CN114663334B 瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 （富泰华工业（深圳）有限公司）

街道大三社区富士康观澜科技园B区US2020364478A1,2020.1WO2018224670A1,2018.12确定每张正样本图像的估测概率及样本误差并2当接收到瑕疵检测请求时，根据所述瑕疵检测请求获取待检测图像及多张正样本图利用编码器对所述待检测图像进行编码处理，得到与所述待检测图像对应的目标向将所述目标图像与所述待检测图像进行比较，得到目标误差，并根将所述目标向量输入至预先训练好的高斯混合模型中，得到所述待根据所述目标误差及所述测试概率确定所述待检测图像的测试误差，并误差及每个估测概率确定每张正样本图像的样本从所述样本误差中选取误差阈值，并根据所述测试误差及所述误差阈值提取所述待检测图像的所有像素点，得到多个待检测像素点，并提将所述多个潜向量输入至所述高斯混合模型中，得到所述多张正样本图像的特征分根据所述特征分布确定所述多个潜向量的平均值及协方差，并获取根据所述目标向量、所述平均值、所述协方差及所述混合系数3将所述样本误差按照从小至大的顺序进行排序，得到误差列表当所述测试误差小于所述误差阈值时，将所述检测结果确定为所述待检测图像无瑕获取单元，用于当接收到瑕疵检测请求时，根据所述瑕疵检测编码单元，用于利用编码器对所述待检测图像解码单元，用于利用与所述编码器对应的解码器对所述目标向量进行解码处理与所述待检测图像对应的目标图像，并利用所述解码器对所述多个潜向量进行解码处理，述多张重构图像及所述多张正样本图像确定每张正样本图像的重输入单元，用于将所述目标向量输入至预先训练好的高斯混合模型中所述确定单元，还用于根据所述目标误差及所述测试概率确定所述所述确定单元，还用于从所述样本误差中选取误差阈值，并根据处理器，执行所述存储器中存储的指令以实现如权利要求1至7中任意一项45重构误差及每个估测概率确定每张正样本图67[0038]解码单元，用于利用与所述编码器对应的解码器对所述据所述多张重构图像及所述多张正样本图像确定每张正样本8述至少一个指令被电子设备中的处理器执行以实现所述门阵列(Field－ProgrammableGateArray，FPGA)、数字信号处理器(DigitalSignal9Computing)的由大量主机或网络服[0090]通过解析所述瑕疵检测请求的方法体，能够缩短所述瑕张重构图像及所述多张正样本图像确定每张正样本图像[0115]S14，将所述目标向量输入至预先训练好的高斯混合模型(GaussianMixture每个重构误差及每个估测概率确定每张正样本图像的本误差的比例为20重构误差占样本误差的比例为80计算得到所述样本误差为：2*20％+0.03*800.424。[0144]当接收到瑕疵检测请求时，获取单元110根据所述瑕疵检测请求获取待检测图像[0148]在本申请的至少一个实施例中，所述获取单元110根据所述瑕疵检测请求获取待[0154]通过解析所述瑕疵检测请求的方法体，能够缩短所述瑕[0155]编码单元111利用编码器对所述待检测图像进行编码处理，得到与所述待检测图[0157]在本申请的至少一个实施例中，所述编码单元111利用编码器对所述待检测图像[0165]在其他实施例中，所述编码单元111利用所述隐层对每个第二特征向量进行运算的方式与所述编码单元111利用所述隐层对所述第一特征向量进行运算的方式相同，本申[0166]解码单元112利用与所述编码器对应的解码器对所述目标向量进行解码处理，得到与所述待检测图像对应的目标图像，并利用所述解码器对所述多个潜向量进行解码处[0168]在本申请的至少一个实施例中，所述解码单元112利用所述运算层对所述目标向[0169]在其他实施例中，所述解码单元112得到所述多张重构图像的方式与得到所述目所述多张重构图像及所述多张正样本图像确定每张正样本图像的重[0172]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元113将所述目标图像与所述待检测[0178]在其他实施例中，所述确定单元113确定每张正样本图像的重构误差的方式与确[0179]输入单元114将所述目标向量输入至预先训练好的高斯混合模型(Gaussian[0181]在本申请的至少一个实施例中，所述输入单元114将所述目标向量输入至预先训[0186]所述确定单元113根据所述目标误差及所述测试概率确定所述待检测图像的测试[0187]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元113根据每个重构误差及每个估测本误差的比例为20重构误差占样本误差的比例为80计算得到所述样本误差为：2*20％+0.03*800.424。[0192]所述确定单元113从所述样本误差中选取误差阈值，并根据所述测试误差及所述[0194]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元113从所述样本误差中选取误差阈[0199]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元113根据所述测试误差及所述误差以及存储在所述存储器12中并可在所述处理器13上运行的计算机程序，例如瑕疵检测程其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器[0211]所述处理器13获取所述电子设备1的操作系统以及安装的各类应用程序。所述处理器13获取所述应用程序以实现上述各个瑕疵检测方法实施例中的步骤，例如图1所示的或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描[0213]所述存储器12可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器13通过运行或实现所述电子设备1的各种功能。所述存储器12可主要包括存储程序区和存储数据区，其[0215]所述电子设备1集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的现上述实施例方法中的全部或部分流程，