範囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波長において測定する。7.4偏光依存性損失依存形光アイソレータに関する偏光依存性損失の測定に用いる装置及び測定方法は,JISC61300-3-2による。偏光依存性損失は,個別規格に規定する使用波長範囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波7.5偏波モード分散依存形光アイソレータに関する偏波モード分散の測定に用いる装置及び測定方法は,JISC61300-3-32による。偏波モード分散は,個別規格に規定する使用波長範囲の中心波長において測定する。9C5932-2:2019(装置)に,測定方法はJISC61300-2-14:2011の6.5(試験3)による。順方向及び逆方向に同時に光を入力して最大入力光パワーを測定する場合は,まず,揮入損失,アイソに規定する測定方法で測定する。順方向及び逆方向に同時に光を入力する場合の測定系の例を図7に示最大入力光パワーは,個別規格に規定する公称波長において測定する。供試品D2D2BDP1D3供試品D2BDP1TD1T供試品供試品BD1D1D1BD2図7一順方向及び逆方向に最大入力光パワーを入力する場合の接続例(接続3)●C5932-2:2019b)合格判定数又は検査水準a)規格番号c)試験環境条件光学特性試験に用いた光源の詳細について,次の項目を記載する。一光源の種類一揮入損失h)試験年月日部:試験方法1今回の制定までの経緯なすJISC5932(光アイソレータ通則)が2006(平成18)年に改正されたことを受けて,2012(平成24)試験方法を新たに規定として加え,通則,試験方法,個別規格を部構成とする規格体系に従って規格番号今回,2017(平成29)年度から,一般財団法人光産業技術振興協会の光受動部品標準化委員会において2今回の制定の趣旨この規格は,2012(平成24)年に改正されたJISC5933を基に,最大入力光パワーの試験方法を規定と3審議中に特に問題となった事項今回のこの規格の審議において問題となった主な事項及び審議結果は,次のとおりである。a)試験の状態(簡条4)旧規格では,試験の標準状態として,JISC60068-1の標準大気条件に規定する大気条件の標準範囲で行うことと規定していた。JISC60068-1の標準大気条件は,電子部品の試験の状態を規定するものであるが,光受動部品の試験の標準的な環境条件についてはJISC61300-1で規定している。JISC60068-1で規定する標準大気条件では,15℃~35℃を標準的温度範囲としているが,JISC61300-1で規定する試験及び測定の標準的環境条件の温度範囲は18℃~28℃である。この規格で規定する光アイソレータでは,特性の温度依存性が比較的大きな磁気光学材料が用いられる。審議の結果,この規格ではJISC61300-1で規定する試験及び測定の標準的環境条件を,4規定項目の内容4.1用語及び定義(簡条3)C5932-2:2019解説4.3外観及び構造(簡条5)4.5.4偏光依存性損失(7.4)て偏光依存性損失の測定を規定し,測定に用いる装置及び測定方法は光受動部品共通の測定方法であるて偏波モード分散の測定を規定し,測定に用いる装置及び測定方法は光受動部品共通の測定方法である順方向,逆方向及び両方向同時に高パワー光が入射する3通りの場合について最大入力光パワーを測定4.6耐環境性及び耐久性試験(簡条8)光アイソレータの耐環境性及び耐久性に関する試験条件,試料数及び合格判定数又は検査水準は,性能4.7試験報告書(簡条9)5その他の解説事項この規格と旧規格(JISC5933)との対比を解説表1に示す。解説表1ーこの規格と旧規格との対比細分簡条規定内容細分簡条規定内容2引用規格一JISC61300-3-12引用規格JISC61300-3-32態態準的環境条件)に規定する試験及び測定の標準環境条件態態及び試験のための標準大気条件(標準状態)]に規定する大気条件の標準範囲構造一構造一6共通装置最大入力光パワーを測定規定なし7光学特性試験7.6最大入光学特性の試験方法として新たに規定規定なし6原案作成委員会の構成表原案作成委員会の構成表を,次に示す。光受動部品標準化委員会構成表氏名所属(委員長)弥哲本水東京工業大学(委員)清吉更水田田祐知裕貴也司一般財団法人日本規格協会経济産業省商務情報政策局(平成30年3月まで)経済産業省商務情報政策局(平成30年4月から)松松高和波岩畑增高碳内駒森村绵小木(事務局)田田林下野田子橋林下野田子橋浦橋村山田贯田谷大博健恒多栄浩信隆幸一郎輔輔之治夫実司東北学院大学上智大学富士通株式会社株式会社白山冲電気工業株式会社古河電気工業株式会社一般財団法人電気安全環境研究所京セラ株式会社経済産業省産業技術環境局一般財団法人光産業技