2024阵列天线增益校准规范（紧缩场法）

CalibrationSpecificationofArrayAntennaGain(CompactRange引 范引 范 引用文 术语和计量单 概 计量特 增益 校准条 环境条 测量标准及其他设 校准项目和校准方 校准项 校准方 校准结果表 复校时间间隔 原始记录内页格 校准证书内页格 主要项目校准不确定度评定示 可选的射频系统方 11GHz~40GHz的阵列天线的紧缩场法增益校准。其他频11GHz~40GHz的阵列天线的紧缩场法增益校准。其他频2IEEEStd145TM-2013 IEEE标准天线术语定义（IEEEStandardforDefinitionsofTermsforAntennas）IEEEStd149TM-2021IEEE天线测量推荐规范（IEEERecommendedPracticeforAntennaMeasurements）3GPPTS38.141-2V18.6.0（2024-08）NR;基站(BS)2部分：辐射一致性测试（NR;BaseStation(BS)conformancetestingPart2:Radiatedconformancetesting）其最新版本（包括所有的修改单）3阵列天线（array增益紧缩场（compact4155.1155.1增益：0dBi~40dBi66.1（23±5）℃（220±1）V（50±1）Hz1GHz~40GHz；幅度波纹：±0.5dB交叉极化：优于-30dB频率范围：1GHz~40dB（k=2；dB（k=2；2dB（k=26.2.3矢量网络分析仪及校准套件频率范围：1GHz~40GHz；动态范围：≥60dB；77.111先利用校准套件对与网络分析仪端口相连的电缆末端执行“开路-短路-匹配”VSWRVSWRA.17.2.22PT；利用网络分析仪进行连接电缆端口反射系数测量，得到L利用网络分析仪进行待测天线端口反射系数测量，得到TA.2e)从计量校准证书中获取参考天线增益G和参考天线端口反射系数Sf)根据公式（7-3）或者（7-4）计算端口阻抗修正值MC2PT；利用网络分析仪进行连接电缆端口反射系数测量，得到L利用网络分析仪进行待测天线端口反射系数测量，得到TA.2e)从计量校准证书中获取参考天线增益G和参考天线端口反射系数Sf)根据公式（7-3）或者（7-4）计算端口阻抗修正值MC12M=10 T（7-1012TS定L为连接电缆的端口反射系数，那么（7-3）M=10（7-2121T12methodmethodSTGTdB=GSdBPTdBPS（7-MCGTdB=GSdBPTdBPSdB+MC根据公式（7-2）计算待测阵列天线增益GTA.3g（7-8标题：“校准证书进行校准的地点(如果与实验室的地址不同证书的唯一性标识(如编号)991外观及工作正常性检查 外观及工作正常性检查 频率G频率G(C-dBPPdB(C-dBPPdB （C-KSCAPR+FAP=21 PS=S21SKDSLCFAUPRRL+FLATAR(C-S21TS21SdB标准不确定度分量为uSKDSL——低噪声放大器（LNA）CF在评估待测天线的增益GT测量不确定度时，需要考虑公式(C-2)和(C-3ci u2Gu2G+u2Su2M在评估待测天线的增益GT测量不确定度时，需要考虑公式(C-2)和(C-3ci u2Gu2G+u2Su2Mc c c c c 22222 c c c c 22222 Cc11，c22，c32，c42，c52，c62，c72，c82，c92，c10 校准证书中给出的扩展不确定度为0.2dB（k=2，正态分布，则标准不确定度为小于-70dB0小于-70dB00.0060.3dB，0.348dB，U0.247dB0.138dB，0.348dB，U0.247dB0.138dB，0.16dB知天线进行现场探测来评估。本例中，最大偏差为0dB0.05dB0.066dB 经过评定，增益合成标准不确0.40dBC.1UU0.05dB0.066dB 经过评定，增益合成标准不确0.40dBC.1UUU k=2U k=2Ukuc=0.8D.1所示。D.1所示。D.1频谱分析仪需满