CN115938450B 晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质 （成都海光集成电路设计有限公司）

A1,2011.05.12A1,2022.03.03由贸易试验区成都高新区和乐二街对晶圆中每颗芯片的每个测试条目进行晶圆测芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的次完成所有相关量产工序后发送的触发文件之关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果2对晶圆中每颗芯片的每个测试条目进行晶圆测试，根据各测试条目对所述晶圆测试结果记录文件进行解析和整理，得到芯片的标记在接收到晶圆批次完成所有相关量产工序后发送的触发文件之片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所对晶圆中每颗芯片按照批次、片号以及坐标位置进行逐一编号，记第一归类单元，用于对晶圆中每颗芯片的每个测试条目进芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间第二归类单元，用于在接收到晶圆批次完成所有相关量产工序后发送的触发文件之3晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆每个测试条目的测试结果，从线下处理归类优先级配置表中查到得到芯片的最终归类结述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一4效的实现不同产品规格的配置要求与生产需求的精准匹配，并完成芯片的快速准确归类。影响后续封装测试等生产环节的成本以及市场规格的满试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应5及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯类别为晶圆测试中需要中断、不存在测试条件合理性问题或者不可降规格使用的测试条颗芯片的初始归类结果包括：根据各测试条目所属的测试类别及其对应的晶圆测试结果，在测试条目结果匹配关系表中查找得到每颗芯片对应的初始归的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶类别为晶圆测试中需要中断、不存在测试条件合理性问题或者不可降规格使用的测试条6与最终归类结果的对应关系；当芯片的初始归类结果对应的预处理标识不为预定标识时，化利用。[0030]图3为本发明实施例提供的晶圆中每颗芯片的标记信息与初始归类结果的对应关7各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以[0044]S21、对晶圆测试的各测试条目是否需要进行线下分类进行区分定义，然后通过保护的测试失效等。测试类别B的测试条目主要包括测试条件的合理性需要更多验证或者8555555555666666666……………[0049](3)综合包括测试类别A和测试类别B的所有测试条目的测试结果，由测试程序实9[0055](1)当每一片晶圆完成晶圆测试并生成晶圆测试结果记录文件后，将该晶圆测试结果记录文件传送至晶圆测试数据存储服务器，晶圆测试数据存储服务器根据制定的格示，线下处理归类适用范围配置表定义了每颗芯片线上晶圆测试程序实现的归类结果1111110011110000……线上晶圆测试程序实现的初始归类结果作为最终归0102030405060102030405060102030405060101………………下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果，并根据芯片的初始归类结果对应的预处理标识，类别为晶圆测试中需要中断、不存在测试条件合理性问题或者不可降规格使用的测试条级与最终归类结果的对应关系；当芯片的初始归类结果对应的预处理标识不为预定标识碟、光盘、只读存储记忆体(Read_OnlyMemory，ROM)或随机存储记忆体(Ra