华北理工无机材料岩相分析课件第5章 偏光显微镜下的晶体光学性质

第五章偏光显微镜下晶体的光学性质本章要点：●熟悉偏光显微镜的构造并学会使用和调节；●单偏光镜下晶体光学性质、特征及观察方法；●正交偏光镜下晶体光学性质、特征及观察方法；●学会消光角及延性符号的测定方法；●锥光镜下不同切面干涉图的特征。§5-1偏光显微镜及样片制备本节要点：●熟悉偏光显微镜的构造；●掌握使用和调节偏光镜的方法；●了解显微镜下各种样片的制作方法。1一目镜2一镜筒3一勃氏镜4一上偏光镜5一试板孔6一物镜定位器7一物镜座8一物镜9一载物台10一聚光镜11一下偏光镜12一滤色片13一反光镜14一镜座15一镜臂16一微动螺丝17一粗动螺丝一、偏光显微镜的构造二、偏光显微镜的调节与校正l.装卸镜头(l)装目镜将选用的目镜插入镜筒上端，使十宇丝在前后、左右方向上。(2)装卸物镜因显微镜类型不同，物镜的装卸有下列几种情况：

l)如果几个不同倍数的镜头已安装于一个可以转动的圆盘上，将需用的物镜转到镜筒之下即可。但必须转到似有阻碍时为止，转过头或未转到位置都会使物镜偏离镜筒中轴。

2)有的显微镜是利用螺旋来装卸镜头的，在镜筒之下有螺丝口，将选用的物镜旋上即可。

3)某些显微镜是以弹簧夹将物镜夹住，但必须将物镜上的小钉夹干夹子的凹处，才能卡紧。2.调节照明(对光)

装上中倍物镜(10x或8x)与目镜以后，轻轻推出上偏光镜与勃氏镜，打开锁光圈，转动反光镜对准光源，直到视域最亮为止。注：不要把反光镜直接对准太阳光，因为太阳光太强，容易使眼睛疲劳。3.调节焦距(准焦)(1)将欲观察的矿物薄片(必须使盖玻璃向上)置于载物台中心，用弹簧夹夹紧。

(2)从侧面看着镜头，转动粗动螺旋，将镜筒下降到最低位置。

(3)从目镜中观察，同时转动粗动螺旋使镜筒缓缓上升，直至视域内物象清楚为止。注意：①绝不能眼晴看着镜筒内而下降镜筒，高倍物镜尤应注意。

②要学会两眼同时睁开看，既保护视力，又便于绘图。4.校正中心

载物台的旋转轴、镜筒中轴、物镜中轴和目镜中轴应当严格在一条直线上。此时旋转物台视城中心的物象不动，其余物象绕视域中心作圆周运动。

⑴任选一特征点a置于十字丝中心；

⑵转载物台180°，a距中心最远a’；

⑶扭动校正螺丝，使a’移到aa’的一半处；

⑷用手移动薄片，将a’点置中心，旋转物台，看是否偏移。重复以上步骤，直至不偏移为止。注意：校正前必须检查物镜安装位置是否正确。5.偏光镜的校正

⑴检查下偏光振动方向：在薄片中找一个具有解理缝的黑云母矿物，置视域中心，旋转载物台，使黑云母颜色达到最深为止，此时黑云母解理纹方向即为下偏光振动方向。此时解理缝方向与十字丝之一平行。否则，调下偏光。

⑵上、下偏光振动方向是否正交：

单偏光下，推入上偏光，视域黑暗。

注意：不放薄片。⑶上、下偏光振动方向是否与十字丝平行使黑云母解理纹平行十字丝之一且颜色达最深，拿掉薄片，推入上偏光，视域黑暗。否则，转动上偏光使视域达全黑为止。三、显微镜下各种样片制备■薄片制备：

切（2.5xl.5x0.5cm）—粗磨、细磨—粘在载玻片上—磨另一面至0.03mm—盖上盖玻片。薄片构造由盖玻片、矿片、载玻片三部分组成。■光片制备：切（2×1.5×lcm）—粗磨、细磨—抛光—洗净、擦干—涂漆标号。■光薄片制备：切—磨至0.03mm—抛光。即薄片不加盖玻片，须抛光。§5-2单偏光镜下的晶体光学性质本节要点：●了解单偏光镜的装置及光学特点；●熟悉单偏光镜各种光学性质观察、测定方法；●掌握解理及其夹角的测定；●掌握糙面、突起、贝克线、闪突起的概念。■单偏光镜:只用一个偏光镜，常用下偏光镜。■单偏光镜下观察测定的主要光学性质：

★形态、解理及其夹角；

★颜色、多色性及吸收性；

★突起、糙面、贝克线、边缘、色散效应；

★矿物的颗粒大小、百分含量等。一、晶体的形态根据晶体发育程度，将矿物形态分为：自形晶：晶形完整规则,多呈规则多边形,边棱全为直线。早期结晶，或结晶力强在缓慢冷却条件下形成。

半自形晶：晶形较完整，部分晶棱为直线，部分为不规则曲线。析晶较晚或冷却较快。

他形晶：不规则粒状，晶棱均为他形曲线。析晶最晚或冷却很快。二、解理及其夹角的测定薄片中晶体的解理表现为沿一定方向平行排列的细缝(解理面与切面的交线)—解理缝。缝与缝之间的间距往往大致相等。1.解理的分级：据解理缝特征，分为三个等级：

极完全解理：细、密、长而连续；云母

完全解理：较粗，间距较宽，部分不连续；角闪石、辉石

不完全解理：断断续续，勉强能看出大致方向。橄榄石2.解理夹角的测定①选择垂直两组解理的切面（两组解理缝细而清楚，升降镜筒时解理缝不向两边移动）。②使一组解理缝平行目镜十字丝的竖丝，记下载物台上读数为a。③

旋转载物台，使另一组解理缝平行竖丝，读数为b，两次读数之差(b-a)即为所得。三、颜色和多色性1.颜色：矿物薄片呈现的颜色是矿片对白光中各单色光波选择吸收（不等量吸收）的结果。吸收光的补色。

☆薄片中矿物颜色的深浅，与矿物本身的吸收能力和矿片厚度有关：吸收能力越强，颜色越深；矿片越厚，颜色越深。2.多色性和吸收性：非均质体矿物的颜色和浓度是随方向而改变的。在单偏光镜下旋转物台时，矿物颜色发生改变的现象称为多色性；颜色深浅发生改变的现象称为吸收性。★多色性和吸收性是非均质体矿物所特有。●一轴晶矿物：有两个主要颜色，分别与Ne、No相当。如：电气石为负光性（No＞Ne），将∥Z轴的切片置于单偏光镜下。Ne=浅紫，No=深蓝(多色性公式)；No＞Ne(吸收性公式)。电气石平行Z轴切片的多色性现象●二轴晶矿物：三个主要颜色，与Ng、Nm、Np相当。

平行光轴面的切面：

Ng、Np的颜色，多色性明显；

垂直光轴的切面：Nm的颜色，不具多色性；

垂直Bxa的切面：

Nm、Np(正光性)或Nm、Ng(负光性）的颜色，其多色性明显程度介于二者之间。

薄片愈厚，多色性愈显著。

☆

测定多色性公式必须在定向切片上进行。测二轴晶矿物的多色性，至少需两个方向的切面。多色性和吸收性的记录方式，如普通角闪石：多色性公式：Ng=深绿色，Nm=绿色，Np=浅黄绿色。吸收性公式：Ng＞Nm＞Np(正吸收)。如果Np＞Nm＞Ng称为反吸收。☆多色性分级：极明显：黑云母明显：普通角闪石不太明显：紫苏辉石☆影响多色性的因素：

①矿物本身性质。如普通辉石无多色性。

②切片方向。∥OA或AP--最明显，⊥OA—无多色性

③薄片厚度。愈厚，愈显著。思考题：矿物的多色性在什么方向切面上最明显？为什么？测定一轴晶、二轴晶矿物的多色性公式，需选择什么方向的切面？四、贝克线、糙面、突起及闪突起

1.矿物的轮廓与贝克线

★轮廓：在两个折射率不同的物质接触处，可看到较黑暗的边缘。★贝克线：在轮廓附近可看到一条比较明亮的细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条较亮的细线称为贝克线。

★贝克线移动的规律：提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动；下降镜筒，贝克线向折射率小的介质移动。确定相邻两物质的折射率的相对大小（一般与树胶比较）。贝克线的成因及其移动规律

观察时注意：界线置于中心，适当缩小锁光圈。假贝克线：二物质折射率相差很大，矿片较厚或矿物解理发育时，在边缘附近有时还可以见到另一条亮线。提升镜筒其移动方向与贝克线相反。界面上光反射或内反射所致。色散效应：二物质折射率相差很小时，在二无色矿物界线附近，贝克线变成有色细线。在N较小的矿物一边出现橙黄色细线，在N较大一侧出现浅蓝色细线。这种现象称为色散效应。☆直接判断相邻二物质相对N值大小。☆适当缩小锁光圈，使色散更清楚。2.矿物的糙面糙面：在单偏光镜下观察各个矿片的表面时，可以看到某些矿物表面较为光滑，某些矿物表面较为粗糙，好像粗糙皮革一样，这种现象称为糙面。产生的主要原因:矿物薄片的表面有一些显微状的凹凸不平，盖于其上的树胶折射率与矿物的折射率不同，光通过其间，发生折射、反射，使矿片表面上光线聚散不一，明暗不同，给与人们以粗糙的感觉。糙面的形成原因

糙面的明显程度主要取决于N矿与N胶的差值。一般是差值愈大，表面磨光程度愈差，糙面愈明显。如橄榄石、萤石的折射率与树胶折射率之差，都在0.1以上，它们的糙面比较清清楚，而石英、长石的折射率与树胶折射率之差一般都在0.03以下，它们的糙面就不显著。糙面与薄片表面的磨光程度和突起高低有关。表面磨光程度愈差，糙面愈明显。突起越高，糙面越显著。3.矿物的突起及闪突起★突起的定义:在薄片中，不同矿物表面好象高低不同，某些显得高一些，某些显得低平一些。这种现象称为突起。

一种视觉。因N矿与N胶不同引起。

N矿与N胶差值愈大，该矿物的突起愈高。

正突起:N晶＞N胶;负突起：N晶＜

N胶★区分正负突起，必须借助贝克线或色散效应。

当矿物与树胶接触时，提升镜筒，贝克线向矿物内移动为正突起；贝克线向树胶移动为负突起。

浅蓝色细线在矿物一边，橙色细线在树胶一侧为正突起；相反，为负突起。●矿物的边缘、糙面明显程度及突起高低，均反映N矿与N胶差值大小。差值越大，边缘、糙面越显著，突起越高。突起分级及特征

突起等级示意图a-负高突起，b-负低突起，c-正低突起，d-正中突起，e-正高突起，f-正极高突起

★闪突起：双折射率很大的晶体，在单偏光镜下，旋转物台，突起高低发生明显的变化。☆只有非均质矿物才有闪突起。如方解石、白云母。方解石:No=1.658，Ne=1.486，双折率=0.172

☆同一矿物的闪突起与切片方向有关：

垂直光轴的切面：不具闪突起；

平行光轴或平行光轴面的切面：最明显。§5-3正交镜下的晶体光学性质本节要点：●了解正交偏光镜的装置及光学特点●了解几种常用补色器特点及适用范围●掌握消光、消色及补色法则的概念●掌握正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定方法：

--光率体椭圆半径方向及名称的测定；

--干涉色级序的观察与测定；

--消光类型及消光角的测定；

--晶体延性符号的测定；

--双晶的观察。§5-3正交镜下的晶体光学性质■正交偏光镜:下偏光+上偏光在正交偏光镜下，不放薄片时，视域黑暗。■正交偏光镜下观察的内容：消光、干涉色、光率体轴名的测定、干涉色级序的测定、消光角及延性符号的测定、双晶的观察等。一、正交偏光镜的装置及光学特点一、消光现象和消光位

1.消光的概念：

晶体在正交镜下呈现黑暗的现象。

★全消光：旋转物台360°，视域全黑。均质体和非均质体垂直光轴的切面。★四次消光：

非均质体（除垂直光轴的切面）。

呈现四次消光的，一定是非均质体晶体。

3.消光位：

★消光位:

非均质体在正交偏光镜下处于消光时的位置。此时，光率体椭圆半径必定与上、下偏光的振动方向(或目镜十字丝)平行。

★根据消光位，可确定矿片上光率体椭圆半径的方向。消光位时，目镜十字丝的方向即为矿片上光率体椭圆半径方向。二、干涉现象及干涉色级序干涉现象：非均质体(除⊥OA外)任意方向切面，不在消光位（即光率体椭圆半径K1、K2与上下偏光振动方向斜交）时（如图），下偏光PP进入矿片后，发生双折射，分解为振动方向分别平行光率体椭圆半径的∥K1和K2的两种偏光，因NK1≠NK2（若NK1＞NK2），传播速度也不同，K1慢、K2快,二者产生了光程差（R）；K1、K2又与上偏光AA斜交，进入上偏光镜再次发生双折射，分解成四条偏光（如下图），其中平行AA的两条偏光通过上偏光后发生干涉作用。干涉结果与R有关。

R=D（Ng-Np）

D为薄片厚度

当K1和K2与AA、PP成45°位时，矿片最亮。★如果光源为单色光波，干涉结果取决于光程差R和入射单色光波长之间的关系。

R=2n（λ/2）=nλ(半波长的偶数倍）时，干涉的结果是互相抵消视阈变黑暗。

R=（2n+1）λ/2(半波长的奇数倍)时，干涉的结果是互相迭加，视阈亮度增强。当K1和K2与AA、PP成45°夹角时，干涉结果最强烈。

R=2n(λ/2)时，完全抵消；R=(2n+1)λ/2时，亮度增加一倍。光率体椭圆半径与AA、PP成45°夹角时称为45°位（最亮）。

K1为慢光，K2为快光，在晶体中传播时（A图）K1用了两个λ，而K2只用了一个λ，因此R=λ。K1、K2一前一后进入上偏光，再次发生分解的平行AA的K1’、K2‘条偏光可透过上偏光，其振幅相等，振动方向相反，干涉结果互相抵消而变黑暗。B图K1用了2个λ，而K2只用了3/2个λ，因此R=1/2λ，二偏光振幅相等，振动方向相同，干涉结果亮度加强。2.干涉色：☆干涉色是白光照射时，干涉的结果。一定的光程差R，对应着一定的干涉色。☆干涉色亮度随光率体半径与AA或PP的夹角（α）而变化：

α=0时，消光，看不见干涉色；

α=45°时，最亮3.干涉色级序

单色光下，干涉结果取决于光程差和入射单色光波长之间的关系是可用在正交偏光镜间，沿45°位插入石英楔来说明的。★石英楔：将石英沿光轴方向切成楔形即得。用于观察干涉色级序的变化。石英Ne－No＝0.009，因沿光轴方向，Ne－No为一常数，又因为楔形，厚度d是不断变化的，随着石英楔厚度的增加，光程差R也不断增加。当光源为白光时在正交偏光镜间，慢慢插入石英楔，随着光程差的增加，可看到干涉色由低到高，出现有规律的变化，就构成了干涉色的级序。★干涉色级序划分及特征：根据干涉色变化情况，一般将干涉色分为4-5个级序：第一级：光程差为0-560nm。主要干涉色为暗灰—灰白—浅黄—橙—紫红。没有蓝色与绿色。第二级：光程差为560-1120nm。蓝--蓝绿--绿--黄--紫红。色鲜艳纯正，色带间界限较清楚。第三级：光程差为1120-1680nm。蓝绿—绿—黄—橙—红。不如二级鲜艳，色带间界限不如二级清楚。第四级及以上：光程差为1680nm以上。粉红—浅绿—浅橙--高级白色。色调很淡，色带间完全是逐渐过渡，无明显界限。每一级干涉色均以红结束。高级白干涉色：当光程差很大时，形成一种的亮白色。是高双折射率晶体的特征。

如方解石∥OA切面，No-Ne=0.172，当薄片厚度为O.03mm时，其光程差R=d(No-Ne)=5160nm，呈现高级白色（与珍珠表面相似的亮白色）。＊高级白与一级灰白的区别：加入石膏试板后高级白干涉色基本不变，而一级灰白变红。干涉色级序高低取决于光程差，光程差大小取决于双折射率和薄片厚度。

同一厚度矿物，∥OA或AP切面，R最大，干涉色级序最高。在镜下鉴定矿物时，只有测定最高干涉色才有意义。4.干涉色色谱表表示干涉色级序的图表，根据光程差公式R=d(N1－N2)而制成。横坐标表示光程差的大小，以nm

为单位，纵坐标表示薄片厚度，以mm为单位，斜线表示双折射率大小。在各种光程差的位置上，填上相应的干涉色，便构成了干涉色色谱表。若已知光程差、薄片厚度及双折射率三个中任意两个数据，用干涉色色谱表，就可求出第三者的数据。异常干涉色：有些矿物出现不同于色谱上的反常干涉色，称为异常干涉色。双折射率色散较大所致。

※干涉色级序低的矿物，异常干涉色一般较明显，容易识别；干涉色级序高的矿物，异常干涉色不易与正常干涉色区分。如绿泥石的正常干涉色为一级灰，却常显示“柏林蓝”或“锈褐色”干涉色。三、

补色法则和补色器

1.补色（消色）法则：

正交镜间，二非均质体任意方向切片（除⊥OA）在45°位重叠时，光波通过此二矿片后，其总光程差的增减法则称为补色法则。光程差的增减具体表现为干涉色级序的升降变化。★二矿片在正交偏光镜45°位重叠时，其光率体椭圆切面同名半径平行时，总光程差等于两矿片光程差之和，表现为干涉色级序升高；异名半径平行时，总光程差等于两矿片光程差之差，干涉色级序降低，此时如果R1=R2，则总光程差R=0，此时出现消色而变黑暗。★利用消色法则可测定未知晶体光率体轴名。思考题：消色和消光的区别。2.几种常用的补色器

已知光率体椭圆半径轴名的晶体切片。用它可测未知晶体切片上光率体轴名。石膏试板（λ）：Ⅰ级紫红干涉色。适于具有Ⅰ级黄以下，尤其是Ⅰ级灰或灰白干涉色的晶体。干涉色升降主要针对石膏的Ⅰ级红而言。云母试板（λ/4）：Ⅰ级灰白干涉色。适于Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级干涉色的晶体。干涉色升降针对晶体的干涉色而言。石英楔子：适于干涉色较高时，一般Ⅲ级以上。四、非均质体切片光率体轴名的测定步骤：

①将欲测晶体放在视域中心，旋转载物台到消光位，此时光率体的两轴分别与上、下偏光镜的振动方向（即目镜十字丝）一致；

②旋转物台45°，此时晶体最亮，若干涉色为一级灰或灰白色。

③插入石膏试板，若干涉色变为黄色，则石膏试板与晶体是异名轴平行；若干涉色变为二级黄绿色，同名轴平行。从而确定晶体的光率体轴名。五、干涉色级序的测定：必须选择干涉色最高的切面（∥OA或AP的切面）。测定方法：楔形边法和石英楔法1.边缘色带法（楔形边法）：利用晶体碎屑边缘的干涉色色圈判断干涉色级序的方法。

★在岩石薄片中，许多晶体的边缘都成一个楔形，其厚度自边缘向中部逐渐增大，干涉色的排列也自边缘向中部逐渐升高，形成色圈。如果边缘色带从一级灰白开始，色环中出现n个红色圈，则晶体中部的干涉色就为(n+1)级。矿片边缘的干涉色色圈2.石英楔法①将晶体置于视域中心，转物台至消光位。②再转物台45°，此时晶体最亮。③缓缓插入石英楔，观察晶体干涉色的变化情况。若干涉色逐渐升高，必须旋转物台90°，使两者异名轴平行，再插入石英楔直到晶体消色。④再缓慢抽出石英楔，观察干涉色的变化，若经过n次红，则干涉色为(n+1)级。3.高级白干涉色的鉴别方法：将晶体置于视域中心，转物台使晶体至45°位（最亮），插入石膏或云母试板后，干涉色不变。六、双折率的测定只有测定最大双折射率才有意义，因此必须选择平行光轴（一轴晶）或平行光轴面（二轴晶）的切片。

※切片的特征：多色性最明显，干涉色最高，锥光下显示平行光轴或平行光轴面的干涉图。根据R=d(N1-N2），测出R和d，即可确定双折率值。七、消光类型及消光角的测定

1.

消光类型

(1)平行消光当晶体消光时，解理缝、双晶缝或晶棱与目镜十字丝平行。

(2)对称消光在晶体具有两组解理缝的切面上，当消光时，目镜十字丝平分两组解理的夹角。

(3)斜消光当晶体消光时，解理缝、双晶缝或晶棱与目镜十字丝斜交。平行消光斜消光对称消光★不同晶系晶体的消光类型，有一定的规律：

中级晶族：绝大多数切面为平行消光和对称消光。

斜方晶系：以平行消光和对称消光为主，见少量斜消光。

单斜晶系：以斜消光为主，只有在特殊方位的切面中才显示对称消光和平行消光。

三斜晶系：全部为斜消光。2.消光角的测定：●必须在定向切片中进行。

★一轴晶各晶系和斜方晶系晶体的斜消光切面不多见，不是鉴定特征，故一般不测消光角。★单斜晶系晶体的最大消光角在光轴面上，它往往与(010)面平行，故测消光角时，一般选择具有最高干涉色且有一组解理的切面。★三斜晶系的晶体切面都是斜消光，一般选择某些特殊方向切面来测定消光角。表示方法：一般用光率体轴和结晶轴之间的夹角来表示。如角闪石：Ng∧c=30°★消光角测定的步骤

①选择定向切面；

②将选定的晶体颗粒置于视域中心，使其解理缝、晶棱等平行目镜十字丝纵丝，记下载物台刻度数a；

③旋转载物台至消光位，记下读数b，b-a值为该晶体切面上的消光角；④再将物台由消光位转45°,使光率体轴与十字丝成45°角，根据晶体的干涉色插入合适的试板，根据干涉色的升降，确定出光率体轴名。⑤确定解理缝、晶棱等代表的结晶方向，写出消光角公式。如普通角闪石（010）面，Ng∧z=30°（Z代表解理缝方向，因Hb具∥｛110｝解理）八、延性符号的测定：

正延性：延长方向∥Ng，或与Ng夹角小于45°

负延性：延长方向∥Np，或与Np夹角小于45°测定步骤：

①将欲测晶体置于视域中心；

②在单偏光镜下，使长边∥纵丝；

③推入上偏光镜，此时消光，说明切片内有一光率体轴平行晶体的延长方向；

④旋转载物台45°，根据晶体干涉色的高低，选择合适的试板，确定延长方向是Ng还是Np，从而确定晶体的延性符号。a消光位b正延性c负延性九、双晶的观察

在正交镜间表现为相邻两个单体不同时消光，呈现一明一暗的现象。(1)简单双晶：仅由两个单体组成。正交镜间，一个消光呈黑暗，一个不消光呈明亮。旋转物台时，明暗相互替换。如正长石的卡氏双晶.(2)聚片双晶：双晶结合面彼此平行，正交镜间呈聚片状。旋转物台时，相邻的奇数和偶数两组单体轮流消光。例如斜长石的聚片双晶。(3)联合双晶：双晶结合面不平行。按双晶单体的数目不同，可分为三连晶、四连晶和六连晶。特殊的双晶类型：如微斜长石的格子双晶第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

§3

锥光镜下的晶体光学性质■观察内容：非均质矿物的干涉图（确定晶体的轴性、光性符号、光轴角大小及晶体切片的准确方位）。■锥光的构成：正交偏光+勃氏镜、聚光镜（升到最高位置），换上高倍物镜（40x）●聚光镜的作用：把平行偏光变成锥形偏光，中间一条光⊥射入矿片，其他光线均倾斜射入。●高倍物镜的作用：工作距离短，接纳的光线范围大（与法线60°），使干涉图完整而清楚。●勃氏镜的作用：和目镜一起构成一个望远镜式的放大系统，把干涉图放大。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

§3

锥光镜下的晶体光学性质●非均质体矿物的干涉图：非均质体矿物的光学性质随方向而异，垂直入射光的光率体椭圆切面各不相同，各个不同方向的入射光通过矿片到达上偏光所产生的效果各不相同，有的消光，有的干涉，总的结果构成了各种特殊图形—干涉图。

★均质体矿物为各向同性，不产生干涉图。★干涉图随轴性、切片方向而异。注意：锥光下观察时，必须严格校正中心！第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

§3

锥光镜下的晶体光学性质■一轴晶干涉图⒈垂直光轴切面的干涉图：●选晶体切面：干涉色最低或近于全黑的切面。●形象特点：⑴双折率小者，为一较粗的黑十字，两条黑臂和目镜十字丝平行。视域中心为光轴OA出露点。⑵双折率较大或薄片较厚者，除黑十字外，还有以黑十字交点为中心的同心色环，干涉色级序由黑向外逐渐增高，色环越外越密。⑶旋转物台360°，干涉图不变。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

§3

锥光镜下的晶体光学性质●光性正负的测定：确定N0与Ne（Ne’）的相对大小★干涉图中，四个象限内放射线方向为Ne或Ne’的振动方向，与之垂直的为N0方向。

★插入合适的试板观察四个象限内干涉色级序的升降，根据补色法则，确定Ne是Ng还是Np,从而确定光性正负。注意：一、三象限升高为正光性，降低为负光性。★一级灰白干涉色，插入石膏试板，蓝为升高，黄为降低；干涉色高时，用云母试板，色圈向里移为升高，低的被高的代替，外移为降低。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

§3

锥光镜下的晶体光学性质⒉斜交光轴切片的干涉图●形象特点：一个不完全的黑十字（交点不在视域中心）和干涉色色圈。⑴当切面和光轴夹角较大时，黑十字交点在视域内