GB/Z 119-2026晶体硅光伏组件光热诱导衰减(LETID)试验检测

ICS27160

CCSK.83

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z119—2026/IECTS633422022

:

晶体硅光伏组件

光热诱导衰减LETID试验检测

()

C-SihotovoltaicPVmodules—Lihtandelevatedtemerature

p()gp

inducedderadationLETIDtest—Detection

g()

IECTS633422022IDT

(:,)

2026-01-04发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/Z119—2026/IECTS633422022

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

样品

4………………………2

试验设备

5…………………2

试验方法

6…………………2

概述

6.1…………………2

外观检查

6.2……………3

电致发光试验

6.3………………………3

标准测试条件下的性能性能

6.4(STC)………………3

电注入法进行硼氧复合体光衰预处理

6.5(CID)(BO-LID)…………3

光热诱导衰减

6.6………………………4

暗电压分析

7………………5

概述

7.1…………………5

数据选择

7.2……………5

温度校正

7.3……………5

数据平均

7.4……………5

停止准则

7.5……………5

分析

8………………………6

检测报告

9…………………6

Ⅰ

GB/Z119—2026/IECTS633422022

:

前言

本文件为规范类指导性技术文件

。

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件等同采用晶体硅光伏组件光热诱导衰减试验检测文

IECTS63342:2022《(LETID)》,

件类型由的技术规范调整为我国的国家标准化指导性技术文件

IEC。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动

:

删除了国际标准的参考文献

———。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会归口

(SAC/TC90)。

本文件起草单位常熟阿特斯阳光电力科技有限公司中国电子技术标准化研究院中国科学院微

:、、

电子研究所阿特斯阳光电力集团股份有限公司隆基绿能科技股份有限公司东方日升新能源股份有

、、、

限公司上海电气集团股份有限公司浙江鉴衡检测技术有限公司

、、。

本文件主要起草人许涛庄天奇葛华云黄婷李振国裴会川郭素琴冯春暖刘亚锋徐敏伟

:、、、、、、、、、、

陈磊

。

Ⅲ

GB/Z119—2026/IECTS633422022

:

引言

本文件旨在通过在高温下注入电流来评估晶体硅光伏组件的光热诱导衰减效应

(LETID)。LeTID

现象是由在以上的高温下通过光照或注入电流产生的过量载流子激发在户外使用中

50℃。,LETID

会在几个月甚至几年的过程中形成而硼氧衰减相反只需要几天的时间衰减后是更

,(B-O),。LETID

慢长的恢复阶段本文件仅使用电流注入法检测

。LETID。

本文件未讨论和铁硼相关的衰减现象这些现象会在室温和光照条件下快速发生

B-O(Fe-B),。B-

缺陷可能会影响测试结果本文件试图通过特定步骤将其分离但分离效果可能不完美缺陷

O,,。Fe-B

的影响性通过在功率确定之前引入静置时间来排除

。

本文件所规定的测试程序可用于揭示样品对衰减机制的敏感性但不能精确测量其在户

LETID,

外实际的衰减情况户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术

。。

在本文件中考虑到测试设备测试采用较为简单的电流注入法与光照法相比电流注入

,,LETID。,

法更易控制测试条件从而确保不同实验室之间的可比性同等的光照条件即相同的温度和过量载流

,。(

子密度注入水平将产生可比较的结果

/)。

本文件中的应力条件在注入水平上与中描述的电池测试方法不同

IECTS63202-4。IECTS63202-4

旨在为已知电池提供快速的质量检验可用于特定产品的出厂或来料检验本文件的测试程序旨在提供

,。

一种通用的与产品无关的检测方法该方法可以在组件内电池情况未知的条件下应用并产生可

、LETID,,

重复的结果

。

Ⅳ

GB/Z119—2026/IECTS633422022

:

晶体硅光伏组件

光热诱导衰减LETID试验检测

()

1范围

本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减的试验方法包括仪器装置样品准备测试

(LETID),、、

步骤结果处理和报告内容等

、。

本文件适用于晶体硅光伏组件用于揭示样品对衰减机制的敏感性但不能精确测量其在

,LETID,

户外实际的衰减情况户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术

。。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

地面用光伏组件设计鉴定和定型第部分试验要求

GB/T9535.1—20251:(IEC61215-1:

2021,IDT)

地面用光伏组件设计鉴定和定型第部分试验程序

GB/T9535.2—20252:(IEC61215-2:

2021,IDT)

太阳能光伏发电系统术语定义和符号

IECTS61836、(Solarphotovoltaicenergysystems—

Terms,definitionsandsymbols)

注太阳光伏能源系统术语

:GB/T2297—2025(IECTS61836:2016,NEQ)

地面用光伏组件设计鉴定和定型第部分试验要求

IEC61215-11(Terrestrialphotovoltaic

(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part1:Testrequirements)

注地面用光伏组件设计鉴定和定型第部分试验要求

:GB/T9535.1—20251:(IEC61215-1:2021,IDT)

地面用光伏组件设计鉴定和定型第部分试验程序

IEC61215-22:(Terrestrialphotovoltaic

(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval