卫星星载计算机数据存储模块调试技师（中级）考试试卷及答案

卫星星载计算机数据存储模块调试技师（中级）考试试卷及答案填空题（共10题，每题1分）1.星载计算机数据存储模块常用的非易失性存储介质包括NANDFlash、MRAM和______。2.星载存储模块与计算机核心的常用高速串行接口是______。3.星载存储调试中检测数据完整性的常用校验算法是______。4.星载存储需应对的主要辐射效应包括SEU、SEL和______。5.存储冗余设计中，热备份的特点是______。6.星载存储的典型工作温度范围是______（℃）。7.逻辑分析仪调试存储模块时主要捕获______信号。8.存储模块功耗指标包括静态功耗和______功耗。9.1+1备份存储的含义是______。10.存储模块可靠性指标常用______（平均无故障时间）表示。填空题答案1.EEPROM；2.SpaceWire；3.CRC；4.单粒子烧毁（SEB）；5.主备同时上电工作，故障自动切换；6.-55~+125；7.数字；8.动态；9.1主1备存储模块；10.MTBF单项选择题（共10题，每题2分）1.星载大容量数据存储首选介质是？A.NORFlashB.NANDFlashC.DRAMD.SRAM2.存储模块核心功能不包括？A.数据存储B.数据校验C.实时视频压缩D.数据传输3.星载低速接口是？A.SpaceWireB.LVDSC.SPID.CAN（高速）4.EDAC主要解决存储中的哪种问题？A.辐射数据错误B.接口速率不足C.容量不够D.功耗过高5.存储调试环境测试不包括？A.高低温B.振动C.辐射D.软件功能测试6.SEU对存储数据的影响是？A.永久损坏B.临时可纠正错误C.模块烧毁D.无影响7.非易失性存储介质是？A.SDRAMB.DRAMC.MRAMD.SRAM8.冷备份存储的特点是？A.主备同时工作B.备用断电，故障时上电C.主备交替D.无备用9.模拟星载辐射环境的设备是？A.振动台B.高低温箱C.粒子加速器D.逻辑分析仪10.存储性能指标不包括？A.容量B.传输速率C.抗辐射等级D.软件版本单项选择题答案1.B；2.C；3.C；4.A；5.D；6.B；7.C；8.B；9.C；10.D多项选择题（共10题，每题2分）1.星载存储加固措施包括？A.抗辐射B.抗振动C.抗温度D.抗真空2.存储常用接口有？A.SpaceWireB.CANC.LVDSD.SPI3.存储故障类型包括？A.硬件故障B.软件故障C.环境故障D.数据故障4.存储调试步骤有？A.功能测试B.环境测试C.辐射测试D.可靠性测试5.存储校验方法有？A.CRCB.EDACC.奇偶校验D.汉明码6.存储冗余设计类型有？A.1+1备份B.N+1备份C.热备份D.冷备份7.星载环境对存储的要求有？A.高低温耐受B.抗辐射C.抗振动D.低功耗8.存储调试工具包括？A.逻辑分析仪B.信号发生器C.辐射设备D.振动台9.存储性能指标包括？A.容量B.传输速率C.静态功耗D.MTBF10.存储备份机制包括？A.实时备份B.定时备份C.事件触发备份D.手动备份多项选择题答案1.ABCD；2.ABCD；3.ABCD；4.ABCD；5.ABCD；6.ABCD；7.ABCD；8.ABCD；9.ABCD；10.ABCD判断题（共10题，每题2分）1.NANDFlash容量比NORFlash大，适合星载大容量存储。（√）2.SpaceWire是星载低速串行接口。（×）3.EDAC只能检测错误，不能纠正。（×）4.星载存储不需要考虑功耗。（×）5.SEL是可逆故障，断电可恢复。（×）6.SPI传输速率比CAN快。（×）7.MRAM是易失性存储介质。（×）8.存储调试需包含辐射测试。（√）9.热备份比冷备份切换速度快。（√）10.存储校验只需写入时进行，读取时不需要。（×）简答题（共4题，每题5分）1.简述星载存储模块的主要功能。答案：①数据存储：存储卫星科学数据、遥测/指令数据；②数据校验：通过CRC、EDAC保证数据完整性；③数据传输：与星载计算机、外部设备交互；④冗余备份：热/冷备份提高可靠性；⑤环境适应：耐受高低温、辐射、振动，避免数据丢失。2.简述NANDFlash与NORFlash的星载应用区别。答案：①容量：NAND大（适合数据存储），NOR小（适合代码存储）；②读写：NAND写入快、读取慢，NOR读取快、写入慢；③接口：NAND常用并行/串行，NOR常用SPI；④抗辐射：NAND抗辐射弱于加固NOR，但EDAC可弥补；⑤场景：NAND存数据，NOR存引导代码。3.存储调试常用故障定位方法有哪些？答案：①信号分析：逻辑分析仪捕获接口信号，定位硬件/时序故障；②功能测试：模拟工况验证读写/校验；③环境测试：高低温、振动、辐射下复现故障；④日志分析：查看模块日志定位错误；⑤替换法：替换可疑芯片/模块定位故障部件。4.简述EDAC在星载存储中的作用。答案：①检测：通过汉明码/CRC检测辐射（SEU）导致的错误；②纠正：1位错误可直接纠正，多位错误告警；③提高可靠性：降低数据错误率，避免任务失败；④适配星载：满足长寿命、高可靠需求，减少数据丢失风险。讨论题（共2题，每题5分）1.如何针对星载环境（辐射、温度、振动）设计存储调试方案？答案：①辐射环境：用粒子加速器模拟SEU/SEL，测试数据错误率及EDAC纠正效果；②温度环境：高低温箱设置-55~+125℃，测试读写速度、功耗及数据完整性；③振动环境：振动台模拟发射/在轨振动，测试机械稳定性及信号传输；④综合测试：三者结合模拟在轨环境，验证整体可靠性；⑤故障注入：主动注入干扰，测试故障恢复能力。2.存储模块出现数据丢失故障，可能原因及排查步骤？答案：可能原因：①辐射：SEU未纠正、SEL导致重启；②硬件：存储芯片损坏、接口接触不良；③软件：校验