2025年特种设备无损检测人员（Ⅱ级）考试真题及答案解析

2025年特种设备无损检测人员（Ⅱ级）考试练习题及答案解析一、单项选择题（共20题，每题1分，共20分。每题只有1个正确答案，多选、错选、不选均不得分）1.依据《特种设备无损检测人员考核规则》（TSGZ8001-2019），特种设备无损检测Ⅱ级人员证书的有效期为（）A.3年B.4年C.5年D.6年【答案】D【解析】TSGZ8001-2019明确规定，特种设备无损检测Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级人员证书有效期均为6年，有效期届满前3个月需向发证机关申请换证。2.下列无损检测方法中，仅适用于检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的是（）A.超声检测B.射线检测C.磁粉检测D.渗透检测【答案】C【解析】磁粉检测的原理是利用铁磁性材料磁化后，表面/近表面缺陷导致磁导率突变形成漏磁场，吸附磁粉形成可见磁痕，因此仅适用于铁磁性材料；渗透检测适用于所有非多孔性材料表面开口缺陷，超声、射线检测适用于内部体积型缺陷检测。3.射线检测中，已知焦点尺寸d=2mm，焦点至工件表面距离L1=600mm，工件厚度L2=50mm，该透照布置下的几何不清晰度Ug为（）A.0.17mmB.0.12mmC.0.25mmD.0.30mm【答案】A【解析】几何不清晰度计算公式为Ug=d×L2/L1，代入数值计算得Ug=2×50/600≈0.17mm，符合NB/T47013.2-2015AB级透照Ug≤0.2mm的要求。4.超声检测中，横波斜探头K值的定义是（）A.横波入射角的正切值B.横波折射角的正切值C.横波入射角的正弦值D.横波折射角的正弦值【答案】B【解析】横波斜探头K值为横波折射角β的正切值，即K=tanβ，用于缺陷定位计算。5.磁粉检测干法检测时，磁粉的载体是（）A.水B.煤油C.空气D.变压器油【答案】C【解析】磁粉检测分为干法和湿法：干法以压缩空气为载体载带磁粉施加到工件表面，适用于高温工件、大面积粗糙表面检测；湿法以水或油基液体为载体配制磁悬液，适用于灵敏度要求高的光滑表面检测。6.渗透检测中，显像剂的主要作用不包括（）A.吸附缺陷中的渗透剂B.提供背景反差C.放大缺陷显示D.去除表面多余渗透剂【答案】D【解析】去除表面多余渗透剂是清洗步骤的作用，显像剂的作用包括：通过毛细作用吸附缺陷内渗出的渗透剂、形成白色背景提高与缺陷红色/荧光色的反差、扩大渗透剂的扩散面积放大缺陷显示。7.依据《特种设备安全法》，特种设备无损检测记录、报告的保存期限应当不少于特种设备设计使用年限，无明确设计使用年限的不少于（）年A.3B.5C.7D.10【答案】C【解析】《特种设备安全法》及相关安全技术规范明确要求，无损检测记录、报告的保存期限不得少于特种设备设计使用年限，无明确设计使用年限的不得少于7年。8.渗透检测中，对于镍基合金材料，渗透剂中（）元素的含量需要严格控制，避免造成材料应力腐蚀开裂。A.硫B.氯C.氟D.磷【答案】A【解析】镍基合金对硫元素敏感，硫含量过高会导致材料产生应力腐蚀开裂，因此用于镍基合金检测的渗透剂硫含量需≤1%；奥氏体不锈钢检测需控制渗透剂氯、氟含量≤1%。9.超声检测用CSK-ⅠA试块不能用于（）A.校准横波探头的前沿长度B.校准横波探头的K值C.测定仪器的水平线性D.测定母材的材质衰减【答案】D【解析】CSK-ⅠA为标准试块，用于校准仪器性能（水平线性、垂直线性）、探头性能（前沿长度、K值、分辨率）；母材材质衰减需采用同材质同工艺的对比试块或现场实测确定。10.射线检测中，散射线的主要来源不包括（）A.工件内部散射B.地面墙壁散射C.胶片受照射产生的散射D.滤板产生的散射【答案】C【解析】散射线是射线与物质发生康普顿效应、瑞利散射产生的，主要来源包括工件内部散射、周围环境（地面、墙壁、工装）散射、射线机附件（滤板、窗口、准直器）散射；胶片本身不会产生散射线。11.磁粉检测中，下列磁化方式适合检测环向缺陷的是（）A.周向磁化B.纵向磁化C.复合磁化D.旋转磁化【答案】B【解析】缺陷与磁力线方向垂直时漏磁场强度最大，检测灵敏度最高：环向缺陷沿工件轴向分布，纵向磁化产生的磁力线沿轴向分布，与环向缺陷垂直，适合检测环向缺陷；周向磁化适合检测轴向缺陷。12.超声检测中，盲区是指（）A.探头检测不到的工件内部区域B.从检测表面到能够检测到的最小缺陷的距离C.仪器放大器的线性范围D.探头无法耦合的区域【答案】B【解析】盲区是指超声检测时，受初始脉冲宽度影响，从检测表面到能够检测到的最小缺陷的垂直距离，盲区越小，探头近表面检测性能越好。13.射线检测中，像质计放置在（）时，需要在底片上放置“F”标记。A.源侧工件表面B.胶片侧工件表面C.焊缝中心D.焊缝边缘【答案】B【解析】依据NB/T47013.2-2015规定，像质计放置在胶片侧时，需加“F”标记，且应识别的像质指数应比源侧放置提高1个等级。14.渗透检测中，渗透时间是指（）A.渗透剂施加到工件表面的时间B.渗透剂与缺陷接触的总时间C.从施加渗透剂到开始清洗的时间间隔D.从施加渗透剂到施加显像剂的时间间隔【答案】C【解析】渗透时间指从渗透剂完全覆盖工件表面到开始去除表面多余渗透剂的时间间隔，温度为10~50℃时，渗透时间通常为10~30min。15.下列缺陷中，射线检测最容易检出的是（）A.焊缝内部未焊透B.钢板内部分层C.焊缝表面裂纹D.锻件内部白点【答案】A【解析】射线检测对沿射线透照方向上有厚度差的体积型缺陷检出灵敏度高，未焊透沿厚度方向存在明显厚度差，容易检出；钢板分层平行于板面，锻件白点多为细小弥散分布，射线检测检出难度大；表面裂纹深度小，射线检测难以检出，适合采用磁粉或渗透检测。16.超声检测中，调整仪器扫描速度的目的是（）A.确定缺陷的波幅B.确定缺陷的位置C.确定缺陷的性质D.确定缺陷的大小【答案】B【解析】扫描速度校准是将仪器的时间轴与声程、深度或水平距离建立对应关系，是缺陷定位的前提。17.磁粉检测中，剩磁法适用于（）的材料。A.矫顽力＞1000A/m，剩磁＞0.8TB.矫顽力＜1000A/m，剩磁＞0.8TC.矫顽力＞1000A/m，剩磁＜0.8TD.矫顽力＜1000A/m，剩磁＜0.8T【答案】A【解析】剩磁法检测是停止磁化后施加磁粉，依靠工件的剩磁吸附磁粉形成磁痕，要求材料矫顽力≥1000A/m、剩磁≥0.8T，否则漏磁场强度不足，无法形成有效显示。18.依据NB/T47013.1-2015，无损检测人员的视力要求为近距视力或矫正视力不得低于（）A.4.8B.5.0C.5.1D.5.2【答案】B【解析】NB/T47013.1-2015明确要求，无损检测人员的近距视力或矫正视力不得低于5.0，无色盲、色弱。19.射线检测中，增感屏的主要作用是（）A.提高射线的穿透能力B.提高胶片的感光速度，减少曝光时间C.降低散射线的影响D.提高底片对比度【答案】B【解析】增感屏受射线照射后会发出荧光或电子，大幅提高胶片的感光效率，减少曝光时间；铅增感屏同时还可以吸收部分散射线，降低散射线影响，但主要作用是提高感光速度。20.超声检测中，当缺陷直径小于（）时，缺陷反射波幅随缺陷尺寸增大而升高，该区域称为衍射区域。A.波长B.2倍波长C.3倍波长D.1/2波长【答案】A【解析】当缺陷尺寸小于波长时，缺陷散射以衍射为主，反射波幅与缺陷体积成正比；当缺陷尺寸大于等于波长时，反射波幅与缺陷面积成正比，符合AVG曲线的变化规律。二、多项选择题（共10题，每题2分，共20分。每题有2个及以上正确答案，多选、少选、错选、不选均不得分）1.下列属于特种设备范畴的是（）A.锅炉B.电梯C.起重机械D.场（厂）内专用机动车辆【答案】ABCD【解析】依据《特种设备目录》，特种设备包括锅炉、压力容器（含气瓶）、压力管道、电梯、起重机械、客运索道、大型游乐设施、场（厂）内专用机动车辆八大类。2.射线检测中，影响射线照相对比度的影响因素包括（）A.射线能量B.缺陷类型C.胶片类型D.增感屏类型【答案】ABCD【解析】射线照相对比度是缺陷与相邻区域的黑度差，影响因素包括：主因对比度（射线能量、缺陷厚度差、工件材质）、胶片对比度（胶片类型、增感屏类型、暗室处理工艺）。3.超声横波检测焊缝时，常用的扫查方式包括（）A.锯齿形扫查B.左右扫查C.前后扫查D.转角扫查【答案】ABCD【解析】锯齿形扫查是基本扫查方式，用于检测焊缝内部是否存在缺陷；左右扫查、前后扫查、转角扫查属于定量扫查方式，用于测定缺陷的指示长度、深度和走向。4.磁粉检测中，漏磁场的强度与以下哪些因素有关（）A.缺陷的深度B.缺陷的宽度C.工件的磁化强度D.缺陷与磁力线的夹角【答案】ABCD【解析】漏磁场强度随工件磁化强度增大而升高；缺陷深度越深、宽度越大、与磁力线夹角越接近90°，漏磁场强度越大，检测灵敏度越高。5.渗透检测中，影响检测灵敏度的因素包括（）A.渗透剂的性能B.显像剂的性能C.工件表面粗糙度D.环境温度【答案】ABCD【解析】渗透剂的润湿性能、渗透能力越高，显像剂的吸附能力越强，检测灵敏度越高；工件表面粗糙度越大，越容易残留多余渗透剂形成背景干扰；环境温度过低会导致渗透剂粘度增大，渗透速度变慢，检测灵敏度降低。6.依据《特种设备无损检测人员考核规则》，Ⅱ级无损检测人员的职责包括（）A.编制一般的无损检测程序B.按照无损检测工艺规程独立进行检测操作C.编制无损检测工艺卡D.签发检测报告【答案】ABCD【解析】TSGZ8001-2019规定，Ⅱ级人员可承担的工作包括：编制一般的无损检测程序、按照工艺规程独立开展检测操作、编制无损检测工艺卡、评定检测结果、签发检测报告、指导Ⅰ级人员开展工作。7.超声检测中，下列属于对比试块的是（）A.CSK-ⅠA试块B.CSK-ⅡA试块C.SG试块D.RB-2试块【答案】BCD【解析】CSK-ⅠA属于标准试块，用于校准仪器和探头的通用性能；CSK-ⅡA、SG、RB-2均为对比试块，用于特定检测对象的灵敏度校准、缺陷定量。8.射线检测中，控制散射线的常用方法包括（）A.采用铅增感屏B.加滤板C.采用铅光阑D.工件背面加铅屏蔽【答案】ABCD【解析】铅增感屏可吸收后方散射线；滤板可吸收软射线，减少工件内部散射线产生；铅光阑可限制射线照射范围，减少环境散射；工件背面加铅屏蔽可吸收透射射线，避免地面、墙壁散射返回胶片。9.磁粉检测中，磁痕的分类包括（）A.相关显示B.非相关显示C.伪显示D.缺陷显示【答案】ABC【解析】磁痕分为三类：相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的显示，需要评定；非相关显示是由工件结构、材质不均匀产生的漏磁场吸附磁粉形成的显示，不需要评定；伪显示是由外界因素（比如油污、指纹）吸附磁粉形成的显示，不是漏磁场产生的，需要擦除后重新检测确认。10.超声检测中，缺陷定性的常用方法包括（）A.根据缺陷的静态波形特征判断B.根据缺陷的动态波形特征判断C.根据缺陷的位置、取向判断D.根据工件的加工工艺、使用工况判断【答案】ABCD【解析】Ⅱ级人员可通过缺陷的静态波形（波型、波幅、波宽）、动态波形（移动探头时波幅的变化规律）、缺陷的位置和取向、结合工件的加工工艺、使用工况综合判断缺陷的大致性质。三、判断题（共10题，每题1分，共10分。正确填“√”，错误填“×”）1.超声检测中，纵波只能在固体中传播。（）【答案】×【解析】纵波是质点振动方向与波的传播方向平行的波，可以在固体、液体、气体中传播；横波只能在固体中传播。2.射线检测中，像质计放置在胶片侧时，需要加“F”标记。（）【答案】√【解析】依据NB/T47013.2-2015规定，像质计放置在胶片侧时，需在像质计附近放置“F”标记，且应识别的像质指数比源侧放置提高1级。3.渗透检测中，环境温度越低，所需的渗透时间越短。（）【答案】×【解析】环境温度越低，渗透剂的粘度越大，渗透速度越慢，所需的渗透时间越长。4.磁粉检测中，交流电的渗透深度比直流电深，更适合检测近表面缺陷。（）【答案】×【解析】交流电存在集肤效应，磁化电流主要分布在工件表面，适合检测表面缺陷；直流电的渗透深度更深，更适合检测近表面缺陷。5.超声检测中，探头K值越大，横波折射角越大，缺陷定位精度越高。（）【答案】×【解析】K值越大，横波折射角越大，相同深度的水平距离越大，声波传播路径越长，能量衰减越大，定位精度越低；对于厚壁工件，应选择较小K值的探头，薄壁工件选择较大K值的探头。6.射线检测中，底片黑度越大，对比度越高，因此黑度越大越好。（）【答案】×【解析】底片黑度在一定范围内升高时，对比度会随之升高，但当黑度过大时，胶片的灰雾度会升高，对比度反而下降，同时人眼无法识别过高黑度区域的缺陷，因此标准对底片黑度有明确的范围要求。7.渗透检测可以检测多孔性材料表面开口缺陷。（）【答案】×【解析】多孔性材料内部存在大量连通的孔隙，渗透剂会渗入孔隙内部，无法清洗干净，形成严重的背景干扰，因此渗透检测仅适用于非多孔性材料表面开口缺陷检测。8.特种设备无损检测工艺文件需要经过单位技术负责人批准后方可实施。（）【答案】√【解析】依据特种设备安全技术规范要求，无损检测工艺文件需经过检测单位技术负责人批准后方可实施。9.超声检测中，耦合剂的作用是排除探头与工件表面之间的空气，使超声波能够有效传入工件。（）【答案】√【解析】空气的声阻抗远小于金属材料，超声波在空气与金属界面几乎完全反射，耦合剂的声阻抗与金属接近，可排除空气，保证超声波有效传入工件。10.磁粉检测中，荧光磁粉的检测灵敏度比非荧光磁粉高。（）【答案】√【解析】荧光磁粉在紫外灯照射下会发出黄绿色荧光，与工件背景的反差远高于非荧光磁粉，因此检测灵敏度更高，适合检测微小缺陷。四、简答题（共4题，每题5分，共20分）1.简述射线检测中选择透照焦距的原则。【答案】（1）满足几何不清晰度的要求：透照焦距需保证几何不清晰度Ug不超过标准规定的允许值，AB级透照要求Ug≤0.2mm，A级透照要求Ug≤0.4mm，B级透照要求Ug≤0.1mm。（1分）（2）满足透照厚度比的要求：透照厚度比K值需符合标准规定，纵缝AB级透照要求K≤1.03，环缝AB级透照要求K≤1.1。（1分）（3）保证足够的透照场：透照焦距需保证射线照射范围能够完全覆盖整个透照区域，避免漏检。（1分）（4）兼顾检测效率：在满足上述三个要求的前提下，尽量选择较小的焦距，减少曝光时间，提高检测效率。（2分）【解析】焦距是射线检测的核心工艺参数，选择时需优先保证成像质量，其次兼顾检测效率，各项参数需符合NB/T47013.2-2015的相关要求。2.简述超声检测横波斜探头K值校准的方法。【答案】（1）将探头放置在CSK-ⅠA试块上，对准R100圆弧面，前后移动探头，找到R100圆弧面的最高反射波，调整仪器增益使波幅达到满屏的80%，记录此时的水平刻度值。（1分）（2）再将探头对准R50圆弧面，前后移动探头，找到R50圆弧面的最高反射波，调整仪器增益使波幅达到满屏的80%，记录此时的水平刻度值。（1分）（3）根据两个圆弧面的声程差和水平刻度差，校准仪器的扫描速度。（1分）（4）将探头对准试块上的φ50横孔，前后移动探头，找到横孔的最高反射波，读取此时的深度和声程参数，根据三角函数关系计算得到横波折射角β，K=tanβ即为探头的实际K值。（2分）【解析】K值校准是超声检测的基本操作，是缺陷定位准确的前提，Ⅱ级人员需熟练掌握操作方法。3.简述磁粉检测的基本原理。【答案】（1）铁磁性材料工件被磁化后，磁力线会均匀分布在工件内部。（1分）（2）当工件表面或近表面存在缺陷时，缺陷处的磁导率远小于工件基体，磁力线会在缺陷处发生畸变，部分磁力线会逸出工件表面，形成漏磁场。（2分）（3）施加在工件表面的磁粉会被漏磁场吸附，形成与缺陷形状、尺寸对应的可见磁痕显示，从而实现缺陷的检测。（2分）【解析】磁粉检测的核心是漏磁场的形成，只有当缺陷与磁力线方向存在一定夹角时，才会形成足够强度的漏磁场，因此检测时需采用合适的磁化方式。4.简述渗透检测的基本操作步骤。【答案】（1）预处理：清除工件表面的油污、锈蚀、氧化皮等附着物，保证表面清洁干燥。（1分）（2）渗透：施加渗透剂，保证渗透剂完全覆盖工件表面，保持规定的渗透时间。（1分）（3）清洗：去除工件表面多余的渗透剂，避免过洗或欠洗。（1分）（4）干燥：采用自然干燥或压缩空气吹干的方式干燥工件表面。（0.5分）（5）显像：均匀施加显像剂，保持规定的显像时间。（0.5分）（6）观察评定：在白光或紫外灯照射下观察磁痕显示，评定缺陷等级。（0.5分）（7）后处理：检测完成后清除工件表面的显像剂。（0.5分）【解析】渗透检测的每一步操作都会影响检测灵敏度，需严格按照工艺规程执行，避免漏检或误判。五、综合应用题（共2题，每题15分，共30分）1.某压力容器制造单位对一台厚度δ=18mm的Q355R钢制压力容器筒体纵缝进行射线检测，执行标准为NB/T47013.2-2015，透照技术等级为AB级，采用Ir192γ射线源透照，透照方式为单壁外透法，已知源焦点尺寸d=3mm，透照焦距F=700mm，像质计放置在源侧工件表面。请回答以下问题：（1）本次透照的几何不清晰度Ug为多少？是否符合AB级技术要求？（2）本次透照应选用哪种系列的像质计？要求识别的像质计丝号（像质指数）为多少？（3）本次透照的底片黑度范围应满足什么要求？（4）若底片上发现一处圆形缺陷，评定区尺寸为10×10mm，区内仅存在该缺陷，尺寸为φ3mm，该焊缝按Ⅱ级合格要求评定为几级？【答案】（1）几何不清晰度计算公式为Ug=d×L2/L1，其中L1为源至工件表面的距离，L1=F-δ=700-18=682mm，L2为工件厚度即18mm，代入计算得Ug=3×18/682≈0.08mm（3分）。NB/T47013.2-2015规定AB级透照Ug≤0.2mm，因此0.08mm符合要求（1分）。（2）被检工件为钢制，应选用Fe（铁系）像质计（2分）。透照厚度为18mm，AB级技术要求对应的像质指数为10，对应丝径为0.16mm（2分）。（3）NB/T47013.2-2015规定AB级技术要求，采用γ射线透照时，底片黑度范围为