CN114624575B 芯片测试方法、装置、设备及存储介质 （长鑫存储技术有限公司）

存器测试适配文件和测试用例模板构建测试用2确定寄存器测试适配文件，根据所述预设测试环境下的寄存器所述确定寄存器测试适配文件还包括，在所述预设测试环境发生在所述协议信息中提取寄存器任务分配列表，将所述寄存器任将所述寄存器任务分配列表转化为寄存器测试用列表，将所述寄存解析所述寄存器任务分配列表，确定出各寄存器的测试项信息，每个根据确定的所述各寄存器的测试项信息，生成所述寄存器测试用列用列表中的每一列的测试项信息均对应于同一所述待配置测试项。行的多个测试项信息的排列顺序与所述测试用例模板中的所述多个不同的待配置测试项6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片测试方法，对比变更前的寄存器任务分配列表和变更后的寄存器任务分配根据发生变更的内容，确定发生变更的测试项信息在所述寄存器3寄存器测试适配文件确定模块，被配置为用适配文件变更模块，与所述寄存器测试适配文件确定模块测试用例构建模块，被配置为用于根据所述寄存器测在所述协议信息中提取寄存器任务分配列表，将所述寄存器任将所述寄存器任务分配列表转化为寄存器测试用列表，将所述寄存解析所述寄存器任务分配列表，确定出各寄存器的测试项信息，每个根据确定的所述各寄存器测试项信息，生成所述寄存器测试用列行的多个测试项信息的排列顺序与所述测试用例模板中的所述多个不同的待配置测试项对比变更前的寄存器任务分配列表和变更后的寄存器任务分配4根据发生变更的内容，确定发生变更的测试项信息在所述寄存器确定寄存器测试适配文件，根据预设测试环境下的寄存器描所述确定寄存器测试适配文件还包括，在所述预设测试环境发生在所述协议信息中提取寄存器任务分配列表，将所述寄存器任将所述寄存器任务分配列表转化为寄存器测试用列表，将所述寄存确定寄存器测试适配文件，根据预设测试环境下的寄存器描所述确定寄存器测试适配文件还包括，在所述预设测试环境发生在所述协议信息中提取寄存器任务分配列表，将所述寄存器任将所述寄存器任务分配列表转化为寄存器测试用列表，将所述寄存5[0008]构建测试用例，根据所述寄存器测试适配文件和所述测试用例模板构建测试用6测试用列表中的每一列的测试项信息均对应于同一所述待配置测7[0051]构建测试用例，根据所述寄存器测试适配文件和所述测试用例模板构建测试用[0056]构建测试用例，根据所述寄存器测试适配文件和所述测试用例模板构建测试用8[0072]以图1a和图1b为例，图1a和图1b为JEDECDDR5协议文件中的模式寄存器任务分配9的寄存器功能项所对应的寄存器特征信息也各不相同，则在进行测试时，对于每一个模式使得寄存器测试适配文件与测试用例模板形式相匹配，以便后续各测试用例的自动生成。地根据寄存器测试适配文件和测试用例模板来构建测试用例来对芯相适配的寄存器测试适配文件，再根据寄存器测试适配文件构建测试用例来进行芯片测[0097]其中，bit_len表征位数，当某个寄存器的多位操作数表征同一个操作项或功能时，可以通过bit_len指示多个操作数信息，而不需要对每个操作数信息生成测试用例模列表中的每一行的多个测试项信息的排列顺序与测试用例模板中的多个不同的待配置测用例模板的待配置测试项。00011R0220每一列的测试项信息均对应于同一待配置测证寄存器任务分配列表中的每一个寄存器的每一位操作数的相关信息均写入寄存器测试寄存器Register2这三个寄存器在寄存器测试用列表中的测试项信息，其他寄存器在寄存由于其操作数OP【2】至操作数OP【6】均为同一功能CASLatency(RL)，因此，对于CASLatency(RL)功能bit_len可以对应设置5位，如此，可进一步减少用例文件生成难度和周应查找协议升级后的寄存器功能与寄存器特征信息的关系表，确定出模式寄存器存器测试用列表中的行数，从而在步骤S120中，将寄存器测试用列表中与模式寄存器[0129]寄存器测试适配文件确定模块301，被配置为用于根据预设测试环境下的寄存器[0131]测试用例构建模块303，被配置为用于根据寄存器测试适配文件和测试用例模板顺序与测试用例模板中的多个不同的待配置测试项的排列[0148]图8是根据一示例性实施例示出的一种芯片测试设备，即计算机设备400的框机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。计算机存储介质包括在用于存储信息在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指[0157]这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框