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文档简介
WO2014016931A1,2014.01WO2020218000A1,2020.10.2基底,所述基底具有相对的第一表面和第二表面,所述第一表依次形成于所述第一掺杂区上的第一掺杂层以及形成于所述第二掺杂区的第三掺杂层,所述第三还包括第一界面钝化层、第二界面钝化层和第三界面钝3.根据权利要求1所述的背接触电池,其特所述基底为p型基底,所述第一掺杂层为n型掺杂层,所述第二掺所述第一表面钝化层与所述第二掺杂层的接触面处具有3提供一基底,所述基底具有相对的第一表面和第二表去除位于第三区域上的掺杂膜层和界面钝化膜层,使在位于第二掺杂层的第一表面钝化层上形成第一电17.根据权利要求16所述的背接触电池的制作方法,其特征在于,在所述在第二掺杂述热处理过程将所述第一掺杂层和/或所述第二掺杂层和/或所述第三掺杂层的至少一部4[0009]采用上述技术方案的情况下,第一掺杂区和第二掺杂区的表面5金属和半导体的局部欧姆接触,减少了金属电极与第二掺杂层和第三掺杂层的接触面积,6[0025]第二方面或第二方面任一可能的实现方式所提供的背接触电池的制作方法的有7[0039]图12为本发明实施例提供的具有局部接触电极的背接触电池的第一表面局部示8[0061]指状交叉背接触电池,又称为IBC电池。其中IBC是指Interdigitatedback101和第二掺杂区102。依次形成于第一掺杂区101上的第一掺杂层11以及第二掺杂层121。杂区101上具有依次形成的第一掺杂层11和第二掺杂层121,第一掺杂层11和第二掺杂层池的良率和生产效率;同时大幅减少了第一掺杂层11图形化处理中的开膜面积以及难度,9属杂质具有更大的溶解度,第二掺杂层121内具有的磷可以为第一掺杂层11提供磷吸杂钝掺杂层121不仅可以在后续的图形化处理过程中保护第一掺杂层11的完整,还可以为第一和第三掺杂层122为掺杂多晶硅层或掺杂非晶硅层。当第二掺杂层121和第三掺杂层122在化层13与第二掺杂层121的接触面处具有第一开孔130。第一电极20通过第一开孔130与第[0090]作为一些可能的实现方式,如图1所示,第一掺杂区101的表面和/或第二掺杂区面入射并穿过背接触电池的光线进行再反射,从而使得光线有机会被背接触电池再次利第二掺杂层121和第三掺杂层122的厚度范围均为50nm~500nm。在基底10上形成第一掺杂层11的工艺以及在第一掺杂层11和第一表面上形成掺杂膜层12的工艺可以为等离子体化沉积(LPCVD)工艺或催化化学气相沉积工艺等。去除位于第二掺杂区102和第三区域103的电极201和第一电极副栅线202,第二电极21包括第二电极主电极211和第二电极副栅线置焊盘或电极输出触点以使得电池的电能得以输出。细栅线204可以使用不同的电极浆料可以使用透明导电氧化物(TCO),然后通过丝网印刷或者转印形成第一电极20和第二电极[0110]如图5所示,在第一掺杂层11和第一表面上利用PECVD设备沉积一层磷掺杂的n型一掺杂层11上的掺杂膜层12为第二掺杂层121,位于第一表面上的掺杂膜层12为第三掺杂层和/掩膜层在物理特性或化学特性上于第一掺杂层11有较为明显的差异,以保证在利用层16可以被有效地保留下来。形成第一保护层16的工艺可以选用等离子体化学气相沉积工艺去除第二掺杂区102和第三区域103的p型多晶硅层;用含氢氟酸(HF)的溶液清洗去除型多晶硅层也可以替换为n型多晶硅层。热扩散使用的POCl3也可以同样地形成磷掺杂的n理方法及实施例与第一保护层16相同。第二保护层17用于保护第二掺杂层121和第三掺杂层122,使得第二掺杂层121和第三掺杂层122在后续的清洗或刻蚀工序中不会被腐蚀或损于第一掺杂区101和第二掺杂区102的n型多晶硅层上采用PECVD工艺沉积氧化硅作为第二和第三区域103的第一界面钝化层14。形成第一界面钝化层14的工艺可以为等离子体化学域103的第一界面钝化层14和第一掺杂层11之后,且在第一掺杂层11和第一表面上形成掺的界面钝化膜层15为第三界面钝化层152。形成界面钝化层的工艺可以为为等离子体化学面钝化层14和第一掺杂层11之后,且在第一掺杂层11和第一表面上形成掺杂膜层12之前,蚀工艺去除位于第三区域103的界面钝化膜层15,使得位于第一掺杂层11上的界面钝化膜[0136]作为一些可能的实现方式,如图7~图9所示,在第二掺杂层121上形成第一电极[0137]在实际应用中,形成第一表面钝化层13的工艺可以为等离子体化学气相沉积(PECVD)工艺、热丝化学气相沉积工艺、物理气相沉积(PVD)工艺、低压化学气相沉积别与第二掺杂层121和第三掺杂层122形成电接触。当背接触电池具有第一表面钝化层13,导电浆料的方法形成第二电极21,第一电极20通过第一开孔130与第二掺杂层121电接触,第二电极21通过第二开孔131与第三掺者可以直接在第一表面钝化层13上印刷烧穿型浆料,形成对应的P型金属区和N型金属区。或第二掺杂层121和/或第三掺杂层122的至少一部分晶化。可以对p型或n型半导体层进行(PECVD)工艺、热丝化学气相沉积工艺、物理气相沉积(PVD)工艺、低压化学气相沉积[0144]在一些示例中,对第二表面进行织构化处理的步骤可以在形成第二掺杂层121和
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